- •1.Классический электронный газ. Теория проводимости Друде. Подвижность. Проводимость твёрдых тел.
- •Билет 2. Типы связи в твёрдых телах. Симметрия в кристаллах. Понятие кристаллической сингонии.
- •3. Статистика электронов и дырок. Функции распределения. Плотность квантовых состояний в зоне.
- •Плотность квантовых состояний
- •Функция распределения
- •Вопрос 4 .Уравнение Шредингера для электрона в кристалле. Эффективная масса.
- •5. Обратная решётка. Зоны Бриллюэна
- •6. Образование энергетических зон.
- •7. Квазичастицы в полупроводниках. Закон дисперсии. Понятие дырки. Квазиимпульс. Эффективная масса.
- •8. Квазичастицы в полупроводниках. Понятие дырки
- •9. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •Определение положения уровня Ферми
- •10. Механизмы рассеяния электронов и дырок
- •11. Уравнения непр. И Пуассона. Генерация и рекомбинация.
- •Вопрос 12. Диффузионный и дрейфовый токи.
- •13. Эффект поля. Дебаевская длина экранирования.
- •14.Работа выхода в металлах и полупроводниках. Контактная разность потенциалов.
- •15. Полупроводниковые диоды.
- •17.Обеднённая область p-n-перехода. Зависимость её ширины от параметров.
- •18.Барьерная ёмкость p-n-перехода
- •19.Зонная диаграмма неравновесного p-n перехода. Квазиуровни Ферми.
- •20. Вах идеализированного диода.
- •21. Диффузионная емкость p-n перехода.
- •Вопрос 22
- •23. Пробой p-n-перехода
- •24. Биполярные транзисторы
- •25. Зонная диаграмма биполярного транзистора в схеме включения с об. Принцип действия.
- •26. Расчет вах биполярного транзистора. Граничные условия.
- •Вопрос 27
- •28. Процессы в биполярных транзисторах
- •29. Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •30. Биполярный свч – транзистор и его характеристики.
- •31. Полевые транзисторы
- •32.Вольт-фарадная характеристика мдп транзистора.
- •33. Вах мдп-транзистора Характеристики мдп в области плавного канала
- •Характеристики мдп в области отсечки
- •34. Эффекты короткого и узкого канала в мдп-транзисторе.
17.Обеднённая область p-n-перехода. Зависимость её ширины от параметров.
Электронно-дырочный переход - это граничный слой, обедненный носителями и расположенный между двумя областями полупроводника с различными типами проводимости.
В реальном переходе наблюдается довольно значительная зависимость тока неосновных носителей от приложенного напряжения. Дело в том, что процессы генерации и рекомбинации носителей происходят как в нейтральных слоях областей "p" и "n", так и в самом переходе. В равновесном состоянии перехода скорости генерации и рекомбинации везде одинаковы, а при действии обратного напряжения, когда расширяется запрещенная зона, область перехода сильно обедняется носителями, при этом процесс рекомбинации замедляется и процесс генерации оказывается неуравновешенным. Избыток генерируемых носителей захватывается электрическим полем и переносится в нейтральные слои (электроны в n-область, а дырки в p-область). Эти потоки и образуют ток термогенерации. Ток термогенерации слабо зависит от температуры и сильно зависит от величины приложенного обратного напряжения. Вспомним упрощенную формулу зависимости скорости движения электрона в ускоряющем электрическом поле от приложенного напряжения
.
В случае ФМ>ФП приповерхностная область полупроводника n-типа обедняется основными носителями и зоны изгибаются вверх
Обеднение наступает также в полупроводнике p-типа при ФМ<ФП причем зоны изгибаются вниз. Такие обедненные области имеют особые свойства и используются для создания полупроводниковых приборов.
разность потенциалов n- и р- областей равна:
![]()
И тогда толщина плавного р-n перехода:
![]()
18.Барьерная ёмкость p-n-перехода
При подаче на p-n-переход переменного напряжения проявляются емкостные свойства.
Образование p-n-перехода связано с возникновением пространственного заряда, создаваемого неподвижными ионами атомов доноров и акцепторов. Приложенное к p-n-переходу внешнее напряжение изменяет величину пространственного заряда в переходе. Следовательно, p-n переход ведет себя как своеобразный плоский конденсатор, обкладками которого служат области n- и p-типа вне перехода, а изолятором является область пространственного заряда, обедненная носителями заряда и имеющая большое сопротивление.
Такая емкость p-n-перехода называется барьерной. Барьерная емкость CБ может быть рассчитана по формуле
,
где
S - площадь p-n-перехода; ·0
- относительная () и абсолютная (0)
диэлектрические проницаемости; -
ширина p-n-перехода.
Особенностью барьерной емкости является ее зависимость от внешнего приложенного напряжения. Барьерная емкость для резкого перехода рассчитывается по формуле:
г
де
знак ” + “ соответствует обратному , а
”-“ прямому напряжению на переходе.
ависимость
барьерной емкости от обратного напряжения
называетсявольтфарадной
характеристикой (см. рис. 2.6). В зависимости
от площади перехода, концентрации
легирующей примеси и обратного напряжения
барьерная емкость может принимать
значения от единиц до сотен пикофарад.
Барьерная емкость проявляется при
обратном напряжении; при прямом напряжении
она шунтируется малым сопротивлением
rpn
.
Кроме барьерной емкости p-n-переход обладает так называемой диффузионной емкостью. Диффузионная емкость связана с процессами накопления и рассасывания неравновесного заряда в базе и характеризует инерционность движения неравновесных зарядов в области базы.
Диффузионная емкость может быть рассчитана следующим образом:,
![]()
где tn - время жизни электронов в базе.
В
еличина
диффузионной емкости пропорциональна
току через p-n-переход. При прямом
напряжении значение диффузионной
емкости может достигать десятков тысяч
пикофарад. Суммарная емкость p-n-перехода
определяется суммой барьерной и
диффузионной емкостей. При обратном
напряжении CБ
> CДИФ;
при прямом напряжении преобладает
диффузионная емкость CДИФ
>> CБ.Эквивалентная
схема p-n-перехода на переменном токе
представлена на рис. 2.7. На эквивалентной
схеме параллельно дифференциальному
сопротивлению p-n-перехода rpn
включены две емкости CБ
и CДИФ
; последовательно с rpn
включено объемное сопротивление базы
rБ.
С ростом частоты переменного напряжения,
поданного на p-n-переход, емкостные
свойства проявляются все сильнее, rpn
шунтируется емкостным сопротивлением
и общее сопротивление p-n-перехода
определяется объемным сопротивлением
базы. Таким образом, на высоких частотах
p-n-переход теряет свои нелинейные
свойства.

