- •Учебно-методический комплекс по дисциплине
- •II. Материалы, устанавливающие содержание и порядок изучения дисциплины.
- •I. Рабочая программа дисциплины
- •1.1. Цели освоения дисциплины
- •1.2. Место дисциплины в структуре ооп специалитета.
- •1.3. Компетенции обучающегося, формируемые в результате освоения дисциплины.
- •1.4. Структура и содержание дисциплины.
- •1.4.1. Структура дисциплины.
- •1.4.2. Темы дисциплины объем модулей.
- •1.5. Образовательные технологии
- •1.6. Учебно-методическое обеспечение самостоятельной работы студентов. Оценочные средства для текущего контроля успеваемости, промежуточной аттестации по итогам освоения дисциплины.
- •1.7 Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины.
- •1.8 Материально-техническое обеспечение дисциплины
- •II. Материалы, устанавливающие содержание и порядок изучения дисциплины.
- •2.1. Распределение часов по темам и видам учебной работы
- •2.2. Содержание дисциплины
- •1. Понятие о р-п переходе
- •1.1. Определение и классификация р-п переходов
- •1.2. Структура р-п перехода
- •Основные результаты
- •Равновесное состояние р-п перехода
- •2.1. Энергетическая диаграмма р-п перехода
- •2.2. Токи через р-п переход в равновесном состоянии
- •2.3. Методика расчета параметров р-п перехода
- •2.4. Расчет параметров ступенчатого р-п перехода.
- •2.5. Переход с линейным распределением принеси
- •2.6. Диффузионные р-п переходы
- •2.7. Гетеропереходы
- •Основные результаты
- •3. Неравновесное состояние р-п перехода
- •3.1. Прямое и обратное включение диода
- •3.2. Квазиуровни Ферми для электронов и дырок
- •3.3. Энергетические диаграммы неравновесного р-п перехода.
- •3.4. Граничные условия.
- •3.5. Ширина р-п перехода.
- •Основные результаты.
- •4. Анализ идеализированного диода
- •4.1. Модель идеализированного диода
- •4.2. Методика анализа вах идеализированного диода
- •4.3. Распределения неосновных носителей заряда в квазинейтральных областях
- •4.4. Вах идеализированного диода
- •4.5. Тепловой ток.
- •4.6. Температурная зависимость прямой ветви вах диода.
- •4.7. Характеристические сопротивления диода и коэффициент качества вах диода.
- •4.8. Коэффициент инжекции.
- •Основные результаты.
- •5. Вах реального диода
- •5.1. Особенности вах реального диода
- •5.2. Термогенерация и рекомбинация носителей заряда в р-п переходе
- •5.3. Ток термогенерации (обратное смещение перехода)
- •5.4. Ток рекомбинации (прямое смещение перехода)
- •5.5. Сопротивление базы
- •5.6. Характеристики диода при высоком уровне инжекции
- •5.7. Вах реального диода
- •Основные результаты.
- •6. Пробой р-п перехода
- •6.1. Механизм пробоя р-п перехода
- •6.2. Тепловой пробой
- •6.3. Лавинный пробой
- •6.4. Туннельный (полевой) пробой
- •6.5. Особенности лавинного и туннельного механизмов пробоя
- •Основные результаты
- •2.4. Экзаменационные вопросы для итогового контроля по
- •2.4.1. Тесты для итогового контроля по дисциплине «Физика p-n переходов и поверхностно-барьерных структур»
4.3. Распределения неосновных носителей заряда в квазинейтральных областях
Распределение
дырок в базе описывается уравнением
(4.16а), общее решение которого в стационарном
случае (
)
имеет вид:
,
(4.17)
где
-
(4.18)
диффузионная длина дырок в базе.
Константы
интегрирования
и
определяются граничными условиям: в
точках
(граница базы ср-п
переходом) и
(граница базы с контактом).
В
точке
для уровня инжекции справедливо граничное
условие Шокли (3.7б):
.
(4.19)
На
границе с омическим
контактом
концентрация дырок соответствует
равновесному значению
:
.
(4.20)
Таково определение омического контакта. В реальных приборах условие (4.19) не является вполне точным, однако это не влияет существенно на результат.
С учетом (4.19) и (4.20) из (4.17) получим
.
(4.21а)
Распределение дырок в базе для различных напряжений на переходе представлено на рис.4.3.

Для
диода с длинной базой
(рис.4.3,а) из (4.21а) следует
.
(4.21б)
Таким образом, диффузионная длина есть расстояние, на котором избыточная концентрация носителей уменьшается вследствие рекомбинации в раз. Другими словами, это средняя длина, которую дырки проходят под действием диффузии за время своей жизни.
В
диоде с короткой базой
(рис.4.3,б), при этом из (4.21а) следует
.
(4.21в)
Таким образом, в диоде с короткой базой распределение концентрации есть линейная функция х. Это объясняется тем, что дырки не успевают рекомбинировать в базе за время, в течение которого они диффундируют от р-п перехода к омическому контакту. Поскольку потерь на рекомбинацию нет, дырочный ток не зависит от х. Так как дырочный ток в базе является диффузионным, то от х не зависит также и градиент концентрации дырок, что и соответствует линейному распределению.
Аналогичный образом находится распределение избыточных электронов в эмиттере:
(4.22а)
(4.226)
(4.22в)
где
;
.
4.4. Вах идеализированного диода
Дифференцируя соотношения (4.21а), (4.22а) и подставляя результат в (4.15), получим:
,
(4.23а)
,
(4.236)
где
(4.24а)
(4.24б)
Величины
и
называются плотностями тепловых токов
дырок и электронов соответственно.
С учетом (4.14) ВАХ идеализированного диода имеет вид:
,
(4.25)
-
тепловой ток диода,
(4.26)
-
тепловой ток дырок,
(4.27а)
-
тепловой ток электронов,
(4.27б)
-
площадь перехода.
Тепловой ток является единственным параметром, полностью определяющим ВАХ идеализированного диода.
Поскольку
и
, то ясно, что при одинаковых условиях
тепловой ток в германиевом диоде будет
намного больше, чем в кремниевом (приТ=300
К,
≈1013
см-3
для германия, и
≈2∙1010
см-3
для -кремния).

Из
вольт-амперной характеристики (4.25)
следует, что при
обратный ток через диод равен тепловому:
.
При этом ток не зависит от напряжения.
Примерный вид идеализированных ВАХ для германиевого и кремниевого диодов показан на рис.4.4.
ВАХ
диода имеет резко асимметричный характер.
При отрицательном напряжении высота
потенциального барьера между эмиттером
и базой возрастает, и диффузионные токи
электронов и дырок уменьшаются практически
до нуля. Дрейфовые составляющие токов
не зависят от напряжения и составляют
тепловой ток
.
При положительном напряжении высота
потенциального барьера уменьшается, и
диффузионные токи электронов и дырок
резко возрастают с ростом напряжения.
Поскольку величина теплового тока
весьма мала, диод обладает односторонней
проводимостью.
В заключение отметим, что экспоненциальная форма ВАХ (4.25) непосредственно вытекает из граничных условий Шокли (3.7) и (3.8).
