- •Содержание
- •3Физические основы работы полупроводниковых приборов
- •3.1.Введение, основные термины и определения
- •4.1.Зонная структура полупроводников
- •5.1.Структура связей атомов и электронов полупроводника
- •6.1.Концентрация подвижных носителей заряда в собственном полупроводнике
- •7.1.Примесные полупроводники
- •3.7.1Концентрация носителей заряда в примесных полупроводниках
- •8.1.Электропроводность полупроводников
- •10.1.Вольтамперная характеристика p-n перехода
- •11.1.Пробой p-n перехода
- •12.1.Емкость p-n перехода
- •13.1.Свойство переходов металл-полупроводник
- •4Полупроводниковые диоды
- •3.1.Особенности и свойства полупроводниковых диодов, вольтамперная характеристика диода
- •4.1.Разновидности диодов, система параметров
- •4.4.1Универсальные диоды
- •4.4.2Силовые диоды
- •4.4.3Импульсные диоды
- •4.4.4Стабилитроны
- •4.4.5Варикапы
- •5.1.Система обозначений диодов
- •5Биполярные транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики транзисторов
- •4.1.Эквивалентная схема транзистора
- •5.1.Система обозначений и классификация транзисторов
- •6.1.Составные транзисторы
- •6Полевые транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом
- •4.1.Моп (мдп) – транзисторы
- •5.1.Система обозначений полевых транзисторов
- •7Переключающие приборы
- •3.1.Динисторы
- •4.1.Вольтамперная характеристика динистора
- •5.1.Тринисторы (тиристоры)
- •6.1.Вольтамперная характеристика тринистора
- •7.1.Симисторы
- •8.1.Запираемые тиристоры
- •9.1.Параметры и система обозначений тиристоров
- •8Оптоэлектронные приборы
- •3.1.Светодиоды
- •4.1.Характеристики светодиодов
- •5.1.Система обозначений светодиодов
- •6.1.Фоточувствительные приборы
- •7.1.Вольтамперная характеристика фотодиода
- •8.1.Параметры фотодиодов
- •9.1.Фототранзисторы
- •10.1.Фототиристоры
- •11.1.Фоторезисторы
- •12.1.Оптроны
- •9Вопросы для самопроверки
- •10Контрольная работа.
- •3.1.Методические указания к выполнению контрольной работы.
- •4.1.Оформление отчета по контрольной работе.
- •5.1.Задание.
- •11Пример выполнения контрольной работы
- •Ширина запрещенной зоны:
- •Эффективные плотности состояний:
- •Положение уровня Ферми:
- •Подвижности носителей заряда:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Положение уровня Ферми:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Контактная разность потенциалов
- •Ширина обедненных областей и ширина области пространственного заряда
- •Величина заряда на единицу площади
- •Величина барьерной емкости без внешнего напряжения и при обратном напряжении
- •1Глоссарий
- •Литература.
- •Электроника
4Полупроводниковые диоды
P-n структура, на внешних границах которой сформированы омические (невыпрямляющие) контакты для подвода тока называется полупроводниковым диодом. Обычно она заключается в какой-либо корпус для защиты от внешних воздействий.
Однако имеются разновидности диодов, состоящие из одного слоя полупроводника (диоды Ганна), содержащие выпрямляющий контакт полупроводник–металл (диоды Шоттки), или имеющие несколько слоев полупроводника с разными свойствами (p-i-n диоды). Условная структура полупроводникового диода и его обозначение на принципиальных схемах представлены на рис. 2.1.
Рис. 2.1. Структура и условное обозначение
полупроводникового диода.
Вывод от p-слоя полупроводника называется анодом и при маркировке часто помечается значком “+”, а вывод от n-слоя катодом и может обозначаться знаком “-”. При подаче внешнего напряжения такой же полярности диод будет открыт и через него потечёт прямой ток, связанный с величиной прямого напряжения практически экспоненциальной зависимостью
.
Однако, имеются определённые отличия прямой ветви вольтамперной характеристики диода от ВАХ p-n перехода. Они связаны с тем, что области полупроводника обладают некоторым объемным сопротивлением, зависящим от их геометрических размеров, степени легирования и величины протекающего тока. В формулу для тока через p-n переход входит ток насыщения I0, обусловленный движением неосновных носителей. Их количество определяется как степенью легирования полупроводника, (так как - const для заданной температуры, то чем легирующей примеси больше, тем меньше неосновных носителей), так и объёмом полупроводниковой структуры. Таким образом, чем больше площадь p-n перехода, тем больше будет I0, и меньше Uпр. Сопротивления имеются также у невыпрямляющих контактов к внешним границам полупроводниковых слоёв и у самих токоподводящих проводников. Диод в открытом состоянии можно представить в виде эквивалентной схемы приведенной на рис. 2.2
Рис.2.2. Эквивалентная схема диода
в открытом состоянии.
Таким образом, падение напряжения, измеренное на зажимах диода при протекании прямого тока, всегда будет больше, чем для p-n перехода при том же токе. Однако, дополнительные сопротивления невелики, и объемное сопротивление уменьшается с ростом прямого тока. Поэтому, хотя прямая ветвь ВАХ реального диода и пойдёт правее, чем у p-n перехода (рис. 2.3), но даже при токах в сотни и тысячи ампер прямое падение напряжения не превышает 1÷1,5 В.
Рис.2.3. Отличия прямой ветви ВАХ диода от ВАХ p-n перехода
Собственное сопротивления p и n областей зависит от используемого полупроводникового материала, а сопротивление перехода - от высоты потенциального барьера.
При изменении площади p-n перехода, будет изменяться его сопротивление и объёмные сопротивления (с ростом площади S они будут уменьшаться), поэтому прямые ветви ВАХ диодов разной площади, изготовленных из одинаковых материалов также пойдут несколько по-разному.
Если один из слоев полупроводника заменен металлом и образуется выпрямляющий контакт, то такой диод (рис. 2.4) называется диодом Шоттки. Прямая ветвь его вольтамперной характеристики лежит в промежутке между соответствующими ветвями германиевого и кремниевого диодов. Кроме того, диоды Шоттки обладают очень малой емкостью в запертом состоянии, а напряжение пробоя для них не превышает нескольких десятков вольт.
Рис. 2.4. Структура и условное обозначение диода Шоттки.