- •1.Классический электронный газ. Теория проводимости Друде. Подвижность. Проводимость твёрдых тел.
- •Билет 2. Типы связи в твёрдых телах. Симметрия в кристаллах. Понятие кристаллической сингонии.
- •3. Статистика электронов и дырок. Функции распределения. Плотность квантовых состояний в зоне.
- •Плотность квантовых состояний
- •Функция распределения
- •Вопрос 4 .Уравнение Шредингера для электрона в кристалле. Эффективная масса.
- •5. Обратная решётка. Зоны Бриллюэна
- •6. Образование энергетических зон.
- •7. Квазичастицы в полупроводниках. Закон дисперсии. Понятие дырки. Квазиимпульс. Эффективная масса.
- •8. Квазичастицы в полупроводниках. Понятие дырки
- •9. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •Определение положения уровня Ферми
- •10. Механизмы рассеяния электронов и дырок
- •11. Уравнения непр. И Пуассона. Генерация и рекомбинация.
- •Вопрос 12. Диффузионный и дрейфовый токи.
- •13. Эффект поля. Дебаевская длина экранирования.
- •14.Работа выхода в металлах и полупроводниках. Контактная разность потенциалов.
- •15. Полупроводниковые диоды.
- •17.Обеднённая область p-n-перехода. Зависимость её ширины от параметров.
- •18.Барьерная ёмкость p-n-перехода
- •19.Зонная диаграмма неравновесного p-n перехода. Квазиуровни Ферми.
- •20. Вах идеализированного диода.
- •21. Диффузионная емкость p-n перехода.
- •Вопрос 22
- •23. Пробой p-n-перехода
- •24. Биполярные транзисторы
- •25. Зонная диаграмма биполярного транзистора в схеме включения с об. Принцип действия.
- •26. Расчет вах биполярного транзистора. Граничные условия.
- •Вопрос 27
- •28. Процессы в биполярных транзисторах
- •29. Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •30. Биполярный свч – транзистор и его характеристики.
- •31. Полевые транзисторы
- •32.Вольт-фарадная характеристика мдп транзистора.
- •33. Вах мдп-транзистора Характеристики мдп в области плавного канала
- •Характеристики мдп в области отсечки
- •34. Эффекты короткого и узкого канала в мдп-транзисторе.
19.Зонная диаграмма неравновесного p-n перехода. Квазиуровни Ферми.
Рассмотрим токи в электронно‑дырочном переходе неравновесном (при наличии внешнего напряжения, рис. 2.12) состоянии.
В неравновесном состоянии в p‑n переходе существуют четыре компоненты тока – две диффузионные и две дрейфовые. Диффузионные компоненты тока обусловлены основными носителями, дрейфовые – неосновными. Если приложено прямое внешнее напряжение, то доминируют диффузионные компоненты, если приложено обратное напряжение, то доминируют дрейфовые компоненты.
Р
ис. 2.12.
Зонная диаграммаp‑n
перехода, иллюстрирующая дисбаланс
токов в неравновесном состоянии:
а) прямое смещение; б) обратное смещение
В неравновесных условиях область пространственного заряда p‑n перехода описывается двумя квазиуровнями Ферми – отдельно квазиуровнем Ферми для электронов Fn и отдельно для дырок Fp. При приложении внешнего напряжения расщепление квазиуровней Ферми Fn и Fp равно приложенному напряжению VG [4, 3]. Пространственно oбласть расщепления квазиуровней находится на расстоянии порядка диффузионной длины от металлургического p‑n перехода (рис. 2.13).
Р
ис. 2.13.
Зонная диаграмма, иллюстрирующая
расщепление квазиуровней Ферми Fn
и
Fp
при приложении внешнего напряжения
VG > 0
Распределение концентрации неравновесных носителей в ОПЗ p‑n перехода и в квазинейтральном объеме будет отличаться от равновесного. На границе области пространственного заряда, где Fp - Fn = qVG, выражение для концентрации nn, pn будет:
.
![]()
20. Вах идеализированного диода.
ВАХ идеального диода получен при следующих упрощающих предположениях.
1
.Ток
протекает одновременно. Вp-
и n-областях
диода концентрации примесей распределены
равномерно, а на границе раздела
изменяются скачком (резкий переход). 2.
Ширина p-n
перехода l
значительно меньше диффузионной длины
дырок
вn-области
и электронов
вp-области.
Это означает, что электроны и дырки
пролетают слой объемного заряда без
рекомбинации. Отсутствует также их
термогенерация в области объемного
заряда (узкий p-n
переход). 3. Обе области п/п сильно
легированы, т.е равновесные концентрации
дырок в p-области
и электронов вn-области
значительно больше концентрации
носителей заряда
в собственном п/п. При этом можно
пренебречь падением напряжения на
областях диода за пределамиp-n
перехода и считать, что все приложенное
к диоду напряжение падает на p-n
переходе. 4. Дрейфовой составляющей тока
неосновных носителей заряда вне p-n
перехода можно пренебречь (низкий
уровень инжекции). 5. Пробой и утечки p-n
перехода при обратном смещении
отсутствуют. При указанных допущениях
ВАХ идеального диода с площадью p-n
перехода S
описывается выражением:
-(1),
где
- тепловой ток;
- плотность теплового тока;
температурный потенциал;k
– постоянная Больцмана; T
– абсолютная температура; e
– заряд электрона. Для всех видов диодов
ВАХ различаются только масштабным
коэффициентом – тепловым током. Его
также называют «обратным током
насыщения»,т.к при отрицательном
напряжении
обратный ток идеализированного диода=
и
не зависит от напряжения. При прямом
смещении (U>0)
источник напряжения подключен «плюсом»
к p-области
и «минусом» к n-области.
При обратном смещении (U<0)
полярность источника противоположная.
При напряжении смещения
прямая ветвь ВАХ диода в полулогарифмических
координатах представляет собой прямую
линию. Небольшое изменение напряжения
на диоде для прямого смещения влечет
за собой весьма значительные изменения
тока. При обратном смещении (
)
экспоненциальным членом в (1) можно
пренебречь. В этом случае
,
т.е при достаточно большом обратном
смещении (
)
ток диода насыщается и не зависит от
напряжения смещения. При обычных рабочих
температурах п/п приборов можно считать,
что все акцепторы вp-области
и доноры в n-области
полностью ионизированы. Тогда равновесные
концентрации дырок в p-области
и электронов в n-области
равны соответствующим концентрациям
примесей (акцепторной
и донорной
):
,
.
Плотность теплового тока при этом:
,
где
,
- коэффициенты диффузии дырок вn-области
и электронов в p-области;
,
- толщиныp-
и n-областей.
Плотность теплового тока определяется
параметрами п/п материала. Собственная
концентрация носителей заряда
в германии при комнатной температуре
примерно на 3 порядка выше, чем в кремнии,
что связано с различием в ширине
запрещенной зоны
,
поэтому кремниевым диодам свойствен
сдвиг харак-ки по оси напряжений (т.н
«пятка»).


