- •2007 Оглавление
- •Exafs-спектроскопия – новый метод структурных исследований
- •Методы экспериментального исследования
- •Экспериментальные исследования и приложения exafs-спектроскопии
- •Сопоставление теории и эксперимента.
- •ПриложенияExafSк исследованиям атомной структуры
- •1.2.2.1. Бездефектные кристаллы (суперионные проводники, соединения с переменной валентностью)
- •1.2.2.2. Биоорганические молекулы
- •1.2.2.3. Спиновые стекла.
- •1.2.2.4. Твердые растворы.
- •1.2.2.5. Исследование структуры поверхностных слоев
- •1.2.2.6. Аморфные системы
- •1.2.2.7. Интеркалированные соединения
- •1.2.2.8. Катализаторы
- •Электронный парамагнитный резонанс
- •Переходные группы
- •Условия резонанса
- •Парамагнитный резонанс и спектроскопия
- •Основные характеристики спектров эпр
- •Спектрометры эпр
- •Основные типы спектрометров для исследования электронного резонанса
- •Применение эпр
- •Эпр в сильных магнитных полях
- •Эпр в облученных не щелочно-галоидных кристаллах
- •Облученные алмаз и кварц
- •Органические вещества.
- •Пластические массы.
- •Эпр в высокотемпературных углях
- •Комбинационное рассеяние света
- •Масс-спектроскопия
- •Основы метода
- •Изотопный анализ
- •Идентификация и установление структуры многоатомных органических соединении
- •Анализ химического состава смесей
- •Исследование элементарных процессов
- •Элементный анализ
- •Термодинамические исследования
- •Масс-спектрометры
- •Масс-анализаторы
- •Ионные источники
- •Регистрация ионных токов
- •Γ–Резонансная спектроскопия (эффект Мессбауэра)
- •Испускание и поглощение γ-квантов свободными ядрами
- •Эффект Мессбауэра
- •Мессбауэровская гамма-спектроскопия
- •Сверхтонкая структура мессбауэровского спектра
- •Изомерный сдвиг
- •Магнитная сверхтонкая структура
- •Квадрупольное взаимодействие
- •Атомно-силовая микроскопия
- •Физические основы работы атомно-силового микроскопа
- •Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов
- •Контактная атомно-силовая микроскопия
- •Спектроскопия магнитного резонанса
- •Общая теория ядерного магнитного резонанса
- •Классическое описание условий магнитного резонанса
- •Квантово-механическое рассмотрение условий резонанса
- •Эксперимент Штерна–Герлаха
- •Спин–решеточная релаксация
- •Спин–спиновая релаксация
- •Природа магнитной релаксации
- •Типы методов ядерного магнитного резонанса
- •Спектроскопия ямр высокого разрешения
- •7.2.1.1. Химический сдвиг
- •7.2.1.2. Спин-спиновое взаимодействие
- •Методы спинового эха
- •Спектрометры ядерного магнитного резонанса
Ионные источники
Масс-спектрометры классифицируются также по способам ионизации, в качестве которых используются: 1) ионизация электронным ударом; 2) фотоионизация; 3) ионизация в сильном электрическом поле (полевая ионная эмиссия); 4) ионизация ионным ударом (ионно-ионная эмиссия); 5) поверхностная ионизация; электрическая искра в вакууме (вакуумная искра); 6) ионизация под действием лазерного луча.
В аналитической масс-спектроскопии наиболее часто применяются благодаря относительной технической простоте и достаточно большим создаваемым ионным токам способы: 1 – при анализе испаряемых веществ; 2 – при работе с трудноиспаряемыми веществами и 3 – при изотопном анализе веществ с низкими потенциалами ионизации. Способ 2 благодаря большому энергетическому разбросу ионов обычно требует анализаторов с двойной фокусировкой даже для достижения разрешающей силы в несколько сотен единиц. Значения средних ионных токов, создаваемых ионным источником с ионизацией электронным ударом при энергии ионов в 40–100 эВ и ширине щели источника несколько десятков мкм, составляют 10-10–10-9 А. Для других способов ионизации эти токи обычно меньше. «Мягкая» ионизация, т.е. ионизация молекул, сопровождаемая незначительной диссоциацией ионов, осуществляется с помощью электронов, энергия которых лишь на 1–3 эВ превосходит энергию ионизации молекулы. Получаемые при «мягкой» ионизации токи обычно 10-12–10-14 А.
Регистрация ионных токов
Величины ионных токов, создаваемых в масс-спектрометрах, определяют требования к их усилению и регистрации. Чувствительность применяемых усилителей 10-15–10-16 А при постоянной времени от 0,1 до 10 сек. Дальнейшее повышение чувствительности или быстродействия достигается применением электронных умножителей, которые повышают чувствительность измерения токов до 10-18–10-19 А.
Примерно те же значения чувствительности достигаются при использовании фотографической регистрации ионов за счет длительной экспозиции. Однако из-за малой точности измерения ионных токов и громоздкости устройств введения фотопластинок в вакуумную камеру анализатора фоторегистрация масс-спектров сохранила определенной значение лишь при очень точных измерениях масс, а также в тех случаях, когда необходимо одновременно регистрировать все линии масс-спектра из-за нестабильности источника ионов, например при элементном анализе в случае ионизации вакуумной искрой.
В России разрабатывается и выпускается много различной масс-спектральной аппаратуры. Принятая система индексов для масс-спектрометров классифицирует приборы в основном не по типу устройства, а по назначению. Индекс состоит из двух букв (МИ – масс-спектрометр изотопный, МХ – для химического анализа, МС – для физико-химических, в том числе структурных, исследований, МВ – прибор с высокой разрешающей способностью) и четырех цифр, из которых первая указывает на используемый метод разделения ионов по массам (1 – в магнитном однородном поле, 2 – в магнитном неоднородном поле, 4 – магнито-динамический, 5 – время-пролетный, 6 – радиочастотный), вторая – на условия применения (1 – индикаторы, 2 – для производств, контроля, 3 – для лабораторных исследований, 4 – для специальных условий), а последние две – являются номером модели.