- •Раздел I
- •В.Г. Беспалов, в.Н. Крылов, в.Н. Михайлов основы оптоинформатики
- •Раздел I
- •Введение
- •Глава 1, глава 2 и Приложения написаны в.Г. Беспаловым, глава 3 написана в.Н. Крыловым и глава 4 написана в.Н. Михайловым.
- •§2. Предельные возможности элементной базы электронной компьютерной техники
- •§3. Оптические технологии в информатике
- •§4. Аналоговые оптические вычисления и процессоры
- •§5. Оптический процессор Enlight256
- •§6. Голографические методы обработки информации
- •§7. Цифровые оптические процессоры
- •Глава 2. Теория информации для оптических систем §1. Основы теории информации
- •§ 1.1. Количество информации в системе равновероятных событий. Подход Хартли.
- •§1.2. Количество информации в системе событий с различными вероятностями. Подход Шеннона
- •§1.3. Обобщенная схема информационной системы
- •§1.4. Основные характеристики информационной системы
- •§1.5. Дискретизация и теорема отчетов (Котельникова)
- •§1.6. Пропускная способность канала при наличии белого теплового шума
- •§1. 7. Избыточность информации
- •§2. Теория информации в оптике
- •§2.1. Число пространственных степеней свободы когерентных оптических сигналов
- •§2.2. Теоремы д. Габора
- •§2.3. Число степеней свободы частично когерентных оптических сигналов
- •§ 2.4. Информационная емкость голограмм
- •Глава 3. Источники излучения для оптоинформатики
- •§1. Физические основы работы лазеров
- •§1.1. Оптическое усиление
- •§1.2. Взаимодействие излучения с веществом.
- •1.2.1. Излучение абсолютно чёрного тела.
- •1.2.2. Статистика Больцмана
- •1.2.3. Коэффициенты Эйнштейна.
- •§1.3. Поглощение и усиление
- •1.3.1. Инверсная населённость.
- •§1.4. Принципы лазерной генерации
- •1.4.1. Методы создания инверсной населённости.
- •Трёхуровневая система.
- •Четырёхуровневая система.
- •Методы накачки активных лазерных веществ.
- •§1.5. Основные типы лазеров: классификация лазеров по агрегатному состоянию активного вещества
- •§1.6. Твердотельные лазеры
- •§1.5. Газовые лазеры
- •§1.5. Жидкостные лазеры
- •§2. Полупроводниковые лазеры §2.1. Физические основы работы полупроводникового лазера
- •§2.2. Полупроводники
- •§2.3. Прямозонные и непрямозонные полупроводники
- •§2.4. Полупроводниковые светодиоды
- •§2.5. Основные параметры полупроводниковых лазеров
- •§2.6. Полупроводниковые лазеры на основе гетероструктур
- •§2.7. Квантоворазмерные структуры
- •§2.8. Безопасность лазеров
- •§3. Источники излучения фемтосекундной и аттосекундной длительности §3.1. Предельно короткие импульсы света и сверхсильные поля
- •3.2. Методы генерации сверхкоротких, в том числе фемтосекундных импульсов
- •3.2.1. Электрооптический затвор на основе эффекта Поккельса.
- •3.2.2. Работа лазера в режиме синхронизации мод.
- •§3.2. Генерация аттосекундных импульсов электромагнитного излучения
- •Глава 4. Локальная и распределенная запись информации §4.1. Локальная (побитовая) запись
- •§4.2. Голографическая (распределенная) запись
- •§4.3. Оптические дисковые системы записи и хранения информации
- •§4.4. Голографические системы записи информации
- •§4.5. Быстродействие оптических устройств записи и хранения информации
- •Список литературы
- •Приложения Параметры и свойства оптических материалов
- •Механизмы поглощения оптического излучения в полупроводниках
- •Эффект Франца-Келдыша (электроабсорбционный эффект) в полупроводниках
- •Квантово-размерный эффект Штарка
- •Кафедра фотоники и оптоинформатики
§2.7. Квантоворазмерные структуры
Слои, толщина которых сравнима с длиной волны де Бройля для электронов или дырок или меньше ее, называются квантовораз-мерными. В обычных гетероструктурах толщина слоев не меньше 0,05 мкм (500 А), что значительно больше длины волны де Бройля Б
= h/p, где h – постоянная Планка, p – импульс электрона. Поэтому их свойства совпадают со свойствами объемных кристаллов.
В 80-х гг. прошлого столетия разработаны утонченные методы молекулярной, газофазовой и жидкофазовой эпитаксии, позволяющие получать высокосовершенные структуры с толщиной слоев менее 10 нм. В таких слоях возникают ограничения для движения электронов и дырок в направлении, перпендикулярном к поверхности слоя, что сопровождается изменением квантовомеханических свойств слоя.
Рис. 2.15. Возникновение потенциальной квантовой ямы в случае, когда ультратонкий слой GaAs выращивается между двумя более широкозонными барьерными слоями AlGaAs.
Когда ширина слоя ямы достаточно мала, движение электронов в квантовой яме становится квантованным в направлении роста, при этом разрешенные энергетические уровни, соответствующие движению в этом направлении, становятся дискретными. В плоскости, параллельной границам раздела, движение электронов остается неограниченным. В результате этого полная электронная волновая функция дается произведением огибающей функции (решение одномерного уравнения Шредингера) и периодических блоховских функций (обусловленных периодичностью кристаллической решетки), а также плоских волн, описывающих свободное движение в плоскости, параллельной границам раздела.
Уровни энергии одномерной потенциальной ямы шириной a выражаются формулой:
. (2.2)
В плоскости ху (потенциальной ямы) передвижение носителей не ограничивается, поэтому полную энергию носителей можно записать в виде:
, (2.3)
где kx и ky – x и y проекции волнового вектора электрона, m* - эффективная масса. Если kx и ky непрерывны, то kz квантуется. Таким образом, если в массивном образце функция плотности состояний электрона имеет вид параболы (рис. 2.3 б), то в квантоворазмерном слое она выражается ступенчатой кривой (рис.2.16)
Рис. 2.16. Графики плотности состояний g(E) в сверхтонком слое GaAs.
Путем изготовления полупроводниковых нитей и кубиков субмикронной толщины можно создать ограничения движению электронов в двух и трех измерениях. Тогда функция плотности состояний вообще теряет сходство с этой характеристикой для массивного образца. Квантоворазмерные структуры приводят к квантованию состояний электрона, подобно тому, как они квантуются периодическим потенциалом кристалла. Если таких слоев много (сверхрешетка или многослойная структура, рис. 2.17), то образуются зоны разрешенных состояний для кz, однако в целом квантование сохраняется.
Рис. 2.17. а — модель сверхрешетки на основе GaAs — AlAs;
б — зонная структура в сверхрешетке
В квантовой нити сохраняется свободное движение только по оси y, по осям x и z энергия носителей квантуется и образуются одномерные подзоны с дискретными связанными состояниями. В квантовой точке квантуются все проекции волнового вектора, а функция плотности состояний превращается в набор - функций (см. рис. 2.18).
а б в г
Рис. 2.18. Зависимость плотности состояний D от энергии носителей в случае (а) - объемного материала, (б) – квантоворазмерного слоя, (в) – квантовой нити, г – квантовой точки.
Таким образом, чисто количественное уменьшение размеров вещества приводит к качественному изменению его квантовомеханических, а также оптических и электрических свойств. Увеличивается ширина запрещенной зоны, снимается вырождение зон для дырок, уменьшается ширина спектра излучения. Порог генерации полупроводниковых лазеров был уменьшен с 105 А/см2 для первых гомолазеров до ~ 100 А для гетеролазеров на сверхрешетках. Порог генерации лазеров на квантовых точках еще меньше, например, с фотоннокристаллическим резонатором он составляет в настоящее время 260 мкА.
На рис. 2.19 приведено схематическое изображение лазера на квантовых точках, генерирующего в ближнем ИК диапазоне спектра.
Рис. 2.19. Схематическое изображение лазера на квантовых точках. LC = 1020 мкм, W = 9 мкм
Врезка снизу рис. 2.19 показывает детали структуры области 190-нанометрового волновода, находящегося между слоями Al0.85Ga0.15As сoдержащего 12 монослоев In0.5Ga0.5As квантовых точек, генерирующих лазерное излучение. Порог генерации в таком лазере составляет всего 4.1 мА (рис. 2.20).
Рис. 2.20. Зависимость выходной световой мощности от тока, текущего через структуру лазера на квантовых точках. На вставке приведен спектр излучения