Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Нормирование точности и технические измерения

.pdf
Скачиваний:
33
Добавлен:
26.03.2016
Размер:
9.67 Mб
Скачать

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

Т

Рас. 3.32.

 

 

Н

 

Измерение отклонения формы номинально плоской

 

 

 

Б

 

 

поверхности с помощью поверочной линейки и измерительной

1 -

головки:

й

 

 

измеряемая деталь; 2 - поверочная линейка;

3 -

измерительная головка; 4 - регулируемая опора

Метод измерения линейных отклонений часто реализую т с

использованием поверочной пл ты

змерительной головки,

закрепленной в стандартной стойкеиили ш тативе, по схеме,

представленной на рис. 3.33.

 

 

 

 

 

 

 

 

р

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

з

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

п

 

 

 

 

 

 

е

 

 

 

 

 

 

 

Р

 

 

 

 

 

х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 3.33. Измерение отклонения формы номинально плоской

поверхности с использованием поверочной плиты

иизмерительной головки:

1измеряемая деталь; 2 - поверочная плита; 3 - измерительная головка; 4 - штатив (стойка)

181

Реализация каж дой из рассмотренных методик приводит к дискретной модели контролируемой поверхности.

Типичным представителем средств измерений, наиболее наглядно демонстрирую щим суть методов, основанных на и з­ м ерениях углов наклона, является микронивелир (рис. 3.34).

3

 

 

Н

У

 

 

 

Рис. 3.34. Измерение отклонения формы номинальноТплоской

 

Б

 

 

поверхности с помощью микронивелира:

 

2

1 —измеряемая деталь;

 

 

й

 

 

- измерительный мостик (основание); 3 - уровень

Это средство измерений позволяет выполнять шаговые из­

мерения отклонений от прям ол не ности. Основание прибора

 

 

 

 

р

 

имеет две опоры и на него установлен уровень (пузырьковая

ампула в специальной

оправе)

иШ аг измерения t определяется

.

расстоянием меж ду оп рами

снования. При реализации из­

мерительной процедуры микр

нивелир размещ ают на контро­

 

 

и

 

 

лируемой поверхнос

 

аким образом, чтобы опоры основания

были установлены

в тконтролируемых

точках поверхности,

располож енны х

на

расстоянии одного

ш ага измерения друг

 

о

 

 

 

 

от друга. Затем п следовательно (шаг за шагом) перемещают

м икронивелир,

зустанавливая его на все соседние пары кон­

тролируемых т

чек поверхности, и по ш кале ампулы уровня

е

 

 

 

 

 

 

опред ляют изм енения угла наклона прибора.

Р

 

 

 

 

 

 

В данномпслучае величиной, подвергаемой прямым измере­

ниям , явля тся угол меж ду прямой, соединяющей точки опо­ ры основания м икронивелира, и горизонтальной плоскостью, касательной к эквипотенциальной поверхности гравитацион­ ного поля в одной из точек измерения.

Выполняемая после завершения измерительной процедуры дальнейш ая простая, но довольно громоздкая обработка резуль­ татов измерений, вклю чаю щ ая аналитические расчеты и гра­ фические построения, позволяет воспроизвести рельеф измеря­ емой поверхности и оценить искомое отклонение ее формы.

182

Е этому методу относятся такж е измерения с помощью электронных уровней, получивш их широкое распространение на практике, измерения с использованием автоколлимационных средств измерений, а такж е коллиматоров и зрительны х труб» При «оптических» реализациях непосредственно изм е­ ряемой величиной является угол между вектором энергетиче­ ской оси светового пучка и его проекцией на плоскость, каса­ тельную к контролируемой поверхности в точке измерения»

Графическая интерпретация d -метода измерения с учетом

неидеальности реализаций исходного элемента представлена на рис. 3.35.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

Т

 

 

 

 

 

 

 

Н

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

й

 

 

Рис. 3.35. Измерение отклонения формы номинально плоской

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

поверхн сти d-методом

 

 

 

 

 

 

р

 

 

 

 

На данном графике / 0(х) -

функция, описываю щ ая ис­

ходную

(образцовую)

о

 

(например, для м икрони­

поверхность

велира

-

 

т

 

поверхность гравитационного

эквипотенц альную

поля); f(x) - функция,иописываю щ ая контролируемую (реаль­

ную) поверхн сть.зКак следует из этих графиков, непосред­

ственно

измеряем й величиной, по сути, является разность

Д(*,+1) -

о

проведении измерений указанную раз­

А (ж,). При

ность опрпд ляют в

необходимом

числе контрольных точек

поверхностиРе(или непрерывно - при автоматизированных и з­ мерениях) и после необходимой обработки находят искомое отклонение формы контролируемой поверхности»

И зм ерение от к ло н ен и й ф орм ы н о м и н а льн о ц и л и н д р и ч е с к и х поверхност ей

При контроле отклонений формы номинально цилиндри­ ческих поверхностей измеряемыми параметрами являю тся отклонение от цилиндричности, отклонение от круглости и

183

отклонение от номинального профиля продольного сечения. Если рассматривать отклонения от круглости и от номиналь­ ного проф иля продольного сечения как элементарные, то их объединение даст оценку комплексного по отношению к ним отклонения от цилиндричности. Следует такж е иметь в виду, что предельное значение отклонения от круглости может быть нормировано для номинально круглого селения любой поверх­ ности вращ ения (конической, сферической, тороидальной, ги ­ перболоида вращ ения и т.д.).

Контроль отклонения от цилиндричности осущ ествляется

путем изм ерения отклонений ограниченного количества кон­

 

Т

трольны х точек или профилей (линий), леж ащ их на контро­

лируемой поверхности.

Н

В зависимости от особенностей расположения измеряемыхУ

точек или линий различаю т следующие методы измерения от­ клонений от цилиндричности:

- метод поперечных сечений;

 

- метод продольных сечений (метод образующих);

- метод винтовой линии;

 

Б

- метод экстремальны х значен .

 

К аж ды й из этих методов можетйбыть реализован либо пу­

тем непрерывного измерения по л ниям (сканирование по

 

и

 

линиям ), либо путем диск етного измерения в выбранных

точках (по контрольным

чкам)р. При наличии определенной

доминирую щ ей составляющ ей отклонения формы в попереч­

 

о

 

ном или продольном сечениях поверхности предпочтение сле­

 

т

 

 

дует отдавать соответственно либо методу поперечных сече­

ний, либо мет ду ибразующих.

 

При измерениизм ет одом

п о п ер ечн ы х сечений

изм еряе­

мую деталь вы ставляю т на

столе измерительного

прибора

 

о

 

 

так, чтобы ось контролируемой поверхности была совмещена

с осью вращпния стола или измерительного преобразователя»

е

 

 

 

Р

 

 

 

За ось пов рхности в первом приближении можно принять прямую , проходящ ую через центры крайних поперечных се­ чений. После этого контролируемую поверхность сканируют (ощупывают) в процессе вращ ения в ряде выбранных попереч­ ны х сечений. Измеренные профили записывают на одной и той ж е диаграмме в полярной системе координат, и на ней строят прилегаю щ ую или среднюю окружность, общую по отноше­ нию ко всем профилограммам (рис. 3.36). За искомое откло­ нение от цилиндричности принимаю т, например, наибольшее

184

расстояние по радиусу от общей прилегаю щ ей окружности до максимально удаленной точки одной из профилограмм. При построении средней окружности отклонение рассчитывают по двум экстремально расположенным точкам (снаружи и внут­ ри средней окружности).

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

Т

 

 

 

 

 

 

 

Н

 

 

Рис. 3.36.

 

 

 

 

й

при

Оценка отклонения от цилиндричностиБ

использовании метода поперечных сечений:

 

 

 

 

 

 

 

р

 

 

 

О - центр общей прилегающей окружности;

 

 

 

а - схема расположен я змеряемых

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

поперечных сеченийиповерхности;

 

 

 

б -

 

т

 

 

 

 

 

профил г аммы (к углограммы)

 

 

 

 

выделенных п перечных сечений

 

 

В случае

использования мет ода пр о д о льн ы х

сечений

( м ет ода о б ра

ую щ х) после ориентирования контролируе­

мой поверхн

о

системе координат используемого средства

сти в

 

измерения, ее измеряю т в нескольких продольных сечениях.

Схематично эта

р

 

цедура представлена на рис. 3.37.

 

е

 

рофили записывают на одной и той

же ли ­

Изм р нные

Р

 

 

 

и на ней строят прилегаю щ ий или средний

нейной диаграмме,п

 

профиль продольного сечения, общий по отношению ко всем профилограммам. За отклонение от цилиндричности прини­ мают, например, расстояние от максимально удаленной точки одной из профилограмм до соответствующей линии прилега­ ющего профиля по нормали к ней.

При использовании м ет ода винт овой л и н и и , такж е как в предыдущих случаях, предварительно ориентируют контро­ лируемую поверхность в системе координат используемого средства измерения, после чего осуществляют ее измерение

185

в двух крайних поперечных сечениях и по винтовой линии в соответствии со следующий схемой (рис. 3.38).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т

Рис. 3.37. Оценка отклонения от цилиндричностиНпри использова­

нии метода образующих (метода продольных сечений):

 

а схема расположения измеряемыхБ

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

продольных сечен поверхности;

 

 

 

 

 

 

 

р

 

 

б - профилограммы образующих выделенныхй

продольных сечений

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

з

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

п

 

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ис. 3.38. Схема расположения измеряемых сечений поверхности

Р

при использовании метода винтовой линии

При этом рекомендуется, чтобы на длине нормируемого участка укладывалось целое число шагов (не менее 2-х) вин­ товой линии. И змеренные профили записывают на одной по­ лярной диаграмме и оценивают искомое отклонение от ци ­ линдричности , так же как в методе поперечных сечений.

186

При измерении отклонения от цилиндричности м ет о д о м эк ст р ем а л ьн ы х зн а ч ен и й , такж е как во всех предыдущ их

случаях, сначала осуществляют ориентирование контроли­ руемой детали в системе координат используемого средства измерения. После чего измеряю т две образующие одного про­ извольным образом расположенного продольного сечения. По записанным на линейной диаграмме по профилограммам ре­ альных образующих находят основное положение двух экс­ тремально расположенных точек, определяю щ их два наиболь­ ш их отклонения профиля продольного сечения. В вы явленны х таким образом двух осевых полож ениях измеряю тУпрофили поперечных сечений с одной установки контролируемой дета­ ли, записывают их профилограммы на одной полярной диа­ грамме и оценивают искомое отклонение от цилиндричности

как в методе поперечных сечений.

 

 

Т

Описанную процедуру можно проиллюстрировать с помо­

щью схемы, представленной на рис. 3.39.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Н

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

й

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

р

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

з

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

п

 

 

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 3.39. Оценка отклонения от цилиндричности EFZ при

использовании метода экстремальных значений

Рекомендуемое минимальное число измеряемых сечений, линий и точек при использовании различны х методов изме-

187

рения отклонения от цилиндричности может быть выбрано согласно табл. 3.7.

Таблица 3.7

Минимальное количество измеряемых сечений, линий и точек для различных методов измерения

Наименование метода

Минимальное количество

 

п/п

измерения

сечений

 

линий

точек

1

Метод поперечных сечений

3

 

 

3

 

18

2

Метод образующих

3

 

 

6

 

18

3

Метод винтовой линии

4

 

 

4

 

24

 

 

(2 поперечных и

4 У18

 

 

2 винтовых)

4

Метод экстремальных значе­

3

 

 

 

ний

(1 продольное и

Т

 

 

 

 

2 поперечных)

 

 

 

 

 

 

Н

 

 

Все рассмотренные методы измерения отклонений от ци ­

линдричности могут быть реализованы

 

с применением

круг-

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

й

 

 

 

 

ломера, который кроме прецизионного вращ ательного отно­

сительного перемещ ения

измер тельного преобразователя и

контролируемой

 

 

 

р

детали обеспеч вает такж е возможность их

относительного прецизионного

ип ямолинейного перемещ ения

 

 

 

что

 

обобщенная схема предостав­

в направлении оси детали,

 

лена на рис. 3.40. Кругл

мер такой конструкции иногда на­

 

 

и

 

 

 

зывают цилин дромером . его

 

 

з

возможны два варианта реализации

Следует отметить,

 

такого прибора -

с вращ аю щ ейся измеряемой деталью и с вра­

щ аю щ имся измерительным

преобразователем. На представ­

п

 

 

 

 

 

 

ленной выш е схеме кроме вращ аю щ ейся детали прибор име­

ет прецизионнуюонаправляю щ ую прямолинейного движ ения

измерит льного

 

реобразователя, выставленную параллельно

оси вращ ния ш пинделя.

 

 

 

Передеизмерением деталь ориентируют (центрируют и ни ­

велируют) по двум сечениям, находящ имся на границах нор­

мируемогоР

участка. С помощью измерительного преобразова­

теля контролируемая поверхность измеряется по отдельным линиям , и записываю тся соответствующие профилограммы измеренны х сечений в полярной или декартовой системе ко­ ординат. Если прибор снабжен компьютером, то измерение в каж дом выбранном сечении можно производить дискретно и автоматически с помощью соответствующей программы вы ­

188

числять искомое отклонение от цилиндричности по измерен­ ным координатам точек.

 

 

 

У

 

 

Т

Рис. ЗАО.

 

Н

 

 

й

 

Схема цилиндромера (кругломера, обеспечивающего

прецизионные вращательное и поступательноеБперемещения):

1 измеряемая деталь; 2

и

 

- предметный стол, закрепленный на пре­

цизионном шпинделе; 3 - линейный змер тельный преобразователь; 4 - электронный блок, включающ й ус л тель, частотный фильтр и

устройство отображения изме ительной информации; 5 , 6 - записы­

 

 

 

о

вающие устройства (самописцы), в сп оизводящие измеренные профи­

 

 

т

ли поверхности детали; 7 - пл скрсть центрирования детали; 8 - пло­

 

и

 

скость нивелирования де али; 9 - электроприводы, обеспечивающие

вращение предметного с ола и прямолинейное перемещение

 

з

тельного преобразователя

 

мер

Рассмотренн

е средство измерений позволяет отдельно кон ­

п

 

 

 

тролировать такие дифференциальные или поэлементные от­

клонения формыоповерхностей, как отклонения от круглости

или отклон ния

рофиля продольного сечения. Причем, такое

средство изм рения позволяет измерять данные отклонения

в соответствиие

с их

стандартными определениями. Следует

отметить, что измерения отклонений формы номинально ц и ­

линдрическихР

поверхностей,

выполняемые с помощью круг-

ломеров, считаются наиболее

достоверными.

В том случае, когда нет возможности прямого измерения отклонения от цилиндричности, его определяют путем р ас ­ чета по измеряемым отдельным составляющим отклонениям (дифференциальным отклонениям) с использованием специ­ альных методик измерений.

189

На практике вместо контроля комплексного отклонения

от круглости часто бывает достаточно проконтролировать его частные виды, такие как овальность и огранка (четная и не­ четная). Для контроля частных видов отклонений от кругло­ сти могут использоваться как накладные, так и станковые средства измерений, реализующ ие двухточечную или трех­ точечную схему измерения. Варианты схемы двухточечного измерения с использованием накладного и станкового средств измерений представлены на рис. 3 .41.

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

Т

 

 

 

 

 

Н

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

й

 

 

 

Рис. 3.41. Измерение отклоненияи

от круглости

 

по

 

чечной схеме:

 

 

 

 

р

 

 

 

 

а - с использованием накладного средства измерения;

б ~ с использован

емос анкового средства измерения:

1 ~ контрол руемая де аль; 2 - измерительная головка;

идвухт

 

 

 

 

 

3 —

мер

тельная стойка; 4 - скоба

 

 

-путемпн орерывного измерения диаметров при вращении

детали относительно двухточечного средства измерения (ин­ дикатораРчасового типа, закрепленного в измерительной стой­

ке, индикаторной скобы, рычажной скобы и др.);

-путем дискретного измерения диаметров по отдельным направлениям при шаговом (прерывистом) повороте детали относительно двухточечного средства измерения.

Впроцессе измерения первым способом деталь поворачи­

вают не менее чем на 180° и фиксируют разность меж ду наи­ большим и наименьшим диаметрами измеряемого сечения:з

190