- •18.3.1. Фотоэффект.
- •1.1.Силы инерции.
- •1.2. Гравитация.
- •1.3. Трение.
- •1.3.3. Эффект Джонсона-Рабека.
- •2.1. Общая характеристика.
- •3.1. Тепловое расширение вещества.
- •3.4. Сорбция.
- •3.5. Диффузия.
- •4.1.2. Закон Паскаля
- •4.2 Течение жидкости и газа.
- •4.2.1 Ламинарность и турбулентность.
- •4.2.3 Вязкость
- •4.2.4 Вязкоэлектрический эффект.
- •4.3 Явление сверхтекучести.
- •4.3.2 Термомеханический эффект.
- •4.3.4 Перенос по пленке.
- •4.6. Дросселирование жидкостей и газов.
- •4.7. Гидравлические удары.
- •5. Колебания и волны
- •5.1. Механические колебания.
- •5.2. Акустика.
- •5.3. Пластическая деформация и упрочнение.
- •5.3.5. Акустомагнетоэлектрический эффект.
- •5.4. Волновое движение.
- •5.4.1. Стоячие волны.
- •5.4.3. Поляризация.
- •5.4.6. Голография.
- •6.Электромагнитные явления.
- •6.11. Электромагнитные волны.
- •7.4.Электромеханические эффекты в диэлектриках.
- •8. Магнитные свойства вещества.
- •11.Электрические разряды в газах.
- •13. Свет и вещество.
- •13.2. Отражение и преломление света.
- •14.1.1. Фотоэффект.
- •14.1.3. Фотопьезоэлектрический эффект.
- •14.2. Фотохимические явления.
- •16. Анизотропия и свет.
- •16.3. Электрооптические явления.
- •16.3.2. Эффект поккельса.
- •16.4. Магнитооптические явления.
- •16.4.1. Эффект Фарадея.
- •17. Эффекты нелинейной оптики.
- •17.1. Вынужденное рассеяние света.
- •17.2. Генерация оптических гармоник.
- •17.3. Параметрическая генерация света.
- •17.4. Эффект насыщения.
- •17.5. Многофотонное поглощение.
- •17.5.1. Многофотонный фотоэффект.
- •18. Явления микромира.
- •18.1. Радиоактивность.
- •18.4. Взаимодействие электронов с веществом.
- •18.7. Радиотермолюминесценция.
- •19. Разное
- •19.1. Термофорез.
- •19.2. Фотофорез.
- •19.3. Стробоскопический эффект.
- •19.4. Муаровый эффект.
- •19.5. Высокодисперсные структуры.
- •7.4.1, 7.4.3, 8.1.2, 8.1.3, 8.3, 8.5) Световое давление
5.4.3. Поляризация.
Поляризация волн - нарушение осевой симметрии поперечной
волны относительно направления распространения этой волны. В
неполяризованной волне колебания (векторов смешения и скорости
частиц среды в случае упругих волн или векторов напряженностей
электрического и магнитного полей в случае электромагнитных
волн) в каждой точке пространства по всевозможным направлениям
в плоскости, перпендикулярной направлению распрстранения вол-
ны, быстро и беспорядочно сменяют друг друга так, что ни одно
из этих направлений колебаний не является преимущественным.
Поперечную волну называют поляризованной, если в каждой точке
пространства направление колебаний сохраняется неизменным (ли-
нейнополяризованным) или изменяется с течением времени по оп-
ределенному закону - (циркулярно или элептическиполяризован-
ной).
Поляризация может возникнуть вследствие отсутствия осевой
симметрии в возбуждающем волну излучателе (например, в лазе-
рах), при отражении и приломлении волн на границе двух сред
(наибольше степень поляризации имеет место при отражении под
углом Брюстера тангенс угла равен коэффициенту преломления от-
ражающей среды) при рапространении волны в анизотропной среде.
А.с. 269 588: Способ определения стойкости стекла в спаях
с металлом к электролизу, состоящий в том, что через термоста-
тированный образец пропускается электрический ток, причем нап-
ряжение питающего источника остается постоянным, и измеряют
величину тока, проходящего через образец, отличающийся тем,
что с целью повышения точности наблюдений, о ходе процесса
электролиза судят по измерению картины механических напряжений
в местах спая с металлом, наблюдаемой в лучах поляризованного
света.
А.с. 452 786: Способ магнитного контроля ферромагнитных
материалов, заключающийся в том, что на поверхность предвари-
тельно намагниченного материала наносят индикатор и по рисун-
ку, образованному под воздействием полей рассеяния, судят о
качестве изделия, отличающийся тем, что с целью повышения его
чувствительности, в качестве индикатора используют монокрис-
таллическую пленку магний-марганцевого феррита с полосовой до-
менной структурой, а изменение состояния индикатора наблюдают
в поляризованном свете.
А.с. 221 345: Способ контроля кристаллизации кондитерских
масс, например, ирисной, в процессе производства путем микрос-
копирования исследуемого образца, отличающийся тем, с целью
повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в
проходящем поляризованном световом луче с измерением при этом
интенсивности светового потока с последующим определением со-
держания кристаллов.
А.с. 249 025: Способ оценки распределния контактных нап-
ряжений по величине деформации пластичной прокладки, распола-
гаемой в зоне контакта между соприкосающимися поверхностями,
отличающийся тем, что с целью повышения точности, в качестве
пластичной прокладки используют пленку из оптически чувстви-
тельного материала, которую затем просвечивают поляризованным
светом в направлении действия контактных сил, и по картине по-
лос судят о распределении контактных напряжений.
5.4.4. Вобщем случае д и ф р а к ц и я - это отлонения
волновых движений от законов геометрической /прямолучевой/ оп-
тики. Если на пути распространения волны имеется препятствие,
то на краях препятствия наблюдается огибание волной края. Если
размеры препятствия велики по сравнению с длиной волны, то
распрстранение волны почти не отклоняется от прямолинейного,
т.е. дифракционные явления не значительны. Если же размеры
препятствия сравнимы с длиной волны, то наблюдается сильное
отклонение от прямолинейного распространения волнового фронта.
При совсем малых размерах препятствия волна полностью его оги-
бает - она "не замечает" препятствия. Очевидно, величина отк-
лонения /количественная характеристика дифракции/ при заданном
препятствии будет зависеть от длины волны; волны с большей
длиной будут сильнее огибать препятствие.
Такое разделение волны используется в дифракционных
спектроскопах, где белый свет /совокупность волн различной
длины/ располагается в спектр с помощью дифракционной решетки-
системы частых полос.
В авторском свидетельстве N'249 468 изменение дифракцион-
ной картины при изменении размеров препятствий использовано
для градировки магнитного поля, под действием которого изменя-
ются параметры ферромагнитной пленки с полосовой доменной
структурой: Способ градировки магнитного поля спомощью этало-
на, отличающийся тем, что с целью повышения точности и упроще-
ния процесса градуровки эталон, в качетве которого использова-
на тонкая ферромагнитная пленка с полосовой доменной
структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничива-
ют под определенным углом к направлению силовых линий градуи-
руемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший
на эталоне луч света, затем увеличивают градуируемое поле по
величине, при которой исчезает наблюдаемый луч, сопоставляют
эту величину с известным значением поля переключения эталона.
А.с. 252 625: Способ определения статистических характе-
ристик прозрачных диэлектрических пленок, заключающийся в том,
что через исследуемую пленку пропускают луч света, отличающий-
ся тем, что с целью упрощения процесса и сокращения времени
определения, на пути луча когенентного света за исследуемой
пленкой устанавливают экран с отверстием, вращают исследуемую
пленку в плоскости, перпендикулярной оси луча, получают усред-
ненную дифракционную картину от отверстия и затем из сравнения
полученной усредненной дифракционной картины с расчетной кар-
тиной определяют статические характеристики пленки.
5.4.5. Интенференция волны.
Явление, возникающее при наложении двух или нескольких
волн и состоящее в устойчивом во времени их взаимном усилении
в одних точках пространства и ослаблении в других в зависимос-
ти от соотношения между фазами этих волн. Интерференционная
картина может наблюдаться только в случае когерентных волн, т.
е. волн, разность фаз которых не зависит от времени. При ин-
терференции поперечных волн помимо когерентности волн необхо-
димо, чтобы им соответствовали колебания, совершающиеся вдоль
одного и того же или близких напрвлений: поэтому две когерент-
ные волны, поляризованные во взаимно перпендикулярных направ-
лениях интерферировать не будут. Существует много различных
методов получения когерентных волн: наиболее широко распрост-
раненными Являются способы, основанные на использовании прямой
и отраженной волны; если отраженная волна направлена точно на-
зад т.е. на 180 градусов, то могут возникнуть стоячие волны.
А.с. 154 676: Способ определения абсолютного значения ус-
корения силы тяжести, отличающийся тем, что с целью повышения
точности измерения абсолютного значения ускорения силы тяжес-
ти, время падения измеряют путем подсчета количества временных
периодических интервалов, задаваемых эталоном частоты, в пери-
од между моментами совпадения отрезков пути свободного падения
с длиной трубчатого концевого эталона, сличаемых интерференци-
онным методом в процессе свободного падения тела.
Патент США 3 796 493: Аппарат для измерения шага резьбы
прецизионного ходового винта посредством оптической интерфе-
ренции. Два чувствительных элемента приводят в контакт с одной
и той же стороной резьбы винта в двух точках, фазы которых от-
личаются на 180 градусов. Щупы смонтированы на направляющей,
которая может перемещаться в любом направлении на каретке, в
плоскости, параллельной плоскости движения каретки вдольоси
винта, регулируют таким образом, чтобы она приблизительно рав-
нялась шагу винта. Средняя точка между сферическими концами
двух щупов располагается в вершине кубического уголкового от-
ражателя, смонтированного на направляющей. Световой луч от
уголкового кубического отражателя отражается рефлектором. Шаг
резьбы измеряют используя интерференцию между световыми луча-
ми, разделенными полупрозрачным зеркалом. Один из лучей испы-
тывает отражения от уголкового отражателя и рефлектора. Изме-
ренную величину сравнивают с эталонным шагом.