Добавил:

ivanov666 Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.

Вуз:

Башкирский Государственный Аграрный Университет

Предмет:

[НЕСОРТИРОВАННОЕ]

Файл:

книги из ГПНТБ / Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство

.pdf

Скачиваний:

Добавлен:

29.10.2023

Размер:

11 Mб

Скачать

☆

<<< < Предыдущая 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 2122 / 2222

При применении схемы съемки по фиг. 92, бив происходит некото

рая дефокусировка при повороте образца. Влияние				дефокусировки
должно специально учитываться при расчете.					построения
Сконструированы	устройства для автоматического
полюсных фигур при	съемке «на прохождение»		и	на	отражение,
	а также ряд приспособлений,
	облегчающих			установку об
	разца.
	При количественном ана
	лизе	текстурдиаграмм иони
	зационным методом					большое
	значение		приобретает				по
	правка		на		поглощение
	лучей	в	образце			в	зави

симости от угла падения лучей.

б)

Фиг. 92. Схемы съемки при ионизацион	Фиг.	93. Поправочный график
ном методе исследования текстур:	для	линии (III) алюминия.
а — съемка на прохождение; б ив — съемка на
отражение.

Поправка для метода съемки на прохождение подсчитывается

из формулы			г	ш		I
	J„ „
п		гпчЛ L>		cos(fl—a)	cos«H-a)			(114)
	а=а	COS V \| е____________			-е_______________i
	— /п=0		te	rcos^~a>		д	’	' '
				cos-О' L cos(O+a)		J
где Ja=a — интенсивность			дифрагированных			лучей	при	повороте
образца на угол а по часовой стрелке;							при	а = 0;
Ja=0 — интенсивность			дифрагированных			лучей
t — толщина		образца.

Для правильной оценки интенсивности максимума следует раз

делить интегральную интенсивность на поправочный коэффициент R.

На фиг. 93 дан поправочный график, построенный для линии

(111) алюминия на СнКа-излученпи (О = 19,25°;

= 1,0).

ЛИТЕРАТУРА 1

1.	Жданов Г. С. и Уманский Я. С., Рентгенография металлов,
ч. I,	М. Металлургиздат, 1938, ч. II, 1941.
2. Уманский Я. С., Трапезников А. К., Китайгород
ский А. И., Рентгенография, Машгиз, М. 1951.				анализ,	ГТТИ,
3.	К и т а'й городский А. И-,		Рентгеноструктурный
1950.		*	Рентгеноструктурный	анализ	мелко
4.	К и т а й г о’р о д с к и й А. И.,
кристаллических и аморфных тел, ГТТИ, 1952.
5.		Мальцев М. В., Рентгенография металлов, Металлургиздат, 1952.
6.	Бокий Г. Б. и Порай-КошицМ. А., Практический курс рент
геноструктурного анализа, ч. I, МГУ,			1952.
7.	Ж д а н о в Г. С., Основы рентгеновского структурного анализа, ГТТИ,
1940.		П и н е с Б. Я., Лекции по структурному анализу, ХГУ, Харьков 1957.
8.
9.	П и н е с Б. Я., Острофокусные		рентгеновские трубки и прикладной
рентгеноструктурный анализ, ГТТИ, 1955.					1948.'
10.		Б а р р е т т Ч. С., Структура металлов, Металлургиздат,
11. Джеймс Р., Оптические принципы дифракции рентгеновских лу
чей,	Изд.	иностранной литературы, 1950.

12.Агеев Н. В., Рентгенография металлов и сплавов, КУБУЧ, 1932.

13.Трапезников А. К., Основы рентгенографии, КУБУЧ, 1933.

14.Г локер Р., Рентгеновские лучи и испытание материалов, КУБУЧ,

1932.

15.Т о л к а ч е в С. С., Таблицы межплоскостных расстояний, ЛГИ, 1955.

16.Ж м у д с к и й А. 3., Таблицы постоянных кристаллической р( петки

железа, алюминия, меди и их сплавов, КГИ, 1953.

17. М и х е е в и др., Таблицы межплоскостных расстояний для железного, медного и молибденового антикатодов, Металлургиздат, 1950.

18.Симанов Ю. П., Практические работы по рентгенографии, Изд. МГУ, 1950.

19.Горелик С. С., Пособие к лабораторным работам по рентгено графии, Изд. Моск, института стали им. Сталина, 1954.

20.Жданов Г. С-, Исследование кристаллических ориентировок в ме

таллах и сплавах по методу полюсных фигур, Металлургиздат, 1934.

21.Справочник по рентгеноструктурному анализу, под ред. А. И. Китай городского, ГТТИ, 1940.

22.И в е р о н о в а В. И., ЖТФ, 4, 459, 19°4. (Обзор цо методике преци зионного измерения постоянных решетки.)

23.Л а н д а В. А., «Заводская лаборатория» К» 22, 83, 1956. (Обзор рент


геновских		методов	определения остаточного		аустенита.)
24.	X е й к е р‘		Д. М. и Зевин Л. С.,		«Кристаллография» № 6, 1956.
(Обзор	по	применению ионизационного		метода.)
1 В приведенном списке литературы				перечислены лишь некоторые учеб

ные пособия, монографии и обзоры, содержащие описание аппаратуры, мето дики рентгеновского исследования и таблицы, необходимые для расчета рентге нограмм.

213

25. Миркин Л. И., «Заводская лаборатория» № 5, № 24, 1958. (Обзор по применению ионизационного метода для определения текстур, фазового анализа и т. д.)

26. К 1	u g Н. Р., Alexander L. Е., X-ray diffraction procedures,
New York,	1954.

27.X-ray diffraction by polycrystalline materials, ed. Peistg, London, 1955.

28.	В а г г e t t C. S., Structure of Metals, New York,	1952.
29.	Bunn C. W., Chemical Crystallography, London,	1945.

30.T а у 1 о r A., An Introduction to X-ray metallography, New York, 1945.

31.H e n г у N. F. M., L i p s о n H., W о о s t e r W. A., The Interpreta

tion of	X-ray diffraction Photographs,			London. 1951.
32.	S p г о u 1 1	W. T.,	X-rays in	Practice,	New York, 1946.
33.	Cl ar kA.,	Applied	X-rays,	New York,	1955.
34.	G locker R., Materialprufung mit Rontgenstrahlen, Berlin 1949.

35.Guinier A., Radiocristallographie, Paris, 1945.

36. S t r a u m a n i s	M., J e v i n s, A. Die Prazisionbestimmung von
Gitterkonstanten nach der	assymetrischen methode, Berlin, 1940.

37.Davey, W. P. A. Study of Crystal Structure and Its Applications, New York, 1934.

38.C u 11 i t y, Elements of X-ray diffraction, 1956.

ЗАМЕЧЕННЫЕ ОПЕЧАТКИ

Стра	Строка			Напечатано			Должно быть
ница	Строка			Напечатано			Должно быть
27	Табл. 3, 3-я графа,			8,0			48,0
	5-я снизу
37	8-я сверху		(фиг. 10, 11).				(фиг. 10, II).
40	9-я и 16-я снизу			табл. 9			табл.		7
55	5-я, 6-я, 7-я, 14-я			Ge			Се
	сверху
65	2-я сверху			меньше			не меньше
68	4-я снизу			фиг.	22,		фиг.	21,
79	Формула (42)			(Л2 + к2)			(Л2 + Л-2)
99	3-я, 4-я сверху			ДФср			ДОдз
99	Подпись под фиг. 36,		от скольжения О'.				от угла скольжения О.
	3—4-я сверху
101	10-я снизу		приведены ниже.				приведены в верхней
							таблице.
102	2-я сверху			—	п —		=Sg•п =
103	Табл. 23,	4-я графа,	1,	14, 16, если			1, если
	1 и 5-я сверху
114	Табл. 26, 3-я графа,			80,9			90,9
	4-я снизу
151	19-я	сверху		(90° = О)			(90°—■&)
162	12-я	снизу		фиг.	59,		фиг.	80,
164	20-я снизу			тт .	П311	♦	«411 .	_	=	«311	.
164	20-я снизу		Ул-------- X		= -------	♦	?/1 = о—;	х	=	Рзы	.
					Озп		Pill			Рзы
167	2-я сверху			10—5 см,			10—6 см,
171	3-я снизу			(фиг.	68);		(фиг.	64);
183	1-я и 4-я снизу			«1
184	2-я сверху			ах).			ах).
192	2-я снизу			(фиг. 78).			(фиг. 77).
196	8-я сверху			11,0-10—3			11,0-10—4
196	Головка табл. 50,			10“3			10-4
	3 и 5-я графы
			ПОПРАВКА
На стр. 29 в		выражениях для определения центров колец величины
181,6;	179,30; 168,25; 149,10;		147,60	относятся к симметричным				кольцам 2,

3, 5, 8 и 9 на фиг. 7, где эти величины не указаны.

Качанов и Миркин, 1935.

	ОГЛАВЛЕНИЕ
			Стр.
Предисловие .............................................................................................................			3
Глава I.	Получение и обработка	рентгенограмм . ......................................	5
1.	Приготовление объектов	для исследования................................	5

2.Выбор типа камеры и условий съемки рентгенограмм .... 10

3.Методы приготовления некоторых селективно поглощающих

фильтров	..........................................................................................	14
Настройка,	установка и зарядкакамер.......................................	16
Условия фокусирования линий . ".................................................		23
Обработка рентгенограмм ....................................................................		25
?ъемка рентгенограмм при высоких и низких температурах .		31
Гласа II. Расчет и	индицирование рентгенограмм .........	34

1.Аналитические методы индицирования рентгенограмм .... 34

Металлы кубической системы.................	».......................................		34
Индицирование рентгенограмм для тетрагональной, гек			40
сагональной и ромбоэдрической	систем ....................................
2. Графическиеметоды индицирования................................................			42
Кубическая система .............................................................................			42
Тетрагональная и гексагональная системы (по графикам Хелла)			43
Графический метод индицирования рентгенограмм тетраго			51
нальной и гексагональной систем (по графикам Банна).		. .


3.	Индицирование рентгенограмм с помощью таблиц межплоско
	стных расстояний	j , шаблонов и логарифмической линейки .		53
Глава III. Определение истинного расширения линий на рентгенограммах				62
1.	Техника фотометрирования		рентгенограмм................................	62
2.	Измерение ширины линий		на рентгенограммах........................	65

3.Подбор аналитической функции, соответствующей эксперимен

4	тальной кривой интенсивности .................................................			излучения	66
	Поправка на немонохроматичность				68
5.	Определение истинной ширины линии. Метод аппроксимации . .				71
Глава IV. Методы прецизионного измерения				постоянных кристаллпче*
ской решетки ....................................................................................				75
1.	Выбор излучения при прецизионных методах измерения перио				75
2.	дов	кристаллической	решетки......................................................
	Метод	асимметричной	съемки..........................................................	расходящемся пучке рент	78
°	Съемка на больших расстояниях в				80
4.	геновских лучей ...............................................................................
	Метод	съемки с эталоном..................................................................			85

5.	Безэталопный	метод	обратнойсъемки.............................................	87
6.	Методы графической		экстраполяции.............................................	88
7.	Определение	периодов	решетки по рентгенограммам,	снятым
8.	со шлифа	...............................	'............................................................	96
8.	Применение	ионизационного метода.............................................		98

9.Выбор метода прецизионного определения периодов решетки . 102

Глава	V.	Фазовый анализ . .................................................................................				105
’		Методы фазового анализа....................................................................				105
2.		Оппетеление	^ипа тв^р'эго раствора, плотности и атомного			118
		■леггие	плавов	....	‘ .....................................	118
		■леггие	состава	юяния...........................................................		120
		'вание	диаграмм			122

215

5. Рентгеновский анализ термической обработки стали .... 128

6.Рентгеновский анализ химико-термической обработки . . 134

7.Рентгеновский анализ обезуглероживания и окисления стали . 142

8.Фазовый анализ слоев, образующихся при насыщении стали

металлами ............................................................................................

144

9.Некоторые особенности исследования поверхностных слоев . . 146

10. Применение ионизационного метода.............................................	148
Глава VI. Определение размеров кристаллов (блоков) в металлах • , »	150

1.Определение размеров кристаллов по точечным рентгенограм

мам ....................................................................................................	150
Измерение размеров пятен на рентгенограммах.....................	151
Подсчет количества пятен на дифракционном кольце ....	153

2.Измерение размеров блоков по интенсивности линий на рент

	генограммах ...................................................................................	156
3.	Определение размеров блоков по расширению линий	на рент-
-	генограмм&х« ............................................................................	161

4.Методы определения угла разориентировки блоков (угла мо

		заичности)	.......................................................................................			170
Глава	VII. Измерение внутренних напряжений и искажений кристалли
	ческой решетки в материалах и деталях . , . ....................					173
	1. Определение напряжений I рода и ориентированных микро
		напряжений	суммы......................................................................................главных		напряжений	•. 174
		Определение			напряжений	174
		Определение составляющей напряжения в заданном напра
		влении	. ... *................................................................................			18G
		Раздельное	определениеглавныхнапряжений...............................			183
	2.	Применение	ионизационногометода..................................................			190
	2.	Методы измерения		неориентированных микронапряжений
		(искажений	II рода)......................................................................			194
		Определение мпкронапряжений по расширению линий на
		рентгенограммах .....................			’.......................................................	194
Глава	VIII. Исследование преимущественных ориентировок					(текстур) 197
	1.	Исследование волокнистых текстур........................................				199
	2.	Применение	стереографических		проекций...........................	203
	3.	Построение	полюсных	фигур.....................................................		206
Литература ............................						213

Николай Николаевич Качанов Лев Иосифович Миркин

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ (ПОЛИКРИСТАЛЛОВ)

Редактор	издательства инж..В. В. Ржавинский		Переплет художника А. В. Петрова
Технический редактор А. Ф. Уварова			Корректор Р. В. Цветкова
Сдано в производство 10/Х 1959 г.			Подписано к печати 21/1		1960 г.
Т-02231.	Тираж 5000 экз.	Печ.	л. 13,5.	Уч.-изд.	jt. 14,25.
	Бум. л. 6,75.	Формат 60x92/16. Зак.		1935.

Типография «Красный Печатник». Ленинград, Московский проспект, 91.

<<< < Предыдущая 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 2122 / 2222

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ