
- •1 Движение электрона в кристалле. Уравнение Шрёдингера, волновая функция
- •1.2 Движение электронов в атоме
- •1.3 Зонная теория твердого тела
- •Глава 2. Электропроводность полупроводников
- •2.1 Собственные и легированные полупроводники. Уравнение электронейтральности
- •2.2 Статистика электронов и дырок
- •2.2.1 Заполнение электронами зон вырожденного полупроводника
- •2.2.1 Заполнение электронами и дырками зон невырожденного полупроводника
- •2.2 Положение уровня Ферми и расчет концентрации носителей
- •2.2.1 Донорный полупроводник
- •2.3 Электропроводность полупроводников
- •2.3.1 Электронная проводимость
- •2.3.2 Дырочная проводимость
- •2.3.3 Собственная проводимость
- •Глава 3. Неравновесные электронные процессы
- •3.4 Диффузионный и дрейфовый токи
- •3.2. Неравновесные носители в электрическом поле
- •3.2.1. Уравнение непрерывности тока
- •5 Контакт электронного и дырочного полупроводников
- •5.1 Возникновение потенциального барьера. Контактная разность потенциалов.
- •5.2 Вольтамперная характеристика p-n-перехода
- •5.3 Температурные зависимости вах pn-перехода
- •5.3 Влияние генерационно-рекомбинационных процессов на вах pn-перехода.
- •5.4 Барьерная емкость pn-перехода
- •5.5 Диффузионная емкость pn-перехода
- •5.6 Пробой pn-перехода
- •5.6.1 Лавинный пробой pn-перехода
- •5.6.2 Туннельный (полевой, зинеровский) пробой pn-перехода
- •5.6.3 Тепловой пробой pn-перехода
- •5.7 Влияние сопротивления базы на вах pn-перехода. Полупроводниковый диод
- •5.8 Выпрямление на полупроводниковом диоде
- •5.8.2 Переходные процессы в полупроводниковых диодах
- •5.9 Полупроводниковые диоды
- •5.9.1 Выпрямительные диоды
- •5.9.2 Стабилитроны
- •5.9.3 Туннельные диоды
- •6 Биполярные транзисторы
- •6.1 Включение транзистора по схеме с общей базой
- •6.1.1 Статические вольт-амперные характеристики транзистора, включенного по схеме с общей базой
- •6.1.2 Усиление транзистора, включенного по схеме с общей базой
- •6.2 Включение транзистора по схеме с общим эмиттером
- •6.2.1 Статические вольт-амперные характеристики транзистора, включенные по схеме с общим эмиттером
- •6.3 Включение транзистора по схеме с общим коллектором
- •6.4. Дифференциальные параметры биполярного транзистора
- •6.4.1 Температурная зависимость параметров биполярных транзисторов
- •6.5 Работа транзистора в импульсном режиме
- •7 Тиристоры
- •7.1 Вольт-амперная характеристика тиристора
- •7.2 Типы тиристоров
- •8 Униполярные транзисторы
- •8.1 Полевой транзистор с управляющим pn- переходом (птуп)
- •8.1.1 Вольт-амперные характеристики птуп
- •Мдп–структура
- •1. Идеальная мдп-структура
- •2 Вольт-амперные характеристики мдп-транзистора
- •8.2.2 Схемы включения мдп-транзистора
- •4.2. Барьер на границе металла с полупроводником (барьер Шоттки)
- •4.2.1 Выпрямление тока на контакте металла с полупроводником
- •Фотоэлектрические полупроводниковые приборы
- •7.2. Полупроводниковые источники оптического излучения
- •10 Классификация интегральных микросхем
- •10.2 Условные обозначения микросхем
- •10.3 Элементы микросхем
- •10.4 Технология изготовления микросхем
- •10.4.1 Корпуса микросхем
6.3 Включение транзистора по схеме с общим коллектором
Если входная и выходная цепи имеют общим электродом коллектор (ОК) и выходным током является ток эмиттера, а входным ток базы, то для коэффициента передачи тока справедливо:
|
(6.42) |
Вв таком включении коэффициент передачи тока несколько выше, чем во включении ОЭ, а коэффициент усиления по напряжению незначительно меньше единицы, так как разность потенциалов между базой и эмиттером практически не зависит от тока базы. Потенциал эмиттера практически повторяет потенциал базы, поэтому каскад, построенный на основе транзистора с ОК, называют эмиттерным повторителем. Однако этот тип включения используется сравнительно редко.
Сопоставляя полученные результаты, можно сделать выводы:
Схема с ОЭ обладает высоким усилением как по напряжению, так и по току, У нее самое большое усиление по мощности. Отметим, что схема изменяет фазу выходного напряжения на 180. Это самая распространенная усилительная схема.
Схема с ОБ усиливает напряжение (примерно, как и схема с ОЭ), но не усиливает ток. Фаза выходного напряжения по отношению к входному не меняется. Схема находит применение в усилителях высоких и сверхвысоких частот.
Схема с ОК (эмиттерный повторитель) не усиливает напряжение, но усиливает ток. Основное применение данной схемы - согласование сопротивлений источника сигнала и низкоомной нагрузки.
6.4. Дифференциальные параметры биполярного транзистора
|
|
Рис. 6.36. Линеаризация входных и выходных ВАХ в схеме с ОЭ |
Основными
величинами, характеризующими параметры
биполярного транзистора являются
коэффициенты передачи тока эмиттера и
базы, сопротивление эмиттерного ()
и коллекторного (
)
переходов, а также коэффициент обратной
связи эмиттер-коллектор (
).
Дифференциальным коэффициентом передачи тока эмиттера равен:
|
(6.45) |
где
– эффективность коллектора,
– коэффициент инжекции или эффективность
эмиттера:
|
(6.46) |
–коэффициент
переноса,
|
|
;α*
- эффективность коллектора.
С увеличением постоянного тока эмиттера база транзистора заполняется носителями и эффективность эмиттера падает.
С ростом тока эмиттера величина коэффициента передачи α вначале растет в результате увеличения коэффициента переноса, а затем падает, что объясняется уменьшением коэффициента инжекции эмиттерного перехода γ.
Зависимость
коэффициента передачи транзистора от
напряжения на коллекторе определяется
изменением ширины базы, а также лавинным
умножением носителей в ОПЗ коллекторного
перехода. Расширение ОПЗ происходит за
счет уменьшения ширины базы, при этом
коэффициенты γ
и
увеличиваются, поэтому с увеличениемUк
значение α
растет. При
больших напряжениях электроны и дырки,
пересекающие ОПЗ коллекторного перехода,
могут вызывать ударную ионизацию, в
результате ток коллектора увеличивается.
Коэффициент
передачи транзистора с учетом лавинного
умножения определяется соотношением
,
где
- коэффициент лавинного умножения в КП,
обусловленный ударной ионизацией, гдеUпр
– пробивное напряжение коллекторного
перехода, n
– коэффициент, величина которого для
германия и кремния колеблется в пределах
3…5, в зависимости от типа проводимости
и сопротивления материала (рис. 6.).
|
|
Коэффициент усиления по току биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером:
|
(6.47) |
Зависимости коэффициента передачи тока базы от тока эмиттера и напряжения на коллекторном переходе представлены на рис. 6.24.
|
Рис. 6.24 Зависимости коэффициента передачи тока базы |
Спад β в области малых токов эмиттера (область 1) обусловлен рекомбинацией носителей заряда в ОПЗ эмиттера, а спад в области больших токов (область 3) – уменьшением коэффициента инжекции.
Зависимость β от напряжения на коллекторном переходе обусловлено расширение ОПЗ в область базы (эффектом Эрли), при больших напряжениях дополнительное возрастание β связано с явлением лавинного размножения носителей в ОПЗ коллекторного перехода.
Дифференциальное сопротивление эмиттерного перехода определяется по формуле:
|
(6.48) |
Оценим значение этого сопротивления в режиме ОБ.
|
(6.49) |
|
(6.50) |
Пусть Iэ=1 мА, Т=300 К, φТ=0,026 В, Rэ=26 Ом.
Сопротивление
эмиттера с ростом тока эмиттера
уменьшается по гиперболическому закону.
Зависимость
от напряжения на коллектореUК
определяется изменением ширины базы
W:
с увеличением UК
ширина базы уменьшается. Следовательно,
ток эмиттера растет и сопротивление
эмиттера падает.
Дифференциальное сопротивление коллекторного перехода определяется по формуле:
|
(6.51) |
обусловлено
несколькими причинами: изменением
коэффициента переноса, связанное с
модуляцией ширины базы W
при изменении напряжения коллектора;
сопротивление утечки по поверхности и
током термической генерации в ОПЗ
коллектора.
Дифференциальное сопротивление коллектора в схеме с ОЭ rкОЭ*=rкОБ/(1+β) сопротивление коллектора падает за счет умножения носителей в ОПЗ коллекторного перехода, оно в десятки раз меньше, чем rкОБ
Коэффициентом обратной связи:
|
(6.54) |
Удобство физических параметров заключается в том, что они позволяют наглядно представить влияние конструктивно технологических параметров транзистора на его эксплуатационные характеристики. Так, например, уменьшение степени легирования базы или ее толщины должны приводить к росту rб и, соответственно, к увеличению обратной связи в транзисторе.
К недостаткам физических параметров следует отнести то, что их нельзя непосредственно измерить и значения для них получают пересчетом из других параметров.