Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Указатель физических эффектов и явлений.docx
Скачиваний:
13
Добавлен:
10.07.2019
Размер:
354.7 Кб
Скачать

5.4.3. Поляризация.

Поляризация волн - нарушение осевой симметрии поперечной

волны относительно направления распространения этой волны. В

неполяризованной волне колебания (векторов смешения и скорости

частиц среды в случае упругих волн или векторов напряженностей

электрического и магнитного полей в случае электромагнитных

волн) в каждой точке пространства по всевозможным направлениям

в плоскости, перпендикулярной направлению распрстранения вол-

ны, быстро и беспорядочно сменяют друг друга так, что ни одно

из этих направлений колебаний не является преимущественным.

Поперечную волну называют поляризованной, если в каждой точке

пространства направление колебаний сохраняется неизменным (ли-

нейнополяризованным) или изменяется с течением времени по оп-

ределенному закону - (циркулярно или элептическиполяризован-

ной).

Поляризация может возникнуть вследствие отсутствия осевой

симметрии в возбуждающем волну излучателе (например, в лазе-

рах), при отражении и приломлении волн на границе двух сред

(наибольше степень поляризации имеет место при отражении под

углом Брюстера тангенс угла равен коэффициенту преломления от-

ражающей среды) при рапространении волны в анизотропной среде.

А.с. 269 588: Способ определения стойкости стекла в спаях

с металлом к электролизу, состоящий в том, что через термоста-

тированный образец пропускается электрический ток, причем нап-

ряжение питающего источника остается постоянным, и измеряют

величину тока, проходящего через образец, отличающийся тем,

что с целью повышения точности наблюдений, о ходе процесса

электролиза судят по измерению картины механических напряжений

в местах спая с металлом, наблюдаемой в лучах поляризованного

света.

А.с. 452 786: Способ магнитного контроля ферромагнитных

материалов, заключающийся в том, что на поверхность предвари-

тельно намагниченного материала наносят индикатор и по рисун-

ку, образованному под воздействием полей рассеяния, судят о

качестве изделия, отличающийся тем, что с целью повышения его

чувствительности, в качестве индикатора используют монокрис-

таллическую пленку магний-марганцевого феррита с полосовой до-

менной структурой, а изменение состояния индикатора наблюдают

в поляризованном свете.

А.с. 221 345: Способ контроля кристаллизации кондитерских

масс, например, ирисной, в процессе производства путем микрос-

копирования исследуемого образца, отличающийся тем, с целью

повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в

проходящем поляризованном световом луче с измерением при этом

интенсивности светового потока с последующим определением со-

держания кристаллов.

А.с. 249 025: Способ оценки распределния контактных нап-

ряжений по величине деформации пластичной прокладки, распола-

гаемой в зоне контакта между соприкосающимися поверхностями,

отличающийся тем, что с целью повышения точности, в качестве

пластичной прокладки используют пленку из оптически чувстви-

тельного материала, которую затем просвечивают поляризованным

светом в направлении действия контактных сил, и по картине по-

лос судят о распределении контактных напряжений.

5.4.4. Вобщем случае д и ф р а к ц и я - это отлонения

волновых движений от законов геометрической /прямолучевой/ оп-

тики. Если на пути распространения волны имеется препятствие,

то на краях препятствия наблюдается огибание волной края. Если

размеры препятствия велики по сравнению с длиной волны, то

распрстранение волны почти не отклоняется от прямолинейного,

т.е. дифракционные явления не значительны. Если же размеры

препятствия сравнимы с длиной волны, то наблюдается сильное

отклонение от прямолинейного распространения волнового фронта.

При совсем малых размерах препятствия волна полностью его оги-

бает - она "не замечает" препятствия. Очевидно, величина отк-

лонения /количественная характеристика дифракции/ при заданном

препятствии будет зависеть от длины волны; волны с большей

длиной будут сильнее огибать препятствие.

Такое разделение волны используется в дифракционных

спектроскопах, где белый свет /совокупность волн различной

длины/ располагается в спектр с помощью дифракционной решетки-

системы частых полос.

В авторском свидетельстве N'249 468 изменение дифракцион-

ной картины при изменении размеров препятствий использовано

для градировки магнитного поля, под действием которого изменя-

ются параметры ферромагнитной пленки с полосовой доменной

структурой: Способ градировки магнитного поля спомощью этало-

на, отличающийся тем, что с целью повышения точности и упроще-

ния процесса градуровки эталон, в качетве которого использова-

на тонкая ферромагнитная пленка с полосовой доменной

структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничива-

ют под определенным углом к направлению силовых линий градуи-

руемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший

на эталоне луч света, затем увеличивают градуируемое поле по

величине, при которой исчезает наблюдаемый луч, сопоставляют

эту величину с известным значением поля переключения эталона.

А.с. 252 625: Способ определения статистических характе-

ристик прозрачных диэлектрических пленок, заключающийся в том,

что через исследуемую пленку пропускают луч света, отличающий-

ся тем, что с целью упрощения процесса и сокращения времени

определения, на пути луча когенентного света за исследуемой

пленкой устанавливают экран с отверстием, вращают исследуемую

пленку в плоскости, перпендикулярной оси луча, получают усред-

ненную дифракционную картину от отверстия и затем из сравнения

полученной усредненной дифракционной картины с расчетной кар-

тиной определяют статические характеристики пленки.

5.4.5. Интенференция волны.

Явление, возникающее при наложении двух или нескольких

волн и состоящее в устойчивом во времени их взаимном усилении

в одних точках пространства и ослаблении в других в зависимос-

ти от соотношения между фазами этих волн. Интерференционная

картина может наблюдаться только в случае когерентных волн, т.

е. волн, разность фаз которых не зависит от времени. При ин-

терференции поперечных волн помимо когерентности волн необхо-

димо, чтобы им соответствовали колебания, совершающиеся вдоль

одного и того же или близких напрвлений: поэтому две когерент-

ные волны, поляризованные во взаимно перпендикулярных направ-

лениях интерферировать не будут. Существует много различных

методов получения когерентных волн: наиболее широко распрост-

раненными Являются способы, основанные на использовании прямой

и отраженной волны; если отраженная волна направлена точно на-

зад т.е. на 180 градусов, то могут возникнуть стоячие волны.

А.с. 154 676: Способ определения абсолютного значения ус-

корения силы тяжести, отличающийся тем, что с целью повышения

точности измерения абсолютного значения ускорения силы тяжес-

ти, время падения измеряют путем подсчета количества временных

периодических интервалов, задаваемых эталоном частоты, в пери-

од между моментами совпадения отрезков пути свободного падения

с длиной трубчатого концевого эталона, сличаемых интерференци-

онным методом в процессе свободного падения тела.

Патент США 3 796 493: Аппарат для измерения шага резьбы

прецизионного ходового винта посредством оптической интерфе-

ренции. Два чувствительных элемента приводят в контакт с одной

и той же стороной резьбы винта в двух точках, фазы которых от-

личаются на 180 градусов. Щупы смонтированы на направляющей,

которая может перемещаться в любом направлении на каретке, в

плоскости, параллельной плоскости движения каретки вдольоси

винта, регулируют таким образом, чтобы она приблизительно рав-

нялась шагу винта. Средняя точка между сферическими концами

двух щупов располагается в вершине кубического уголкового от-

ражателя, смонтированного на направляющей. Световой луч от

уголкового кубического отражателя отражается рефлектором. Шаг

резьбы измеряют используя интерференцию между световыми луча-

ми, разделенными полупрозрачным зеркалом. Один из лучей испы-

тывает отражения от уголкового отражателя и рефлектора. Изме-

ренную величину сравнивают с эталонным шагом.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]