![](/user_photo/_userpic.png)
книги из ГПНТБ / Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство
.pdf-строенных для конкретных условий съемки и облегчающих вычис
ления.
Промер рентгенограмм проводится обычно визуально, при по мощи линейки пли компаратора; в случае расширенных линий (раз мытого 2£а-дублета) промер проводится с помощью микрофотометра. В этом случае измеряется расстояние между максимумами интен
сивности.
В качестве примера измерения напряжения стф с помощью на клонной съемки рассмотрим проведенное М. Я. Фуксом и С. С. Дья ченко исследование остаточных напряжений, возникающих при то
чении стали.
Рентгенограммы стали марки 35ХНМ в отпущенном состоянии снимались на кобальтовом излучении с серебряным эталоном.
|
На |
перпендикулярных |
снимках |
|||
|
измерялось расстояние между ди |
|||||
|
фракционными кольцами (310) железа |
|||||
|
и (420) эталона, на наклонных сним |
|||||
|
ках проводилось по два измерения |
|||||
|
расстояния |
между |
кольцами со сто |
|||
|
роны, |
где |
ф = фо |
-|- ц и ф = фо — |
||
|
— ц, г] |
— 90° — 4. |
|
|
|
|
|
При наклонной съемке |
и измере |
||||
|
нии не |
диаметров колец, а расстоя |
||||
|
ний между кольцами большое значе |
|||||
|
ние для точности определения напря |
|||||
ний от прямого угла между кассе |
жений имеет соблюдение строгой пер |
|||||
пендикулярности кассеты |
к направ |
|||||
той и первичным пучком лучей |
лению первичного пучка лучей. |
|||||
на диаметр дифракционных ко |
||||||
лец. |
Влияние |
отклонений |
от перпен |
|||
|
дикулярности кассеты |
на |
расстоя |
ние между линиями на рентгенограмме и, следовательно, на точ ность определения видно из рассмотрения схемы фиг. 70.
Обозначения на схеме: ОР — направление первичного пучка
рентгеновских лучей; SC и S'С' — сответственно, правильное и не правильное положения пленки; точки А и В — следы линий (331), (420) серебра; С — след линии (310) железа; А, В, С — положения точек А, В и С при неперпендикулярном расположении пленки со
стороны кольца, соответствующей ф = фо ц; А", В" и С" — то же для стороны кольца, соответствующей ф = фо — т]. Из рассмо трения схемы видно, что при неперпендикулярности пленки и пучка лучей расстояние между линиями с одной стороны кольца увели
чивается, а с другой — уменьшается. |
|
расстоя |
||
Степень перекоса пленки может быть выявлена по |
||||
нию между линиями эталонного |
вещества, и |
аналитически мо |
||
жет быть рассчитана поправка, которую следует вводить |
в |
изме |
||
ренное расстояние между линиями |
исследуемого |
образца |
и |
эта |
лона.
На фиг. 71 дан поправочный график для исправления резуль татов измерения расстояния между линиями при перекосе пленки.
182
На оси абсцисс отложено процентное изменение отношения рас стояний между линиями (331) и (420) эталона, на оси ординат —
поправка к измеренному расстоянию между линиями (420) эталона ж
(310) исследуемого образца.
Фиг. 71. График для введения поправки на неперпендикулярность пленки и первичного пучка лучей.
Вычисление значений межплоскостного расстояния, в данном слу
чае периода решетки а, из данных измерений рентгенограмм прово дится с помощью номограммы (фиг. 72), которая может быть приме нена для большого количества случаев исследования сплавов на железной основе со структурой феррита.
Фиг. 72. Номограмма для определения периода ре шетки стали (напряжений I рода) по разности диа метров дифракционных колец образца и эталона.
Для уточнения результатов можно использовать измерение не
скольких расстояний между различными дифракционными кольцами
и построить соответствующие номограммы.
Вычисление напряжений проводилось по формулам (96) и (97), которые, при данных условиях эксперимента приобретали вид:
для перпендикулярного снимка
(oi + о2) = —2,34 (аг — ао) |
(98) |
и, соответственно, для каждой из сторон дифракционного |
коль |
ца при наклонной съемке |
|
о = 0,83 («ч+п — ai) |
(99) |
183
о — 1,57 *®1) (100)
Точность определения напряжений составляла при данных усло виях эксперимента ±3 кг/мм2.
Кривые распределения остаточных напряжений в поверхностном слое стали при точении дапы на фиг. 73. Получено, что как осевые,
так и тангенциальные напряжения на поверхности детали являются
растягивающими; однако по мере увеличения расстояния от поверх ности величина напряжений уменьшается и напряжения меняют знак.
Величина напряжения <jv может быть определена методом одной наклонной съемки. В этом случае дифракционные кольца измеряются
Фиг. 73. Распределение остаточных напряжений I рода в поверхностном слое стали при точении.
с двух различных сторон. При этом методе съемки пучок лучей должен лежать в плоскости, содержащей нормаль и составляющую напряже ния аф, которая расположена под углом фо к нормали. Измерение дифракционных колец проводится с противоположных сторон, где фг = (ф0 — ц) и фг = (фо + ц), и вычисляются величины di и di.
Определение <тФ при этом проводится по |
формуле |
|
|||
' |
Е |
X/dr — d2\ |
1- |
(101) |
|
|
Д1+* |
d0 ) sin 2ф0 sin 2ц |
|||
Для обычно применяемого угла наклонной съемки фо= 45* |
соот |
||||
ношение (101) упрощается и принимает вид |
|
||||
°* |
/ |
Е \/d.— d2\ |
1 |
(102) |
|
= |
) |
sin 2ц |
|||
|
При этом методе, не требующем съемки при перпендикулярном
направлении луча, величина do не определяется специально для ненагруженного образца, а принимается табличное значение d для исследованного материала. Следует отметить, что точность метода одной съемки при расчете по уравнению (102) в 2 раза ниже, чем
184
точность метода двух съемок (в перпендикулярном и наклонном направлениях).
При применении колебания пленки обычно вносится поправка,
равная для оф у стали при "фо = 45° и угле размаха колебаний ±15°
величине 1,1%, при угле ±30°—4,5%.
Точность определения напряжений значительно увеличивается при использовании метода нескольких съемок в камерах обратной съемки с наклоном луча тр = 0; 30 и 45°. Расчетное уравнение в этом случае
С(М(!С в = |
+ |
1 |
(103> |
|
|
Е sin |
' |
sin |
' |
где угол скольжения |
определен |
для случая |
перпендикулярной |
съемки, "О' — для наклонной.
При этом методе проводят съемку шести рентгенограмм: двух— с направлением пучка перпендикулярно поверхности, двух — под
углом 30° (по обе стороны от нормали), двух — под углом 45° (также
по обе стороны от нормали). Поворот образцу производится, как обычно, в плоскости, содержащей направления первичного пучка и определяемого напряжения, относительно оси, лежащей на поверх
ности образца. При этом следует обращать особое внимание на пер пендикулярность пленки и пучка лучей. Расположение щели кол лиматора должно быть перпендикулярным длине прямоугольной пленки, оптимальная ширина щели 0,75 мм для перпендикулярной съемки и наклонной с ф = 30° и 0,50 мм для яр — 45°. При съемке
желательно проводить колебание образца в небольшом угловом ин
тервале (±1,25°). Наиболее удобным способом определения расстоя ния от образца до пленки в рассматриваемом случае является съемка
с эталоном.
Результаты измерения рентгенограмм наносятся на график
зависимости cosec й от sin2 ф. Величина о, как следует из соотно шения (103), может быть вычислена из угла наклона полученной прямой. Точность метода повышается за счет того, что положе ние прямой определяется двенадцатью точками (по две для каж дой рентгенограммы), в то время как при методе двух экспозиций, когда расчет фактически аналогичен, положение прямой опреде ляется двумя точками. При измерении расстояния между линиями с точностью 0,1 мм ошибка при измерении напряжений в алюми ниевых сплавах составляет ±0,5 кг/мм? прп малых напряжениях,
±1,5 кг/мм2 прп о = 15 кг/мм2 и ±3 кг!мм2 прп о = 30 кг/мм2.
Для стальных деталей, подвергнутых большим растягивающим
напряжениям, точность уменьшается примерно в 2 раза.
Раздельное определение главных напряжений
Если известны направления главных напряжений сп и ог, применяется метод двух съемок прп направлениях первичного пучка, составляющих определенные углы с направлением главного
напряжения ах.
185
Проводится съемка трех рентгенограмм: одной — с ненапряжен
ного образца |
и |
двух — с |
напряженного, под углом |
яр к нормали |
|||
(постоянный |
угол, обычно, |
ф = )45* |
и наклонах |
плоскости об |
|||
разца ф и ф -j- .*90 |
|
главных напряжений производится |
|||||
Раздельное |
определение |
||||||
по формуле |
' |
a^K + L- |
g2 = K — L, |
(104) |
|||
где |
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 'Ар + ^ ~ 2й?0 |
________Е________ |
|
|||
|
|
|
do |
|
|
(1 + v) • sin2 ф—2v |
|
|
|
L = I‘М |
|
Е_____ . |
|
||
|
|
\ |
do |
/ |
(1 +v) sin2 Ф ’ |
|
—межплоскостное расстояние для углов съемки ф к нор мали и наклоне плоскости образца ф;
dq' — соответственно, для ф и )(*.ф4-90
Кроме рассмотренных методов определения напряжений, в слу чае известных направлений напряжений стг и стг применяют метод, включающий съемку при направлении луча, перпендикулярном к поверхности образца, и наклонные съемки под определенным
УГЛОМ К СТ1.
В некоторых случаях целесообразно для раздельного опре деления величины главных напряжений проводить две съемки:
наклонно к cti и наклонно к Стг. Метод определения напряжений в этом случае основан на применении уравнения (101) или, однако, точность его ниже, чем получаемая методом трех съемок по уравнению (104).
При неизвестном направлении главных напряжений в поверх
ностном слое их величина и направление могут быть определены
путем перпендикулярной съемки и трех наклонных съемок с на
правлениями ф, ф 60* и ф — *.60 Относительное расположение главных напряжений на поверх
ности образца и напряжений, определяемых при съемке под
углами ф, (ф + 60°) и (ф — *),60 |
приведено на фиг. 74. |
|
Рассмотрение геометрических соотношений на фиг. 74 позво |
||
ляет получить следующие зависимости: |
|
|
<71 = 4^ + ^ |
= |
(105) |
О |
о |
|
КЗ (в(ф_60) — g(<p+6Q))
Заф—М
где
М = СТф + Ц((р-|-бО) + <Г(ф— 60)»
N = уг(ЗОф — М)2 + 3 (О(ф_60) — сГ(ф+бО)).
Величины ст для каждого угла определяются методами наклон ной и перпендикулярной съемки по уравнению (97). При исполь-
186
зовании описанного метода ошибка в определении постоянной
решетки на величину ±10—4 *А приводит к ошибке ±2,3 кг/мм2 при определении величины главных напряжений и к ошибке в оп ределении их направлений (в градусах), получаемой из выражения ±65 (от — Ог), где <т измеряется в кг/мм2., Принтом расчет ошибок
проводился для угла наклона первичного пучка 45* при наиболее неблагоприятных направлениях напряжений.
Фиг. 74. Относительное расположение |
Фиг. 75. |
Поправочные графики для |
|
главных напряжений и напряжений, |
определения напряжений I рода при |
||
определяемых методом трех наклонных |
размытых линиях на рентгенограмме, |
||
съемок, на поверхности образца. |
|
|
|
Для иллюстрации различий |
между |
и |
4- а рассмотрим |
пример раздельного определения напряжений ох |
и 02 в стальном |
образце, находящемся в плосконапряженном состоянии. Приме
нялся метод съемки четырех рентгенограмм — перпендикулярной
и трех наклонных |
под постоянным |
углом наклона к нормали |
|
ф = 54,5° |
и с разным углом поворота плоскости съемки ф = О, |
||
ф'= 90° и |
tp" = .35* |
Этот метод аналогичен описанному ранее |
|
для съемок под углами ф, (ф -|- )60* |
и (ф — )*60. |
Получено, что деформации решетки из данных наклонной съемки составляют (Д а = аф — ai):
Ф = 0°; Да = 4-0,00050 А
Ф' = 90°; Д а' = 4-0,00075 А
ф" = 35; Д а2 = 4-0,00044 А°
При определении напряжений рассмотренными выше мето
дами очень большое значение имеет точное измерение диаметра дифракционных колец или расстояния между линиями образца и эталона.
Однако при исследовании материалов, в которых присутствуют микронапряжения, или материалов с малым размером кристаллов
* Такая ошибка обычно получается при прецизионном определении перио дов решетки.
187
линии на рентгенограмме сильно размываются и составляющие дублета Аа1—а2 накладываются друг на друга. Это обстоятель
ство приводит к резкому уменьшению точности измерений рас стояния между линиями и, следовательно, к снижению точности
определения напряжений. Методы учета и влияния немонохроматичности излучения, рассмотренные выше, в данном случае не применимы, так как они дают возможность определить ширину линии, но не положение максимума.
Специальный анализ, проведенный Д. М. Васильевым и 3. А. Ващенко, показывает, что расстояние между линиями об
разца I, которое определяется положением максимума ai-дублета,
зависит от ширины компонент дублета. Рассмотрим учет этого эффекта для случая перпендикулярной (обратной) съемки.
На фиг. 75 дано семейство поправочных графиков для формы кривой e~axi. По осп абсцисс на графике отложена ширина ли
нии Во в радианах, по осп ординат — параметр Uo = -у-, где хо —
сдвиг максимума си. Различные кривые на графике относятся к раз ным междублетным расстояниям 6, которые изменяются от 0,25 х
X10-2 до 4,0 • 10—2 радиан. В практике определения напряжений
функцию распределения интенсивностей с достаточной точностью можно принять за е~ах2 и пользоваться поправочным графиком, приведенным на фиг. 75.
Таким образом, процесс нахождения истинного положения максимума ai для размытой линии на рентгенограмме состоит
из следующих этапов: 1) получение кривой интенсивности на микрофотометре пли ионизационной установке, 2) нахождение
интегральной ширины линии и исправление ее на немонохрома-
тичность излучения, 3) нахождение хо с помощью графика на фиг. 75.
С помощью полученных данных можно вычислить кажущееся изменение межплоскостного расстояния вследствие неучета влия ния размытия линии из выражения
l\d\ |
_ АХ |
(106) |
|
И )Ф ~ |
|||
|
|||
где |
Ad = d2 dr, Uo> 0. |
|
|
ДХ = Ха2 Xai; |
|
Фиктивное изменение межплоскостных расстояний и напряже ний может достигать большой величины при сильно размытых линиях. Так, при съемке стали на Со-излучении при й’=80°—
линия (310), для ширины линии Во = 0,05 радиан (у^-)дз = 5,8 х
X Ю~4, а для Во = 0,1 радиан (-^-)д5=-7,20-10~4.Таким образом
в рассматриваемых стальных образцах фиктивные растягивающие напряжения (сумма главных напряжений) при пересчете на вели
чину напряжений) составляют соответственно 28 и 39 кг/мм2.
188
Рассмотренный расчет пригоден для случая горизонтального фона на кривой интенсивности, что обычно наблюдается при съемке на ионизационной установке. При наличии большого гра
диента фона следует перестроить кривую интенсивности к гори зонтальному фону и затем производить измерения. Смещение мак
симума на кривой интенсивности происходит всегда по напра влению роста фона и может быть значительной величины.
Эффект фиктивного смещения линий на рентгенограммах с раз
мытыми линиями имеет особенно большое значение для метода определения напряжений, включающего определение межплоско стного расстояния do для образца, не содержащего напряжений.
В случае изучения напряжений в |
железе и |
стали при съемке |
линии (310) на Со-излучении при расстоянии |
А =50 мм диаметр |
|
дифракционного кольца ненапряженного образца должен соста- |
||
О |
В табл. 49 |
приведены данные |
влять 2L = 34 мм («Fe= 2,861А). |
о влиянии ошибок в измерении А и 2L на величину межплоскост ного расстояния d.
|
|
|
Таблица 49 |
|
А = 49 мм |
А = 50 мм |
А = 51 дин |
Диаметр кольца |
|
|
|
2L в мм |
|
|
|
|
d (310)А |
d (310) А |
d (310)А |
32 |
0,9046 |
0,9041 |
0,9036 |
34 |
0,9053 |
0,9048 |
0,9043 |
35 |
0,9060 |
0,9055 |
0,9050 |
Из данных табл. |
49 следует, |
что ошибка |
при измерении 2L |
в 1 мм дает ошибку 0,7%, та же ошибка при измерении А при водит к ошибке Ad = 0,05%.
Вследствие того что рентгеновские лучи проникают в металл только на сотые доли миллиметра, большое значение имеет со стояние поверхности образца: шлифованная поверхность может иметь остаточные упругие напряжения; сильно протравленная по верхность может иметь меньшие напряжения, чем металл, распо ложенный под поверхностным слоем, поэтому наиболее рацио нальным методом подготовки поверхности является электрополи рование.
При определении напряжений с помощью камер обратной съемки можно применять как узкий, так и широкий пучки лучей. Преимуществом расходящегося пучка является уменьшение экспо зиции и легкость фокусирования линии, преимуществом узкого пучка — возможность исследования деталей с большим градиен
том напряжений вдоль поверхности.
Метод наклонных съемок может привести к значительным
ошибкам при исследовании образцов с неоднородным поверхно-
189
стным слоем (например шлифованных), так при съемке стальных
образцов на Со-излучении (О'зю = )80* |
для двух рентгенограмм, |
снятых под углами ф — *0 и ф = ,*45 |
различие в эффективной |
глубине проникновения лучей составляет 83%.
Применение ионизационного метода
Прп применении ионизационной установки для измерения на пряжений I рода сумма главных напряжений определяется путем съемки рентгенограмм с образцов в напряженном и ненапряжен ном состоянии и вычисления (ai 02) по уравнению (96).
Фиг. 76. Схема съемки^при^оиределении напряжений I рода на ионизационной установке:
а) 4’ = 0; б) ф =# °; 1—поверхность фокусировки; 2 — образец; 3 — счетчик.
При раздельном определении главных напряжений и других методах, требующих наклонной съемки, применяют съемку с де фокусировкой. На фиг. 76 угол падения лучей на образец и угол отражения равны между собой, т. е. съемка проходит по схеме,
обычно применяемой в ионизационной установке. В этом случае, соответствующем ф = 0, нормаль к поверхности образца по направ лению совпадает с нормалью к отражающей плоскости. На фиг. 76 дана схема съемки под углом ф. Окружность, на которой сходятся сфокусированные лучи, должна быть касательной к поверхности образца, поэтому при повороте образца изменяются как положение,
так и радиус этой окружности. Сфокусированные лучи собираются
в точке |
F', отстоящей от входной щели счетчика на |
расстоянии |
||||
г. Значение г может быть подсчитано из соотношения |
|
|||||
|
|
_f___ |
л __ cos [ф -|- (90° •&)] |
|
МП71 |
|
|
|
R |
1 |
cos [ф —(90° — ^)] |
" |
|
Величина -4- |
может |
быть |
значительна, |
например, |
для ф = |
|
|
Л |
|
|
|
|
|
= 45* |
и Я = ;70* |
~ = 0,53. |
|
|
||
|
|
Л |
|
|
|
|
190
После фокусирования в точке F' лучи расходятся и интенсив ность лучей, попадающих в счетчпк, очепь мала. Применение широкой щели счетчика может увеличить регистрируемую интен сивность, но снижает точность измерения положения линии.
Наилучшие результаты получаются при применении двух щелей — узкой в точке F' и широкой в точке F. На практике обычно можно установить одну щель в интервале между точками F и F’ и
использовать ее при обоих измерениях (ф = *0 и ф = )*45. |
Место |
|
установки щели подбирается по оптимальному |
соотношению |
|
интенсивностей линии при обоих видах съемки. |
метода |
прихо |
На установке УРС-50 и при применении этого |
дится изготовлять специальные салазки для перемещения щели счетчика. Выносная щель счетчика при этом должна быть точно отъюстирована.
Для контроля правильности изготовления салазок следует,
поставив |
счетчик в положение *0 при снятом держателе образца, |
|||||
поставить |
щели шириной 0,1 мм и проверить юстировку при |
|||||
нескольких положениях щели счетчика. |
|
|
|
|
||
Расчет напряжений проводится по соотношению |
|
|
||||
|
<Л|> = К (2а0 - 2^), |
|
|
(108) |
||
где К — постоянная; |
|
|
|
|
|
|
|
К — |
Е ctg^ |
• |
|
|
|
|
|
2 (1 + v) sin2 ф |
’ |
|
|
|
2Ф0 и 2'вф — соответственно, углы поворота |
счетчика, |
соответ |
||||
ствующие |
дифракционным |
максимумам |
при |
ф = 0 |
и |
ф = ф. |
Таким образом, при применении ионизационного |
метода для |
определения напряжений I рода исследование состоит из следую щих этапов: 1) находят оптимальное положение щели счетчика;
2) при неподвижном образце, повернутом на угол |
путем враще |
ния счетчика находят положение максимума |
интенсивности; |
3) поворачивают образец на угол ф; 4) проводят измерение положе ния линии; 5) по соотношению (108) вычисляют величину напря жений I рода.
Точность измерения при использовании ионизационной уста новки, как правило, значительно повышается. Например, для стали при съемке линии (310) на Со-излучении и измерении угла 20 с точностью т 2,5' вероятная ошибка при определении напряже ний составляла Т 2 кг!мм2 или в 2 раза меньше, чем при фото графическом методе измерения для того же образца.
При исследовании материалов, дающих расширенные линии
на рентгенограмме, большое значение имеет правильный выбор излучения и материала фильтра для уменьшения уровня фона. Например, при исследовании напряжений в отожженных сталях целесообразно применять Со-излученпе с железным фильтром. При измерении напряжений в закаленных сталях применяют Сг-излучение с ванадиевым фильтром, так как фон в этом случае гораздо меньше за счет отсутствия флуоресцентного излучения образца.
191