![](/user_photo/2706_HbeT2.jpg)
nano_1_97_4_lec
.pdf![](/html/2706/1080/html_GwEUqNaWdJ.xmrn/htmlconvd-chusby91x1.jpg)
Лекція 13
Технології, основані на фізичних процесах: осадження з парової фази, термічне випаровування, катодне і магнітронне, високочастотне розпилення, іоннопроменеві і лазерні методи.
Осадження з парової фази (PVD — Physical Vapour Deposition).
Методи об'єднані спільною схемою нанесення покриття і використанням вакууму. Спочатку матеріал для покриття переводять з конденсованого стану у парову фазу, потім проводять його транспортування до підкладки (матеріалу на який наносять покриття), де відбувається осадження матеріалу покриття з парової фази і формування покриття (рис. 40). Використання вакууму полегшує переведення матеріалу в парову фазу.
Рисунок 40. — Типова схема установки для нанесення покриття PVD-методом: 1 – матеріал покриття, 2 – система переводу матеріалу в парову фазу, 3 – потік випаруваної речовини, 4 – підкладка, 5 – сформоване покриття; 6 – система транспортування матеріалу покриття в паровій фазі до підкладки, 7 – система фокусування (та/чи сканування) потоку речовини, що осаджується на підкладку, 8 – система закріплення підкладки та її контрольованого переміщення, 9 – система регулювання температури нагріву підкладки, 10 – система керування і контролю технологічними параметрами (температура підкладки, швидкість переводу матеріалу в парову фазу, тиск в камері, швидкість осадження покриття, товщина покриття тощо), 11 – вакуумна камера, 12 – система створення і підтримування високого вакууму (система вакуумних засувок, форвакуумних і високовакуумних насосів, азотна пастка тощо), 13 – шлюзова камера і система подачі та зміни підкладок, 14 – оглядові контрольні вікна, 15 – система охолодження
91
Широко розповсюдження PVD-методів обумовлено такими причинами:
можливість отримання дуже рівномірних поверхневих шарів завтовшки від 1 нм до 200 мкм з дуже добрим відтворенням властивостей;
розмір поверхні, яку покривають, може бути обмеженим, а може у ряді випадку (магнетронне напилення) складати смуги практично необмеже-
ної довжини;
можливість селективного нанесення на вибрані ділянки;
майже необмежений вибір матеріалів підкладки (теоретично матеріал пі-
дкладки може бути будь-яким);
достатня гнучкість стосовно температури підкладки;
широкий вибір матеріалів для поверхневих шарів (метали, сплави, хімічні сполуки);
можливість отримання багатошарових покриттів з шарами різної товщи-
ни та з різних матеріалів;
зміна складу, структури і властивостей шарів змінами технологічними параметрами нанесення;
можливість забезпечення високої чистоти матеріалу покриття;
мінімальне забруднення оточуючого середовища.
До недоліків цієї групи методів відносять:
складність і велику вартість технологічного і контрольного обладнання;
необхідність дуже високої кваліфікації обслуговуючого персоналу;
порівняно низьку продуктивність;
складність розробки технологічного режиму для конкретного випадку нанесення покриття, особливо у випадку покриттів точного хімічного складу;
необхідність спеціальної попередньої підготовки поверхонь.
Класифікація методу всередині групи визначається використовуваним
поєднанням способів випаровування, транспортування та осадження.
92
![](/html/2706/1080/html_GwEUqNaWdJ.xmrn/htmlconvd-chusby93x1.jpg)
Термічне випаровування Вперше цей метод був використаний для осадження тонких шарів металів
ще в кінці ХІХ сторіччя. Проте тільки з появою достатньо досконалого вакуум-
ного обладнання у другій половині ХХ сторіччя він знайшов широке застосу-
вання для отримання, наприклад, просвітлених покриттів для оптики, дзеркал,
інтерференційних фільтрів, затемнювальних оптичних покриттів, декоративних покриттів на пластиках і тканинах, плівок напівпровідників та електронно-
оптичних матеріалів. Іноді цей метод називають також газофазовим осаджен-
ням, вакуумним або термічним напиленням.
Процес термічного випаровування проводять у вакуумі тиску порядку
10–3–10–5 Па . За такого тиску довжина вільного перебігу атомів або молекул становить декілька метрів. Отримана унаслідок нагріву парова фаза напилюва-
ної речовини вільно осаджується на підкладку, яка має температуру набагато нижчу, ніж температура парової фази.
Залежно від джерела нагріву отримали розповсюдження такі варіанти ме-
тоду: електротермічний нагрів (пряме пропускання електричного струму або нагрів у тиглі); нагрів в індукторі; випаровування за дії електродугового розря-
ду; нагрів електронним або лазерним променем (рис. 41).
Рисунок 41. — Декотрі варіанти методу термічного випаровування: а) випаро-
вування з металевого листа із захисним покриттям, б) металевий випаровувач в формі човника, в) керамічний тигель з зовнішнім нагрівним елементом, г) ви-
паровування лазерним або електронним променем.
Більшість методів основано на випаровуванні металевих матеріалів. На-
грів у тиглі й використання лазерного випромінювання дозволяють випарову-
93
вати широку гаму матеріалів. Зокрема перший метод можна використовувати для випаровування матеріалів з відносно невисокою температурою випарову-
вання, яку призначають залежно від температури плавлення, а також темпера-
тури і хімічної стійкості матеріалу тигля (табл. 4). Так тиглі з графіту забезпе-
чують температуру процесу до 1400 °С, з Al2O3 — до 1600 °C, з BN+TiB2 — до
1750 °C, з фольги Мо і Та із захисним покриттям — до 1850 °С, з ThO2 та ZrO2
— до 2100 °С. Важливою умовою вибору матеріалу тигля є відсутність хімічної взаємодії між ним і випаровуваною речовиною за високих температур. Для за-
безпечення кращих умов випаровування і подолання ряду інших недоліків тиг-
льового методу нагрівання використовують електронно-променеве випарову-
вання. У цьому випадку електропровідний випаровуваний матеріал поміщують у охолоджуваний водою тигель і нагрівають електронним променем за напруги прискорення променя 2–10 кВ і струму порядку 0,1 А. Пляма фокусування еле-
ктронного променя на поверхні випаровуваного матеріалу може становити до 1
мм, тому зона плавлення буде менше всього об'єму матеріалу і, отже, не буде контактувати з тиглем. Недоліком електронно-променевого методу, як і випа-
ровування з тиглів, є складність випаровування матеріалу, який складається з компонентів з різною пружністю парів за однієї й тої самої температури, що викликає складність в отриманні покриття з бажаним хімічним складом.
Застосування лазерного випромінювання (імпульсного або неперервного)
дозволяє позбутися більшості температурних і хімічних обмежень і усуває пот-
ребу в тиглях. Практично миттєве випаровування речовини уможливлює збе-
реження співвідношення хімічних компонентів в осаджуваній плівці таким са-
мим як і у випаровуваного матеріалу. До недавнього часу застосування лазерного випромінювання у такого типу процесах стримувалося через високу вартість потужних імпульсних і неперервних лазерів та складністю юстування оптичних систем для транспортування, фокусування і наведення лазерних про-
менів.
94
Таблиця 4. — Температури нагрівання декотрих речовин за методом термічного випаровування у вакуумі
Речовина |
Температура |
Використовувані температури |
плавлення, оС |
випаровування, оС |
|
алюміній |
650 |
1250…1400 |
|
|
|
миш'як |
820 |
> 300 |
|
|
|
барій |
710 |
> 610 |
|
|
|
берилій |
1283 |
>1250 |
|
|
|
вісмут |
271 |
650…1000 |
|
|
|
вуглець |
3700 |
> 2600 |
|
|
|
хром |
1900 |
> 1400 |
|
|
|
залізо |
1536 |
> 1480 |
|
|
|
мідь |
1084 |
> 1300 |
|
|
|
золото |
1063 |
> 1400 |
|
|
|
срібло |
961 |
> 1150 |
|
|
|
платина |
1770 |
> 2100 |
|
|
|
тантал |
3000 |
> 3100 |
|
|
|
вольфрам |
3380 |
> 3250 |
|
|
|
цинк |
420 |
350–1000 |
|
|
|
CdTe |
1100 |
750–850 |
|
|
|
BeO |
2530 |
2100–2700 |
|
|
|
Al2O3 |
2030 |
> 1850 |
|
|
|
Використання вакууму призводить до того, що у ряді випадків темпера-
тура, за якої досягають інтенсивну швидкість випаровування для уможливлення бажаною продуктивності процесу, виявляється нижчою за температуру плав-
лення випаровуваної речовини. Для оцінки робочих температур нагріву зазви-
чай використовують температуру, яка забезпечує значення усталеного тиску парів випаровуваного матеріалу не нижче 1 Па. Для більшості матеріалів робочі
95
температури випаровування змінюються в межах від 1100 до 2600 °С (див.
табл. 4). Швидкість осадження покриттів може становити від декількох ангст-
рем до декількох мікрометрів за секунду (наприклад, для W — до 5 мкм/с, для
Al — до 40 мкм/с). Для покращення адгезії або створення заданої структури осаджуваного покриття у ряді випадків застосовують підігрів підкладки.
Для створення покриття зі сплавів або сполук, як правило, проводять ви-
паровування кожного їх компонента від незалежних джерел. Це пов'язано з тим,
що під час випаровування складної речовини її компоненти можуть мати силь-
но відмінні значення тисків парів. У цьому випадку склад парової фази, а отже,
і склад покриття буде відрізнятися від складу випаровуваної речовини. Окрім того, випаровування сполук (хімічних чи інтерметалевих) часто супроводжу-
ється процесами дисоціації та/або асоціації, що також перешкоджає отриманню заданого складу покриття.
До переваг методу термічного випаровування належать відносна простота обладнання і контролю процесу, а до недоліків — слабка адгезія покриття вна-
слідок малої енергії осаджуваних на підкладку атомів чи молекул і висока чут-
ливість до наявності на поверхні підкладки сторонніх плівок і забруднень.
Вплив цих недоліків дещо послаблюють завдяки застосуванню спеціальних ме-
тодів підготовки поверхні (ультразвукове очищення поверхні, хімічне, електро-
хімічне очищення, хімічне або іонне травлення).
Метод термічного випаровування достатньо широко використовують у виробництві жорстких магнітних дисків для комп'ютерів. Підкладкою слугує алюмінієвий диск з висотою мікрошорсткістю поверхні менше за 20 нм з нане-
сеним на нього аморфним нікель-фосфорним підшаром завтовшки приблизно
20 мкм (для покращення адгезії та компенсації різниці у величині коефіцієнтів термічного розширення підкладки та покриття). Спочатку напилюють проміж-
ний металевий шар, наприклад Ni–Fe завтовшки 500–1000 нм, а вже потім — основний шар з магнітного матеріалу, наприклад сплаву на основу Co або Co– Cr, завтовшки 100–500 нм. Поверх всього покриття наносять зносостійкий за-
хисний вуглецевий шар завтовшки 30–50 нм. Також термічне напилення вико-
96
![](/html/2706/1080/html_GwEUqNaWdJ.xmrn/htmlconvd-chusby97x1.jpg)
ристовують також у виробництві CD–дисків. На диск з пластмаси наносять алюмінієве основне покриття завтовшки у нанометровий діапазон. В обох ви-
падках для забезпечення високої чистоти матеріалів тиск у вакуумній камері підтримують менше з 10–5 Па.
Такі матеріали для електронно-оптичної техніки і для створення регуляр-
них наноструктур, у тому числі двомірних фотонних кристалів, як фулеренові й композитні фулереноосновні плівки також отримують розглядуваним методом.
Наприклад, плівки С60–CdTe (рис. 42) завтовшки 200–600 нм на підкладках
GaAs вирощують шляхом випаровування міксту заданого складу у вакуумі тис-
ку 10–4 Па і температурі підігріву підкладки приблизно 160 °С.
Рисунок 42. — Зображення то-
пографічної структури поверхні плівки С60 – 40 % CdTе, отри-
мане за допомогою растрового електронного мікроскопу
Останнім часом активно проводять прикладні дослідження стосовно отримання тонких покриттів і шаруватих композитів на їх основі використан-
ням для випаровування матеріалів випромінювання імпульсного лазера з дуже коротким часом імпульсу (аж до фемтосекундного діапазону). Такий метод у літературі часто позначають як PLD (Pulsed Laser Deposition). Наприкладl, так отримують плівки Y2O3–ZrO2 на кремнію для електроніки; шаруваті композити,
які складаються з покриття Sm–Fe завтовшки 20 нм, підшару Та завтовшки100
нм і кремнієвої підкладки; магнітні плівки Ni з середнім розміром кристалітів
40 нм.
Катодне і магнітронне розпилення Найпростіший варіант цього методу — двохелектродний (рис. 43, а). Він
оснований на використанні плазми тліючого розряду у вакуумі за тиску 1–0,1
Па. Перед початком процесу для вилучення газів у вакуумній камері зазвичай створюють вакуум до10–2–10–3 Па, потім подають у камеру інертний газ і до-
97
![](/html/2706/1080/html_GwEUqNaWdJ.xmrn/htmlconvd-chusby98x1.jpg)
водять тиск до робочих значень. Частіше за все використовують аргон. Між ка-
тодом (мішенню з розпилюваного матеріалу) і анодом (як правило, тримачем підкладки, на яку наносять покриття) прикладають постійну напругу 1–5 кВ.
Така величина напруги перевищує потенціал іонізації і напругу пробою, тому з катоду емітується достатня кількість вторинних електронів, які, рухаючись від катоду до аноду, стикаються з атомами газу й іонізують їх.
Рисунок 43. — Основні принципіальні схеми катодного розпилення: а) двох-
електродний метод, б) чотирьохелектродний метод, 1 – вакуумна камера, 2 —
тримач підкладки (за двохелектродного методу також є анодом), 3 – підкладка,
4 – зона плазми тліючого розряду, 5 – мішень (розпилюваний матеріал), 6 – ос-
новний катод, 7 – тепловий катод, 8 – стабілізувальний електрод, 9 – анод
В результаті такої взаємодії виникає тліючий розряд. Іони інертного газу бомбардують мішень-катод і вибивають з неї атоми покриття. Останні осаджу-
ються на розміщену поблизу підкладку. Підкладка разом з тримачем замкнена на масу, але у ряді випадків функції анода і тримача підкладки можуть бути су-
міщені. Для того, щоб забезпечити достатню імовірність досягнення мішені іо-
нами з високими значеннями енергії (і відповідно забезпечити достатню проду-
ктивність процесу розпилення) анод і катод не повинні бути розташовані досить близько. Зазвичай віддаль обирають у такий спосіб, щоб анод не попа-
дав у ділянку від'ємного свічення. З іншого боку, якщо присунути анод до краю темного простору, то віддаль між катодом і анодом буде менше величини віль-
98
ного перебігу електронів, й іонізації газу не буде відбуватися. Швидкість оса-
дження за такого варіанту методу достатньо низька (порядку 0,1 мкм/хв).
Високочастотне розпилення Спосіб є різновидом катодного. Загальна схема аналогічна схемі на рис.
43 а, тільки замість постійного електричного струму використовують змінний високочастотний напругою 0,3–2 кВ, частотою 13–14 МГц. До того ж у ряді ви-
падків на анод подають додатковий потенціал зміщення –(0,1–0,5) кВ, що до-
зволяє зменшити ступінь забруднення нанесеного на підкладку матеріалу газо-
вими домішками.
Для збільшення продуктивності процесу застосовують більш складні схеми, у тому числі чотирьохелектродний метод і метод магнетронного розпи-
лення.
За чотирьохелектродною схемою (рис. 43, б) напруга розряду може бути більш низькою, а розрядний струм і напругу на мішені регулюють незалежно один від другого. Розряд виникає унаслідок різниці потенціалів між тепловим катодом і анодом, а розпилення відбувається за зіткнення іонів газу з катодом-
мішенню, на який подають від'ємний потенціал. Додавання теплового катоду,
який нагрівається до температури, що забезпечує теплову емісію електронів,
дозволяє суттєво полегшити утворення плазми і проводити процес за більш ви-
сокого вакууму (0,1 Па), а отже забезпечувати вищу чистоту напилюваного ма-
теріалу. Швидкість осадження становить приблизно 1 мкм/хв. Недоліком цього варіанту є значний нагрів підкладки, який у ряді випадків досягає 300–500 °С.
Катодне розпилення застосовують переважно для нанесення шарів з ме-
талевих матеріалів.
Магнетронне розпилення (рис. 44) — на ділянку розряду для збільшення продуктивності процесу накладають магнітне поле, яке концентрує плазму на мішені-катоді. Силові лінії магнітного поля спрямовані від одного полюса пос-
тійного магніту до другого. Траєкторія руху електронів розташовуються між місцями входу й виходу силових ліній магнітного поля. У цих місцях і локалі-
зується інтенсивне утворення плазми і перебіг процесів розпилення. Унаслідок
99
![](/html/2706/1080/html_GwEUqNaWdJ.xmrn/htmlconvd-chusby100x1.jpg)
такої локалізації з'являється можливість розпилення не тільки металевих, але й діелектричних і напівпровідникових матеріалів. Метод магнетронного розпи-
лення дозволяє зменшити нагрівання підкладки до 100-250 °С і забезпечити швидкість осадження до 1–2 мкм/хв. На рис. 45 показано приклад структури алюмінієвого наноструктурного покриття, нанесеного на мартенсито-старіючу сталь 06Н16К4М4Т2Ю за методом магнетронного розпилення. Покриття нано-
сили за дистанції підкладки від розпилюваного матеріалу ~ 70 мм за таким тех-
нологічним режимом: струм розряду 5 А, напруга розряду 480–500 В, тиск ар-
гону 0,4–0,5 Па, напруга зміщення, яку подавали на підкладку –50 В.
Рисунок 44. — Схема магнетронного розпилення: 1 – вакуумна камера, 2 – три-
мач підкладки (за двохелектродного методу також є анодом), 3 – підкладка,
4 – зона концентрації плазми тліючого розряду, 5 – розпилюваний матеріал,
6 – катод, 7 – анод кільцевої або рамочної форми, 8 – магніт, 9 – напрямки си-
лових ліній магнітного поля
Рисунок 45. — Магнітронне покриття з алюмінію на мартенсито-старіючій сталі 06Н16К4М4Т2Ю
Іонно-променеві методи Ця група методів отримала розвиток відносно нещодавно. Основою мето-
дів є використання концентрованих потоків іонів. Іонно-променева технологія
100