книги из ГПНТБ / Кочергин, С. М. Образование текстур при электрокристаллизации металлов учеб. пособие

Пленку закладывают в конверт из светонепроницае­ мой бумаги и прижимают к полуцилиндру. Например, камера РКОП-А—.рентгеновская камера для определе­

М. М. Уманского —

„имеет полуциллндрическую кассету диамет­ ром 57,3 мм. Эта каме­

плоскую кассету, удаленную от кристалла на 32 мм. Как та, так и другая кассеты могут быть применены для исследования текстурированных веществ по методу пря­ мой съемки.

I '

с; с

Рн-с. 37. Схема съемки в аксиальной ка­ мере-цилиндре, ось которой совпадает с направлением пучка первичных рентгено­ вых лучей:

С, С \ С], Cj — места рефлексов на пленке

чтобы ось, вокруг которой можно поворачивать образец, была перпендикулярна оси камеры. На рис. 39 пред­ ставлена рентгенограмма, полученная в аксиальной ка­

51

Изучая 'Ориентацию кристаллитов в электролитическом цикле, Л. С. Палатиик дал аналитический метод расчета текстур. В. И. Архаров па примере исследования электроосажденного хрома разработал методику расшифровки рентгенограмм, характерных для радиальной ориента­ ции. Описание приемов рентгенографического исследова­ ния электролитических осадков дали Я. С. Уманский, Г. С. Жданов, А. И. Китайгородский, А. К- Трапезников. Анализ экспериментальных данных показал, что, как правило, электролитические осадки имеют аксиальный тип текстуры. В данном случае ось ориентации преиму­ щественно совпадает с перпендикуляром к плоскости осадка и в большинстве случаев параллельна силовым линиям электрического тока. Это позволяет несколько упростить методику рентгеновского исследования тек­ стуры.

Методы расчета текстур по рентгенограммам фор­ мально можно разделить на следующие четыре группы: 1) аналитические; 2) графоаналитические; 3) графи­ ческие способы определения индексов оси текстур; 4) ме­ тод полюсных фигур.

При определении индексов оси аксиальной текстуры по каждому из первых трех методов обычно бывает до­ статочно одной рентгенограммы. Если имеются какиелибо сомнения в том, что исследуемая текстура является аксиальной, то проверить аксиальность 'можно по вто­ рой рентгенограмме, снятой при повороте образца отно­ сительно горизонтальной оси, например на 90°. Угол между направлением пучка первичных рентгеновых лу­ чей и поверхностью образца остается при повороте вок­ руг горизонтальной оси образца одним и тем же, следо­ вательно, и характер рентгенограммы с аксиальной текстурой не изменяется. Существенное различие в двух рентгенограммах будет указывать на то, что тек­ стура не является аксиальной и обработка ее для полу­ чения полных данных о текстуре требует более сложных методов. Для сложных текстур применяется метод по­ люсных фигур. Этот метод является, но сути, графиче­ ским методом совместной обработки 10—20 рентгено­ грамм, снятых при различной ориентировке образца от­ носительно рентгеновского луча.

Различные исследователи построили множество по­ люсных фигур деформированных металлов. Однако для электролитических осадков, имеющих, как правило, ак-

53

спальные текстуры, метод полюсных фигур почти ни­ кем не применялся и при исследованиях текстур электро­ литических осадков считалось достаточным определить лишь ось текстуры одним из первых трех методов.

Ниже излагаются некоторые приемы расчета текстур, наиболее доступные при изучении структуры электроли­ тических осадков металлов.

Наиболее удобный метод аналитического расчета тек­

лучу в точке А (обычная плоская фотопленка);

точке Сь ВВ\ — х — искомое расстояние текстурного максимума до

1горизонтальной оси рентгенограммы; Rk — радиус камеры.

Значение х может быть найдено следующими двумя споообами:

способ I (см.рис.40 и 41):

О А = О В = RK; ААХ= АСХ= г; ССХ= лу;

АС = у$у ВВг “ xt

54

55

Эта формула также может быть просто 'Сведена к формуле (9), выражающей расстояние х между текстур­ ными максимумами и 'горизонтальной осью рентгено­ граммы.

Обычно для измерения расстояния удобнее пользо­ ваться величиной 2х:

где 0 — брэгговский угол отражения рассчитанный для каждого кольца рентгенограммы;

б — угол, позволяющий связать расстояние х меж­

Вначале необходимо теоретически определить разме­ ры х в миллиметрах >в зависимости от оси текстуры. Это легче всего сделать следующим образом.

Связь дебаеграмм с кристаллической структурой и осью текстуры, как отмечено выше, устанавливается с помощью определения угла б, значение которого может быть найдено следующим образом. Обратимся к рис. 42, '•на котором показана связь основных параметров в сфе­ рической проекции, где р — угол между плоскостью

56

Согласно теореме пространственной геометрии cos р = cos (90 + 0) cos (90 + Р) + sin (90 + ji) X

X sin (90 + б) cos 8.

Преобразуя, получим формулу Поляни:

cos р = sin 9 cos Р' + cos б sin Р' cos 8.

Учитывая, что а — угол установки образца, получим cos р = sin 0 sin а + cos 0 cos а cos 8.

Откуда

Угол p может быть теоретически найден для различного соотношения индексов шлос-костей и текстур в зависимо­ сти от типа решетки. Для кубической решетки угол р можно найти по формуле (4). Для гексагональной ре­ шетки:

57

где а и c — параметры решетки.

Значения р для кубических кристаллов приведены* в табл. 2. Более полно значения р содержатся в таблицах справочников.

т п

град. МИН. град. МИН. град. МИН. град. МИН. град. МИН.

58