
- •СОДЕРЖАНИЕ
- •ПРЕДИСЛОВИЕ
- •ВВЕДЕНИЕ
- •МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ К ПРАКТИЧЕСКИМ ЗАНЯТИЯМ
- •1. МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ
- •1.2. Нелинейная модель полупроводникового диода
- •1.3. Алгоритм определения параметров нелинейной модели диода
- •1.4. Практическое занятие
- •1.5. Контрольные вопросы
- •2.1. Выпрямители напряжения
- •2.2. Параметрический стабилизатор напряжения
- •2.3. Практическое занятие
- •2.4. Контрольные вопросы
- •3. МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ
- •3.1. Классификация моделей биполярных транзисторов
- •3.2. Модель Эберса – Молла
- •3.3. Малосигнальная физическая Т-образная эквивалентная схема
- •3.4. Формальная модель (система h-параметров)
- •3.5. Модель Гуммеля – Пуна
- •3.6. Частотные свойства биполярных транзисторов
- •3.7. Упрощенная малосигнальная эквивалентная схема усилителя
- •3.9. Контрольные вопросы
- •4. МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ
- •4.1. Модель Шихмана – Ходжеса
- •4.2. Дифференциальные параметры полевых транзисторов
- •4.4. Аппроксимация вольт-амперных характеристик
- •4.5. Влияние температуры на вольт-амперные характеристики
- •4.6. Практическое занятие
- •4.7. Контрольные вопросы
- •5.1. Принцип действия усилителя
- •5.2. Схемы стабилизации положения рабочей точки
- •5.3. Расчет усилителя с эмиттерной стабилизацией
- •5.4. Практическое занятие
- •5.5. Контрольные вопросы
- •6.1. Основные характеристики и параметры
- •6.2. Анализ усилительного каскада на биполярном транзисторе с ОЭ
- •6.3. Анализ усилительного каскада на биполярном транзисторе с ОБ
- •6.4. Анализ усилительного каскада на биполярном транзисторе с ОК
- •6.5. Алгоритмы расчета малосигнального усилителя
- •6.6. Практическое занятие
- •6.7. Контрольные вопросы
- •7. ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЕ УСИЛИТЕЛИ
- •7.1. Усилители постоянного тока
- •7.2. Устройство и принцип действия дифференциального усилителя
- •7.3. Расчет параметров дифференциального усилителя
- •7.4. Способы улучшение параметров дифференциального усилителя
- •7.5. Схемотехника источников тока
- •7.6. Варианты реализации дифференциальных усилителей
- •7.7. Практическое занятие
- •7.8. Контрольные вопросы
- •8.2. Согласование усилителя с нагрузкой
- •8.3. Режимы работы активного элемента в усилителях мощности
- •8.4. Схемы бестрансформаторных двухтактных усилителей мощности
- •8.5. Расчет двухтактного бестрансформаторного усилителя мощности
- •8.6. Практическое занятие
- •8.7. Контрольные вопросы
- •9. ОПЕРАЦИОННЫЕ УСИЛИТЕЛИ
- •9.1. Основные параметры и классификация
- •9.2. Обратные связи
- •9.3. Упрощенная принципиальная схема операционного усилителя
- •9.4. Инвертирующий усилитель
- •9.5. Неинвертирующий усилитель
- •9.6. Повторитель напряжения
- •9.7. Усилитель разностного сигнала
- •9.8. Амплитудно-частотная характеристика
- •9.9. Выбор операционного усилителя при проектировании
- •9.10. Практическое занятие
- •9.11. Контрольные вопросы
- •10. ЭЛЕКТРОННЫЕ КЛЮЧИ НА БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРАХ
- •10.2. Быстродействие транзисторного ключа
- •10.3. Расчет ключа на биполярном транзисторе
- •10.4. Практическое занятие
- •10.5. Контрольные вопросы
- •11. АВТОКОЛЕБАТЕЛЬНЫЕ МУЛЬТИВИБРАТОРЫ
- •11.1. Принцип действия мультивибратора с емкостными коллекторно-базовыми связями
- •11.2. Повышение быстродействия мультивибратора
- •11.3. Практическое занятие
- •11.4. Контрольные вопросы
- •12. МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ В СИСТЕМЕ OrCAD
- •12.1. Порядок работы с модулем Schematics
- •12.2. Входной файл модуля PSpice A/D
- •12.3. Запуск оболочки Schematics на выполнение
- •12.4. Чтение файла принципиальной схемы с диска
- •12.5. Сохранение файла принципиальной схемы на диске
- •12.6. Создание и редактирование принципиальной схемы
- •12.7. Размещение символов компонентов
- •12.8. Редактирование параметров компонентов
- •12.9. Размещение электрических связей
- •12.10. Создание задания на моделирование
- •12.13. Многовариантный расчет любых характеристик схемы при изменении любых ее параметров (Parametric)
- •12.14. Расчет любых характеристик схемы при изменении температуры (Temperature)
- •12.15. Расчет переходных процессов и спектральный анализ (Transient)
- •12.16. Расчет передаточных функций по постоянному току (Transfer Function)
- •12.18. Запуск программы моделирования на выполнение
- •12.19. Просмотр результатов анализа
- •12.20. Модели аналоговых компонентов
- •12.20.1. Задание параметров компонентов
- •12.20.2. Пассивные компоненты
- •12.20.3. Независимые источники сигналов
- •12.20.4. Управляемые источники сигналов
- •12.20.5. Полупроводниковые приборы
- •12.20.6. Макромодели
- •12.20.7. Операционные усилители
- •12.21. Подключение библиотек и других файлов
- •12.21.1. Подключение библиотек символов компонентов
- •12.21.2. Подключение библиотек параметров математических моделей компонентов
- •ЛИТЕРАТУРА
- •Приложение 6 Семейства входных Iб = f (Uбэ ) и выходных Iк = f (Uкэ ) статических ВАХ транзисторов с ОЭ
пряжения на переходе, поскольку барьерная емкость зависит от обратного напряжения U < 0 .
Диффузионная емкость, отражающая процессы накопления носителей за-
ряда в p- и n-областях диода, определяется по формуле |
|
|||||||
Cдиф = tпр × |
¶I |
= |
tпр |
» |
tпр × I(U) |
, |
(1.12) |
|
¶U |
r |
j |
T |
|||||
|
|
|
диф |
|
|
|
|
где tпр – время пролета носителей заряда через диод или время жизни неосновных носителей заряда в базе диода. Базой называется менее легированная область из двух областей полупроводниковой структуры диода.
В табл. 12.15 данного практикума приведена полная система параметров модели диода, используемая программным модулем Pspice A/D пакета OrCAD. Параметры модели разбиты на группы, каждая из групп параметров отражает то или иное свойство или характеристику диода: параметры, описывающие статический режим работы, т.е. ВАХ диода; параметры, описывающие динамический режим работы, т.е. его емкостные свойства, определяющие длительность переходных процессов; параметры, описывающие влияние температуры. В зависимости от типа диода по функциональному назначению или от точности, предъявляемой к результатам моделирования, ряд параметров может не использоваться, им присваиваются значения по умолчанию. При моделировании выпрямительного диода необходимо иметь параметры, описывающие прямую ветвь ВАХ и его емкостные свойства. При моделировании стабилитрона необходимо знать параметры, описывающие как прямую ветвь ВАХ, так и обратную – участок пробоя, который является в данном случае рабочим участком. При моделировании варактора необходимо знать как параметры ВАХ, так и параметры, описывающие его барьерную емкость.
Важной задачей, которую должен уметь решать разработчик аппаратуры, использующий пакет OrCAD, является алгоритм определения параметров модели прибора по его справочным данным, поскольку в его собственных библиотеках математических моделей диодов имеются модели не для всей номенклатуры приборов.
1.3. Алгоритм определения параметров нелинейной модели диода
Рассмотрим алгоритм определения основных параметров математической модели диода I0 , n, rs , ϕк и g по его ВАХ и ВФХ на примере СВЧ-диода с
барьером Шоттки BAT54W фирмы Philips Semiconductors.
График прямой ветви ВАХ диода в полулогарифмическом масштабе показан на рис. 1.5 сплошной линией. Из-за падения напряжения на последовательном сопротивлении rs связь между током диода I и напряжением на его за-
жимах Ud (см. рис. 1.4) описывается следующим выражением:
15

|
é q(Ud -I×rs ) |
ù |
|
|
|
|
|
||
I(Ud )= I0 êe |
nkT |
-1ú . |
|
|
|
|
(1.13) |
||
|
ê |
|
|
ú |
|
|
|
|
|
|
ë |
|
|
û |
|
|
|
|
|
При низком уровне тока падением напряжения на сопротивлении rs мож- |
|||||||||
но пренебречь, а уравнение (1.13) можно упростить: |
|
|
|||||||
|
qU d |
|
|
|
|
|
|
|
|
I(Ud )= I0 ×e nkT . |
|
|
|
|
|
|
(1.14) |
||
Прологарифмировав правую и левую части (1.14), можно получить выра- |
|||||||||
жение |
|
|
|
q |
|
|
|
|
|
log10 (I) |
» log10 (I0 )+ |
|
|
|
|
|
|
||
n × k × T × ln(10)Ud , |
|
|
(1.15) |
||||||
из которого следует, что графиком функции log10 (I) |
в полулогарифмическом |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
q |
|
|
масштабе является прямая c наклоном |
n × k × T × ln(10), пересекающая ось орди- |
||||||||
нат в точке log10 (I0 ). На рис. 1.5 график выражения (1.15) показан штриховой |
|||||||||
линией. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Таким образом, чтобы определить значения коэффициента неидеальности |
|||||||||
ВАХ n и обратного тока насыщения I0 , необходимо провести прямую, аппрок- |
|||||||||
симирующую ВАХ диода при низких уровнях тока, определить тангенс ее угла |
|||||||||
наклона и точку пересечения с осью ординат. |
|
|
|||||||
I, А |
1 |
I2 |
|
|
|
|
|
|
|
0.1 |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0.01 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1 .10 3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
.10 4 |
Dlog10(I1) |
|
|
|
|
|
|
|
1 .10 5 |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
1 .10 6 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
.10 7 |
|
DU1 |
|
|
DU2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
1 |
.10 8 |
0 |
0.1 |
0.2 |
0.3 |
0.4 |
0.5 |
0.6 |
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
Рис. 1.5 |
|
Ud , В |
||
Изменению тока диода от значения |
I = 0,01мА до значения I = 0,1мА |
||||||||
(см. рис. 1.5) |
соответствует изменение |
log10 (I1 ) = 1. Тогда коэффициент не- |
|||||||
идеальности ВАХ n находится из выражения |
|
|
16

|
|
q |
1 |
, |
(1.16) |
|||
|
|
= |
|
|||||
|
nkT × ln(10) |
DU1 |
||||||
т.е. n = |
q × DU1 |
|
»16,784328 × DU1 |
при T=300 K. |
||||
k × T × ln(10) |
||||||||
|
|
|
|
|
При изменении напряжения на DU1=0,05 В: n »16,784328 × 0,05 » 0,84 .
Обратный ток насыщения определяется по величине тока в точке пересечения прямой, аппроксимирующей ВАХ при низких уровнях тока, с осью ор-
динат. Из рис. 1.5 определяем значение I0 » 1´10−7 А.
Второй способ определения n и I0 заключается в решении системы из двух нелинейных уравнений, составленной на основании уравнения (1.8) (при IB=0), по известным координатам двух точек ВАХ диода при низких уровнях
тока (I1,Ud1) , (I2 ,Ud2 ) : |
|
q |
|
|||
|
(I1)» log10 (I0 )+ |
|
|
|||
log10 |
|
|
|
Ud1; |
(1.17) |
|
n × k × T × ln(10) |
||||||
|
(I2 )» log10 (I0 )+ |
|
q |
|
||
log10 |
|
|
Ud2 . |
(1.18) |
||
|
n × k × T × ln(10) |
|||||
Последовательное сопротивление диода rs |
определяется по разности ме- |
жду падением напряжения на реальном диоде и идеальном p-n-переходе – DU2 при высоком уровне тока I2 (см. рис. 1.5):
rs = |
U2 I2 . |
(1.19) |
Из |
рис. 1.5 определяем DU2 = 0,2 В при токе I2 = 0,1 А, |
тогда |
rs = 0,2/0,1 = 2 Ом.
Причем по экспериментальной ВАХ диода можно не только определить значения параметров I0 , n, rs , но и найти их оптимальные значения, т.е. такие
значения, которые лучше всего приближают ВАХ, рассчитанную по выражению (1.13), к экспериментальной. Для этого необходимо минимизировать функцию ошибки, равную сумме квадратов нормированных разностей между значениями тока в точках экспериментальной Iэкс i (U) и рассчитанной по (1.13)
Iрас i (U) ВАХ диода:
N æ |
|
ö2 |
|
ç Iэкс i (U) - Iрас i (U) |
÷ |
|
|
f (I0 ,n,rs ) = iå=1ç |
|
÷ , |
(1.20) |
Iэкс i (U) |
|||
è |
|
ø |
|
где N – число точек на ВАХ диода. Такие вычисления можно легко провести с |
|||
использованием математического пакета MathCAD. |
|
||
Параметры ϕк |
и g зависят от технологии изготовления диода и типа пе- |
рехода и могут быть определены с использованием двух точек на кривой ВФХ, которые соответствуют большим обратным напряжениям. ВФХ описывается выражением (1.11), а график ее показан на рис. 1.6.
17

При больших обратных напряжениях на диоде выражение в скобках можно упростить:
1+ |
|
U |
|
jк » |
|
U |
|
|
jк , |
(1.21) |
|||||
|
|
|
|
||||||||||||
тогда из выражения (1.11) следует, что |
|
||||||||||||||
C C |
2 |
» (U |
2 |
U )γ , |
(1.22) |
||||||||||
1 |
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|||||||
где C1 и C2 – емкости при обратных напряжениях U1 и U2 соответственно |
|||||||||||||||
(см. рис. 1.6). Тогда |
|
||||||||||||||
|
|
|
ln(C1 / C2 ) |
|
|||||||||||
g » |
|
|
. |
|
(1.23) |
||||||||||
ln(U2 / U1 ) |
|||||||||||||||
После определения γ значениеϕк можно найти с использованием формулы |
|||||||||||||||
jк = |
|
|
|
U2 |
|
|
|
. |
(1.24) |
||||||
|
(C0 / C2 )1/ γ |
C, Ф
C1
C2 U1
U2
|U|, В
Рис. 1.6
Пример документа MathCAD для определения параметров нелинейной математической модели диода и их оптимальных значений по экспериментальной ВАХ с комментариями приведен ниже.
1. Чтение файла данных ivd.txt, содержащего ВАХ диода:
IV:=READPRN («ivd.txt») VDC:= IV 0 |
IDC:= IV 1 |
||||
N1:= rows(VDC) |
i:= 0,1..N1− 1 |
|
|
||
k:= 138.×10−23 |
q:= 16.×10−19 |
T:= 300 |
|
||
ft(T):= |
k × T |
|
|
|
|
q |
|
|
|
||
|
|
|
|
2. Решающий блок для вычисления n и I0 :
18
n:= 08. Io:= 5×10−9 – начальное приближение
Given
æ |
|
VDC2 |
ö |
|
|
ç |
|
|
÷ |
- IDC2 |
= 0 |
|
|
||||
Io ×çen×ft(T) -1÷ |
|||||
ç |
|
|
÷ |
|
|
è |
|
|
ø |
|
|
æ n ö |
:= Find(n,Io) |
|
|||
ç ÷ |
|
||||
è Ioø |
|
|
|
|
|
|
æ |
VDC0 |
ö |
|
|
Io× |
ç |
n×ft(T) |
÷ |
- IDC0 |
= 0 |
çe |
-1÷ |
||||
|
è |
|
ø |
|
|
n = 0.897553 |
Io = 1273964.×10-7 – рассчитанные значения. |
||
3. Описание ВАХ идеального p-n-перехода: |
|||
|
æ |
VDCi |
ö |
Idi:= Io× |
ç |
n×ft(T) |
÷ |
ç e |
-1÷ |
||
|
è |
|
ø |
4. Расчет последовательного сопротивления диода rs :
æ I + Ioö |
|
VDC |
9 |
− Ud(IDC |
9 |
) |
||
Ud(I):= lnç |
|
÷ |
× n ×ft(T) Rs:= |
|
|
|
||
|
|
|
IDC9 |
|
|
|||
è |
Io ø |
|
|
|
|
|
Rs = 1921126.
5. Для расчета ВАХ по (1.13) необходимо многократно решать данное нелинейное уравнение, что осуществляется с помощью функции root, предна-
значенной для решения уравнения: |
|
|
|||
i := 0,1..N1−1 |
x:= IDC0 |
|
|
|
|
|
é |
é VDCn -x×Rs |
ù |
ù |
|
f (Io,n,Rs,VDCn) := rootêIo × êe |
nm×ft(T) |
-1ú |
- x, xú |
||
|
ê |
ê |
|
ú |
ú |
|
ê |
ê |
|
ú |
ú |
|
ë |
ë |
|
û |
û |
IDCni:= f(Io, n,Rs, VDCi )
6. Графики ВАХ (рис. 1.7): экспериментальной – IDC, идеальной по вы- ражению (1.1) – Id, теоретической с учетом rs (1.13) – IDCn.
19

|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
0.1 |
|
|
|
|
|
|
IDC |
|
0.01 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Id |
1 .10 3 |
|
|
|
|
|
|
|
IDCn |
.10 4 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1 .10 5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
.10 6 |
0.1 |
0.2 |
0.3 |
0.4 |
0.5 |
0.6 |
|
|
0 |
||||||
|
|
|
|
|
VDC |
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 1.7 |
|
|
|
Анализ: выражение (1.1) адекватно описывает ВАХ реального диода только в области малых токов; с помощью (1.13) можно получить адекватное описание всей ВАХ диода.
7. Определение функции среднеквадратического отклонения:
é |
f(Io,n, Rs,VDCi ) - IDCi |
ù2 |
||
SSE(Io, n,Rs):= åê |
ú . |
|||
|
||||
i ë |
IDCi |
û |
||
SSE(Io, n, Rs):= 0509879. |
– значение среднеквадратического отклонения |
до оптимизации.
8. Расчет оптимальных значений параметров модели:
|
Given |
SSE(Io, n, Rs) = 0 |
1 = 1 |
2 = 2 |
|
æ |
Ioö |
|
|
|
|
ç |
÷ |
:= Minerr(Io,n, Rs) |
|
|
|
ç |
n ÷ |
|
|
||
ç |
÷ |
|
|
|
|
è Rsø |
|
|
|
|
n = 0.911426 Io = 1273964.×10−7 Rs = 2187723. – значения пара-
метров модели после оптимизации;
SSE(Io, n,Rs) = 0.284268 – значение среднеквадратического отклонения после оптимизации.
9.Расчет ВАХ диода с оптимальными значениями параметров: IDCopti:= f(Io, n,Rs, VDCi )
10.Графики ВАХ (рис. 1.8): экспериментальной – IDC, теоретической (1.13) с оптимальными значениями параметров – IDCn.
20