Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
4 семестр (2 курс)лала / ЭП (Электронные приборы) / Электронные приборы и устройства. Практикум.pdf
Скачиваний:
262
Добавлен:
11.05.2015
Размер:
3.73 Mб
Скачать

пряжения на переходе, поскольку барьерная емкость зависит от обратного напряжения U < 0 .

Диффузионная емкость, отражающая процессы накопления носителей за-

ряда в p- и n-областях диода, определяется по формуле

 

Cдиф = tпр ×

I

=

tпр

»

tпр × I(U)

,

(1.12)

U

r

j

T

 

 

 

диф

 

 

 

 

где tпр – время пролета носителей заряда через диод или время жизни неосновных носителей заряда в базе диода. Базой называется менее легированная область из двух областей полупроводниковой структуры диода.

В табл. 12.15 данного практикума приведена полная система параметров модели диода, используемая программным модулем Pspice A/D пакета OrCAD. Параметры модели разбиты на группы, каждая из групп параметров отражает то или иное свойство или характеристику диода: параметры, описывающие статический режим работы, т.е. ВАХ диода; параметры, описывающие динамический режим работы, т.е. его емкостные свойства, определяющие длительность переходных процессов; параметры, описывающие влияние температуры. В зависимости от типа диода по функциональному назначению или от точности, предъявляемой к результатам моделирования, ряд параметров может не использоваться, им присваиваются значения по умолчанию. При моделировании выпрямительного диода необходимо иметь параметры, описывающие прямую ветвь ВАХ и его емкостные свойства. При моделировании стабилитрона необходимо знать параметры, описывающие как прямую ветвь ВАХ, так и обратную – участок пробоя, который является в данном случае рабочим участком. При моделировании варактора необходимо знать как параметры ВАХ, так и параметры, описывающие его барьерную емкость.

Важной задачей, которую должен уметь решать разработчик аппаратуры, использующий пакет OrCAD, является алгоритм определения параметров модели прибора по его справочным данным, поскольку в его собственных библиотеках математических моделей диодов имеются модели не для всей номенклатуры приборов.

1.3. Алгоритм определения параметров нелинейной модели диода

Рассмотрим алгоритм определения основных параметров математической модели диода I0 , n, rs , ϕк и g по его ВАХ и ВФХ на примере СВЧ-диода с

барьером Шоттки BAT54W фирмы Philips Semiconductors.

График прямой ветви ВАХ диода в полулогарифмическом масштабе показан на рис. 1.5 сплошной линией. Из-за падения напряжения на последовательном сопротивлении rs связь между током диода I и напряжением на его за-

жимах Ud (см. рис. 1.4) описывается следующим выражением:

15

 

é q(Ud -I×rs )

ù

 

 

 

 

 

I(Ud )= I0 êe

nkT

-1ú .

 

 

 

 

(1.13)

 

ê

 

 

ú

 

 

 

 

 

 

ë

 

 

û

 

 

 

 

 

При низком уровне тока падением напряжения на сопротивлении rs мож-

но пренебречь, а уравнение (1.13) можно упростить:

 

 

 

qU d

 

 

 

 

 

 

 

I(Ud )= I0 ×e nkT .

 

 

 

 

 

 

(1.14)

Прологарифмировав правую и левую части (1.14), можно получить выра-

жение

 

 

 

q

 

 

 

 

 

log10 (I)

» log10 (I0 )+

 

 

 

 

 

 

n × k × T × ln(10)Ud ,

 

 

(1.15)

из которого следует, что графиком функции log10 (I)

в полулогарифмическом

 

 

 

 

 

 

 

q

 

 

масштабе является прямая c наклоном

n × k × T × ln(10), пересекающая ось орди-

нат в точке log10 (I0 ). На рис. 1.5 график выражения (1.15) показан штриховой

линией.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таким образом, чтобы определить значения коэффициента неидеальности

ВАХ n и обратного тока насыщения I0 , необходимо провести прямую, аппрок-

симирующую ВАХ диода при низких уровнях тока, определить тангенс ее угла

наклона и точку пересечения с осью ординат.

 

 

I, А

1

I2

 

 

 

 

 

 

 

0.1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.01

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .10 3

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.10 4

Dlog10(I1)

 

 

 

 

 

 

1 .10 5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .10 6

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.10 7

 

DU1

 

 

DU2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.10 8

0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 1.5

 

Ud , В

Изменению тока диода от значения

I = 0,01мА до значения I = 0,1мА

(см. рис. 1.5)

соответствует изменение

log10 (I1 ) = 1. Тогда коэффициент не-

идеальности ВАХ n находится из выражения

 

 

16

 

 

q

1

,

(1.16)

 

 

=

 

 

nkT × ln(10)

DU1

т.е. n =

q × DU1

 

»16,784328 × DU1

при T=300 K.

k × T × ln(10)

 

 

 

 

 

При изменении напряжения на DU1=0,05 В: n »16,784328 × 0,05 » 0,84 .

Обратный ток насыщения определяется по величине тока в точке пересечения прямой, аппроксимирующей ВАХ при низких уровнях тока, с осью ор-

динат. Из рис. 1.5 определяем значение I0 » 1´10−7 А.

Второй способ определения n и I0 заключается в решении системы из двух нелинейных уравнений, составленной на основании уравнения (1.8) (при IB=0), по известным координатам двух точек ВАХ диода при низких уровнях

тока (I1,Ud1) , (I2 ,Ud2 ) :

 

q

 

 

(I1)» log10 (I0 )+

 

 

log10

 

 

 

Ud1;

(1.17)

n × k × T × ln(10)

 

(I2 )» log10 (I0 )+

 

q

 

log10

 

 

Ud2 .

(1.18)

 

n × k × T × ln(10)

Последовательное сопротивление диода rs

определяется по разности ме-

жду падением напряжения на реальном диоде и идеальном p-n-переходе – DU2 при высоком уровне тока I2 (см. рис. 1.5):

rs =

U2 I2 .

(1.19)

Из

рис. 1.5 определяем DU2 = 0,2 В при токе I2 = 0,1 А,

тогда

rs = 0,2/0,1 = 2 Ом.

Причем по экспериментальной ВАХ диода можно не только определить значения параметров I0 , n, rs , но и найти их оптимальные значения, т.е. такие

значения, которые лучше всего приближают ВАХ, рассчитанную по выражению (1.13), к экспериментальной. Для этого необходимо минимизировать функцию ошибки, равную сумме квадратов нормированных разностей между значениями тока в точках экспериментальной Iэкс i (U) и рассчитанной по (1.13)

Iрас i (U) ВАХ диода:

N æ

 

ö2

 

ç Iэкс i (U) - Iрас i (U)

÷

 

f (I0 ,n,rs ) = iå=1ç

 

÷ ,

(1.20)

Iэкс i (U)

è

 

ø

 

где N – число точек на ВАХ диода. Такие вычисления можно легко провести с

использованием математического пакета MathCAD.

 

Параметры ϕк

и g зависят от технологии изготовления диода и типа пе-

рехода и могут быть определены с использованием двух точек на кривой ВФХ, которые соответствуют большим обратным напряжениям. ВФХ описывается выражением (1.11), а график ее показан на рис. 1.6.

17

При больших обратных напряжениях на диоде выражение в скобках можно упростить:

1+

 

U

 

jк »

 

U

 

 

jк ,

(1.21)

 

 

 

 

тогда из выражения (1.11) следует, что

 

C C

2

» (U

2

U )γ ,

(1.22)

1

 

 

 

 

 

1

 

 

где C1 и C2 – емкости при обратных напряжениях U1 и U2 соответственно

(см. рис. 1.6). Тогда

 

 

 

 

ln(C1 / C2 )

 

g »

 

 

.

 

(1.23)

ln(U2 / U1 )

После определения γ значениеϕк можно найти с использованием формулы

jк =

 

 

 

U2

 

 

 

.

(1.24)

 

(C0 / C2 )1/ γ

C, Ф

C1

C2 U1 U2

|U|, В

Рис. 1.6

Пример документа MathCAD для определения параметров нелинейной математической модели диода и их оптимальных значений по экспериментальной ВАХ с комментариями приведен ниже.

1. Чтение файла данных ivd.txt, содержащего ВАХ диода:

IV:=READPRN («ivd.txt») VDC:= IV 0

IDC:= IV 1

N1:= rows(VDC)

i:= 0,1..N1− 1

 

 

k:= 138.×10−23

q:= 16.×10−19

T:= 300

 

ft(T):=

k × T

 

 

 

 

q

 

 

 

 

 

 

 

2. Решающий блок для вычисления n и I0 :

18

n:= 08. Io:= 5×10−9 начальное приближение

Given

æ

 

VDC2

ö

 

 

ç

 

 

÷

- IDC2

= 0

 

 

Io ×çen×ft(T) -1÷

ç

 

 

÷

 

 

è

 

 

ø

 

 

æ n ö

:= Find(n,Io)

 

ç ÷

 

è Ioø

 

 

 

 

 

 

æ

VDC0

ö

 

 

Io×

ç

n×ft(T)

÷

- IDC0

= 0

çe

-1÷

 

è

 

ø

 

 

n = 0.897553

Io = 1273964.×10-7 рассчитанные значения.

3. Описание ВАХ идеального p-n-перехода:

 

æ

VDCi

ö

Idi:= Io×

ç

n×ft(T)

÷

ç e

-1÷

 

è

 

ø

4. Расчет последовательного сопротивления диода rs :

æ I + Ioö

 

VDC

9

− Ud(IDC

9

)

Ud(I):= lnç

 

÷

× n ×ft(T) Rs:=

 

 

 

 

 

 

IDC9

 

 

è

Io ø

 

 

 

 

 

Rs = 1921126.

5. Для расчета ВАХ по (1.13) необходимо многократно решать данное нелинейное уравнение, что осуществляется с помощью функции root, предна-

значенной для решения уравнения:

 

 

i := 0,1..N1−1

x:= IDC0

 

 

 

 

 

é

é VDCn -x×Rs

ù

ù

f (Io,n,Rs,VDCn) := rootêIo × êe

nm×ft(T)

-1ú

- x, xú

 

ê

ê

 

ú

ú

 

ê

ê

 

ú

ú

 

ë

ë

 

û

û

IDCni:= f(Io, n,Rs, VDCi )

6. Графики ВАХ (рис. 1.7): экспериментальной – IDC, идеальной по вы- ражению (1.1) – Id, теоретической с учетом rs (1.13) – IDCn.

19

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

0.1

 

 

 

 

 

 

IDC

 

0.01

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Id

1 .10 3

 

 

 

 

 

 

IDCn

.10 4

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

1 .10 5

 

 

 

 

 

 

 

1

.10 6

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

 

 

0

 

 

 

 

 

VDC

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 1.7

 

 

 

Анализ: выражение (1.1) адекватно описывает ВАХ реального диода только в области малых токов; с помощью (1.13) можно получить адекватное описание всей ВАХ диода.

7. Определение функции среднеквадратического отклонения:

é

f(Io,n, Rs,VDCi ) - IDCi

ù2

SSE(Io, n,Rs):= åê

ú .

 

i ë

IDCi

û

SSE(Io, n, Rs):= 0509879.

значение среднеквадратического отклонения

до оптимизации.

8. Расчет оптимальных значений параметров модели:

 

Given

SSE(Io, n, Rs) = 0

1 = 1

2 = 2

æ

Ioö

 

 

 

 

ç

÷

:= Minerr(Io,n, Rs)

 

 

ç

n ÷

 

 

ç

÷

 

 

 

 

è Rsø

 

 

 

 

n = 0.911426 Io = 1273964.×10−7 Rs = 2187723. – значения пара-

метров модели после оптимизации;

SSE(Io, n,Rs) = 0.284268 – значение среднеквадратического отклонения после оптимизации.

9.Расчет ВАХ диода с оптимальными значениями параметров: IDCopti:= f(Io, n,Rs, VDCi )

10.Графики ВАХ (рис. 1.8): экспериментальной – IDC, теоретической (1.13) с оптимальными значениями параметров – IDCn.

20