- •Методические указания к выполнению лабораторных работ на тему:
- •Содержание
- •2.1 Цель работы: 14
- •2.5 Задание на лабораторную работу 20
- •3.1 Цель работы 20
- •4.1 Цель работы 25
- •4.4 Контрольные вопросы 35
- •5.1 Цель работы 36
- •Введение
- •Требования по технике безопасности
- •«Полупроводниковые диоды»
- •1.3 Описание работы
- •1.4.4 Получение вах на экране осциллографа
- •2.3 Описание работы:
- •2.4 Порядок выполнения работы:
- •2.4.1 Измерение напряжения и вычисления тока через стабилитрон
- •2.4.2 Получение нагрузочной характеристики параметрического стабилитрона
- •2.4.3 Получение вах стабилитрона на экране осциллографа
- •Задание на лабораторную работу
- •2.6 Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №3 «Исследование биполярного транзистора»
- •3.1 Цель работы
- •3.2 Теоретическая часть
- •3.3 Порядок выполнения работы
- •3.3.1 Определение статического коэффициента передачи тока транзистора
- •3.3.2 Измерение обратного тока коллектора
- •3.3.3 Получение выходной характеристики транзистора в схеме с оэ
- •3.3.4 Получение входной характеристики транзистора в схеме с оэ
- •3.3.5 Получение входной характеристики транзистора в схеме с общей базой
- •3.4 Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №4 «Полевые транзисторы»
- •4.1 Цель работы
- •4.2 Теоретическая часть
- •Параметры полевых транзисторов с р-п переходом
- •Мдп транзисторы
- •4.3 Порядок выполнения работы
- •4.3.1 Схема (ои) для исследования вах полевого транзистора с управляющим p – n переходом
- •4.3.2 Схема для исследования вах мдп-транзистора со встроенным каналом
- •Исследование характеристик мдп – транзистора
- •4.4 Контрольные вопросы
- •Приложения
- •Лабораторная работа №5 «Триодный тиристор»
- •5.1 Цель работы
- •5.2 Теоретическое введение
- •5.3 Описание работы с пакетом
- •5.4 Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов измерений:
- •5.6 Контрольные вопросы
- •6. Литература
1.3 Описание работы
Запуск пакета Electronics Workbench осуществляется нажатием левой клавиши мыши на ярлык программы Electronics Workbench Pro на рабочем столе или воспользовавшись меню пуск / программы / Electronics Workbench / Electronics Workbench Pro. Выбираем необходимые элементы схемы в окошках, соединяем, запускаем схему, проводим необходимые измерения.
Приборы и элементы: Функциональный генератор, мультиметр, осциллограф, источник постоянного напряжения, диод, резисторы.
1.4 Порядок выполнения работы
1.4.1 Измерение напряжения и вычисления тока через диод
Смоделируйте и включите схему (рис. 1.1). мультиметр покажет напряжение на диоде Uпр при прямом смещении. Переверните диод и снова запустите схему. Теперь мультиметр покажет напряжение на диоде Uоб. при обратном смещении. Запишите показания. Вычислите ток диода при прямом Iпр и обратном Iоб смещении согласно формулам (1.1) и (1.2).
1.4.2 Измерение тока
Смоделируйте и включите схему (рис. 1.2). Мультиметр покажет ток диода Iпр при прямом смещении. Переверните диод и снова запустите схему. Теперь мультиметр покажет ток Iоб - при обратном смещении. Запишите показания.
1.4.3 Снятие вольтамперной характеристики диода
а) Прямая ветвь ВАХ. Смоделируйте и включите схему (рис.1.3).
Последовательно устанавливая значения ЭДС источника равными 5 В; 4 В; 3 В;
2 В; 1 В; 0,5 В, 0 В запишите значение напряжения Uпр и тока Iпр диода в таблицу 1.
б) Обратная ветвь ВАХ. Переверните диод. Последовательно устанавливая значения ЭДС источника равными 0 В; 5 В; 10 В; 15 В запишите значения тока Iоб и напряжения Uоб в таблицу 2.
в) По полученным данным постройте графики Iпр(Uпр) и Iоб(Uоб)
г) Постройте касательную к графику прямой ветви ВАХ при Iпр =4 мА и оцените дифференциальное сопротивление диода по наклону касательной. Проделайте ту же процедуру для Iпр = 0,4 мА и Iпр = 0,2 мА. Запишите ответы.
д) Аналогично пункту г) оцените дифференциальное сопротивление диода при обратном напряжении 5 В и запишите экспериментальные данные.
е) Вычислите сопротивление диода на постоянном токе Iпр = 0.4 мА по формуле Rст= Unp /Iпр.
ж) Определите напряжение изгиба. Напряжение изгиба определяется из вольтамперной характеристики диода, смещённого в прямом направлении, для точки, где характеристика претерпевает резкий излом.
1.4.4 Получение вах на экране осциллографа
Смоделируйте и включите схему (рис. 1.4). На ВАХ, появившейся на экране осциллографа, по горизонтальной оси считывается напряжение на диоде в милливольтах (канал А), а по вертикальной - ток в миллиамперах (канал В, 1мВ соответствует 1 мА). Обратите внимание на изгиб ВАХ. Измерьте и запишите величину напряжения изгиба.
а) Прямая ветвь ВАХ б) Обратная ветвь ВАХ
Таблица 1 Таблица 2
Е, В
|
Uпр, В
|
Iпр, мА
|
5
|
|
|
4
|
|
|
3
|
|
|
2
|
|
|
1
|
|
|
0,5
|
|
|
0
|
|
|
Е, B
|
Uоб, В |
Iоб, мА |
0
|
|
|
5
|
|
|
10
|
|
|
15
|
|
|
1.5 Задание на лабораторную работу
Марка исследуемого диода для каждой бригады выдается преподавателем.
1.6 Контрольные вопросы
1. Сравните напряжение на диоде при прямом и обратном смещении по порядку величин. Почему они различны?
2. Сравните токи через диод при прямом и обратном смещении по порядку величин. Почему они различны?
3. Что такое ток насыщения?
4. Существуют ли различия между величинами сопротивления диода на переменном и постоянном токе?
5. p - n переход и его свойства?
Лабораторная работа №2
«Стабилитроны»
2.1 Цель работы:
Исследование стабилитронов с использованием пакета Electronics
Workbench.
2.2 Теоретическое введение
Опорными (стабилитронами) называются полупроводниковые диоды, на вольтамперной характеристике которых имеется участок со слабой зависимостью напряжения от протекающего тока. На рис.1 приведены схемное обозначение опорного диода (а) и его ВАХ (б). Рабочий участок ВАХ опорного диода находится в области электрического (полевого или лавинного) пробоя р-п перехода. В настоящее время промышленностью выпускаются в основном кремниевые опорные диоды с напряжением пробоя более 3 В (практически совпадающим с напряжением стабилизации).
Поскольку напряжение электрического пробоя непосредственно связано с удельным сопротивлением базы диода, то можно считать, что опорные диоды на низкие напряжения стабилизации изготавливаются из низкоомного материала (полевой пробой), тогда как высоковольтные р-п переходы имеют достаточную ширину и в них лавинный пробой начинается при достаточно больших обратных напряжениях. Обычно считают, что в опорных диодах с пробивным напряжением Uпр ≤ 7 В имеет место полевой, а с Uпр ≥ 15 В — лавинный пробой. При Uпр = 7…15 В пробой определяется действием как лавинного, так и полевого механизмов (смешанный пробой).
а)
Рис. 1
Опорные диоды обычно характеризуются следующими параметрами: напряжением стабилизации Uст , током стабилизации Iст , динамическим (дифференциальным) сопротивлением в режиме стабилизации rд = dU / dI , статическим сопротивлением rст = Uст / Iст, коэффициентом качества Qк = rд / Rст ; температурным коэффициентом напряжения стабилизации. Вообще говоря, напряжения пробоя и стабилизации будут охватывать некоторую область. Поэтому для однозначного определения на вольтамперной характеристике диода некоторой точки, напряжение в которой можно принять за напряжение стабилизации, необходимо задаться определенным значением тока. Всякое отклонение от этого значения будет приводить к изменению напряжения на диоде. Чем меньше изменения напряжения соответствуют наперед заданным изменениям тока, тем лучшую стабилизацию обеспечит опорный диод. Ток стабилизации Iст определяется как средний рабочий ток диода. Помимо этого тока в справочниках на опорные диоды иногда указываются значения минимального и максимального токов стабилизации.
Динамическое сопротивление rд, определяющее наклон ВАХ в области электрического пробоя, характеризует степень стабилизации. Чем меньше rд, тем лучше стабилизация. Минимальные значения rд наблюдаются у диодов с Uпр ≈ 7 В. Статическое сопротивление Rст характеризует потери в опорном диоде для заданной рабочей точки. Коэффициент качества определяет, в отличие от динамического сопротивления, не просто наклон ВАХ, а его отношение к напряжению стабилизации. Современные кремниевые опорные диоды имеют коэффициент качества порядка
0,01 ... 0,05 и ниже.
Исключительно важным параметром опорных диодов является температурный коэффициент напряжения стабилизации. С изменением температуры напряжение пробоя изменяется. Характер этого изменения и соответственно знак ТКН определяются видом электрического пробоя.
В сильнолегированных р-п переходах имеет место полевой пробой, который определяется при прочих равных условиях шириной запрещенной зоны исходного полупроводника. Температурная зависимость пробивного напряжения в этом случае будет определяться процессами термогенерации. С ростом температуры вероятность перехода электрона из валентной зоны в зону проводимости возрастает и, следовательно, напряжение пробоя падает. Таким образом, низковольтные опорные диоды имеют отрицательный ТКН.
В слаболегированных р-п переходах имеет место лавинный пробой, который определяется при прочих равных условиях скоростью носителей заряда в обедненном слое, необходимой для ударной ионизации валентных связей. Поэтому температурная зависимость пробивного напряжения будет определяться температурной зависимостью скорости носителей заряда. С ростом температуры скорость носителей заряда уменьшается, поскольку уменьшается их подвижность. Поэтому для того чтобы при меньшей подвижности носитель заряда приобрел скорость, необходимую для ударной ионизации, необходимо увеличить напряженность электрического поля в обедненном слое, что достигается за счет увеличения обратного напряжения. Таким образом, в высоковольтных опорных диодах Unp увеличивается с возрастанием температуры, т. е. ТКН имеет положительный знак.
Изменение знака ТКН происходит при концентрациях примесей в слаболегированной области опорного диода (базе) порядка 5·1016 см-3. В этой области
(Uпр = 5…6 В) изменения напряжения стабилизации с изменением температуры будут минимальны, типовые значения ТКН не более 0,2 … 0,4 % / град.
Следует отметить, что работа опорных диодов при стабилизации малых токов не всегда возможна, поскольку в этом режиме наблюдается большие шумы. При возрастании тока стабилизации (обычно Iст ≥ 3 мА) шумы уменьшаются до уровней, позволяющих осуществлять качественную стабилизацию напряжения.
При подключении стабилитрона к источнику постоянного напряжения через резистор получается простейшая схема параметрического стабилизатора (рис.2).
Последовательно со стабилитроном в цепь источника постоянного тока включено балластное сопротивление Rб для ограничения тока, а параллельно стабилитрону — нагрузка. Полярность источника питания Е соответствует обратному напряжению на стабилитроне. Для получения отрицательного выходного напряжения достаточно изменить полярность входного напряжения и последовательность включения электродов стабилитрона.
При увеличении напряжения питания Е при постоянном Rн увеличивается ток в цепи, протекающий через балластное сопротивление и стабилитрон. Напряжение на стабилитроне и на нагрузке Uн = Uст остается неизменным, а избыток напряжения питания гасится на балластном сопротивлении Rб.
В случае изменения сопротивления нагрузки Rн при постоянной величине Е
(рис. 3) ток через Rб остается неизменным, но происходит перераспределение токов между стабилитроном и нагрузкой, а напряжение на стабилитроне и нагрузке все равно остается неизменным.
Ток Iст стабилитрона может быть определен вычислением падения напряжения на резисторе R.
,
Напряжение стабилизации стабилитрона определяется точкой на вольтамперной характеристике, в которой ток стабилитрона резко увеличивается. Мощность рассеивания стабилитрона вычисляется как произведение тока на напряжение :
Дифференциальное сопротивление стабилитрона вычисляется так же, как для диода, по наклону вольтамперной характеристики.
Рис. 2 Рис. 3