- •Введение
- •1. Физические основы работы приборов твердотельной электроники
- •1.1. Зонная структура полупроводников
- •1.2. Собственные и примесные полупроводники
- •1.3. Статистика электронов и дырок в полупроводниках. Концентрация носителей заряда и положение уровня Ферми
- •1.4. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •1.5. Концентрация электронов и дырок в примесном полупроводнике
- •1.6. Определение положения уровня Ферми
- •1.7. Проводимость полупроводников
- •1.8. Токи в полупроводниках
- •1.9. Неравновесные носители. Генерация и рекомбинация носителей
- •1.10. Уравнение непрерывности
- •1.11. Электрические поля в кристаллах
- •2. Контактные явления
- •2.1. Разновидности электрических переходов и контактов
- •2.2. Электронно-дырочный переход
- •Равновесия
- •2.2.2. Контактная разность потенциалов
- •2.2.3. Ширина p-n-перехода
- •2.2.4. Прямое включение р-n-перехода
- •2.2.5. Уровень инжекции
- •2.2.6. Обратное включение р-n-перехода
- •2.2.7. Теоретическая вольт-амперная характеристика
- •2.2.8. Вольт-амперная характеристика реального
- •2.2.9. Вольт-амперная характеристика р-п-перехода в полулогарифмических координатах
- •2.2.10. Пробой р-п-перехода
- •2.2.11. Емкость p-n-перехода
- •2.2.12. Переходные процессы в p-n-переходах
- •2.2.13. Частотные свойства p-n-перехода
- •2.2.14. Эквивалентные схемы р-п-перехода
- •2.2.15. Влияние температуры на свойства
- •2.3. Разновидности электрических переходов
- •2.3.1. Гетеропереходы
- •2.3.2. Контакт полупроводников с одним типом электропроводности
- •2.3.3. Контакт металл – полупроводник. Барьер Шоттки
- •2.3.4. Омические контакты
- •2.3.5. Явления на поверхности полупроводников
- •3.2. Область пространственного заряда в равновесных условиях
- •3.3. Приповерхностная область пространственного заряда
- •3.4. Распределение плотности пространственного заряда, электрического поля и потенциала в идеальной
- •3.5. Вольт-фарадные характеристики идеальной
- •3.5.1. Емкость области пространственного заряда
- •3.5.2. Емкость мдп-структур
- •3.6. Компоненты заряда в реальном диоксиде кремния и их влияние на вфх мдп-структуры
- •3.7. Распределение плотности пространственного заряда, электрического поля и потенциала в реальной
- •3.8. Определение параметров мдп-структур на основе анализа c-V характеристик
- •4. Полупроводниковые диоды
- •4.1. Методы изготовления полупроводниковых диодов
- •4.2. Выпрямительные диоды
- •4.3. Варикапы
- •4.4. Стабилитроны
- •4.5. Туннельный и обращенный диоды
- •4.6. Высокочастотные и сверхвысокочастотные диоды
- •4.7. Импульсные диоды
- •5. Биполярные транзисторы
- •5.1. Структура и основные режимы работы
- •5.2. Схемы включения транзистора
- •5.3. Основные физические процессы в биполярных транзисторах
- •5.4. Модуляция сопротивления базы
- •5.5. Статические характеристики биполярных транзисторов
- •Как четырехполюсник
- •5.6. Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •5.7. Дифференциальные параметры биполярных транзисторов в схеме с общей базой
- •5.8. Дифференциальные параметры биполярных транзисторов в схеме с общим эмиттером
- •5.9. Малосигнальные параметры биполярного транзистора
- •5.9.1. Система z-параметров
- •5.9.2. Система y-параметров
- •5.9.3. Система h-параметров
- •5.10. Частотные и импульсные свойства транзисторов
- •6. Тиристоры
- •6.1. Структура и принцип действия
- •6.2. Основные параметры тиристоров
- •6.3. Феноменологическое описание вах динистора
- •6.4. Способы включения и выключения тиристоров
- •7. Полевые транзисторы и приборы с зарядовой связью
- •7.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •7.3. Эффект смещения подложки
- •7.4. Эквивалентная схема мдп‑транзистора
- •7.5. Подпороговые характеристики мдп-транзистора
- •7.6. Приборы с зарядовой связью
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
2.3.4. Омические контакты
Обязательным элементом каждого прибора является так называемый омический контакт. Он обеспечивает соединение полупроводникового кристалла с внешним выводом. Омический контакт это обычно контакт металл - полупроводник. В случае контакта металла с полупроводником п - типа при условии, что работа выхода металла меньше работы выхода полупроводника (ФМе < Фпп), или же в случае контакта металла с полупроводником р - типа, когда ФМе > Фпп, вблизи границы образуется слой с повышенной концентрацией основных носителей. Такой переход, обладающий повышенной по сравнению с объемом полупроводника удельной проводимостью, называют омическим, так как он не обладает униполярными свойствами. При подключении прямого и обратного напряжения изменяется лишь степень обогащения основными носителями приконтактного слоя.
Для омических контактов характерны следующие особенности:
- близкая к линейной вольт-амперная характеристика. Вольт-амперная характеристика омического контакта должна подчиняться закону Ома I = U/R вне зависимости от полярности приложенного напряжения. Контакт, имеющий линейную вольт-амперную характеристику, не выпрямляет протекающий через него переменный ток, то есть является невыпрямляющим. Таким образом, омический контакт должен иметь линейную и симметричную вольт-амперную характеристику;
- омический контакт должен быть неинжектирующим, то есть через омический контакт должна отсутствовать инжекция неосновных носителей заряда в прилегающую область полупроводника, накопление неосновных носителей в омическом переходе или вблизи него;
- омические контакты должны иметь минимальное электрическое сопротивление, не зависящее от направления и значения тока в рабочем диапазоне токов;
- металл перехода должен обладать высокой электро- и теплопроводностью и температурным коэффициентом расширения (ТКР), близким к ТКР полупроводника;
- омические контакты должны иметь стабильные электрические и механические свойства.
Обычно для создания омического контакта используют следующие металлы: свинец, олово и их сплавы, золото, алюминий.
Создание омических контактов представляет собой довольно сложную задачу. Одним из способов улучшения свойств омического контакта является применение в качестве полупроводника п+-п или р+-р-структуры, то есть в качестве омического контакта необходимо использовать структуру т-п+-п или т-р+-р, где через т обозначен слой металла. Типичная структура омического контакта приведена на рис. 2.50.
Рис. 2.50. Зонные диаграммы омического контакта:
а - равновесное состояние; б - обратное напряжение;
в - прямое напряжение
Эта структура состоит из двух переходов: т-п+ и п+-п, п+-слой сильно легирован (порядка 1019 см-3). Поскольку степень легирования п+-слоя велика и полупроводник вырожден, то толщина ОПЗ между металлом и п+-полупроводником чрезвычайно мала (2 - 3 нм) и носители заряда беспрепятственно преодолевают барьер за счет туннельного эффекта. п+-слой имеет удельное сопротивление во много раз меньше, чем удельное сопротивление объема полупроводника. Так как приконтактная область будет характеризоваться высокой концентрацией примесей, инжекция неосновных носителей в ней будет ослаблена.
Оба перехода т-п+ и п+-п не являются инжектирующими и не обладают вентильными свойствами. В целом структура т-п+-п ведет себя как омическое сопротивление при любой полярности напряжения. Рассмотрим механизм протекания токов. Пусть напряжение приложено минусом к п-области, плюсом к металлу. Тогда потенциалы слоев п+ и п повысятся, высота барьера п+-п увеличится, а высота барьера т-п+ уменьшится (рис. 2.50, б). Электроны из слоя п будут свободно переходить в слой п+ независимо от высоты барьера п+-п, а понижение барьера т-п+ обеспечит переход электронов из п+-слоя в т-слой. Пусть теперь напряжение приложено плюсом к п - области. При этом потенциалы п+ и п слоев понизятся и высота барьера п+-п сделается меньше; соответственно электроны п+-слоя смогут переходить в п-слой. Барьер т-п+ повысится, но так как он очень тонкий, то электроны слоя т будут проходить его за счет туннельного эффекта, как показано на рис. 2.50, в.
Таким образом, важнейшим свойством омического контакта является его двухсторонняя проводимость.
Другое важное свойство связано с ничтожным временем жизни носителей в п+-слое, поскольку он сильно легирован и имеет малое удельное сопротивление. Интенсивная рекомбинация в п+-слое и отсутствие инжекции делают повышение концентрации в области омического контакта редким явлением. Поэтому считают, что концентрация электронов и дырок на омическом контакте имеют равновесные значения.