Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Физические основы прогнозирования долговечности конструкционных материалов

..pdf
Скачиваний:
3
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
29.97 Mб
Скачать

ломления образца (рис. 10.2). Луч света, распространяющийся внутри призмы, надает на поверхность раздела материалпризма под углом, превышающим угол полного внутреннего от­ ражения. Если поглощение в материале отсутствует, от границы отражается 100% энергии, падающей иа нее. Однако, при этом электромагнитное излучение частично проникает в материал, к которому прижата призма. Эта проникающая часть излуче­ ния может поглощаться исследуемым образцом. Глубина про­

никновения света в образец составляет

 

 

 

около 0,1 Ао/п. Если отраженный от гра­

 

 

 

ницы раздела призмы с образцом свет

 

 

 

разложить в спектр, то можно получить

 

 

 

спектр

поглощения

поверхностного слоя

 

 

 

образца толщиной около 0,1 XQ/W.

 

 

 

На

рис.

10.1 приведены

результаты

Рис. 10.2. Схема полу­

сравнения

спектра

поглощения

поверх­

чения

спектров

нарушен­

ностного слоя, полученного при помощи

ного

полного

внутрен­

метода

нарушенного полного

внутрен­

него отражения:

него отражения и спектра

пропускания

1 —луч

спета;

2 —причма;

пленки

 

ноликапроамида

толщиной

 

3 —материал

 

 

 

 

50 мкм. Видно, что в спектре поверхност­ ного слоя, также как и в спектре пропускания пленки толщи­

ной I мкм, максимум полосы регулярности 930 см*-1 смещен в сторону низких частот, а иа длинноволновом крыле полосы наблюдается сателлит, величина смещения и интенсивность которого больше, чем в спектре пропускания.

Таким образом, данные, полученные из сравнения спектров нарушенного полного внутреннего отражения и пропускания, также показали, что в поверхностном слое полимера концен­ трация и удлинение возбужденных связей выше, чем во вну­ тренних областях.

Исследования при помощи спектроскопии комбинационного рассеяния подтвердили выводы, сделанные на основании ана­ лиза инфракрасных спектров. Для примера на рис. 10.3 сравни­ ваются спектры, полученные при пропускании луча лазера че­ рез центр волокна полипропилена толщиной 1 мм вдоль поверх­ ности этого волокна и через порошок с диаметром зерен 1 мкм.

Видно, что смещение и интенсивность сателлита

в спектре,

полученном

при

пропускании

луча через поверхность

во­

локна, больше, чем в спектре

от

центра волокна.

Еще боль­

ше

интенсивность

п

смещение

низкочастотного

сателлита

в

спектре

порошка

полимера,

обладающем развитой

по­

верхностью.

 

 

 

 

показали, что при комнатной

 

Систематические исследования

температуре концентрация возбужденных связей в поверхност­ ном слое толщиной 1 мкм в 2—5 раз больше, чем во внутрен­ них слоях тела. В то же время величина их удлинения в 1,5 раза больше, чем для объема тела (табл. 10.1).

431

Различие в степени удлинения и концентрации возбужден­ ных связей между поверхностью и объемом полимерного мате­ риала сохраняется и для полимеров, находящихся иод растя­ гивающими механическими напряжениями. Для примера, на рис. 10.4 показана форма полосы регулярности 975 см-1 для поверхностного слоя полиэтилентерефталата толщиной в 1мкм, слоя такой же толщины под ним и внутренних областях плеиоч-

Рис. 10.3. Форма полосы регулярно­

Рис. 10.4. Форма полосы регулярно­

сти 975 см 1 в спектрах комбинацион­

сти, найденная из инфракрасных спек­

ного рассеяния ориентированного

во­

тров отражения

пленки

полиэтилен­

 

локна

полипропилена:

 

терефталата,

растягиваемой

напря­

/ — луч

лзиера

проходит

черс* центр

во­

 

жением

400

МПа:

 

локна:

2 — луч

касается

поверхности

во­

/ — объем

пленочного

обра.ща;

2 -слон

локна: Я — спектр порошка полипропилена

толщиной

в 1

мкм

под

поверхностным:

 

 

 

 

 

3 поверхностный

слой

толщиной 1 мкм

 

 

 

 

 

Таблица ЮЛ

Удлинение ¥d и концентрация Cd возбужденных связей

 

 

в поверхностном

слое полимеров толщиной

1 мкм

[300]

 

 

 

 

Смещение са­

SJ

 

ч

 

 

 

 

 

 

 

 

 

теллита,

см

 

%

 

 

Полимер

Частота

 

 

 

 

 

полосы,

 

 

 

 

 

 

 

см *

Поверх­

 

ПоЖфХНОСТ-

 

 

 

 

 

Объем

 

 

ностный

Объем

 

 

ный слой

 

 

слой

 

 

 

 

 

Полиэтилен

725

40

30

8

4

4

2

Полипропилен

975

20

12

8

А

4

2

Полиэтилентсрсфталат

976

20

8

3

Полнкапроамид

930

40

25

5 ,5

10

2

3

432

ного образца, растягиваемого напряжением 4000 МПа. (Форма полосы получена из спектров отражения напряженного образца толщиной 18 мкм, записанных через 5° в диапазоне углов от 20 до 60°, после проведения расчетов, основанных па решении уравнений Максвелла.) В поверхностном слое сателлит имеет наибольшую интенсивность и смещен на 48 см"1. В слое, рас­ положенном под поверхностным, интенсивность сателлита меньше, а смещение составляет примерно 35 см~!. Наконец, во внутренних слоях образца сателлит имеет наименьшую интен­ сивность и смещение, составляющее всего около 25 см-1. Если обозначить величину удлинения возбужденных связен в поверх­

ностном слое через tv*, слое

под ним — га us

и в центре об­

разца— e,iv, то

из этих данных вытекает, что

«

l,9edi; и

ed us ~ 1,4 eat-

Концентрация

возбужденных

связен

в

поверх­

ностном слое примерно в 3 раза больше, чем в слое под ним, и примерно в 6—8 раз больше, чем в центре пленочного образца.

Согласно развитым в гл. 2 представлениям, па значения активационных параметров разрушения, а следовательно, на его скорость влияет величина коэффициента теплового расши­ рения р. По эмпирическим формулам (2.18), (2.19) время ожи­ дания та образования возбужденных связей экспоненциально зависит от энергии активации Ua = U9 а величина удлинения таких связей га С /'1. Энергия активации образования разру­ шающих флуктуаций t/d, в свою очередь, связана с коэффици­ ентом теплового расширения р и поэтому факты, свидетельст­ вующие об увеличении вероятности образования возбужденных связей и росте величины их удлинения, стимулировали опреде­ ление р в поверхностном слое материалов.

Для определения коэффициентов теплового расширения па поверхности р* были привлечены методы дифракции медленных электронов (ДМЭ) и спектроскопии потерь энергии электронов (СХПЭЭ) [122].

Методика ДМЭ позволяет получать дифракционную кар­ тину, аналогичную хорошо известной картине рассеяния рентге­ новских лучен от кристалла. При повышении температуры меж­ атомные связи расширяются и рефлексы на этой картине сме­ щаются. Измеряя величину их смещения, можно рассчитать ко­ эффициент теплового расширения поверхностного слоя кри­ сталла. Этим методом измеряют коэффициенты теплового рас­ ширения поверхностного слоя толщиной примерно 1 им в раз­ личных кристаллографических направлениях [159]. В табл. 10.2 приведены определенные этим методом отношения коэффици­ ентов теплового расширения поверхностного слоя рА- и объема рг твердых тел, усредненные по различным кристаллографиче­

ским направлениям

[257].

 

 

В последние годы для определения величины р начали ис­

пользовать СХГ1ЭЭ па плазмопах

[122]. Как известно, свобод­

ные

электроны в

металлах и

полупроводниках образуют

28

За кап ЛЬ 218

 

433

.Материал
Алюминий
Медь
Молибден
Вольфрам
Ниобий
Германий
Кремний
Таблица 10.2
Увеличение коэффициента теплового расширения в поверхностном слое
толщиной примерно 10 нм для различных материалов [159]
/р э

электронную плазму. Кванты колебаний такой плазмы назы­ вают плазмонами. Направим на материал с электронной плаз­ мой пучок электронов и исследуем распределением энергии отраженных электронов. Тогда в спектре отраженных электро­ нов будут наблюдаться характерные пики, соответствующие по­ терям энергии электронов на возбуждение ллазмонов.

На рис. 10.5 показан спектр характеристических потерь энер­ гии на илазмонах в поверхностном слое чистой алюминиевой

Рис.

J0.5.

Схема спектра

Рис.

10.6. Температурная

рассеянии

вторичных элек­

зависимость энергии поверх­

тронов на плазмонах в ато­

ностного нлазмона па ато­

марно

чистой поверхности

марно

чистой поверхности

 

алюми пия

 

алюминия

фольги. Пик Ер в этом спектре соответствует энергии электрон­ ного пучка, падающего на поверхность фольги. Два других пика Es и Ег1 возникают из-за потерь энергии на возбуждение по­ верхностного (Es) и квазиобъемного (Ег) нлазмонов. Первый локализован в поверхностном слое толщиной примерно 10 нм,

а второй — в слое толщиной при­ мерно 100 нм.

Энергия плазмоиа Е связана с плотностью п электронов про­ водимости уравнением:

Е =//v = (4лс + const,

Метод

.Метод

дм э

СХПЭЭ

3

1 ,5 —4

21 ,5 —2,5

32—5

2,5

3 ,5 —7

4

где е и /?2<»— заряд н масса элек­ трона, а V-—частота нлазмона. При нагревании или деформации материала плотность электронов проводимости уменьшается, что приводит к уменьшению энергии плазмоиа. Из рис. 10.6 видно, что энергия нлазмона уменьша­ ется пропорционально темпера­ туре. Из этих данных можно

*134

найти величину коэффициента теплового расширения по фор муле

р = 2 дЕ

дТ *

Значения коэффициента теплового расширения р для алю­ миния, измеренные для слоев 10 и 100 им при различных зна­ чениях энергии Ер падающего па образец пучка электронов, показаны на рис. 10.7. Через совокупность экспериментальных точек можно провести прямые, параллельные оси абсцисс. Сле­ довательно, определенная та­

ким

образом

величина

ко­

 

к 1

 

 

 

 

 

эффициента

теплового

рас­

1,5

 

 

 

 

 

 

ширения

р

не зависит

от

 

 

 

1

энергии падающего

на

об­

0,15

 

4

 

 

 

 

 

 

 

 

разец

электронного

пучка.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Значение р для слоя толщи­

0,5

.

 

 

 

 

 

ной

10 им

 

оказалось в два

 

1000

 

2000

Е р.зв

раза больше, чем для слоя

О

 

 

толщиной

100 нм, теплового

Рис.

10.7.

Коэффициент

теплового

расширения

различных

ме­

расширения атомарно чистого алюми­

таллов

и

полупроводников

ния

в слое 10

нм

(верхняя

линия)

[122].

Полученные

данные

 

и

100

нм

(нижняя)

 

для

атомарно

чистых

по­

 

 

 

 

 

 

 

верхностей приведены в табл. 10.2. Они показывают, что коэф­ фициент теплового расширения р в поверхностном слое толщи­ ной в 10 нм от 1,5 до 10 раз больше, чем для объема материала.

Таким образом, изменения коэффициента теплового расши­ рения при помощи ДМЭ и СХПЭЭ на плазмонах показали, что нелинейность сил межатомного взаимодействия в атомарно чи­

стой поверхности

выше, чем в объеме материала.

строение

Известно,

что

в аморфных

условиях

химическое

поверхности

изменяется из-за

реакции

с кислородом

воздуха,

с водяными

парами, газами и т. д. Кроме того, как

правило,

на поверхности содержится значительная концентрация различ­ ных адсорбированных примесей. Было интересно выяснить: отличается ли нелинейность межатомных сил на поверхности и в объеме материалов, которые испытываются в атмосферных условиях? Ответ на этот вопрос получен в работе [122]. Автор для исследования поверхности использовал спектры поверхност­ ных поляритонов, т. е. квантов смеси фононов и фотонов, лока­ лизованных на поверхности материала.

Исследуемые образцы представляли собой пластины квар­ цевого стекла, кристалла кварца, окиси магния и титаната стронция (рис. 10.8), на которые устанавливали призму, проз­ рачную в инфракрасной области спектра. Призма была отде­ лена от образца прокладкой, толщина которой составляла

28*

435

примерно 1 мкм. Внутри призмы распространялся луч инфра­ красного света, падающий на границу раздела призма—воздух под углом, больше угла полного внутреннего отражения. Элек­ трический вектор поляризован параллельно плоскости, проходя­ щей через падающий и отраженный лучи света. В этих условиях часть электромагнитной энергии инфракрасного излучения до­

стигает поверхности

исследуемого

материала

и

возбуждает

 

 

 

в нем поверхностные поляритоны.

 

 

 

 

Исследуя

смещенные

частицы по­

 

 

 

верхностного поляритона

и колебаний

 

 

 

в объеме материалов, авторы устано­

 

 

 

вили,

что

частоты

поляритонов при

 

 

 

растяжении

материалов

смещаются

 

 

 

в несколько раз сильнее, чем частоты

Рис. 10.8. Схема уста-

объемных

колебаний. Этот результат

был объяснен увеличением нелинейно­

новки

для

получения

спектра

поверхностных

сти сил межатомного

взаимодействия

поляритонов:

в

приповерхностном слое

материалов.

/ —луч

света;

2 —приема;

В

табл. 10.3

приведены

значения от­

3 —прокладки;

4 —образец

ношений модовых параметров Грю-

 

 

 

найзена для

поперечного

оптического

фонона в поверхностном слое G* и объеме GT кварцевого стекла,

подвергнутого различной

предварительной

 

технологической

обработке

[122]. Из

таблицы

видно, что

модовый параметр

Грюнайзена, величина которого может служить мерой нелиней­ ности сил межатомного взаимодействия, па поверхности квар­ цевого стекла больше, чем в объеме.

 

 

 

 

 

 

Таблица 10.3

 

Отношение модовых

параметров

Грюнайзена

поперечного оптического

колебания

кварцевого стекла

 

для поверхности

Gs и объема G-,

и его прочность

 

в зависимости от

технологической

обработки

[122]

Технологическая обработка образца

Gs i Cv

 

Of

ai

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

МПа

Механически полированный

 

8

 

36

10

Обработан

в газовом разряде

5

 

200

100

Обработай

плавиковой кислотой

3

 

670

400

Интересно, что величина Gs зависит от технологической обработки поверхности и растет при таких видах обработки, которые вызывают уменьшение прочности а*. Это позволило [122] предположить, что уменьшение прочности может быть частично связано с изменением нелинейности сил межатомного взаимодействия. Для проверки этой гипотезы рассчитывались

значения прочности по формуле (2.27), в которой величина коэффициента гг была увеличена в Gs/G v раз:

 

 

и л

° s kET

 

 

 

 

 

 

Gi)Сае %

 

 

 

Из табл.

10.3 следует,

что значительная

часть

уменьшения

прочности, по

сравнению

с теоретическим

значением

Сш =

= 20 Г11а при

Gs/G v = 1, может быть объяснена

увеличением

нелинейности межатомных сил на поверхности.

 

меж­

В работе

[257] для исследования нелинейности сил

атомного взаимодействия на поверхности и в объеме кристал­

лов селенида цинка использовали яв­

 

 

 

 

 

ление

резонансного

комбинационного

 

 

 

 

 

рассеяния.

Резонансным комбинаци­

 

 

 

 

 

онное рассеяние называют в том слу­

 

 

 

 

 

чае, когда частота источника возбу­

 

 

 

 

 

ждения (лазера) попадает в диапазон

 

 

 

 

 

частот,

в котором

материал

погло­

 

 

 

 

 

щает свет. Прн измерениях использо­

 

 

 

 

 

вали длины воли возбужденного света

 

 

 

 

 

514,5,

457,9

н

454,5

нм. Для

первой

 

 

 

 

 

длины

волны

коэффициент

поглоще­

Рис.

J0.9.

Зависимость час­

ния света чрезвычайно мал и луч ла­

тоты

фонона

253

см-1 в

зера проникает в объем кристалла,

спектре

комбинационного

возбуждая

спектр

комбинационного

рассеяния

селенида

цинка

рассеяния

объема.

Для

остальных

 

о г температуры

двух длин волн, наоборот, величина

велика,

что

интенсив­

коэффициента

поглощения

настолько

ность луча лазера уменьшается вследствие поглощения при­ мерно в 10 раз на глубине примерно 150 нм. Это позволило, изменяя длину волны лазера, возбуждать спектр комбинацион­ ного рассеяния от объема и поверхностного слоя в отдель­ ности. Опыты состояли в исследовании зависимости от темпера­ туры частоты линий комбинационного рассеяния продольного оптического колебания атомов в решетке селенида цинка, ча­ стота которого при комнатной температуре 253 см-1. Одновре­ менно исследовали температурную зависимость частоты обер­ тона этого колебания, частота которого равна 503 см '1. Ре­ зультаты измерений приведены на рис. 10.9. Видно, что смеще­ ние частоты пропорционально температуре. Температурные ко­ эффициенты dv/дТ приведены в табл. 10.4. Их величина в еелепидс цинка определяется как тепловым расширением кри­ сталлической решетки селенида цинка, так и изменением вре­ мени жизни оптического колебания вследствие обмена энергией между ним и другими колебаниями. Тепловое расширение и обмен энергией между колебаниями обусловлены нелиней­ ностью сил межатомного взаимодействия. Поэтому увеличение

437

 

 

 

 

Таблица 10А

Температурные коэффициенты dx/cLT

продольных

оптических

колебаний

в селениде цинка, соответствующие поверхностным слоям

разной толщины и объему кристалла [257]

 

Колебание

Частота v,

 

dv ‘dT

см-*

 

Продольное оптическое

 

Поверхностный слой

2,6

253

толщиной

примерно

колебание

 

10 им

 

2.0

 

 

Объем

 

Обертон продольного

 

Слой толщиной

6,4

503

60—70 нм, лежащий под

оптического колебания

 

поверхностным

 

 

 

Объем

 

3 ,9

параметра дх/дТ в поверхностном слое селенида цинка указы­ вает на рост нелинейности межатомных сил.

Наконец, в работе [116] сравнивали положение полос регу­ лярности в инфракрасных спектрах полимеров, полученных из

объема

и поверхностного

слоя образца толщиной примерно

1 мкм.

Результаты такого

сравнения приведены в табл. 10.5.

Из таблицы видно, что в поверхностном слое максимум по­ лос регулярности смещен в сторону низких частот на величину от 1 до 5 см-1. Поскольку смешение максимума полос регуляр­ ности в полимерах обус-

 

 

Таблица 10,5

ловлено

тепловым расши­

Смещение максимума полос регулярности

рением

химических

свя­

в поверхпостном слое

зей

в

полимерных

моле­

полимерных материалов

[116]

кулах, то из этих данных

 

 

Смещение

следует,

что

в

поверх­

 

Частота

ностном

слое

коэффици­

 

максимума

 

максиму­

Материал

ма полосы

полосы в по­

ент

теплового

расши­

верхностном

 

к объеме

слое /г,

рения

имеет

 

большее

 

V , ем

 

 

 

1 мкм

значение,

чем

в

объеме

 

 

 

Полиэтилен

 

 

материала.

Используя

Т130

— 1

значения

смещений,

при­

Поликапроамид

930

—1

веденные

в таблице, на­

Поливиниловый

1146

— 3

спирт

1326

—5

шли, что в поверхностном

Полипирочстлл-

427

— 1

слое толщиной в 1 мкм

лнтимнд

 

 

коэффициент

теплового

Полиамид

692

— 1,2

расширения увеличивает­

ДФО-ПФ

740

- 1 , 2

ся

примерно на 20—30 %.

Полна мндбеизн-

1022

— 1

индазол

 

 

Таким

образом,

сово­

 

 

 

купность

данных,

полу-

438

ценных при помощи дифракции медленных электронов, спектро­ скопии характеристических потерь энергии электронов и инфра­ красной спектроскопии, свидетельствует о том, что коэффициент теплового расширения в поверхностном слое материалов, как правило, выше, чем в объеме.

В этом аспекте повышенная концентрация и более высокие значения удлинения возбужденных связей в поверхностном слое образца могут быть объяснены увеличением нелинейности меж­ атомных сил, из-за которой растет вероятность флуктуацион-

Рис. 10.10.

Увеличение

коэффициента

поглощения

/ п полос, соответствующих

колебаниям

концов мо­

лекул

в

поверхностном

слое полиэтилена:

1 —значение

до

приложения

напряжения; 2 —после выдер­

живания под о - 230 МПа в течение

2 ч

ного возбуждения межатомных связей и образования дилатонов.

Рассмотрим теперь роль поверхности в разрушении матери­ алов. Очевидно, что увеличение концентрации и величины удли­ нения возбужденных связей в поверхностном слое должно вы­ зывать более быстрое, чем в объеме, накопление первичных оча­ гов разрушения и деформации. Перейдем к изложению резуль­ татов экспериментальных исследований, которые подтвердили эти ожидания.

Для раздельного изучения разрывов химических связей па поверхности и в объеме использовались методы инфракрасной спектроскопии пропускания н нарушенного полного внутрен­ него отражения [39, 42]. Объектами исследования явились пленочные образцы полиэтилена, полипропилена и резни на основе натурального, синтетического, изопреиного (СКИ-3) и синтетического уретанового (СКУ) каучука. Образцы подвер­

гали воздействию статических и динамических напряжений

как

в атмосферных условиях, так и в вакууме

торр).

ин­

На рис. 10.10 и 10.11 показаны спектры

поглощения

фракрасного света поверхностного слоя и объема ориентиро­ ванного образца полиэтилена до и после выдерживания под растягивающим напряжением 230 МПа при 300 К в течение

439

двух часов. Видно, что под влиянием напряжений увеличива­ лась интенсивность полос 1378, 1590, 1640, 1710 и 1740 ем-*, соответствующих химическим группировкам на концах молекул

■■■ ■■■ ■ '

20

 

 

1

 

Л \

 

 

10

 

1 \

/1%

 

V\

 

!

II

/

 

 

Jl -

1 '

 

.

 

 

f t

 

 

 

 

/

 

 

 

 

 

 

г

ч

э

 

 

 

 

f t

'

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

то

1400 1500

1600

 

 

Рис. 10.11. Увеличение коэффициента погло­ щения /и полос, соответствующих колебаниям концов молекул в объеме полиэтилена:

I —значение /п до приложения напряжения; 2—зна­ чение Ju после выдерживания нод напряжением 230 МПа в течение 2 ч

Таблица 10£

Увеличение концентрации ДCR концов полимерных молекул в поверхностном слое и объеме

ориентированных пленок полиэтилена после выдерживания под растягивающими напряжениями 230 МПа в течение 2 ч

при комнатной температуре [39]

 

Прирост концен­

 

трации группиро­

Химическое строение

вок ЛС^-10-24, м

 

 

концевой группировки

 

Поверх­

 

Объем

 

ностный

 

 

с.юй

—н с = с н —н с = с н 2

1,9

2700

—н 2с —н о = с н 2

2,0

2800

- н , с - с ^ ° н

2,4

900

 

2,7

1000

полиэтилена, имеющих следующее строение:

— СНз,—н

с

=

с

н —

„ с

/ 3

, - С

^ °

 

ч

 

ч

о

 

н

 

Из

рис.

10.10

и

10.11,

а также из табл. 10.6

следует,

что

прирост

ко­

эффициента

 

поглощения

этих

полос,

 

а значит

и

концентрация

новых

кон­

цов полимерных

молекул

вповерхностном слое

полиэтилена

толщиной

1 мкм в I03 раза больше,

чем в объеме.

резуль­

Аналогичные

таты были получены для

всех исследованных поли­ меров. Л именно: концен­ трация новых концов по­ лимерных молекул, об-

440