- •Содержание
- •Цель работы
- •Теоретические сведения
- •0Сновные трассировочные характеристики мпп:
- •0Сновные конструкционные характеристики мпп:
- •Основные электрические характеристики мпп:
- •Фольгированные диэлектрики.
- •Контроль препрегов
- •Пленочные фоторезисты
- •Создание рисунка проводников на слоях мпп.
- •Субтрактивная технология получения рисунка слоев мпп
- •Технология формирования проводящего рисунка слоев мпп методом пафос
- •Получение наружных слоев мпп
- •Система базирования
- •Прессование мпп.
- •Сверление отверстий.
- •Подготовка поверхности стенок отверстий.
- •Химическая металлизация.
- •Гальваническая металлизация.
- •Паяльная маска.
- •Горячее лужение.
- •Маркировка.
- •Электрический контроль мпп.
- •Автоматизация испытаний печатных плат.
- •Надежность мпп.
- •Описание лабораторного макета
- •Лабораторное задание Домашняя работа:
- •Работа в лаборатории:
- •Порядок выполнения работы
- •Методические указания.
- •Требования к отчету Отчет должен содержать:
- •Контрольные вопросы
- •Технологические операции изготовления слоев и пакетов мпп подготовка поверхности слоев и плат для спф
- •Получение рисунка схемы слоев и мпп из спф
- •Травление меди по спф
- •Удаление спф с заготовок
- •Получение адгезионного слоя
- •Комплектование слоев в пакет мпп перед прессованием
- •Финишная отмывка слоев и плат
- •Прессование многослойных плат
- •Сверление металлизируемых отверстий в печатной плате
- •Подготовка мпп к металлизации
- •Химическая и предварительная электрохимическая металлизация
- •Электрохимическое меднение до установленной толщины
- •Электрохимическое нанесение сплава олово-свинец
- •Подготовка поверхности под паяльную маску
- •Нанесение жидкой паяльной маски
- •Экспонирование паяльной маски
- •Проявление паяльной маски
- •Дубление паяльной маски
- •Маркировка
- •Рекомендации выбора технологического процесса.
- •Технологический маршрут изготовления слоев мпп субтрактивным негативным методом. (процесс 1)
- •Технологический маршрут изготовления мпп позитивным методом с металлорезистом олово-свинец (процесс 2)
- •Технологический маршрут изготовления слоев мпп полностью аддитивным методом («пафос») (процесс 3)
- •Литература
- •Приложение 1 Формат таблицы 1
- •Приложение 2 Форма таблицы 2
Система базирования
От системы базирования во многом зависит выбор величины элементов рисунка, зазоров между ними, типа и габаритов платы и, в конечном счете, надежности и стоимости изделия.
Оснастка участка прессования выбирается с точки зрения возможности с ее помощью собирать МПП с максимальной точностью. Она включает:
оснастку сверления и пробивки базовых отверстий в заготовках (кондуктора, штампы);
оснастку для прессования МПП (прессформы).
В кондукторах выполняются сверлением отверстий во вспомогательных материалах, точность сверления может быть не выше d+ 0,1 мм.
Пробивка баз в кондукторах и штампах выполняется с точностью d(+0,005..+0,015) мм.
Межцентровое расстояние при этом между двумя отверстиями -±(0,01 -0,02) мм.
Неперпендикулярность осей двух пар отверстий ±(0,03..0,04).
Следует отметить, что сборка может вносить дополнительную погрешность ±(0,01.. 0,02) мм.
При размере баз диаметром 5 мм в штампах выполняется:
пуансон диаметром 5,01-0,002
матрица диаметром 5,01+0,002
В прессформах точность совмещения прессуемых в пакет слоев зависит от каленых втулок, запрессованных в нижнюю плиту пресс формы.
Внутренний диаметр во втулках выполняется диаметром 5,01+0,005.
Внешний диаметр 10 мм под запрессовку в плиту выполняется диаметром 10 r6 для стальной плиты или диаметром 10 и 8 для дюралевой плиты прессформы. Штифты при этом диаметром 10-0,005.
При запрессовке диаметр втулки усаживается в среднем на 7-9 мкм, после чего внутренний диаметр укладывается в размер диаметром 5 Н7 (+0,012).
Прессформы со стальными плитами эксплуатируются для габаритов не более 250 х 300 мм, штифты в них разнесены по контуру.
При этом втулки выполнялись диаметром 5 Н7, а штифты диаметром 4,95-0,01.
Для прецизионных МПП снизить величину несовмещения слоев можно за счет изменения положения нулевого базового отверстия.
Таким положением «0» целесообразно выбирать центр слоя.
В результате величина несовмещения будет в два раза меньше усадки материала, так как последняя распространяется от центра во все стороны к периферии слоя.
Все три базовые отверстия располагаются на продольной оси симметрии.
Центральное отверстие выполняется диаметром 5 Н7 (+0,012), центральный штифт диаметром 5 -0,005, - 0,01. Два краевых отверстия - пазы с шириной 5 Н7 при плоских штифтах.
Теперь при прессовании слои имеют свободу перемещения от центра к периферии по Xи У, поворот слоя гарантированно ограничен по большой стороне.
Кроме прессования такое же базирование принято на операциях изготовления рабочих фотошаблонов, экспонирования и сверления, т.е. сквозное базирование на весь техпроцесс.
Базирование имеет ряд преимуществ:
снижение влияния усадки материала в два раза;
можно ввести поправку при изготовлении фотошаблонов или сверловке, условно усадка изменяется по линейному закону от центра «0»,
облегчена сборка пакета при прессовании,
прост процесс контроля погрешностей фотошаблона и слоя, т.к. «0» микроскопа совмещается с центром центральной базы;
Кроме названной оснастки, при изготовлении прецизионных МПП применяется сквозная оснастка метода «ПАФОС» - носитель.
Для слоев габаритом 200х 250 мм применим носитель габаритом 260 х 340 мм из нержавеющей стали толщиной 1 мм, в котором расточены три базовых отверстия: центральное - диаметром 5 Н7 и два крайних паза шириной 5 Н7.
Введение в техпроцесс «ПАФОС» новой оснастки - носителя потребовало создания нового оборудования:
установки щелочной очистки носителей от эпоксидной смолы;
станка зачистки поверхности носителей;
станка зачистки фольги с торцов носителя;
штампов изготовления базовых шайб.