книги из ГПНТБ / Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство
.pdfhi н hi— расстояние между концами пятна и экваториальной пло
скостью |
на рентгенограмме, как показано на фиг. 64. |
г — радиус |
рентгеновской камеры. |
Определение разориентировкп блоков описанным методом удобно производить по рентгенограммам, снятым в дебаевской камере с вы сокой цилиндрической кассетой. Реальное изменение угла д при различных процессах термической обработки обычно невелико и со
ставляет, например, для сплава |
Fe — Ni — Ti, |
7' (от 2 |
до 9') при |
|
нагреве закаленного сплава до |
750* |
|
|
|
1 Все описанные методы определения угла разориентировкп |
блоков |
яв |
||
ляются приближенными, так как при выводе расчетных формул |
введен |
ряд |
||
упрощающих допущений и не учитывается геометрия |
съемки. (Прим, ред.) |
ГЛАВА VII
ИЗМЕРЕНИЕ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ И ИСКАЖЕНИЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ В МАТЕРИАЛАХ
И ДЕТАЛЯХ
При рентгеновском методе определения напряжений I рода не посредственно измеряемой величиной является упругая деформация
кристаллической решетки, определяемая по изменению периода ре
шетки.
Вычисление напряжений проводится по соотношениям теории упругости, в основе которых лежит положение о пропорциональ ности между напряжениями и деформациями.
По масштабам областей локализации напряжений и искажений кристаллической решетки можно различать:
1)напряжения I рода, локализующиеся в макрообластях ме талла, связанные с увеличением или уменьшением среднего рас стояния между атомными плоскостями;
2)неориентированные микронапряжения (напряжения II рода), возникающие в объеме одного кристалла или блока и представляю
щие собой отклонения от среднего межплоскостного расстояния, не имеющие определенной ориентировки по отношению к деформи рующему усилию;
3) ориентированные микронапряжения, локализующиеся в тех же объемах, что и неориентированные; эти напряжения ориенти рованы в направлении усилия, при помощи которого производилась макроскопическая деформация;
4) смещения атомов из идеального положения в кристалличе ской решетке (искажения кристаллической решетки), локализую щиеся в областях порядка нескольких межатомных расстояний.
Напряжения и искажения различных видов приводят к разным
эффектам на рентгеновских снимках. Напряжения I рода и ориенти рованные микронапряжения приводят к смещению линий на рентге нограмме, т. е. к изменению расстояния между атомными плоско стями d. Неориентированные микронапряжения приводят к расши рению линий, и, наконец, смещения атомов приводят к уменьшению интенсивности линий на рентгенограммах.
Для определения отдельных видов напряжений существуют раз личные методы рентгеноструктурного анализа.
173
1.ОПРЕДЕЛЕНИЕ НАПРЯЖЕНИЙ I РОДА
ИОРИЕНТИРОВАННЫХ МИКРОНАПРЯЖЕНИЙ
Определение суммы главных напряжений
С помощью рентгеноструктурного анализа можно определить
различные характеристики напряжений как при |
плосконапряжен |
||||||||||||||||||
ном, |
так и линейнонапряженном состояниях. Из теории упругости |
||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
следует, |
что |
если |
рассматривать неко |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
торый кубический объем вещества в на |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
пряженном теле, то его состояние всегда |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
можно |
характеризовать |
некоторыми |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
главными |
напряжениями |
сп, 02 и |
оз. |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
Величины главных |
напряжений |
согот- |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
ветствуют |
напряжениям, |
нормальным |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
к граням куба, |
при условии отсутствия |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
касательных |
напряжений |
|
в |
каждой |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
координатной плоскости (грани). Вы |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
полнение этого условия для всех на |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
пряженных |
состояний |
обеспечивается |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
соответствующим |
подбором |
|
располо |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
жения координатных осей. |
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
Расчеты, |
проведенные на основании |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
теории |
упругости, позволяют для каж |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
дого |
вида |
|
напряженного |
состояния |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
определить |
зависимость между величи |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
ной главных напряжений |
и |
их |
напра |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
влением, с |
одной |
стороны, |
и |
измене |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
нием |
расстояния между атомными пло |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
скостями, приводящим к изменению |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
угла скольжения ■fr, т. е. диаметра де |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
баевского |
кольца, |
— с |
другой. |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
Следует отметить, |
что |
при |
возник |
||||||||||
Фиг. 65. Изменение формы |
новении напряжений |
в |
общем |
|
случае |
||||||||||||||
дифракционного |
кольца |
на |
дебаевское |
|
кольцо |
на |
рентгенограмме |
||||||||||||
рентгенограмме,снятой методом |
деформируется |
неравномерно |
и |
пере |
|||||||||||||||
обратной съемки, при прило |
ходит не в круг другого диаметра, |
а в |
|||||||||||||||||
жении напряжений |
к образцу: |
||||||||||||||||||
I — растяжение вдоль оси Z, |
II — |
эллипс, |
для |
которого |
размер одной из |
||||||||||||||
|
растяжение вдоль оси Y. |
|
полуосей |
|
остается |
|
равным |
диа- |
|||||||||||
образца. |
Изменение |
|
метру |
|
кольца |
для |
ненапряженного |
||||||||||||
размеров |
|
и |
|
формы |
кольца |
|
при |
од- |
|||||||||||
ном |
и |
том |
же |
напряженном состоянии |
образца |
зависит от |
со |
отношения между направлениями первичного пучка рентгеновских лучей, оси приложения нагрузки и расположения рентгеновской пленки относительно этих направлений.
На фиг. 65 дана схема изменения формы интерференционного кольца при линейнонапряженном состоянии образца. При построе нии схемы принято, что образец растягивается силой, направленной
вдоль оси Z (случай 7) или вдоль оси Y (случай 77); первичный пу
174
чок рентгеновских лучей направлен по оси X, рентгеновская пленка расположена в плоскости ZY.
На основе теории упругости разработаны методы определеняя напряжений по смещению линий на рентгенограмме для различных случаев .*
При изучении линейнонапряженного состояния и суммы глав ных напряжений при плосконапряженном состоянии в плоскости внешней поверхности образца используется метод двух съемок.
При применении этого метода необходимо получить два рентге новских снимка, один — от напряженного, другой — от ненапря женного образца, и измерить значения межплоскостных расстояний.
При приложении напряжения межплоскостное расстояние между атомными плоскостями, лежащими параллельно внешней поверх ности образца, изменяются от d0 до di.
Сумма главных напряжений в поверхностном слое образца (oi + + о,) вычисляется по формуле
<Т1 + о2 = -v(^cj’ |
<96) |
где v — коэффициент Пуассона;
Е — модуль нормальной упругости материала.
Уравнение (96) является приближенным, не учитывающим том,
что отражающие плоскости в материале не строго параллельны внешней поверхности образца. Следует отметить, что точность урав нения (96) увеличивается с увеличением угла О.
Съемка рентгенограмм для определения межплоскостного раестояния di проводится в камерах обратной съемки (например типа
КРОС).
Отражения, которые наиболее рационально использовать для определения напряжений в различных материалах, приведены
в табл. 46.
Наибольшая точность определения напряжений, получаемых методом перпендикулярной съемки, составляет ±2 кг/мм2 для сталь
ных образцов, что соответствует точности определения d = ±10-4А.
Для точного определения геометрических параметров съемки (например расстояния от образца до пленки) и изменения межпло скостных расстояний применяют съемку с эталоном. В качестве эталона обычно применяется тонкий слой металла, нанесенный рас пылением на поверхность исследуемого образца. Так, при исследова нии напряжений в стали, алюминии, дуралюмине, латуни и других
сплавах в качестве эталона целесообразно применять покрытия из
золота, серебра или алюминиевую фольгу.. Эти материалы удобно
применять в качестве эталонов, так как они дают при больших углах отражения, применяемых при прецизионной съемке, линии под
углами, близкими к О для линий исследуемых сплавов. Углы отражания для некоторых эталонов приведены в табл. 47.
1 При условии чистого сдвига (щ = —а») сумма главных напряжений
равна нулю и смещения линий не наблюдается. (Прим, ред.)
175
Таблйцй 46
Материал |
Период |
Е |
V |
Излучение |
Эталон |
А |
Сдвиг |
hkl |
О |
2L в мм |
А а х |
А (51 4- ®2) |
|
решетки |
в кг* ;мм |
В Л1Л1 |
линии в |
х 10—3А |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
ЛСЛ1 |
|
|
|
|
|
Дуралюмин |
4,0340 |
7 400 |
0,34 |
Си |
Аи |
50,0 |
0,1 |
(333) |
81°57' |
35,46 |
0 426 |
2,30 |
Fe |
2,8610 |
21 000 |
0,28 |
Со |
Аи |
50,0 |
0,1 |
(310) |
80°37,5' |
41,04 |
0,350 |
9,18 |
Fe |
2,8610 |
21 000 |
0,28 |
Со |
Ag |
50,0 |
0,1 |
(310) |
80°37,5' |
38,85 |
0,370 |
9,70. |
Fe |
2,8610 |
21 000 |
0,28 |
Сг |
Сг |
50,0 |
0,1 |
(112) |
78°0,5' |
43,48 |
0,519 |
13,60 |
Си |
3,6077 |
12 500 |
0,34 |
Со |
Аи |
50,0 |
0,1 |
(400) |
81°46,5' |
35,71 |
0,397 |
4,04 |
Латунь |
3,6880 |
9 000 |
0,35 |
Со |
Аи |
50,0 |
0,1 |
(400) |
75°30' |
67,00 |
0,603 |
4,21 |
Электрон |
а = 3,180; |
4 500 |
0,30 |
Fe |
А1 |
70,0 |
0,1 |
(114) |
74°30' |
62,20 |
d(144) = |
2,95 |
|
— = 5,166; |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
= 0,197 |
|
|
а |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
d (144) — |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
А1 |
= 1,0025 |
7 200 |
0,34 |
Си |
Аи |
|
|
|
|
|
|
|
_ 4’0414 |
50,0 |
0,1 |
(333) |
81°14,5' |
38,79 |
0,461 |
2,41 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 с Cj.vya |
|
|
|
Алюминий |
|
Хром |
|
Золото |
|
Серебро |
|
Вольфрам |
Излучение |
Длина волны |
а — 4,0414а |
а = 2,8786 А |
а = 4.070 А |
а = 4,0783 А |
а = 3,1577°А |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
Kai А |
hkl |
|
hkl |
О |
hkl |
|
hkl |
|
|
о |
|
|
|
|
|
hkl |
||||||
Си |
1,537396 |
(333) |
81°14'32" |
(213) |
87°39'15" |
(333) |
78°55'48" |
(333) |
78°2Г12" |
(004) |
76°50'32" |
Со |
1,785287 |
(024) |
81°2'5" |
(013) |
78°42'4" |
(024) |
78°45'59" |
(024) |
78°1Г57" |
(222) |
78°18'45" |
Fe |
1,932076 |
(004) |
72°58'5" |
— |
—— |
|
— |
|
_ |
|
- |
Сг |
2,285033 |
(222) |
78°19'24* |
(112) |
76°27'25" |
(222) |
76°30'47" |
(222) |
76°2'17" |
(112) |
62°24'27" |
Можно также снимать сначала эталон, а потом исследуемый образец на одну и ту же пленку, ставить образец и эталон во вращаю щийся держатель таким образом, чтобы они попеременно попадали
в отражающее положение, наконец, ставить эталон в виде фольги перед образцом так, чтобы излучение одновременно и отфильтровы валось.
Применение эталона значительно увеличивает экспозиции при съемке, поэтому при длительных экспозициях в некоторых случаях целесообразно производить съемку без эталона, а для сохранения по возможности высокой точности исследования измерять расстоя ние от образца до пленки, необходимое для вычисления межплоско стного расстояния d, с помощью различных приспособлений.
В камере КРОС измерение расстояния от образца до пленки можно проводить без каких-либо дополнительных приспособлений с точностью 0,1 льи, однако, вследствие возможной неточности при изготовлении камеры для определения соответствия шкалы дей ствительному расстоянию от образца до пленки рекомендуется про вести контрольную съемку эталонного вещества для тарировки ка
меры.
Для устранения влияния изменения размеров пленки при фото графической обработке, рассмотренного в гл. I, можно проводить съемку рентгенограмм не на пленку, а на пластинку или пользоваться безэталонным Методом.
При определении напряжений с помощью ионизационного метода
точность и воспроизводимость результатов значительно увеличи
ваются, так как устраняются ошибки, связанные с изменением гео метрии при повторных съемках и с влиянием фотообработки. Кроме того, точность отсчета угла скольжения И при ионизационном методе регистрации (на установке УРС-50И) составляет ±1', что дает точ
ность определения d значительно большую, чем получаемая при фотографическом методе регистрации без введения специальных поправок, требующих трудоемких вычислений. Наконец, время исследования на ионизационной установке в благоприятных случаях может не превышать нескольких минут, в то время как при обычных
методах исследования съемка и измерение занимают в лучшем слу
чае 3—5 час. ,
Недостатком ионизационной установки при измерении напряже ний I рода является недостаточный максимальный угол отражения, составляющий для УРС-50И 20- = 150°, в то время как при большин стве прецизионных измерений используются дифракционные кольца с углами скольжения xl, соответствующими 75—80° и более. Это
обстоятельство, приводит к тому, что при измерении напряжений
с помощью ионизационной установки приходится использовать отра жения под меньшими углами, что приводит к уменьшению точности
результатов.
Метод определения суммы главных напряжений из-за простоты экспериментального осуществления и расчета наиболее широко применяется для измерения напряжений I рода.
12 Заказ 1935. |
177 |
Съемку |
рентгенограмм с небольших образцов |
проводят обычно |
|
t камерах обратной |
съемки типа КРОС, съемку рентгенограмм |
||
массивных |
образцов и |
конструкций проводят на |
специально скон |
струированных аппаратах, позволяющих приблизить рентгеновскую трубку п кассету к исследуемому месту конструкции.
Большое влияние на точность результатов оказывает диаметр диафрагмы коллиматора. Уменьшение диаметра от 1 до 0,3 мм уменьшает ошибку в измерении межплоскостного расстояния более
чем в 4 раза (от ±2,5 • 10~4 А до ±0,6 • 10“4 А).
Измерения напряжений I рода могут оказать помощь при изуче нии напряженного состояния в околошовной зоне при сварке метал
лических конструкций, при деформировании металлов и др. Рассмотрим пример определения напряжений для случая ди
сков, вырезанных из стальных цилиндров (М. П. Желдак). Эта форма образцов целесообразна при предварительных исследованиях при годности того или иного рентгеноструктурного метода определения напряжений, так как сумма главных напряжений (в тангенциаль ном и радиальном направлениях) в цилиндре может быть опреде лена п механическим методом.
Съемка рентгенограмм проводилась на Со-излучении при расстоя нии от образца до пленки 80 мм. В качестве эталона применялось покрытие из серебра. Сумма главных напряжений определялась по
измерению диаметра дифракционного кольца (310) a-железа по соот ношению (96).
Результаты измерений для стали с 0,25% С, приведенные на
фиг. 66, показывают вполне удовлетворительное совпадение величин
напряжений, определенных механическим (фиг. 66, а) и рентгенов ским (фиг. 66, б) методами. Из данных фиг. 66 следует, что по мере увеличения расстояния от центра диска остаточные напряжения уменьшаются, причем происходит изменение знака напряжений от растягивающих к сжимающим. Таким образом, в некоторой точке диска остаточные напряжения равны нулю, т. е. не происходит сме щения линии.
Нахождение точки, соответствующей нулевой деформации кри сталлической решетки, сводится к определению положения ней
тральной линии в упругодеформированных элементах конструк ций.
Описанный метод применялся также для определения остаточных напряжений в вагонных осях, рельсах и других деталях после раз личных видов термической и механической обработки.
При рентгенографическом исследовании упругой деформации металлов и сплавов часто приходится учитывать изменение расстоя ния от образца до пленки при съемки образцов с различными степе нями деформации.
Например, в работе В. А. Ланда производилось измерение суммы главных напряжений при чистом изгибе твердосплавных пластин, изготовленных из сплавов ВК8 и Т15К6, и разработан метод учета этого изменения.
178
Схема съемки рентгенограмме недеформированного и деформиро ванного образцов дана на фиг? 67. Определение напряжений прово-
Фиг. |
66. Результаты |
механического |
(а) |
Фиг. 67. Схема съемки рентгенограмм |
||||||||||
и рентгеноструктурного (б) опреде |
при определении напряжений I рода, |
|||||||||||||
ления суммы главных напряжений в |
возникающих при изгибе твердо |
|||||||||||||
|
дисках из стали с 0,25% С. |
|
|
сплавных |
пластин. |
|||||||||
дилось по линии (211) |
карбида WC на кобальтовом излучении (й = |
|||||||||||||
= 82°40'). Съемка образцов проводилась с |
эталоном — алюминиевой |
|||||||||||||
фольгой; |
линия |
(420) |
алюминия |
|
|
|
|
|
||||||
на Со-излучении |
имеет |
угол О’ |
= |
|
|
|
|
|
||||||
= 81°09'. |
|
диаметра |
|
дифрак |
|
|
|
|
|
|||||
Изменение |
|
|
|
|
|
|
||||||||
ционных колец при съемке упру |
|
|
|
|
|
|||||||||
гоизогнутых пластин определяется |
|
|
|
|
|
|||||||||
только прогибом пластины. |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
Точность |
определения |
напря |
|
|
|
|
|
|||||||
жений в |
твердосплавных |
пласти |
|
|
|
|
|
|||||||
нах при точности |
измерения сме |
|
|
|
|
|
||||||||
щения линии 0,1 мм достигает |
|
|
|
|
|
|||||||||
±10—12 кг!мм2. |
Если проводить |
|
|
|
|
|
||||||||
съемку стали |
и |
алюминия |
в тех |
|
|
|
|
|
||||||
же условиях, |
то |
точность |
опре |
|
|
Прогиб |
|
|||||||
деления |
напряжений |
|
будет |
О |
|
Z0 |
б-О |
60 б кг/мм' |
||||||
соответственно |
±3 кг/мм2 |
и |
|
|
Напряжения |
|||||||||
±1,2 кг!мм?. На фиг. 68 приведены |
Фиг. |
68. |
Результаты рентгенострук |
|||||||||||
результаты измерения напряжений |
турного |
определения |
суммы глав |
|||||||||||
при |
изгибе твердосплавных плас |
ных напряжений |
I рода в пласти |
|||||||||||
тин. |
По |
оси абсцисс |
отложены |
нах |
из твердого |
сплава. |
||||||||
величины |
прогиба |
пластины |
и |
|
|
|
|
|
растягивающих напряжений в поверхностном слое. По оси ординат
отложены величины смещения линии при расстоянии от образца до пленки 109 мм.
12* |
179 |
Луч 1 на фиг. 68 соответствует расчетному смещению линии из-за изменения расстояния от образца до йленки. Луч 2 — расчетная ве личина суммарного смещения линии за счет изменения геометри ческих условий съемки и наличия растягивающих напряжений в по верхностном слое. Различие между расчетной и экспериментальной величинами смещения линии связано с неравномерным рас
пределением деформации между фазами в процессе спекания сплава,
т. е. более сильной деформацией кобальтовой связки по сравнению
с зернами карбида вольфрама.
Определение составляющей напряжения в заданном направлении
Если для исследования плосконапряженного состояния необхо димо измерить величину составляющей напряжения в каком-либо направлении на поверхности образца, то пользуются методом съемки двух рентгенограмм с поверхности напряженного образца.
Одна из рентгенограмм снимается при направлении пучка лучей перпендикулярно поверхности образца; по этой рентгенограмме определяется величина di. Другая рентгенограмма снимается при направлении пучка лучей наклонно к плоскости нормали, обычно под углом ф = 45°. С помощью этой рентгенограммы определяют d^.
При определении составляющей напряжения в заданном направле нии стф не нужно снимать рентгенограмму образца в ненапряженном состоянии. Величина напряжения подсчитывается из соотношения
_ Е
фd L 1 + v ’
При определении напряжений в крупнозернистых материалах
обычно можно прибегать к вращению кассеты с пленкой и образца
во время съемки (например при съемке в камере типа КРОС). Этот метод допустим при использовании обратной съемки, где направле
ние первичного пучка лучей перпендикулярно поверхности образца;
при наклонной съемке вращение пленки проводить не рекомендуется,
так как в этом случае форма колец имеет значительные отклонения от круговой. В таких случаях рекомендуется проводить колебание пленки в небольших пределах (несколько градусов). При колебании пленки изменяется средний угол наклона отражающих плоскостей:
на одной стороне кольца этот угол уменьшается, на другой — увели
чивается на Аф.
Величина Аф для различных углов колебания пленки приведена в табл. 48. Рассмотрение данных, приведенных в таблице, показы вает, что при размахе колебаний б до 30° ошибкой в расчете напря жений за счет Аф можно пренебречь.
Угол наклона образца ф также изменяется при колебании пленки.
В табл. 48 приведены величины изменения ± Аф при условии изме рения линий на рентгенограмме с той стороны, где ф = (ф0-|-т]) (графа 1), и при измерениях линий на стороне рентгенограммы, соот-
1В0
ветствующей ф = фо — ц (графа 2), для разных значений угла коле бания б. Расчет проведен для оптимальной величины ф = 45°.
При определении |
составляющей |
|
|
|
|||
напряжения сгф методом перпендику |
|
|
|
||||
лярной и наклонной съемки и при |
|
|
|
||||
менении колебаний пленки для унич |
|
|
|
||||
тожения |
влияния |
больших |
разме |
|
|
|
|
ров зерна необходимо вводить по |
|
|
|
||||
правку, |
зависящую |
от |
соотно |
|
|
|
|
шения |
знаков |
и |
абсолютных |
|
|
|
|
|
|
|
Таблица 48 |
|
|
|
|
Угол |
Дгр0' |
|
Д<р° |
|
|
|
|
колебания |
|
|
|
|
|
|
|
6° |
|
|
1 |
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Образец |
|
10 |
0,1 |
|
2,0 |
2,8 |
Фиг. |
69. Схема образования |
|
30 |
1,3 |
|
5,9 |
7,9 |
дифракционных |
колец при на |
|
45 |
2,8 |
|
8,5 |
10,8 |
|
клонной |
съемке. |
величин напряжений в направлениях ср и <р |
+ 90°, т. е. |
оф + 90= |
Для случая съемки стали на кобальтовом излучении, угла наклонной
съемки фо = 45°, |
измерения угла на стороне кольца, для которого |
|
ф = 45° |
т], и |
размаха колебаний пленки ±30° зависимость по |
правки от величины К приведена ниже.
Величина К .................... |
—6 |
—3 |
0 |
+3 |
+6 . |
Поправка в % .................... |
+3,4 |
+2,5 |
+1-4 |
0,5 |
—0,5 |
Пример образования дифракционных колец при наклонной
съемке дан на фиг. 69. На схеме приведен случай съемки стали с зо лотым эталоном. Для установления истинного расстояния от облу чаемой части образца до пленки измеряют радиус эталонного кольца
г и радиус кольца для образца (г — s). Измерение расстояния между линиями образца и эталона с одной стороны дифракционных колец
позволяет рассчитать межплоскостное расстояние |
d для угла ф = |
= (фо+«), измерения с другой стороны дают |
значения d для |
ф = (фо — Т]). |
|
Точность определения межплоскостных расстояний 10 А соответ ствует точности измерения напряжений при фо = 45° ±1,7 кг/мм2.
Следует отметить, что угол наклонной съемки фо, составляющий обычно для стали 45°, может быть и другой величины.
При практическом применении метода наклонных пли косых
съемок вычисления обычно проводят не непосредственно по формуле
(97), а с применением различного вида поправочных графиков, по-
181