Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

fiz_osnovy_elektroniki_КЛ

.pdf
Скачиваний:
29
Добавлен:
15.02.2016
Размер:
3.83 Mб
Скачать

Рис. 9.11. Зависимость tg на электропроводность: а – от частоты при Т1 и Т2; б – от температуры

Потери на электропроводность ничтожны у хороших диэлектриков (полиэтилен, тефлон, лавсан и т.п.), а на высоких частотах практически у всех диэлектриков малы (но нужно учитывать влияние температуры).

9.4.3. Релаксационные потери

Активная проводимость диэлектрика a при переменном токе обычно значительно больше, чем при постоянном токе ( ), а tgдаже на высоких частотах не падает ниже 10-4. Есть другие потери – эти потери

связаны с процессом поляризации диэлектрика:

 

P dE ,

(9.27)

– работа на поляризацию на одну единицу объема. Если поле синусоидальное, то определяется (9.27), т.е. она равна площади петли гистерезиса (рис. 9.12). При << 1/f – P успевает следовать за Е и = 0; при 1/f – P отстает по фазе от Е и > 0, при >> 1/f – P не успевает следовать за Е и w = 0. Если w > 1/ – P и ε станут ниже, чем на низкой частоте.

а) б) в)

Рис. 9.12. Зависимость поляризованности Р от напряженности переменного поля Е для трех соотношений

времени установления поляризации и периода изменения поля 1/f

121

Диэлектрическая дисперсия – это зависимость ε от f. Диэлектрическая дисперсия может носить релаксационный (ε при ω ) или резонансный характер ( εпри ω ). Здесь рассмотрим релаксационную дисперсию, характерную для поляризованного диэлектрика. Рс – статическая поляризованность; Рд – дипольная поляризованность. Если диэлектрик поляризовать, то после выключения поля поляризованность будет уменьшаться от начального, установившегося значения Рсд(0) по закону:

PД t PД 0

exp

 

t

.

 

(9.28)

 

 

 

 

 

 

Математически релаксация описывается уравнением:

 

 

 

dPД

 

 

Pc PД

.

 

 

(9.29)

 

dt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если поле синусоидально, то

поляризация тоже будет синусои-

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

дальна (Рg – комплексная амплитуда поляризации): PД

Pg exp( j

) ,

 

~

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Pg – комплексная амплитуда дипольной поляризации. Так как ста-

тическое значение Pc

 

 

E , а

 

~

~

E ,

то

комплексная

0 c

 

Pg

0 Д

дипольная восприимчивость

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

с

 

 

 

c

 

 

j

 

c

.

(9.30)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

g

1

j

1

2

2

1

2

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Действительная

 

составляющая

 

дипольной

 

восприимчивости

 

 

 

с

 

 

уменьшается с ростом частоты от статического значения

Д

1

2

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c при ω 0 до нуля при ω

 

(рис. 9.13).

 

 

 

 

 

 

Рис. 9.13. Частотная зависимость действительной и мнимой составляющих комплексной дипольной восприимчивости

122

При частоте

 

 

 

1

,

(9.31)

p

 

 

называющейся угловой частотой релаксации, длительная восприим-

чивость

снижается

вдвое

от

статического

 

 

 

значения.

Мнимая

состав-

ляющая

 

 

 

с

при этой частоте имеет максимум, равный

с/2.

Д

1

2

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для диэлектрической проницаемости

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

c

 

,

 

 

(9.32)

 

 

 

 

 

 

 

 

1

j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где = 1+ эл+ ион – значение

 

 

при

, обусловленное электронной

и ионной поляризацией.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Статическое при

 

0

с = 1 +

эл +

 

 

 

ион +

;

с – =

. Урав-

нение (9.32) – формула Дебая описывает частную зависимость

при

релаксации. Из нее следуют выражения, где

= (

)2:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с

 

 

 

,

 

 

(9.33)

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с

 

,

 

 

(9.34)

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

tg

 

 

 

 

 

c

 

 

.

 

 

(9.35)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c

Рис. 9.14. Частотные зависимости комплексной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь при релаксационной дебаевской дисперсии

123

Эти зависимости представлены на рис. 9.14: = ( c – ) / 2. Максимум tg лежит на

 

1

 

 

с

 

 

 

 

 

c

,

(9.36)

Т

 

 

 

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где достигает значения tg max =

 

c

 

 

 

 

. В действительности релак-

 

 

1

 

 

 

 

 

с

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

сационные потери занимают значительно более широкую полосу частот, если имеются диполи с разными (рис. 9.15).

Рис. 9.15. Зависимость коэффициента диэлектрических потерь при наличии диполей с различными временами релаксации 1, 2 и 3

Время релаксации сильно зависит от температуры:

W

0 exp , (9.37)

kT

где W – энергия активации диполя.

9.4.4. Резонансные потери

Резонансные потери возникают, когда частота электрического поля приближается к частоте собственных колебаний элементов или ионов (рис. 9.16). Уравнение упругого колебания заряженных частиц в электрическом поле:

m

d2 x

r

dx

kx qE ,

(9.38)

dt

2

dt

 

 

 

 

где m – масса, r – коэффициент затухания, k – коэффициент упругости связи. В синусоидальном поле комплексная амплитуда смещения частицы:

124

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

q E

 

 

 

 

q E

 

 

,

(9.39)

 

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

m

2

jr

k m

2

2

 

 

j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

0

 

 

 

 

 

k

1 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

0

 

 

 

 

– угловая

частота собственного

колебания

частиц;

 

m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

r

 

– затухание (безразмерная величина). Учитывая индуциро-

 

 

 

 

km 1 2

 

ванный электрический дипольный момент, комплексная диэлектрическая проницаемость

~

 

 

 

 

н.ч

 

 

 

 

 

,

(9.40)

1

 

 

2

j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где – проницаемость на частотах

>>

o, обусловленная более высо-

кочастотными механизмами поляризации,

 

чем

 

 

 

рассматриваемый;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N q2

– проницаемость на частотах

<<

o, она равна

 

 

 

 

 

. Дейст-

 

 

 

 

0 k

вительная и мнимая составляющие ~ :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

2

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

н.ч

 

 

 

0

,

(9.41)

 

 

 

 

 

 

 

1

2

2

2

2

2

2

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

н.ч

 

 

 

 

0

 

.

(9.42)

1

2

2

2

2

2

2

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С повышением частоты растет от своего низкочастотного значения н.ч, достигает максимума, затем падает и снова растет, приближаясь к значению (рис. 9.16).

Рис. 9.16. Частотные зависимости и при резонансной дисперсии

125

ион.

При частоте

= o диэлектрическая проницаемость = . Мини-

мальное значение

может быть меньше 1 и даже меньше нуля (в отли-

чие от статического , которое всегда больше 1). Отрицательный знак значит, что колебание вектора смещения D происходит в противофазе с вектором Е.

9.4.5.Потери в неоднородных диэлектриках

Вдиэлектриках, содержащих проводящие включения, вместе с релаксационными потерями наблюдаются дополнительные миграционные потери (рис. 9.17), а в диэлектриках, содержащих газовые включения, – ионизационные потери (рис. 9.18).

Рис. 9.17. Двухслойный конденсатор и его эквивалентная схема

Рис. 9.18. Ионизационные потери пористых диэлектриков при напряжениях свыше Uион

Миграционные потери можно не учитывать в композиционных диэлектриках, состоящих из хороших диэлектриков (fp < 1 Гц), но при наличии сильно проводящих включений fp оказывается в области рабочих частот радиоэлектроники (fp 30 – 50 кГц), т.е. их надо учитывать.

Ионизационные потери (рис. 9.18) или потери на частичные разряды наблюдаются в пористых диэлектриках при повышении напряжения выше определенного предела, называемого порогом ионизации U Для избежания этих потерь применяют пропитку маслами, лаками и др.

126

9.4.6. Полный диэлектрический спектр

 

W = Wскв + Wд + Wрез + Wмиг + Wион,

(9.43)

где Wскв – мощность потери на электропроводность, Wд – дипольная релаксационная, Wрез – резонансная, Wмиг – миграционная, Wион – иони-

зационная, так как W 0 E2 , то

скв Д рез миг ион (9.44)

(но tg не суммируется). В гамма- и рентгеновских диапазонах (>1017 Гц, рис. 9.19), когда сравнима или меньше размера атома, макроскопическая поляризация вещества не происходит, = 1 (потерь нет).

Рис. 9.19. Полный диэлектрический спектр

Начиная с ультрафиолета и видимой области, появляется электрон-

ная поляризация эл =

эл в твердых и жидких телах (1014 – 1016 Гц), при

совпадении частоты o3

с частотой собственных колебаний электронных

оболочек наблюдаются узкие максимумы (оптические спектры поглощения). В инфракрасном диапазоне начинают смещаться ионы – появляется ионная поляризация, увеличивающая на ион= ион. На частотах резонанса ( o1, o2) наблюдаются максимумы резонансного поглощения. В радиочастотном диапазоне (103 – 1011 Гц) у полярных диэлектриков появляется дипольная поляризация д = д и наблюдаются релаксационные потери. При наличии нескольких типов диполей эти потери могут занимать широкую область частот (3–6 порядков) и слабо зависеть от f. В неоднородных диэлектриках на низких частотах проявляются мигра-

ционная поляризация и связанные с ней потери миг (на частоте

р.миг).

Во всех материалах возникают потери от сквозной проводимости (

скв =

1/ ).

На практике снижение потерь достигается путем выбора однород-

ных (

миг = 0) неполярных ( д = 0) диэлектриков с высоким . У поли-

этилена, тефлона, кварца, парафина и т.п. tg во всем диапазоне частот

127

имп .пр
Рис. 9.20. ВАХ электрической изоляции

радиоэлектроники tg 10-4. У полярных диэлектриков (полихлорвинил, органическое стекло) в области частот релаксации tgдостигает значений 0,01 0,3, что может привести к недопустимому нагреву.

9.5.Пробой диэлектриков

9.5.1. Основные понятия о пробое

При увеличении Е может произойти резкое увеличение проводимости, но только в узком канале диэлектрика. Явление образования проводящего канала в диэлектриках под действием электронного поля назы-

вается пробоем. Пробой может быть полным (от одного электрода до другого),

неполным и частичным (пробивается лишь газовое включение). У твердых диэлектриков возможен пробой по поверхности, который называется поверхностным пробоем. Минимальное напряжение, приводящее к пробою, называется про-

бивным напряжением (рис. 9.20). В мес-

те пробоя возникает искра, электрическая дуга. Короткое замыкание приводит к уменьшению U, но к росту I. После пробоя в твердых диэлектриках остается след

в виде пробитого, прожженного или проплавленного отверстия, чаще неправильной формы. Повторный пробой происходит обычно по тому же месту.На поверхности образование проводящих следов (треков) называется трекингом. Номинальное напряжение электрической изоляции должно быть меньше Uпр. Отношение Uном/Uпр называется коэф-

фициентом запаса электрической прочности. Значение Uпр тесно связано с временем воздействия напряжения. При кратковременном импульсе пробой происходит при больших напряжениях, чем при постоянном или длительном воздействии. При медленном возрастании напряжения пробивное напряжение называется пробивным статиче-

ским напряжением, а при импульсном воздействии – пробивным им-

пульсным напряжением. Отношение U U пр называется коэффи-

циентом импульса > 1. Uпр растет с увеличением толщины диэлектрика h. Для характеристики диэлектриков применяют понятие пробивной напряженности электрического поля:

Eпр

Uпр

,

(9.45)

h

 

 

 

называемой электрической прочностью – это один из важнейших параметров диэлектриков.

128

9.5.2.Пробой газов

Ввоздухе в 1 с в 1 см3 образуется 10–20 электронов из-за радиоактивного фона земли. При увеличении Е электроны приобретают энер-

гию W = q Е ( – длина свободного пробега), и если w > wи (wи – энергия ионизации), то (при столкновении с молекулами О2 и др.) ионизируют их и образуют «вторичные» электроны, которые в свою очередь вызывают ионизацию. Получается лавинообразное нарастание числа электронов. Интенсивность этого процесса определяется коэффициентом ударной ионизации , равным числу ионизаций, производимых электроном на единицу длины пути в направлении поля. При этом число электронов у анода, образовавшихся из-за ударной ионизации, на один электрон, вышедший с катода, достигает exp( h), где h – расстояние между электродами. Лавинный пробой стимулируется процессами выбивания электродов из катода ионами. Лавинный пробой процесса сравнительно медленный (> 1 мкс) и не характерен для импульсного напряжения. При лавино-стримерном пробое происходит еще фотоионизация в газе и создается повышенная концентрация носителей заряда (как электронов, так и положительных ионов). Стример – это скопление ионизированных частиц, сильно превосходящее лавину по степени ионизации. Стример распространяется на весь межэлектродный промежуток и происходит пробой.

Рис. 9.21. Зависимость

Рис. 9.22. Зависимость

электрической прочности газов

электрической прочности воздуха

от давления

при нормальном

(пунктир – нормальное

атмосферном давлении

атмосферное давление)

расстояния от электродов

Электрическая прочность Епр газов сильно зависит от давления (рис. 9.21): при увеличении давления p длина свободного пробега уменьшается, а при малых p уменьшается вероятность столкновения с молекулами. Епр также зависит от расстояния между электродами h: при

129

уменьшении h Епр растет (рис. 9.22), так как уменьшается вероятность столкновения электронов с молекулами.

9.5.3. Пробой твердых диэлектриков

Физическая картина пробоя твердых диэлектриков может быть различна. Вместе с ионизационными процессами к пробою могут приводить вторичные процессы, обусловленные сильным электрическим полем: нагрев, химические реакции, частичные разряды напряжения в результате электрострикции, образование объемных зарядов на границах неоднородных диэлектриков и т.п. Поэтому различают несколько механизмов пробоя твердых диэлектриков: электрический, тепловой,

электрохимический, ионизационный, электромеханический. Элек-

трический пробой обусловлен ударной ионизацией или разрывом связей между частицами диэлектриков непосредственно под действием электрического поля. Электрическая прочность Епр твердых диэлектриков при электрическом пробое лежит в сравнительно узких пределах 100 1000 МВ/м. Величина Епр обусловлена главным образом внутренним строением диэлектриков (плотность упаковки атомов, прочность их связей) и слабо зависит от температуры, частоты приложенного напряжения, формы и размеров образца (за исключением малых толщин). Характерно очень малое время пробоя – микросекунды и менее.

9.5.4. Тепловой пробой

Обусловлен нарушением теплового равновесия диэлектриков вследствие диэлектрических потерь (рис.9.23.). Мощность, выделяющаяся в образце диэлектриков емкостью С, при подаче на него напря-

жения U (действующее) с угловой частотой

P U 2

C tg .

 

n

 

Рис. 9.23. Зависимость мощности, поглощаемой Рп и рассеиваемой Рр образцом диэлектрика, от температуры

130