Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Физические основы прогнозирования долговечности конструкционных материалов

..pdf
Скачиваний:
9
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
29.97 Mб
Скачать

Таблица 10.Т

Увеличение концентрации новых концов полимерных молекул в поверхностном слое и объеме полимеров

после выдерживания под растягивающими напряжениями 30 мин

при

комнатной температуре [39]

 

 

 

 

Прирост концентрации

Химическое строе­

Напря­

ЛС D • 10—24,

м—3

 

 

Материал

ние концевой

жение,

 

 

 

группировки

МПа

Поверхность

Объем

 

 

 

Резина на осно­

с ь ь = с н 2

 

15

 

ве натурального

2

0 ,3

каучука

 

 

 

 

 

г У О

 

3

0 ,3

Полипропилен

С \ Н

500

 

 

 

—с н = с н 2

 

90

1 ,0

разуюшихся при их разрывах, в поверхностном слое полимер­ ных материалов толщиной в 1 мкм в 10—103 раза превосходила

их концентрацию в объ-

 

Таблица 10.8

еме (табл. 10.6 и 10.7).

 

Очевидно, что поверх­

Увеличение концентрации концов \CR

ность

полимерного тела

молекул полиэтилена

 

находится

в

непосредст­

в поверхностном слое

 

толщиной примерно 1 мкм

 

венном

 

контакте с кисло­

после выдерживания образца

родом

воздуха.

Поэтому

под напряжением 300 МПа в течение 1 ч

до проведения только что

в вакууме 10“ 6 торр и в атмосфере [39]

описанных

исследований

 

Прирост концен-

существовало

убеждение,

 

 

трлпини

что кислород

может ока­

Химическое строение

ЛСд-№

24, м -3

зать определяющее влия­

копна молекулы

 

 

ние на кинетику накопле­

 

В ва­

В атмо­

ния разрывов

в

поверх­

 

кууме

сфере

ностном

слое

полимеров.

 

 

 

Однако,

как

следует

из

\ с = с н 2

110

110

табл. 10.8, общая концен­

 

 

 

трация

 

новых концов по­

—н с = с н 2

220

250

лимерных

молекул, обра­

—СН2—СН3

750

600

зующихся

в

вакууме и

 

 

 

в атмосфере,

приблизи­

- Э Д - ^ о н

85

тельно

одинакова. Кроме

 

 

 

 

 

того,

концентрация

но­

- C H S- C < f g

130

вых группировок, содер­

 

 

 

жащих

 

в

своем

составе

 

 

 

кислород,

при

комнатной

Суммарная концентрация

1080

1165

температуре

и нормаль-

 

 

 

441

ном давлении на порядок меньше других группировок, образо­ вавшихся без участия кислорода атмосферы.

Для раздельного изучения кинетики накопления зародыше­ вых трещин в полимерах, кристаллах и металлах использовали

 

 

 

методы

рентгеновского рас­

 

 

 

сеяния

под малыми углами

 

 

 

н дефекта

плотности. Ис­

 

 

 

следования

концентрации

 

 

 

зародышевых трещин

в по­

 

 

 

верхностном слое напряжен­

 

 

 

ных

материалов

были вы­

 

 

 

полнены в работе [83] для

Образец

 

 

полимеров. Схема опыта по­

 

 

 

казана на рис. 10.12. Пучок

Рис. 10.12.

Схема измерения

рассеяния рентгеновских лучей с сече­

рентгеновских лучей на различных рас­

нием 5 мкм падал на боко­

стояниях

от поверхности

образца

вую

поверхность

образца.

 

 

 

 

 

 

Держатель

образца

позво­

лял перемещать его относительно луча в плоскости с с шагом 3 мкм. Результаты измерений для образцов полиметилметакрнлата и поливинилхлорида приведены на рис. 10.13. Видно, что

Рнс.10.13. Распределение заро цдшсвмх трещин но толщине деформированного образна полиметилмета­ крилата (с/) и поливинилхлорида (б)

концентрация зародышевых трещин но мере приближения к по­ верхности полимера увеличивается в несколько раз. В табл. 10.9 приведены размеры и концентрация мнкротрещин в объеме и поверхностном слое толщиной 3 мкм поликапроампда (образец предварительно был подвергнут ориентационной вытяжке) и ацетобутирацеллюлозы. Данные этой таблицы также показы­ вают, что концентрация зародышевых трещин в поверхностном слое по крайней мере в несколько раз больше, чем в объеме образца.

442

Распределение зародышевых трещин по толщине образца деформированного алюминия, полученной при помощи малоуглового рассеяния рентгеновских лучей, показано па рис. 10.14. Видно, что концентрация зародышевых трещин в поверхност­ ном слое по крайней мерс на порядок больше, чем в обьсме образца.

На рис. 10.15 показана закономерность дефекта плотности Др/р, обусловленного трещипообразованием, в деформирован-

Рис.

10.14.

Распределение

Рис.

10.15. Распределение

де­

зародышевых трещин по се­

фекта

плотности Др/р, обуслов­

чению

деформированного

ленного трещипообразованием,

алюминия

для образцов

по

сечению

деформированных

разной

толщины:

 

 

материалов:

 

1 d .= 0,5 мм; 2 — 1,0; 3 —5,0;

1

алюминий;

2 каменная

соль;

 

4 — 10,0

 

 

3

цинк

 

ных образцах цинка, каменной соли и алюминия от толщины слоя, снятого полировкой [26]. Видно, что но мере удаления при помощи полировки в химическом растворителе поверхно­ стных слоев твердых тел величина дефекта плотности уменьша­

ется.

Таким образом, в полимерах, металлах и шелочногалоидпых кристаллах под влиянием механических напряжений в по-

Таблица 10.9

Размеры и концентрация микротрещии в объеме и поверхностном слое полимера толщиной 3 мкм [83]

 

В объеме

В поверхностном слое

Материал

Продоль­

Концентра­

Продольный

Концентра­

 

 

ный раз­

ция .V,

размер, нм

ция /V, м 3

 

мер. нм

 

 

 

Поликапроачнд ориен­

200

5 • К)-2

220

1,5 • 102;|

тированный

1300

1 • 1022

1300

5 • 1022

Ацетобутирацеллю-

лоза

 

 

 

 

443

верхностном слое образуется более высокая концентрация за­ родышевых трещин, чем в объеме образца. Другими словами, поверхностные слои твердых тел играют ведущую роль в трещинообразоваини. Из табл. 10.9 видно, что в поверхностном слое коэффициент К, определяющий вероятность объединения микротрещин, меньше, чем в объеме. Согласно сказанному выше, в поверхностном слое раньше, чем в объеме, создаются условия для объединения микротрещин и образования маги­ стральных трещин.

С,отн.ед.

Рис. 10.16.

Зависимость

Рис. 10.17. Распределение зароды­

толщины

ds

поверхност­

шевых трещин но сечению деформи­

ного слоя от толщины d

рованного образца алюминия:

образца

деформирован­

I • - идоль осн х\ 2 —водлъ оси у

ного

алюминия

 

Из рис. 10.15 следует, что зависимость концентрации трещин от расстояния d до поверхности плоского образца может быть описана следующим эмпирическим уравнением:

N (d) = N (0) exp (—Id),

где N(0) — концентрация трещин на поверхности материала;

а £ — опытный параметр.

Эта зависимость справедлива до

определенной толщины ds,

начиная с которой концентрация

приобретает постоянное значение Дтг. Толщина дефектного слоя с повышенной концентрацией трещин растет при увеличении толщины образца d (рис. 10.16) [26].

Па рис. 10.17 приведены зависимости концентрации заро­ дышевых трещин, измеренных вдоль взаимно перпендикулярных направлении х и у образца алюминия, сечение которого пред­ ставляет собой правильный параллелепипед. Видно, что вдоль более длинной границы х концентрация зародышевых трещин уменьшается медленнее, чем вдоль более короткой у. Эти дан­ ные показывают, что на скорость убывания концентрации за­ родышевых трещин оказывает влияние расстояние до противо­ положной поверхности образца. По-видимому, этот эффект обусловлен тем, что для образования дилатонов собирается

444

энергия не только в окрестности поверхности образна, но и со всего его объема.

В этом аспекте рассмотрим влияние размера образца па положение наиболее вероятных мест разрушения [38].

Выберем образец в виде топкого цилиндра, концы которого закреплены. В таком образце существует большое число тепло­ вых и наведенных извне длинноволновых колебаний, которые при отражении от концов образуют стоячие волны. Первая —

наиболее длинноволновая

мода — имеет узлы па концах об-

а)

N

50

О

0,1

0,2 0,5 ОД

0,5

О

0,1 0,2 0,5 0Л 1/L

Рис, 10.18. Распределение мест разрыва ориентированных подо­ кон полимеров:

а — поликапроамид (данные 400 испытаний); б—полибсизинмидазол (дан­ ные 1000 испытаний)

разца, вторая — на концах и в центре образца, третья — на кон­ цах и па расстояниях 1/3 от концов и т. д. В общем случае по­ ложение узлов стоячих воли описывается формулой:

 

If = Lfti + 1 ),

 

где /?— расстояние узла

i-й моды от конца

образца, выбран­

ного за начало отсчета;

L — его длина. При

колебаниях части

образца по разные стороны от узла движутся в противополож­ ных направлениях, поэтому материал в узле растягивается. Развивающиеся в узле локальные динамические напряжения, складываясь с приложенными к образцу, увеличивают вероят­ ность его разрыва. Следовательно, можно было ожидать, что наиболее вероятные места разрыва образца в виде стержня располагаются в узлах низкочастотных мод — стоячих коле­ баний.

Чтобы проверить этот вывод в работе [38] изучали рас­ пределение мест разрывов ориентированных полимерных воло­ кон н металлических проволок. Оказалось, что это распределе­ ние значительно отличается от равномерного. Для примера на рис. 10.18 показано распределение мест разрыва для воло­ кон поликапроамида (рис. 10.18, а) и лолибензннмндазола

445

(рис. 10.18,6). Видно, что положение максимумов распределе­ ния удовлетворительно коррелирует с положением узлов первых наиболее низкочастотных хмод колебаний, показанных стрел­ ками.

Cos2 Х>

хе,юр.ед.

Рис. 10.19. Изменение ориен­

Рис.

10.20.

Изменение

кон­

тации кристаллов в полика-

центрации

кристаллов

Кс

проамиде в объеме (У) и на

при

растяжении поликапро-

поверхности (2) образца при

амида в объеме (У) и по­

его растяжении

верхностном

слое (2)

об­

 

 

разца

 

Совпадение наиболее вероятных мест разрыва с узлами наи­ более низкочастотных мод наблюдалось также для проволок из меди, алюминия, вольфрама и стали. Эти данные показывают, что наиболее низкочастотные моды играют специфическую роль

 

 

 

в разрушении. Отражаясь от по­

Zj ,пр.ед.

 

верхности образца, они

опреде­

 

 

 

ляют наиболее вероятные места

 

 

 

его разрушения.

 

 

 

 

Отметим,

что па поверхности

 

 

 

деформация

материалов

разви­

 

 

 

вается также

более интенсивно,

 

 

 

чем во внутренних областях. Для

 

 

 

полимеров -mi утверждение ил­

 

 

 

люстрируется

результатами рис.

Рис.

10.21. Концентрация

вытяну­

10.19. Для определения

степень

тых

транс-изомеров в объеме (У)

деформации в поверхностном слое

н поверхностном слое (2) поли­

растет быстрее, чем в объеме.

этилена при растяжении

образца

При деформации полимерных

материалов происходит разруше­ ние изотропных кристаллических областей и образование новых, ориентированных в направлении внешнего усилия. Из рис. 10.20 следует, что в поверхностном слое полимера такие перестрое­ ния происходят значительно интенсивнее, чем во внутренних областях.

При растяжении свернутые участки полимерных молекул, содержащие гош-изомеры, распрямляются и превращаются

446

в вытянутые, состоящие только из транс-изомеров. Как видно из рис. 10.21, в поверхностном слое образца концентрация транс-изомеров растет быстрее, чем в объеме [34J.

Аналогичные данные имеются и для металлов. Так, в ра­ боте [5] показано, чго при деформировании алюминия, меди, золота, цинка и ряда других металлов, как моно-, так н поликристаллическнх, н при одновременном непрерывном удалении поверхностного слоя образца путем полирования растет протя­ женность первой н второй стадий деформации.

10.3.Электронные возбуждения при трении

Вгл. 2 рассматривались мощные колебательные возбужде­ ния, связанные (из-за нелинейности межатомных сил) с ло­ кальными изменениями плотности в твердых телах. Одновре­ менно с ними нагружение инициирует электронные возбуждения, которые обусловливают явления эмиссии света в ультрафиоле­

товой и видимой области спектра и эмиссию электронов. Эти явления получили название мсханолюминесцспцип ц

механоэмпссии.

Явление излучения света при нагружении материалов изве­ стно уже около трех столетий. Однако наиболее интенсивно ис­ следования мехаиоэмиссии ведутся в последние два десятилетия [94, 95, 151, 243, 294, 298]. Известно, что люминесценция воз­ никает при переходах электронов с возбужденных уровней на основные. На практике встречаются возбужденные атомы либо в составе твердого тела, либо в газе между берегами микротрсщин, образующихся при разрушении. Во втором случае атомы газа возбуждаются под влиянием электрического разряда между ювенильными берегами мнкротрещии. Атомы твердого

тела возбуждаются в

результате

перестройки

электронной

структуры в процессах

растяжения

и разрыва

межатомных

связей или перегруппировки атомов. В полимерах электрон­ ные возбуждения, вероятно, возникают при значительных флуктуанионных удлинениях возбужденных межатомных свя­ зей, а в кристаллах галогенидов щелочных металлов или в чи­ стых металлах — при перегруппировке атомов во время пересе­ чения наклонных дислокаций.

Сведения о строении излучающих центров обычно получают при помощи спектроскопии. К сожалению, из-за сравнительно малой интенсивности механолюминесцснцни к настоящему вре­ мени оптические спектры были получены для небольшого числа материалов: некоторых щелочногаллондных кристаллов и ме­ таллов [95, 151, 294].

Чтобы получить достаточно интенсивные спектры, авторами [243] была построена установка, схема которой изображена на рис. 10.22. Плоский образец 1 из исследуемого материала при­ жимается к вращающемуся со скоростью 60 об/с стальному

447

валу 2. Усилие прижима определяется величиной груза 3. Тем­ пература образца измерялась при помощи приклеенной к нему термопары 4. Трение всегда сопровождается повышением тем­ пературы трущихся поверхностей. Для предотвращения этого явления вал охлаждали парами жидкого азота так, чтобы обра-

Рис. 10.22. Схема экспериментальной установки

зец на расстоянии 1 мм от зоны трения нагревался не более, чем на 1—2° выше комнатной. Узел трения помещался в све­ тонепроницаемую металлическую камеру. Возникающее при трении излучение при помощи кварцевого объектива 5 фокуси­ ровалось па поверхности катода фотоумножителя 6, импульсы

 

 

 

которого

после

прохождения

через

 

 

 

селектор 7 регистрируются счетным

 

 

 

блоком

8

и записываются

на са­

 

 

 

мописец 5.

 

 

опыты

показали,

 

 

 

Уже

первые

 

 

 

что интенсивность

люминесценции

 

 

 

при трении на несколько порядков

 

 

 

больше,

чем

при

других

способах

 

 

 

возбуждения.

Это

позволило

срав­

Рнс. 10.23. Спектры

ТЛ

при

нительно

 

легко

получить

спектры

трении кварцевого (/)

и

орга­

(рис. 10.23).

что

в

спектрах на­

нического стекла

(2)

 

Интересно,

 

 

 

блюдается

большое

число

слабо

разрешенных максимумов. Разность

частот

этих

максимумов

приблизительно одна

и та

же (1000—1100 ем-1 для кварцевого

стекла и 2700—2800 см-1 для полиметилметакрилата). Наличие большого числа равноотстоящих максимумов характерно для спектров люминесценции кристаллов [204]. Их существование объясняется взаимодействием электронного перехода с локаль­ ными колебаниями атома, в оболочке которого происходит электронный переход. Как известно, частота локальных колеба­ ний разорванных Si—О связей в кварце составляет 1050 см-1 и, следовательно, разность частот между максимумами в спектре кварцевого стекла может быть объяснена проявлением локаль­ ных колебаний Si—О связей. Что касается полимсталметакрилата, то в диапазон частот 2700—2800 см-1 попадают валент-

448

300
270; 4—
2 — 220; 3
/ —7* - 170 К;
ln«7StUMn/c
S
0,5 p,KZ
Рис. 10.24. Зависимость 1пУя or давления для полиметнлметакрилата при различных тем­ пературах:

пые колебания С—Н связей в ионах —С+—Н—. Вероятно, слаборазрешеипые максимумы в спектре органического стекла объ­ ясняются проявлением этих коле­ баний.

Наблюдение колебательной структуры интересно но нескольким причинам. Во-первых, оно позволяет использовать данные спектроскопии комбинационного рассеяния и ин­ фракрасного поглощения для иден­ тификации люмииесцирующих цент­ ров. Во-вторых, открывается воз­ можность исследования строения и взаимодействия излучающих цент­ ров с остальной решеткой атомов твердого тела. В-третьих, с по­ мощью колебательной структуры можно оцепить величину локальной температуры, развивающейся в окре­

стности излучающих центров за время релаксации возбужден­

ного состояния. Для определения

локальной

температуры

в окрестности излучающих центров

сравнили

ширину полос

в спектрах механо- н фотолюминесценции полнметнлметакрн-

лата (фотолюминесценцию

возбуждали

аргоновым лазером).

Оказалось, что в пределах

погрешности

ширина полос в спек­

 

 

трах фото- и мсханолю-

 

 

минесценции

одинако­

 

 

ва. Это

позволило

за­

 

 

ключить, что изменение

 

 

АТ локальной темпера­

 

 

туры в окрестности из­

 

 

лучающих

центров

нс

 

 

превышает

АТ

20—30°

 

 

(значение

опреде­

 

 

ляется

погрешностью

Рис. 10,25. Зависимость интенсивности лю­

определения

ширины

минесценции при трении полиметнлметакри-

полос).

работах [242,

лата (1) и силикатного стекла (2) от тем­

 

В

пературы (р— const)

 

243] изучали

кинетику

мсханолюмииссценцин при трении. С этой целью измеряли интенсивность Js механолюминесценции в зависимости от температуры Т, давления р и скорости деформирования. Из рис. 10.24 видно, что величина Js экспоненциально зависит от контактного давления р при трении и немонотонно зависит от температуры Т (рис. I0.25).

Интересно, что значения характеристической температуры Tk, при которой интенсивность Js достигает максимального зна­ чения, оказались близкими к температурам релаксационных

29 Заказ № 248

449

переходов Тк. Так, для стекла Тк « 230 К, а температура, при которой размораживается подвижность одиночных Si—О свя­

зей,

составляет 220—250 К [25]. Для полиметилметакрилата

Тк «

290 К, а температура размораживания крутильных коле­

баний молекул составляет примерно 290 К. По-видимому, уве­ личение подвижности при Т > Тк обусловливает либо быструю гибель излучающих радикалов, либо появление новых безы­ злучательных каналов релаксации энергии электронных воз­ буждений (температурное тушение).

Чтобы процессы, приводящие к тушению люминесценции, нс исказили результатов измерения кинетики образования элек­ тронно-возбужденных состояний, дальнейшие исследования про­ водились лишь при Т < Тк.

Однако при анализе результатов измерений, полученных при пониженных температурах, возникают дополнительные труд­ ности, обусловленные переходом статистики атомных колебаний от классической к квантовой. По этой причине эмпирическое уравнение Журкова, связывающее время до разрушения т с раз­ рушающим напряжением а и температурой Т> приобретает сле­ дующий вид (2.29):

(J о — \чт

т —т0ехр к7^ (г/Т») ■

Скорость накопления разрывов химических связей Сп, при которых образуются центры люминесценции, связана со вре­ менем т уравнением Сп = Спо/т, где Спо— концентрация хи­ мических связей, способных разорваться. Интенсивность прямо пропорциональна скорости образования излучающих цен­ тров. Поэтому уравнение, связывающее Js с температурой Т и

напряжением а, при низких температурах

Т ^ T k имеет вид:

Js =

h exp

Uo— ya

 

kTf {r / r v)

>

где /) — значение Js

при Uo— ya-^O.

Полагая в соответст­

вии с законом Лмоптопа, что напряжение а прямо пропорцио­ нально контактному давлению р, преобразуем выражение для

Js к виду, удобному для

экспериментальной проверки:

 

 

 

Js =

/ 0 ехр

U* — y'n

9

 

 

 

 

 

 

кП (Г/1'n)

 

На

рис.

10.26

приведены

зависимости

In Js при

р = const.

Видно,

что

в согласии с предсказаниями

уравнения экспери­

ментальные

точки

уложились

на веер прямых,

сходящихся

в полюс оси ординат. Определив тангенс угла наклона прямых, нашли энергию активации возбуждения мехаполюминесцснции V, которая также в согласии в Js(p) оказалась линейно зави­ сящей от давления: U — Uo— у'р. Экстраполируя эту зависи­ мость к р = 0, нашли значения начальной энергии активации Uo — 420 кДж/моль для кварцевого стекла, 210 кДж/моль —

450