Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Природа невоспроизводимости структуры и свойств материалов для микро- и наноэлектроники. Учебное пособие

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
07.09.2026
Размер:
1 Мб
Скачать
Зафиксируем некоторое малое и воспользуемся им в качестве меры для зондирования структуры аттрактора. Если последний пред­ставляет собой линию, то, очевидно, число пробных точек, расстояние от которых до заданной точки не превышает r, должно быть пропор­ционально r/ . Если же аттрактор представляет собой поверхность, то число таких точек должно быть пропорционально (r/ )2. В более об­щем случае, если аттрактор представляет собой D-мерное многообра­зие, то число точек должно быть пропорционально(r/ )D. Поэтому можно ожидать, что при сравнительно малых r функция С(r) должна изменяться как
С(r) = rD. (2.3)
Таким образом, корреляционная размерность может быть опреде­лена из наклона зависимости ln C(r) от ln r:
D = lim lim (d ln C(r,N) / d ln r). (2.4)
r 0 N
Таким образом, алгоритм для вычисления D можно сформулиро­вать следующим образом:
1. Исходя из данной временной (пространственной) последова-
тельности строится корреляционная функция (2.2) при последователь­но возрастающих значениях размерности фазового пространства n.
2. Получается наклон D вблизи начала координат согласно (2.4) и
рассматривается его зависимость от возрастающего значения n.
3. Если величина D в зависимости от n выходит на плато выше некоторого значения n, то представляемая данной временной (про­странственной) последовательностью система должна иметь аттрак­тор. Величину D, определяемую по моменту насыщения, следует рас­сматривать как размерность аттрактора. Конечные, нецелые значения D означают, что в системе наблюдается динамический хаос. Значение n, после которого происходит насыщение, определяет минимальное число переменных, необходимых для моделирования поведения, соот­ветствующего данному аттрактору. Следует отметить, что для после­довательности в виде случайного шума тенденция к насыщению не наблюдается, следовательно, D неопределено [15].
В большинстве экспериментальных и численных исследований
хаотических систем исследуется зависимость тангенса наклона кривой f = ln C от величины ln r, т.е. D = d (ln C(r)) / d (ln r), типичный вид ко­торой приведен на рис. 2.3. На ней можно выделить четыре области.
Область А. В этом интервале масштабов размеры ячеек слишком малы. В каждую ячейку попадает всего несколько точек, они не позво­ляют оценивать истинные вероятности pi того, что в некоторый мо-
21
мент времени точка на фазовой траектории находилась в ячейке с но-
Рис. 2.3. Типичная зависимость D = f (ln r)
D
ln r
мером i.
Область В. В этой области выборка недостаточна, чтобы передать канторову структуру аттрактора. Кроме того, в ней обычно суще­ственна погрешность эксперимента или точность, с которой известны точки аттрактора.
Область С. Точки кривой в этом интервале характеризуют фрак­тальную размерность аттрактора. Чтобы расширить область С, можно увеличивать размер выборки, повышать точность эксперимента, наилучшим образом выбирать переменные, которые будут анализиро­ваться.
Область D. Размеры ячеек стремятся к размерам аттрактора и не характеризуют его канторову структуру. Важным методическим во­просом при построении векторов Х является выбор времени задержки Т [20, 23]. От него зависит, будет ли обнаружена фрактальная структу­ра того или иного аттрактора. Общепринятыми критериями выбора Т являются первый нуль автокорреляционной функции
N N
а (Т) = (1/N) X(t)X(t+T)dt -[(1/N) X(t) dt]2 (2.5)
0 0
или первый минимум средней взаимной информации I(T), определяе­мой следующим образом. Предположим, что наблюдаемая последова­тельность X(t) представляет собой множество А, а результаты измере­ния спустя время Т – X(t+T) – множество В. Средняя взаимная инфор­мация (СВИ) наблюдений в момент t и t+T, т.е. количество информа­ции о X(t+T), которую можно получить имея X(t), равно:
22
N
I(T) = [P(X(t),X(t+T))log2[P(X(t),X(t+T))/(P(X(t))P(X(t+T))]], (2.6)
0
где P(X(t)) и P(X(t+T)) – вероятности получить соответственно значе­ние а из множества А и в – из множества В. P(X(t),X(t+T)) - совместная вероятность получить а и в. Сумма берется по числу измерений. В большинстве работ предпочтение отдавалось СВИ, поскольку именно она, а не линейная корреляционная функция, являющаяся средним по квадратичной полиномиальной статистике, описывает корреляции в нелинейных системах [20].
Во многих случаях результаты измерения размерности аттрактора могут существенно зависеть от количества экспериментальных точек N. Так, в работе [25] предлагается следующая оценка для N:
N > 42M,
(2.7)
где М - целая часть хаусдорфовой размерности аттрактора. Существу­ют и другие способы оценки N. При этом следует иметь в виду, что важно не столько количество точек, сколько число сегментов траекто­рии, т.е. как много раз любая часть пространства посещается эволюци­онирующими траекториями, которые подсчитываются. Обычно выби­рается 4 – 100 точек на среднее время Т, через которое измеряемая переменная принимает одно и то же значение, а временной интервал измерения выбирается в несколько сотен значений Т [23].
2.4. Особенности определения фрактальной размерности аттракторов распределенных систем
В пространственно-распределенных системах большинство сте-
пеней свободы неравновесной среды могут оказаться алгебраически не связанными друг с другом. Размерность хаотического режима такой системы, вычисленная как из временного ряда, так и из простран­ственной наблюдаемой величины, может быть весьма велика. Послед­ние исследования показывают, что в таких системах размерность зача­стую очень сильно зависит от пространственного масштаба (растет при увеличении размеров системы) или вовсе является бесконечной, и тогда можно вести речь лишь о плотности размерности [24-25].
На рис. 2.4, а показана типичная зависимость D от n и ln r для
мгновенного снимка, порожденного уравнением Гинзбурга – Ландау. Из графика видно, что при фиксированном r D растет линейно с уве­личением n: D(n) - D(n-1) = D = const при достаточно больших n, а при фиксированном n линейно убывает с увеличением ln r в достаточ-
23
но широком диапазоне, т.е. d D (r,n) / d ln r = const. Как следует из рис.
2.4,a, дифференциальная размерность не насыщается при увеличении n. В этом заключается основное отличие детерминированного хаоса в распределенных системах от маломерного хаоса в сосредоточенных системах. Таким образом, как следует из эксперимента, функцию D можно представить в виде:
D (r,n) = - B ln r + n ℓ+ A, (2.8) где В и А - константы, - плотность размерности D, ℓ - размер систе­мы. На рис. 2.4,б показана зависимость D от n и ln r для шума, равно­мерно распределенного по длине системы. В отличие от детерминиро­ванного хаоса на графике отсутствует участок линейной зависимости D от ln r при больших n, что приводит к отсутствию плато на графике
dD(r,n)/dlnr=f(lnr).
Таким образом, можно сформулировать следующие характерные
признаки детерминированного хаоса в распределенных системах:
- наличие линейного участка на зависимости D от ln r и, как след­ствие, наличие плато на зависимости dD(r,n)/dln r=f(ln r) в определен­ном интервале r;
- насыщение величины D = D(n) - D(n-1) при больших n.
Рассмотренные методы реконструкции позволяют получить каче­ственные результаты. Они пока опробованы на узком классе моделей, описываемых дифференциальными уравнениями в частных производ­ных, а об их практическом использовании для физических систем ни­чего неизвестно.
Это связано с недостаточной разработкой математического аппа­рата, а также с тем, что анализ пространственно-временных реализа­ций требует, как правило, значительно большего числа обрабатывае­мых точек и многие известные методы оказываются сложны в приме­нении. В этой связи существует необходимость разработки новых ин­вариантов и алгоритмов их вычисления для пространственно­временных систем. Одним из перспективных направлений является использование понятия -размерности [21].
24
Следует отметить, что предварительная информация о характере
Рис. 2.4. Типичная зависимость D = f (ln r) для мгновенного снимка про­цесса, описываемого уравнением Гинзбурга – Ландау (а) и равномерным распределением шума (б): n2>n1.
пространственного распределения может быть получена и из других характеристик изучаемого сигнала, в частности из соответствующей функции распределения. Наличие в ней особенностей в виде различ­ных максимумов или асимметрии формы позволяет судить о некото­рой упорядоченности. Например, если дисперсия будет того же поряд­ка, что и квадрат среднего, то это означает, что флуктуации проявля­ются на макроскопическом уровне, а предпосылки центральной пре­дельной теоремы не выполняются [15]. Так что переменная не может быть статистической суммой независимых случайных величин, что и отражает согласованность в поведении системы. Вместе с тем, стати­стические характеристики не позволяют выявлять природу и опреде­лять количественные параметры упорядоченности.
Другой характеристикой для предварительной оценки сигнала может служить спектр Фурье. Для белого шума соответствующий спектр мощности “плоский”, т.е. амплитуда не зависит от частоты, так что его наиболее существенная характеристика в том, что он лишен какой бы то ни было гармоничности. Для апериодического распреде­ления Фурье-спектр сплошной и, как правило, спадающий [16]. В этом его отличие от шума. Однако он не может быть прямым образом при­писан низкоразмерному детерминированному сигналу, так как такой спектр может соответствовать квазипериодическому сигналу с очень большим (в пределе - бесконечным) числом частот. И в этом смысле
25
преобразования Фурье, выступающие обычно очень важным сред­ством изучения линейных систем, не приносят достойных плодов (ес­ли, вообще, приносят какие-нибудь). В линейных системах они позво­ляют свести дифференциальные уравнения к алгебраической системе, которую легко разрешить методами матричного анализа. Фурье-анализ нелинейных систем преобразует временные дифференциальные урав­нения в интегральные уравнения в частотной области со свернутыми в результате преобразования зависимыми переменными. Это редко при­носит какую-либо пользу. Но как начальное окошко, через которое можно взглянуть на полученные данные, они вполне полезны.
2.5. Экспериментальное исследование поверхности материалов с помощью метода вложения
Мгновенным снимком динамической картины процессов роста
материалов, получаемых из газовой фазы, например a-Si:H, без учета релаксационных процессов, является их поверхность. Она представля­ет собой “замороженное” состояние промежуточного слоя между фа­зами: твердой и газообразной. Поэтому в распределении вещества по поверхности содержится информация о пространственно-временной динамике роста. Исходя из этих соображений были проведены экспе­риментальные исследования структуры поверхности различных мате­риалов с помощью метода вложения Ф. Такенса. В качестве измеряе­мой переменной была выбрана высота профиля поверхности, отсчиты­ваемая от некоторого уровня, принятого за нулевой, поскольку она однозначно характеризует распределение вещества по поверхности роста и, следовательно, отражает процессы пространственно­временной эволюции.
Профиль поверхности исследовался методами сканирующей тун-
нельной микроскопии и атомной силовой микроскопии [26]. Измере­ния высоты профиля проводились вдоль поверхности через дискрет­ные интервалы. Типичная форма сигнала, получаемая при сканирова­нии, показана на рис. 2.5. В результате сканирования квадратных участков поверхности получилось трехмерное изображение. Получен­ные данные обрабатывались по алгоритму Грассбергера – Прокаччиа. Зависимости С(r) = f(n, ln r) и D= f(n, ln r) определялись по формулам (2.2) и (2.4) соответственно. Для подтверждения достоверности полу­чаемых результатов были проведены контрольные измерения в раз­личных областях одного образца, а также на различных образцах, по­лученных при одинаковых технологических условиях образца (изме-
26
ряемые площади были одинаковы). Во всех случаях отмечена хорошая
Рис. 2.5. Типичная форма сигнала, получаемая методом атомной
силовой микроскопии
Амплитуда сигнала
4
3
2
1
4 8 10 Отсчеты
воспроизводимость результатов.
Измерения высоты профиля проводились в 12 – 15 тысячах точек.
Число точек на период, т.е. на средний интервал, через который изме­ряемая характеристика принимает одно и то же значение, составляло для различных образцов от 5 до 60. Общая длина реализации содержа-
ла от 100 до 1000 периодов. Такие параметры соответствуют обще-
принятым нормам в экспериментах по исследованию динамики нели­нейных систем [20, 23]. Кроме этого, были исследованы зависимости С= f (ln r) и D= f(ln r) при размерностях вложения 3, 6 и 9 и длинах реализации в 1000, 3000, 7000, 10000 и 12000 тысяч точек. Когда дли­на реализации приближается к 10000 точек, зависимость D = f(ln r) перестает меняться. Аналогичное насыщение имеет место и для функ­ции распределения. Такая тенденция имеет место при различных начальных данных, которые изменялись простой сменой области из­мерения на одном образце. Аналогичные результаты были получены и для других материалов. Это дает основание полагать, что в фазовом пространстве системы существует инвариантная мера, которая опреде-
27
ляет статистические свойства всех траекторий, притягивающихся к аттрактору, и подтверждает, что число точек 12000 – 15000 является достаточным для выявления топологии этого аттрактора [23].
Как отмечалось, важным параметром реконструкции является время задержки Т. Мы определяли Т по нулю автокорреляционной функции а(Т), вычисляемой по формуле (2.5), и по первому минимуму функции средней взаимной информации I(T), вычисляемой по форму­ле (2.6). Типичные графики для а(Т) и I(T) приведены на рис. 2.6. В случаях, когда значения Т, рассчитанные по этим критериям, различа­лись, мы использовали результат, полученный с помощью СВИ. Было установлено, что для всех исследованных материалов спектры Фурье сплошные и имеют в высокочастотной области несколько пиков. Ти­пичный вид спектра представлен также на рис. 2.6. Это свидетельству­ет о хаотическом характере распределения. Однако поскольку спектры Фурье не несут полезной информации об особенностях динамики, да­лее они не рассматриваются.
Ниже приводятся результаты измерения D = f(n, ln r), функции распределения, спектра Фурье, автокорреляционной функции и функ­ции средней взаимной информации для a-Si:H, С, GaAs, W [13-14, 27]. В некоторых случаях исследовалась также зависимость этих характе­ристик от масштаба измерения. Следует отметить, что на зависимости D = f (n, ln r) в соответствии с рис. 2.5 и результатами исследований [21, 25] наибольший интерес вызывает область, которой соответствуют значения ln r от -3 до 0. Именно в ней точки кривой наиболее полно характеризуют фрактальную размерность аттрактора, и ей будет уде­лено главное внимание.
Аморфный гидрогенизированный кремний. Образцы a-Si:H получали методом низкочастотного тлеющего разряда из 100 % SiH4 при мощности разряда 50 мВт/см2, давлении 70 Па, скорости расхода си лана 200 см3/с и температурах подложки 40, 100, 170, 225, 275, 325
0
С [22]. Соответственно для этих образцов на рис. 2.7,а, б и в приведе-
ны изображения поверхностей образцов, полученных с помощью атомной силовой микроскопии, функции распределения, зависимость
D = f(n, ln r).
Из визуального изучения изображения поверхности видно, что при увеличении температуры подложки ее шероховатость уменьшает­ся. При этом области выпуклостей увеличиваются, а остальная по­верхность становится более гладкой. Соответствующий характер име­ют изменения в функции распределения: дисперсия уменьшается, мак­симум смещается в область низких значений высоты профиля.
28
Зависимость D = f(n, ln r) от температуры подложки имеет слож­ный характер. Во всех случаях наблюдаются три различных участка в диапазонах: от -0,6 до 0, от -0,6 до -1,4, от -1,4 до -1,8.
На всех участках существуют области с линейным наклоном, ко­торый насыщается при размерности вложения n=8. Такое поведение находится в соответствии с поведением D, описываемым формулой (2.8) [21], и свидетельствует о том, что исследуемое распределение имеет детерминированный хаотический характер. При увеличении температуры подложки эти участки становятся более выраженными. По-видимому, их существование означает, что рост определяется тре­мя различными механизмами.
Суммируя изложенные экспериментальные результаты, можно сделать следующие выводы:
- распределение вещества по поверхности (a-Si:H), представляю-
щей собой “замороженный” мгновенный снимок процессов роста, структура поверхности материалов могут быть описаны, как «застыв­ший» динамический хаос [14, 27]. Он проявляется как очень сложное нерегулярное поведение, внешне сходное с обычным тепловым хао­сом, но принципиально отличающееся от него. В режиме динамиче­ского хаоса амплитуда отклонения от среднего сравнима с самим средним, но число пространственных и временных масштабов столь велико, что поведение системы кажется хаотическим. В тепловом хао­се все характерные масштабы микроскопического порядка, а флуктуа­ции вокруг среднего чрезвычайно малы;
- различные обработки поверхности (GaAs, W) могут приводить
как к ее деградации, так и проявлению самоорганизующейся структу­ры [26].
Приведенные результаты носят в большей степени качественный характер. Но они соответствуют поставленной задаче, а именно опре­делению топологии пространственного распределения вещества по поверхности с помощью метода вложения. При этом мы не ставили целью изучение влияния технологических условий на характер топо­логии поверхности и соответственно на динамику процессов роста. Однако даже на основе полученного экспериментального материала можно сделать вывод о том, что параметры С(n,r) и D(n,r) чувстви­тельны к условиям приготовления (a-Si:H) и последующим обработкам (GaAs, W), к различным пространственным масштабам (GaAs) [26].
29
Взаимная информация (бит) 6
5
4
3
0 50 100 150 200 Шаг dT
Автокорреляция
0,75
0,5
0,25
0
-0,25
0 100 200 300 Cмещение
Амплитуда мощности
3
2
1
0 1000 2000 3000 Длина волны, Ǻ
Рис. 2.6. Типичные графики для a(T), I(T) и спектр Фурье
30
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]