- •Содержание
- •3Физические основы работы полупроводниковых приборов
- •3.1.Введение, основные термины и определения
- •4.1.Зонная структура полупроводников
- •5.1.Структура связей атомов и электронов полупроводника
- •6.1.Концентрация подвижных носителей заряда в собственном полупроводнике
- •7.1.Примесные полупроводники
- •3.7.1Концентрация носителей заряда в примесных полупроводниках
- •8.1.Электропроводность полупроводников
- •10.1.Вольтамперная характеристика p-n перехода
- •11.1.Пробой p-n перехода
- •12.1.Емкость p-n перехода
- •13.1.Свойство переходов металл-полупроводник
- •4Полупроводниковые диоды
- •3.1.Особенности и свойства полупроводниковых диодов, вольтамперная характеристика диода
- •4.1.Разновидности диодов, система параметров
- •4.4.1Универсальные диоды
- •4.4.2Силовые диоды
- •4.4.3Импульсные диоды
- •4.4.4Стабилитроны
- •4.4.5Варикапы
- •5.1.Система обозначений диодов
- •5Биполярные транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики транзисторов
- •4.1.Эквивалентная схема транзистора
- •5.1.Система обозначений и классификация транзисторов
- •6.1.Составные транзисторы
- •6Полевые транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом
- •4.1.Моп (мдп) – транзисторы
- •5.1.Система обозначений полевых транзисторов
- •7Переключающие приборы
- •3.1.Динисторы
- •4.1.Вольтамперная характеристика динистора
- •5.1.Тринисторы (тиристоры)
- •6.1.Вольтамперная характеристика тринистора
- •7.1.Симисторы
- •8.1.Запираемые тиристоры
- •9.1.Параметры и система обозначений тиристоров
- •8Оптоэлектронные приборы
- •3.1.Светодиоды
- •4.1.Характеристики светодиодов
- •5.1.Система обозначений светодиодов
- •6.1.Фоточувствительные приборы
- •7.1.Вольтамперная характеристика фотодиода
- •8.1.Параметры фотодиодов
- •9.1.Фототранзисторы
- •10.1.Фототиристоры
- •11.1.Фоторезисторы
- •12.1.Оптроны
- •9Вопросы для самопроверки
- •10Контрольная работа.
- •3.1.Методические указания к выполнению контрольной работы.
- •4.1.Оформление отчета по контрольной работе.
- •5.1.Задание.
- •11Пример выполнения контрольной работы
- •Ширина запрещенной зоны:
- •Эффективные плотности состояний:
- •Положение уровня Ферми:
- •Подвижности носителей заряда:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Положение уровня Ферми:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Контактная разность потенциалов
- •Ширина обедненных областей и ширина области пространственного заряда
- •Величина заряда на единицу площади
- •Величина барьерной емкости без внешнего напряжения и при обратном напряжении
- •1Глоссарий
- •Литература.
- •Электроника
Положение уровня Ферми:
В дырочном полупроводнике концентрация дырок в основном обусловлена переходом электронов с энергетических уровней валентной зоны на энергетический уровень акцепторов. Поэтому концентрация дырок должна быть равна концентрации ионизированных примесей, то есть
В полупроводнике p-типа концентрации электронов и дырок равны
, .
Возьмем отношение концентраций и выразим уровень Ферми
Найдем положение уровня Ферми относительно середины запрещенной зоны
Следовательно, уровень Ферми в полупроводнике p-типа лежит на 0.589 эВ ниже середины запрещенной зоны.
Удельное электрическое сопротивление:
Удельное электрическое сопротивление обратно пропорционально удельной электрической проводимости, которая равна
Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
Полный ток через полупроводник равен сумме дырочной и электронной составляющих дрейфового и диффузионного токов. Так как инжекция и экстракция носителей заряда отсутствуют, то полупроводник находится в равновесном состоянии и диффузионная составляющая тока отсутствует (градиент концентрации равен нулю). Следовательно, полный ток равен дрейфовому току, который состоит из дырочной и электронной составляющих.
,
где Е – напряженность приложенного электрического поля. Отношение полного тока к дырочной составляющей будет равно
Задача 3.
Для полупроводника n-типа с концентрацией донорных примесей Nd определить концентрацию основных и неосновных носителей заряда; положение уровня Ферми; удельное электрическое сопротивление; отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току.
Решение.
Концентрация основных и неосновных носителей заряда
Согласно закону «действующих масс» при любой концентрации примесей произведение концентраций электронов и дырок остается постоянной величиной
, где получено в результате расчетов в задаче 1, .
При легировании полупроводника донорными примесями вначале происходит ионизация примесей с образованием большого числа свободных электронов. После полной ионизации примесей все большую роль начинает играть и тепловая генерация носителей заряда с образованием электронно-дырочных пар. В общем случае в полупроводнике должно выполняться условие электронейтральности, когда положительный заряд ионизированных доноров и дырок скомпенсирован отрицательным зарядом свободных электронов
Из закона «действующих масс» выразим концентрацию электронов и подставим в предыдущее выражение
,
Концентрации носителей заряда при условии, что собственная концентрация по порядку близка к концентрации легирующей примеси, то есть, когда m3 можно следующим образом:
Составим квадратное уравнение относительно
Найдем корни уравнения
Данный корень не подходит, поскольку концентрация оказывается отрицательной величиной. Следовательно, концентрация неосновных носителей заряда (дырок) будет для заданного равна:
.
Концентрация электронов:
.
Если собственная концентрация носителей много меньше концентрации легирующих примесей, то есть когда , рационально находить концентрации носителей заряда при условии, что концентрация основных носителей заряда (в нашем случае электронов) по порядку близка к концентрации легирующей примеси, то есть, когда m3.
Так, как для данного задания ,а , то есть , то: из закона «действующих масс» найдем концентрацию дырок, которые являются неосновными носителями заряда:
Положение уровня Ферми:
В полупроводнике n-типа концентрации электронов и дырок равны:
, .
Возьмем отношение концентраций и выразим уровень Ферми
Найдем положение уровня Ферми относительно середины запрещенной зоны
Следовательно, уровень Ферми в полупроводнике n-типа для данного примера лежит на 0.656 эВ выше середины запрещенной зоны.
Удельное электрическое сопротивление:
Удельное электрическое сопротивление обратно пропорционально удельной электрической проводимости, которая равна
Отношение полного тока, протекающего через
полупроводник к дырочному току:
Полный ток через полупроводник равен сумме дырочной и электронной составляющих дрейфового и диффузионного токов. Так как инжекция и экстракция носителей заряда отсутствуют, то полупроводник находится в равновесном состоянии и диффузионная составляющая тока отсутствует (градиент концентрации равен нулю). Следовательно, полный ток равен дрейфовому току, который состоит из дырочной и электронной составляющих.
,
где Е – напряженность приложенного электрического поля. Отношение полного тока к дырочной составляющей будет равно
Задача 4.
Считая, что из полупроводников p- и n-типа изготовлен p-n-переход, определить контактную разность потенциалов; ширину обедненных областей и ширину области пространственного заряда; величину заряда на единицу площади; величину барьерной емкости без внешнего напряжения и при обратном напряжении . Построить график зависимости барьерной емкости от приложенного напряжения (вольт-фарадную характеристику p-n-перехода).
Решение.