- •Содержание
- •3Физические основы работы полупроводниковых приборов
- •3.1.Введение, основные термины и определения
- •4.1.Зонная структура полупроводников
- •5.1.Структура связей атомов и электронов полупроводника
- •6.1.Концентрация подвижных носителей заряда в собственном полупроводнике
- •7.1.Примесные полупроводники
- •3.7.1Концентрация носителей заряда в примесных полупроводниках
- •8.1.Электропроводность полупроводников
- •10.1.Вольтамперная характеристика p-n перехода
- •11.1.Пробой p-n перехода
- •12.1.Емкость p-n перехода
- •13.1.Свойство переходов металл-полупроводник
- •4Полупроводниковые диоды
- •3.1.Особенности и свойства полупроводниковых диодов, вольтамперная характеристика диода
- •4.1.Разновидности диодов, система параметров
- •4.4.1Универсальные диоды
- •4.4.2Силовые диоды
- •4.4.3Импульсные диоды
- •4.4.4Стабилитроны
- •4.4.5Варикапы
- •5.1.Система обозначений диодов
- •5Биполярные транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики транзисторов
- •4.1.Эквивалентная схема транзистора
- •5.1.Система обозначений и классификация транзисторов
- •6.1.Составные транзисторы
- •6Полевые транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом
- •4.1.Моп (мдп) – транзисторы
- •5.1.Система обозначений полевых транзисторов
- •7Переключающие приборы
- •3.1.Динисторы
- •4.1.Вольтамперная характеристика динистора
- •5.1.Тринисторы (тиристоры)
- •6.1.Вольтамперная характеристика тринистора
- •7.1.Симисторы
- •8.1.Запираемые тиристоры
- •9.1.Параметры и система обозначений тиристоров
- •8Оптоэлектронные приборы
- •3.1.Светодиоды
- •4.1.Характеристики светодиодов
- •5.1.Система обозначений светодиодов
- •6.1.Фоточувствительные приборы
- •7.1.Вольтамперная характеристика фотодиода
- •8.1.Параметры фотодиодов
- •9.1.Фототранзисторы
- •10.1.Фототиристоры
- •11.1.Фоторезисторы
- •12.1.Оптроны
- •9Вопросы для самопроверки
- •10Контрольная работа.
- •3.1.Методические указания к выполнению контрольной работы.
- •4.1.Оформление отчета по контрольной работе.
- •5.1.Задание.
- •11Пример выполнения контрольной работы
- •Ширина запрещенной зоны:
- •Эффективные плотности состояний:
- •Положение уровня Ферми:
- •Подвижности носителей заряда:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Положение уровня Ферми:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Контактная разность потенциалов
- •Ширина обедненных областей и ширина области пространственного заряда
- •Величина заряда на единицу площади
- •Величина барьерной емкости без внешнего напряжения и при обратном напряжении
- •1Глоссарий
- •Литература.
- •Электроника
11Пример выполнения контрольной работы
Титульный лист контрольной работы
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования
«ПСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ
ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ»
Кафедра «Вычислительная техника»
КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА
по дисциплине «Электроника»
Выполнил
Студент
Группа
Вариант
Проверил
Дата сдачи
Оценка
Псков
2011г
Исходные данные для расчетного задания.
Вар-т |
Материал п/п |
Температура T, K |
Концентрация примесей |
Площадь перехода S, |
|
|
|
||||
3 |
GaAs |
170 |
3∙1019 |
28∙1020 |
3 |
Таблица 2.
Основные параметры
полупроводниковых материалов.
Материал полупроводника |
Si |
Ge |
GaAs |
|
Ширина запрещенной зоны при |
|
1.17 |
0.744 |
1.519 |
Параметры для определения ширины запрещенной зоны |
|
4.73∙10-4 |
|
|
|
636 |
235 |
204 |
|
Параметры для определения подвижности носителей |
|
2.42 |
1.66 |
1.0 |
|
2.2 |
2.33 |
2.1 |
|
Подвижности носителей заряда при |
|
0.15 |
0.39 |
0.85 |
|
0.06 |
0.19 |
0.04 |
|
Эффективные массы носителей заряда |
|
1.08 |
0.56 |
0.068 |
|
0.56 |
0.35 |
0.45 |
|
Диэлектрическая проницаемость |
|
11.8 |
16.0 |
13.2 |
Время жизни носителей заряда |
|
|
|
|
Значения физических постоянных:
Заряд электрона
Масса электрона
Постоянная Больцмана
Постоянная Планка
Диэлектрическая постоянная
Задача 1.
Для собственного полупроводника, имеющего определенную температуру определить ширину запрещенной зоны; концентрацию носителей заряда; эффективные плотности состояний; положение уровня Ферми; подвижности носителей заряда; удельное электрическое сопротивление; отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току.
Решение.
Ширина запрещенной зоны:
Полупроводник называется собственным или типа i (intrinsic), если в нем отсутствуют какие-либо примеси. В этом случае свободные электроны и дырки образуются попарно только за счет тепловой генерации и рекомбинируют также попарно. Следовательно, в собственном полупроводнике концентрация свободных электронов равна концентрации дырок. Поскольку ширина запрещенной зоны полупроводника зависит от температуры, определим ее, используя зависимость
Параметры GaAs возьмем из таблицы 2: , , . Для температуры 170 К ширина запрещенной зоны равна
Концентрация собственных носителей заряда
Концентрация собственных носителей заряда определяется как
, .
Согласно закону «действующих масс» , следовательно