Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Оптика_лабы.doc
X
- •А. А. Столяров, в. В. Кашин Оптические и лазерные системы
- •Рецензент:
- •Лабораторная работа №1. Изучение конструкции и основных принципов работы оптического микроскопа
- •1. Цель работы
- •2. Микроскопы
- •2.1. Общие сведения
- •2.2. Стереоскопический микроскоп. Устройство и принцип работы микроскопа мбс-1
- •Общее линейное увеличение оптической системы
- •Оптическая характеристика микроскопа мбс-1
- •3. Порядок работы
- •3.1. Подготовка к работе
- •3.2. Работа с окулярным микрометром
- •4. Задание по работе
- •Данные измерений
- •5. Содержание отчета
- •6. Литература
- •Лабораторная работа №2. Изучение характеристик фотодиодов
- •1. Цель работы
- •2. Фотодиодные структуры
- •2.1. Германиевые и кремниевые фотодиоды
- •3. Принцип действия и схемы спектрофотометра
- •3.1. Принцип действия
- •3.2. Оптическая схема
- •4. Описание установки
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Задание по работе
- •Результаты измерений
- •Результаты измерений
- •Результаты измерений
- •7. Содержание отчета
- •8. Литература
- •Лабораторная работа №3. Изучение характеристик фототранзистора
- •1. Цель работы
- •2. Фототранзисторы
- •3. Принцип действия и схемы спектрофотометра
- •3.1. Принцип действия
- •3.2. Оптическая схема
- •4. Описание установки
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Задание по работе
- •Результаты измерений
- •Результаты измерений
- •Результаты измерений
- •7. Содержание отчета
- •8. Литература
- •Лабораторная работа №4. Изучение конструкции и основных принципов работы лазерного эллипсометрического микроскопа
- •1. Цель работы
- •2. Общие сведения
- •2.1. Эллипсометрические методы контроля параметров структур «диэлектрик–полупроводник»
- •2.2. Лазерная эллипсометрическая микроскопия
- •3. Описание лазерного эллипсометрического микроскопа лэм-2м
- •3.1. Назначение
- •3.2. Принцип действия
- •3.3. Устройство и работа микроскопа
- •3.4. Указание мер безопасности
- •4. Проведение измерений
- •4.1. Порядок работы
- •4.2. Методика измерения параметров
- •4.3. Порядок подсчета результатов измерения
- •Диапазоны изменения а и р
- •5. Задания по работе
- •6. Содержание отчета
- •7. Литература
- •Содержание
- •Александр Алексеевич Столяров Виталий Валерьевич Кашин Оптические и лазерные системы
- •248000, Г. Калуга, ул. Баженова, 2, тел. 57–31–87
Александр Алексеевич Столяров Виталий Валерьевич Кашин Оптические и лазерные системы
Методические указания
Редактор С. Н. Капранов
Корректор Т. В. Тимофеева
Технический редактор А. Л. Репкин
Подписано в печать 11.10.2010.
Формат Печать офсетная. Бумага офсетная. Гарнитура «Таймс».
Печ. л. 3,75. Усл. п. л. 3,49. Тираж 50 экз. Заказ № 8
Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана 107005, Москва, 2-я Бауманская, 5
Изготовлено в Редакционно-издательском отделе
КФ МГТУ им. Н. Э. Баумана
248000, Г. Калуга, ул. Баженова, 2, тел. 57–31–87
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]