
книги из ГПНТБ / Арсенид галлия. Получение, свойства и применение
.pdf250 |
Я В Л Е Н И Я П Е Р Е Н О С А |
[ГЛ. 4 |
величина г оказывается близкой к нулю. Однако сравне ние этого результата с расчетом говорит все же в пользу преимущественного рассеяния электропов па оптических колебаниях решетки [95].
Определенно показателя рассеяния 7- из магпетосонротпвления и термо-э.д.с. менее достоверно, чем пз эффекта Нернста—Эттипгсгаузена. В частности, магнетосопротив ление при г < 0,5 мало, и поэтому па результатах его измерения сильно сказываются неоднородности кристалла. Данные измерения термо-э.д.с. лучше согласуются с г > 0 , чем с г =—1/2 (см. 4.5).
В кристаллах р-тппа эффект Нериста—Эттипгсгаузена весьма определенно указывает па то, что дырки рассеи ваются на акустических колебаппях решетки, давая прп температурах выше 600—700° К значения г——1/2. Про верить это значение по магнетосопротивлепию пе удается из-за его малостп прп высоких температурах п влияппя легкпх дырок, а по термо-э.д.с.— из-за незнания точных значений эффективной массы для дырок. Сильное взаимо действие с акустической ветвью колебаний проявляется
ив большом увлечении дырок фоионамн [297].
Всильно легированных кристаллах, как отмечалось
в4.4, следует ожидать увеличения роли рассеяпия носи телей на акустической ветви; рассеяние иа оптической ветвп должно оставаться почти неизменным. В p-GaAs, по-видимому, дело обстоит пмоппо так: экспериментально
всильно легированных образцах величина Qx становится положительной и г стремится к —1/2, начиная с более низких температур, чем в чистых кристаллах; подвиж ность зависит от температуры как Г - 1 . В арсениде галлия тг-типа Q^- и и ведут себя в целом аналогично, однако анализ здесь осложняется влиянием непараболичностн зоны, которая формально сказывается на Q-1 н и так же, как добавка некоторой доли акустического рассеяпия. Кроме того, с ростом легирования уровень Ферми при ближается ко второй зоне проводимости, так что при 7г =
=101 9 см —3 расстояние от уровня Ферми до диа второй зоны составляет всего 0,15—0,2 эв; это также влияет на
перенос. Учет |
всех этих особенностей [102] |
приводит |
к заключению, |
что даже при ге;==:1019 см~3 роль |
рассения |
на акустических колебаниях в кристаллах ?г-типа, повидимому, все^еще мала,
4.8] |
М Е Х А Н И З М Р А С С Е Я Н И Я Н О С И Т Е Л Е Й Т О К А |
251 |
|
Наглядным способом анализа механизма |
рассеяния |
в сильно легированных кристаллах может служить ана лиз формы кривых о(Т). Опыт показывает (см. 4.3), что чем выше концентрация носителей тока в легированном
кристалле, тел! раньше |
(от более низких температур) на |
||||
чинается падение |
электропроводности и тем заметнее оно |
||||
выражено. |
|
|
|
|
|
Особенно заметно это явление в |
кристаллах р-тнпа. |
||||
При р = Ю2 0 сл1-3 |
величина |
а от |
4,2 до 370 ° К |
па |
|
дает в два раза. Этого не могут дать ни оптические |
коле |
||||
бания, роль которых |
при |
низких |
температурах |
из-за |
экспоненциально падающего их влияния ничтожна, ни какие-либо дефекты, при вырождении дающие как теоре тически, так и экспериментально независимость подвинь ности н электропроводности от температуры. В кристал лах 7г-типа указанная тенденция выражена гораздо сла бее: даже в самом легированном кристалле с концентра
цией электронов |
101 0 см—3 падение электропроводности |
от 78 до 300°К |
ие превышает 3—5%. Эти результаты |
подтверждают заключение о слабой роли рассеяния на акустических колебаниях решетки в арсениде галлпя л-тнна н о гораздо более сильном влиянии его в кристал лах р-тниа. Внося решающий вклад в рассеяние дырок при комнатных и более высоких температурах, акустические колебания сохраняют заметную роль и до самых низких температур, так как при вырождении газа носителей тока их вклад в рассеяние уменьшается с понижением темпе ратуры сравнительно медленно — как Т~1.
В целом можно, по-видимому, утверждать, что в кри сталлах га-типа при комнатных температурах из различ ных видов решеточного рассеяния преобладает рассеяние на полярных колебаниях решетки, при температуре жид кого азота н ниже становится существенным рассеяние на акустических н, возможно, ньезоакустичоскнх коле баниях. В кристаллах р-тнпа акустические колебания, вероятно, преобладают при всех температурах. Чисто «решеточпая» подвижпость электронов при комнатной тем-,
пературе, судя |
по наилучшим |
кристаллам, |
близка |
к 9000—10 000 смЧв-сек, при азоте — к 200 000 |
см2/в-сек |
||
или песколько |
выше. |
|
|
Для дырок |
соответствующие |
значения равны |
400 — |
450 смУв-сек и 4000—5000 смУв-сек.
252 |
Я В Л Е Н И Я П Е Р Е Н О С А |
[ГЛ. 4 |
4.8.2. |
Рассеяние на дефектах. Рассеяние на |
дефектах |
в арсениде галлия играет существенную роль уже при комнатных температурах. В большинстве иелегпрован-
ных |
кристаллов при 3000 |
К электроны имеют |
подвиж |
|
ность |
не более 4000—7000 |
см2/в-сек, |
т. е. заметно мень |
|
шую, |
чем в чистых эпптакспальпых |
слоях. Редко |
удается |
|
достигнуть предельных подвижиостен (400—450 |
см2/в-сек) |
п для дырок. При легировании и понижении температуры роль дефектов в рассеянии еще более возрастает.
Как физически, так и с точки зрения технологии наи большую важность представляет определение природы дефектов, ограничивающих подвижность носителей тока, а затем и их числа.
..... В классических аналогах соединений A r a B v — гер мании и кремнии — решающую, а часто и единственную роль рассеивающих дефектов играют ионы примеси. Рас сеяние па них подчиняется известной теории Брукса— Херрнига 1М36] и с небольшой подгонкой, вызванной в основном анизотропией проводящих зон, позволяет по подвпжностн носителей тока определить концентрацию ионов примесей в кристалле.
В арсенпде галлия га-типа рассеяние на ионах, когда его удается выделить в чистом виде, также подчиняется теории Брукса—Херрнига. Благодаря простоте зоны про водимости количественное согласование эксперимента с теорией достигается без каких-либо подгоночных пара метров. Для сильно легированных кристаллов это было показано в работах [12, 106] (см. 4.4) для чистых — в ра ботах [31, 46]. В чистых кристаллах с невырожденным электронным газом рассеяние на ионах возрастает с по нижением температуры быстрее, чем на любых дру гих дефектах; одновременно роль колебанпй решетки падает.
При достаточно низких температурах ионы примеси ста новятся единственным источником рассеяния электронов. Температурная зависимость подвижности при этом еле дует формуле [М36]
Т~ тп*
где Ъ = 1,3 -10й — е — , и концентрация ионов, онре-
4.8] |
М Е Х А Н И З М Р А С С Е Я П И Я Н О С И Т Е Л Е Й |
Т О К А |
253 |
деленная с ее помощью по экспериментальным |
значениям |
||
подвижности, очень хорошо совпадает с |
концентрацией, |
||
найденной |
другими методами. |
|
|
В большинстве случаев, однако, объяснить результаты исследования эффектов переноса в арсеииде галлия одним только рассеянием иа ионах примеси не удается. В боль
шом числе |
кристаллов га-типа кривые температурной за |
висимости |
подвижности в интервале 78—300° К имеют |
более пологий максимум, чем должно было быть при
сложении |
обычного решеточного и ионного рассеяния, |
т. е. при |
сложении законов Т—3>* и Т^2 или близких |
к ним. |
|
Вначале предполагалось, что это связано с сильным эк ранирующим влиянием электронов, уменьшающим показа тель температурной зависимости подвижности для рас сеяния на ионах от 3/2 до 1 и даже до 0,5. Аналогично могло действовать частичное вырождение электронов. Рас четы Бланка и Вайсберга [13] показали, что одних этих факторов недостаточно для интерпретации эксперимента и что имеются, по-видимому, какие-то дополнительные центры рассеяния электронов, дающие вклад в подвиж
ность с |
законом и — Г-з/4 и |
сглаживающие ее |
темпера |
турную |
зависимость. Авторы |
предположительно |
связали |
эти центры с конгломератами |
нейтральных или |
заряжен |
ных (области «пространственного заряда») атомов и на звали их «убийцами» подвижности, так как они заметно уменьшали подвижность электронов при комнатной тем пературе почти во всех исследованных кристаллах. Точ ное определение природы обнаруженных дефектов сле дует признать затруднительным, поскольку сглаживание кривой температурной зависимости подвижности могут дать очень многие из известных нарушений решетки кри сталла, ибо почти для всех них характерна более слабая зависимость подвижности от температуры, чем для ионов.
В дальнейшем похожие отклонения температурной за висимости подвижности от простейшей кривой «решетка-j- ионы» отмечались многими авторами [298—301], и для их объяснения предлагались различные модели: рассеяние на нейтральных атомах глубоких или мелких примесных уровней, рассеяние на комплексах примесей и т. п Различия в интерпретации в разных случаях связаны как
254 Я В Л Е Н И Я ПЕГЕТГОСЛ [ГЛ. 4
с реальной сложностью рассеяния электронов, так и со сложностью и неоднозначностью самого анализа. Как правило, исследователю неизвестны не только закон рас сеяния электронов на гипотетических дефектах, но также и точный вклад в рассеяние примесных ионов (пз-за не знания степепи компенсации примесей) и вклад тепло вых колебаний решетки. Для точного определения вклада
ноиов в рассеяние необходимы температуры |
ниже |
70— |
60 ° К и, кроме того, учет проводимости в |
примесной |
|
зоне [31, 46]. Чаще всего, однако, доступны |
только |
тем |
пературы жидкого азота; концентрация ионов при этом определяется хотя и иамиого точнее, чем при комнатной температуре, тем пе менее ошибки порядка нескольких десятков процентов почтп неизбежны. Такая ошибка мо жет быть несущественна, когда концентрация ионов ис пользуется для оценки чистоты кристалла, однако на анализ вклада других дефектов она оказывает заметное влияние.
Некоторая часть кристаллов арсенпда галлия пмеет более крутую, чем для рассеяния на ионах, температур ную зависимость подвижности. Наиболее вероятное объ яснение такого результата — влияние микронеодпородностей кристалла [44, 300]. Это объяснение подтверждается и тем, что крутое падение подвижности характерно для большинства сильно компенсированных кристаллов, возникновение неоднородностей в которых особенно ве роятно.
При строгой интерпретации следует учитывать, что в качестве центров рассеяния могут выступать только неод нородности с линейными размерами, не превышающими длины свободного пробега электронов; более крупные об разования влияют не на путь отдельных электронов, а па линии тока в кристалле.
Довольно сложная картина рассеяния электронов на дефектах в арсениде' галлпя затрудняет количественный анализ экспериментальных результатов и позволяет опре делить по подвижности носителей в лучшем случае лишь концентрацию ионов, но пе каких-либо других центров рассеяния. Это в одинаковой мере относится как к кри сталлам стандартной чпстоты, так и к самым чистым эпитаксиальным слоям. Возможно, хотя это еще и не показано строго, что в самых чистых образцах с под-
4.8] |
М Е Х А Н И З М Р А С С Е Я Н И Я Н О С И Т Е Л Е Й Т О К А |
255. |
впжпостыо электрогов при комгатгой температуре 8000— 9500 смУв-сек, рассеянно иа каких-либо дефектах, кроме ионов примеси, уже отсутствует.
Рассеяние электронов в сильно легировапиых кристал лах определяется ионами примеси, естественно, в боль шей степеип, чем в чистых, однако и в ппх, как отмечалось в 4.4, наблюдается влияние других дефектов. До сих пор остается открытым вопрос о том, чем вызывается умень шение подвижности в болыппистве сильно легированных кристаллов по сравнению с наилучшими образцами: ком пенсацией прпмесп, маловероятной при больших кон центрациях, неоднородностью кристаллов или наличием очепь большого числа каких-то неизвестных центров рас сеяния.
Сложность нарисованной картины подтверждается ис следованиями других эффектов переноса. Так, эффект Нернста—Эттипгсгаузена как в легированных, так и в чистых кристаллах систематически дает гораздо более низкие значения показателя степени в законе рассеяния электронов, чем он должен быть при рассеянпп на нонах примеси, в том числе с учетом экранировки, вырождения и решеточпого рассеяния [102, 22]. С другой стороны, в сильно компенсированных кристаллах часто наблю дается очепь большое магнетосопротивление, указываю щее на значительное влияние неоднородностей [31].
В кристаллах р-тгта рассеяние иа дефектах специ ально почти ие исследовалось. Имеющиеся результаты показывают, что прп низких температурах, а также в силь но легированных образцах, преобладает рассеяние на понах примеси, которое в целом подчиняется обычной теории. Влияние на подвижность дырок каких-либо дру гих дефектов до сих пор обнарз^жепо ие было [13], если оно и имеется, то значительно более слабое, чем в кри сталлах /г-типа.
Г Л А В А |
5 |
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ |
|
5.0. Общие представления |
|
Изучение фотоэлектрических |
свойств полупроводнико |
вых кристаллов занимает важное место в комплексном ис следовании полупроводников. В основе фотоэлектриче ских явлений лежит процесс генерации «свободных» но сителей заряда под действием излучения, движение и ре комбинация пх. Для нахождения основных параметров, определяющих фотоэлектрические явления, изучают ста ционарные и нестационарные процессы, а также воз действие внешних условий (электрических и магнитных полей, температуры, дополнительного возбуждения и
т. д.) на движение и рекомбинацию |
неравновесных носи |
||
телей заряда. Из фотоэлектрических |
явлений в этой главе |
||
будут рассмотрены фотопроводимость, |
ее температурное |
||
п оптическое гашение, |
термостимулированная проводи |
||
мость и фотомагиитный |
эффект *). |
^ |
Фотопроводимость представляет собой изменение про водимости под действием падающего излучения. Она мо жет быть вызвана переводом электронов из валентной зоны в зону проводимости (собственная фотопроводи мость). Длинноволновая граница собственной фотопро водимости определяется шириной запрещенной зоны по лупроводника [М41]. Ионизация примесных уровней также приводит к появлению свободных электронов или дырок '(примесная фотопроводимость). Зависимость при месной фотопроводимости от энергии падающих фотонов
*) Поскольку исследованию фотолюминесцентных свойств ар сенпда галлия посвящена отдельная глава, то механизм отдачи энергии возбужденных носителей, связанный с рекомбинацией на примесных уровнях, в этой главе рассматриваться не будет.
5.0] |
О Б Щ И Е П Р Е Д С Т А В Л Е Н И Я |
257- |
позволяет |
определить энергетический спектр |
уровней |
в запрещенной зоне. При определенных условиях воз буждения носителей из валентной зоны на примесные уровни или с примесных уровней в зону проводимости происходит гашение фотопроводимости. Такое возбужде ние носителей может быть тепловым (термическое гаше ние) или оптическим (оптическое гашение). Положение уровней определяется из измерений температуры терми ческого гашения или из спектральной зависимости опти ческого гашения [1, 2, М5]. Энергетический спектр при месных состояний в запрещенной зоне получают также из кривых термостимулироваиной проводимости [3—5]. Термостимулированная проводимость представляет со бой проводимость, обусловленную термическим возбуж
дением прилипших носителей, созданных светом. |
1 |
Определение уровней вышеуказанными способами |
не |
однозначно. Все методы дают возможность найти только энергетическое положение примесных уровней относи тельно одной из зон, но относительно какой — без допол нительных измерений сказать нельзя. Одним из методов, позволяющим уточнить расположение примесных уров ней, является холл-эффект на неравновесных носителях («фото-холл-эффект»). Помимо знака неравновесных носи телей, температурная зависимость постоянной Холла при освещении дает также сведения об энергетическом спек тре примесных уровней, о концентрации н подвижности неравновесных носителей, а следовательно, и о механизме рассеяния носителей тока, создаваемых светом.
Неравновесное состояние характеризуется временами жизни, которые в свою очередь определяются рекрмбинационными параметрами примесных центров, такими, как концентрация их, сечение захвата электронов и дырок, энергетическое положение и, в конечном счете, механиз мом рекомбинационных переходов.
Удобным методом определения времени жизни в полу проводниках служит анализ кривых релаксации [М38]. Вследствие малости времен жнзнп носителей тока изу
чение кинетических процессов в кристаллах |
арсенида |
||||
галлия затруднено. |
Распространенным |
методом измере |
|||
ния времени жизни |
в |
этом материале |
является |
совмест |
|
ное измерение стационарного значения |
фотопроводимо |
||||
сти и фотомагнитного |
эффекта [6, 7]. |
Фотомагнитный |
17 А р с е н и д г а л л и я
258 |
Ф О Т О Э Л Е К Т Р И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я |
[ГЛ . 5 |
эффект представляет собой возникновение разности |
потен |
циалов в освещенном кристалле, помещенном в магнит ное поле [М39]. Фотомагпптпый эффект, связанный с об разованием пары *) электрона и дырки, наблюдается при действии света, энергия которого больше или равна ши рине запрещенной зоны. Фотомагнитный эффект в арсе ииде галлпя практически не исследован [9]. Он исполь
зуется |
только для вычисления |
времени жизни. |
В связи |
с этим |
фотомагнитиый эффект |
самостоятельно |
рассмат |
риваться не будет, а результаты по вычислению времени жпзнп пз измерений фотомагиитиой э.д.с. будут рас смотрены в 5.5.
В случае существования большого количества лову шек времена, найденные пз измерений стационарных зна
чений |
фотопроводимости |
|
Т ф П и |
фотомагнитного |
эффекта |
||||
Т ф М Э , не будут в общем случае непосредственно |
временами |
||||||||
жизни |
электронов т п |
и дырок т р . Они связаны |
с |
т п и т р |
|||||
соотношениями [10] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Т ф м э |
= |
(тп |
+ |
стр )/(1 + |
с), |
|
|
|
|
Т ф п |
= |
(тР |
+ |
Ь%п)/{1 |
+ |
Ъ). |
|
|
В связп с возможностью нескольких каналов рекомбина ции для болео полного понимания процессов рекомбина ции неравновесных носителей в арсеииде галлия необ ходимо комплексное изучение фотоэлектрических явлений с привлечением большего количества методик, вклю чающих как стационарные, так и нестационарные про цессы.
5.1.Фотопроводимость
5.1.1.Спектральное распределение собственной фото проводимости. В арсениде галлия фотопроводимость изу чалась на монокристаллах п- и /"-типа с концентрацией носителей тока 10е—1018 см~3 при комнатной температуре.
Типичпая зависимость фотопроводимости от энергии на-
*) Ниже будет рассмотреп магнитный эффект Кикоина— Носкова [8]. Другие эффекты, свя
занные с собственным фотомагпитпым эффектом (поперечный фотомагнитпый эффект, четные и нечетные фотомагнитные эффекты) на кристаллах арсенида галлия не наблюдались.
5.1] |
Ф О Т О П Р О В О Д И М О С Т Ь |
259 |
дающего кванта приведена на рис. 5.1. Даже в чистых кристаллах, полученных эпитаксиальным методом, с вы соким значением подвижности, на кривой спектрального распределения имеются две области — область собствен ного поглощения и область примесного поглощения. Ши рина запрещенной зоны, найденная фотоэлектрическим
Рпс. 5.1. Спектральное распределение фотопроводимости в кристал
лах GaAs п- и р-тша [15].
методом, при комнатной температуре имеет значение 1,39-1,42 эв[П] и при 77° К - 1,47-1,48 эв [М1]. Из мерение фотопроводимости, фотолюминесценции и опти ческого поглощения на чистых кристаллах показывает, что ширина запрещенной зоны арсенида галлия при тем
пературе жидкого азота |
составляет около |
1,50 эв, а при |
2 ° К —1,5202 эв [12]. В |
области энергий, |
превышающих |
границу собственного поглощения, на кривой спектраль ного распределения фотопроводимости наблюдаются мак симумы, связанные с зонной структурой кристалла [13]. Обработка поверхности также может привести к появле нию максимумов в этой области спектра. Влияние поверх
ности в арсениде галлия нельзя описать |
одним феноме |
нологическим параметром — скоростью |
поверхностной |
рекомбинации [14], как - то было в случае германия н крем ния, что следует учитывать при определении времени жизни из этих данных.
5.1.2. Спектральное распределение примесной фото проводимости. Экспериментальное наблюдение фотопро водимости при энергии фотонов меньше края собствен ного поглощения говорит о существовании большого
17*