- •30. Природа света.
- •31. Световой поток. Освещенность.
- •§ 70. Сила света и освещенность. Полный световой поток характеризует излучение, которое распространяется от
- •32. Законы освещенности.
- •33. Яркость источников и освещенных поверхностей.
- •34. Световые измерения и измерительные приборы.
- •35. Прямолинейное распространение света и световые лучи.
- •36. Законы отражения и преломления света. Понятие дисперсии.
- •37. Интерференция света. Дифракция света.
- •127. Определение длины световой волны с помощью колец Ньютона.
- •§ 130. Законы отражения и преломления света на основе принципа Гюйгенса. Пусть на границу раздела двух сред аb (рис. 273) падает параллельный пучок лучей, образуя
- •§ 136. Дифракционная решетка как спектральный прибор.
- •38. Поляризация света.
- •39. Цвет.
- •§ 164. Спектральный состав света различных источников.
- •40. Линзы. Преломление изображения в линзах.
- •41. Формула линзы. Действительное и мнимое изображение.
- •42. Плоские и сферические зеркала.
- •43. Построение изображения в зеркалах.
- •44. Увеличение при изображении объектов в сферических зеркалах и линзах.
- •45. Проекционные оптические приборы.
- •46. Фотоаппарат.
- •47. Глаз как оптическая система. Лупа.
- •48. Микроскоп.
- •49. Разрешающая способность и увеличение оптических приборов.
- •50. Погрешности оптических приборов.
- •§ 102. Увеличение системы. Найдем теперь формулы для линейного увеличения системы. Из подобия треугольников s'1s'2f' и h'q'f' (рис. 226) имеем
- •§ 107. Ограничение пучков в оптических системах. Изучая оптические системы, мы до сих пор оставляли в стороне
- •51. Различные виды микроскопов, используемые в судебной экспертизе.
- •52. Оптическая световая микроскопия и ее использование для исследования объектов судебной экспертизы
- •53. Люминесцентная микроскопия и ее использование для исследования объектов судебной экспертизы.
- •54. Электронная микроскопия, ее виды и использование ее для исследования объектов судебной экспертизы.
- •55. Понятие электромагнитных волн.
- •56. Источники электромагнитных волн.
- •57. Способы исследования электромагнитных волн различной длины.
- •58. Шкала электромагнитных волн.
- •59. Видимая и невидимая зоны шкалы электромагнитных волн. Свойства электромагнитного излучения в различных областях спектра
- •60. Ультрафиолетовая, инфракрасная микроскопия и использование ее для исследования объектов судебной экспертизы.
- •61. Дисперсия и цвет тел.
- •62. Понятие спектра. Типы спектров, используемых в судебной экспертизе.
- •§ 174. Происхождение спектров различных типов. Исследование показало, что тип спектра определяется характером светящегося объекта.
- •63. Дисперсия показателя преломления различных материалов. Коэффициенты поглощения, отражения и пропускания.
- •64. Спектральный состав света различных источников. Спектры и спектральные закономерности.
- •65. Спектральные аппараты.
- •66. Действия света на вещество. Фотоэлектрический эффект.
51. Различные виды микроскопов, используемые в судебной экспертизе.
Разрешающая способность микроскопов. Степень прониковения в микромир, изучения микромира зависит от возможности рассмотреть величину микрообъектов, от разрешающей способности прибора, определяемой длиной волны используемого в микроскопии излучения (видимое, ультрафиолетовое, рентгеновское излучение). Фундаментальное ограничение заключается в невозможности получить при помощи электромагнитного излучения изображение объекта, меньшего по размерам, чем длина волны этого излучения. «Проникнуть глубже» в микромир возможно при применении более коротковолновых излучений, т.е. излучений с меньшими длинами волн, с более высокой разрешающей способностью микроскопов.
В зависимости от требуемой величины разрешения рассматриваемых микрочастиц материи, микроскопы разделяются на Оптические; Электронные; Рентгеновские; Лазерные рентгеновские микроскопы.
Оптический микроскоп. Оптическая система микроскопа состоит из основных элементов - объектива и окуляра. Они закреплены в подвижном тубусе, расположенном на металлическом основании, на котором имеется предметный столик. В современном микроскопе практически всегда есть осветительная система (в частности, конденсор с ирисовой диафрагмой), макро- и микро- винты для настройки резкости, система управления положением конденсора. В зависимости от назначения, в специализированных микроскопах могут быть использованы дополнительные устройства и системы.
Электронный микроскоп отличается возможностью получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. В отличие от оптического микроскопа, в электронном микроскопе используют потоки электронов и магнитные или электростатические линзы. Некоторые электронные микроскопы позволяют увеличивать изображение в 2 млн. раз, в то время, как максимальное увеличение лучших оптических микроскопов достигает 2000 раз. Как электронные, так и оптические микроскопы имеют ограничения в разрешающей способности в зависимости от длины волн. В электронных микроскопах используются электростатические или электромагнитные линзы для формирования изображения путем управления пучком электронов и концентрации его на отдельных участках изображения подобно тому, как оптический микроскоп использует стеклянные линзы для фокусирования света на (или сквозь) изображении.
Рентгеновский микроскоп - устройство для исследования микроскопического строения вещества с помощью рентгеновского излучения. Разрешающая способность достигает 100нм, что в 2 раза выше, чем у оптических микроскопов (200нм). Теоретически рентгеновская микроскопия позволяет достичь на 2 порядка лучшего разрешения, чем оптическая (поскольку длина волны рентгеновского излучения меньше на 2 порядка). Однако современный оптический микроскоп - наноскоп имеет разрешение до 3-10нм. Различают рентгеновские микроскопы отражательные и проекционные.
Лазерный рентгеновский микроскоп - прибор или микроскоп c применением рентгеновских лазерных лучей отличающийся разрешающей способностью, обеспечивающей получение изображений на субатомном, атомном уровне на базе использования генерируемого вынужденного луча, например, (инфракрасного) мощностью 14,2 киловатта с длиной волны 1,61 ангстрема.(Например, в ходе химической реакци в режиме 3D и др.).
Применение микроскопов:
Биологические микроскопы применяются для лабораторных биологических и медицинских исследований прозрачных объектов. Доступны «режимы» светлого и темного поля, фазовый контраст, поляризованный свет.
Металлографические микроскопы применяются в научных и промышленных лабораториях для исследования непрозрачных объектов. Возможна работа в отраженном и проходящем свете. Доступны режимы светлого и темного поля, фазовый контраст, поляризованный свет.
Стереоскопические микроскопы применяются в лабораториях и на различных производствах для получения увеличенных изображений объектов во время проведения рабочих операций. Возможна работа в отраженном и проходящем свете.
Поляризационные микроскопы применяются в научных и исследовательских лабораториях для специализированных исследований в поляризованном свете. Возможна работа в отраженном и проходящем свете.