книги из ГПНТБ / Кизель В.А. Отражение света
.pdfс) при обычном отражении — —1,5 и и, |
меняющемся |
от |
0 до 0,13; б ) при |
ПВО — |
=0,625 (значения и — у кривых); |
«1 |
rit |
, |
меняющемся от 0,76 |
Пі |
|
в ) |
при я = 0 ,І и г-* |
до 0,98. |
|
||
|
Лі |
|
|
|
|
5 33] |
МЕТОДЫ НПВО |
2 69 |
*1
Рис. 88. Зависимость энергетических коэффициентов отражения R от % для разных углов падения ср;
,Л|=1, л2=о,з.
270 ПРИМЕНЕНИЯ ЯВЛЕНИИ ОТРАЖЕНИЯ [ГЛ. 7
Выбор условий для получения наибольшей точности рассматривался как в цитированных работах, так и в других; выбор толщин слоя обсуждался в работах [113,
114], предел применимости |
и |
выбор |
углов |
падения — |
||
в работах |
[42, 115]. Выгоднее |
измерять |
R±\ иногда |
|||
выгоднее большие углы падения |
(естественно, при над |
|||||
лежащем |
подборе п2/п[). |
В |
§ |
30 |
и в |
помещенной |
там табл. 6 были указаны некоторые методики расчетов
(см. также гл. |
1 [65]) и рекомендации по методике ма |
||
шинного счета. |
объединение этого метода |
с |
методом |
Некоторое |
|||
Т. П. Кравца, |
состоящее в рекомендации |
по |
подбору |
п2, п\, проводится в работе [116], а специфика приме нения в дальней инфракрасной области дана в рабо те [117].
Второй вариант, FTR, предназначен в основном для измерения величин п прозрачных веществ. Часть энер гии из среды 2 выводится в сторону с помощью прозрач ных призм или полусферы с достаточно большим п, приближаемых к отражающей поверхности раздела сред 1 и 2 на расстояние d.^% так, чтобы поверхности их были параллельны (известный «оптический телефон» Цейсса). Можно измерять отражение в среду 1 или про пускание образовавшегося тонкого зазора (см.гл .2 [3]).
В обоих вариантах одно из преимуществ заключает ся в избавлении от осложнений, связанных с интерфе ренцией в тонких кюветах.
Для практической спектроскопии и применений ме тод удобен тем, что спектр отражения близок по форме к спектру поглощения, а положения максимумов полос близки или почти точно совпадают. В ряде случаев для практических целей возможно далее (подробности см. в гл. 2, ссылка [3]) обходиться без пересчетов (всегда сложных); однако в общем случае игнорирование раз личия в спектрах может привести для некоторыхдлин волн к серьезны^ ошибкам (см. § 34).
Метод удобен также тем, что при его применении физически выделяются некоторые типы колебаний. Это объясняется тем, что скорости неоднородных волн в сре де 2 меняются с ср (см. примечание на стр. 83) и могут быть подобраны близкими к резонансам, или т. п. Так (см. гл. 2, ссылки [15]), предложен способ возбуждения
§ з-п |
ФОРМА ПОЛОСЫ ОТРАЖЕНИЯ |
271 |
иисследования плазменных волн в хорошем металле, где « < 1 , т. е. условия похожи на ІіПВО. Скорость не однородных волн в металле меняется путем изменения ср
иможет быть подобрана равной сопл/&пл, что способст вует возбуждению.
Вработе [118] на одних и тех же объектах прове дены и сопоставлены измерения колебательных спектров методами В, 3) и НПВО. Оказалось, что первые лучше выявляют продольные оптические моды, а попереч
ные— хуже, и только в перпендикулярной компоненте
(ср. стр. 263 и 264 и рис. 86, 99 и 100).
Методы, подобные НПВО, развиваются в последнее время в рентгеновской области. Явление НПВО можно
использовать для |
пассивных модуляторов добротности |
|
в ОКГ. Эффекты |
смещения луча при ПВО (см. |
§ 9) |
предлагалось использовать для диагностики плазмы |
(см. |
|
гл. 2, ссылка [39]). |
|
|
Метод НПВО, |
особенно при пользовании многократ |
|
ным отражением, позволяет обнаруживать поверхност ную ориентацию и упорядоченность в твердых полиме
рах и других |
объектах, |
подобную рассмотренной |
в § 23—26. |
|
|
§ 34. |
Форма полосы отражения |
|
Из формул (4.16) и (4.17) |
видно, что одни и те же |
|
значения R могут быть получены при различных п и %. |
||
Поэтому при произвольных зависимостях п( со), и (со) форма полосы отражения может быть любой, иначе го
воря, |
контуры полос поглощения |
х(со) и |
отражения |
R (со) могут совпасть лишь в особых случаях. В частно |
|||
сти, |
максимальные значения R (и) |
могут |
получаться |
при иных значениях и, чем максимумы к (а). Некото рые ограничения могут накладываться лишь интеграль ными (в пределах от со=0 до со-э-оо) дисперсионными
соотношениями Крамерса— Кронига |
для п и н [017, |
018], справедливыми для любых «(со) |
и х(со), если они |
аналитичны (см. § 35). Анализ ряда |
возможных видов |
полосы R (со) приведен в работе [119]. |
|
Для реально встречающихся зависимостей п(со) и %(со) форма R (со) более определенна, ибо п и н функ ционально связаны.
2 7 2 |
ПРИМЕНЕНИЯ ЯВЛЕНИИ ОТРАЖЕНИЯ |
[ГЛ. 7 |
Рассмотрим простейший случай изолированной по лосы поглощения для вещества молекулярной струк туры.
Спектральная зависимость параметров изолирован ной полосы поглощения, связанной с одиоосцидляторным дипольным переходом (в двухуровневой системе) для свободных атомов или молекул (например, в раз реженном газе), обычно удовлетворительно описывает ся «классическим дисперсионным контуром» [02, 06, 120, 121]
(34.1)
е3* |
N J |
Г_________ |
(34.2) |
|
~ /га |
«V |
(сор - ш ) 2 + (І72)3’ |
||
|
где Ni — число осцилляторов в 1 см3-, f — сила осцилля тора; Шр — резонансная частота; Г — «константа затуха ния».
На рис. 89 и 90 и в табл. 7 приведены некоторые ре зультаты наших расчетов по этим формулам ‘). Они мо гут быть применены для других значений а„, N u f, учи
тывая, что эти величины входят только в сочетании —
Расчеты приведены для случая нормального падения, т. е.
р(га-1)3 + х3
* ~ (я + 1)3+ х 3 '
Из этих данных можно сделать следующие выводы:
1)полоса отражения значительно шире полосы по глощения;
2)она имеет менее острый максимум;
3)она всегда сдвинута относительно ар и %шкв в об ласть больших частот2);
') Расчеты проведены совместно с К. Ф. Луканиным, которому автор приносит благодарность.
3) В некоторых особых случаях, когда полоса поглощения имеет иное физическое происхождение, чем описываемая «одноосцилляторными» формулами (34.1) и (34.2), и когда га (со), вследствие особенно стей процесса, всюду > 1 , этот вывод может оказаться несправед ливым.
т>г
п ,х R
- 2 - 1 |
0 1 2 |
3 (ш-ш„)-Ючг |
Рис. 89. Результаты расчета по формулам (34.1) и (34.2) для значе ний параметров, указанных в табл. 7;
ш =2 • 10«.
18 в. А. Кизель
2 7 4 |
ПРИМЕНЕНИЯ ЯВЛЕНИИ ОТРАЖЕНИЯ |
[ГЛ. 7 |
П,Х R
§ З'Ц |
ФОРМА ПОЛОСЫ ОТРАЖЕНИЯ |
27 5 |
4) при малых Nil 11 Г контур полосы отражения поч ти совпадает с контуром полосы поглощения и имеет максимум очень близко к сор<!3;
г
15
W
0,5
о
-в -о - г о г o b (s>-<spio-1s
Рис. 89 (продолжение)
5)при росте Nif отражение усиливается, максимум смещается в сторону больших частот и становится ме нее острым, полуширина полосы отражения растет;
6)при росте Г отражение падает '), максимум не сме
щается и становится менее острым, полуширина растет;
*) Физическая причина этого заключается в том, что с ростом затухания в среде 2 все .большая часть электромагнитной энергии диссипируется.
І8*
276 |
ПРИМЕНЕНИЯ ЯВЛЕНИИ ОТРАЖЕНИЯ |
[ГЛ. 7 |
7) в областях, где поглощение практически отсут ствует, п асимптотически приближается к единице, а R стремится к нулю.
Рис. 90. Результаты расчета по формулам (34.1) и (34.2) для значе ний 0) ^ = 2- ІО15;
а ) для значений N f = 5 • 101“ н Г = 2 • 10“ (/), 2 -IO10 — (2), 2 • 10" — (3)..6 • 10" — С*).
12-10" — ( 5 ) , |
48-10" — (б); |
б) для значений Г = 2 ■10" н |
10'“ — (/), |
5 - |
ІО18—(2), 2,5- |
Ю'“- ( 3 ) , 10'“—(4), 5- ІО17—(5), ІО17—(6). |
|
Если, кроме рассматриваемой полосы, есть и другие, достаточно далекие, чтобы их вклад в дисперсию мог изображаться постоянной величиной По (или поглощаю щие частицы находятся в прозрачных растворителях
§ 341 |
ФОРМЫ ПОЛОСЫ ОТРАЖЕНИЯ |
277 |
или матрицах с показателем преломления п0для и ~ соР), то в правой части (34.1) и (34.2) вместо единицы сле
дует поставить nt . В этом случае на кривой R (со) воз никает справа минимум.
Т а б л и ц а 7
Г |
2 • 10'° |
|
|
|
|
|
48-10" |
|
10" |
2-10" |
6-10" |
12-10" |
24-10" |
||
10'7 |
л=о,зб |
0,092 |
0,037 |
0,0013 |
0,001 |
0,00023 |
0,00007 |
|
я=1,88Я |
0,665 |
0.384Д |
— |
— |
— |
— |
|
«=2,13 |
1,29 |
1,20 |
— |
— |
— |
— |
5 • ІО17 |
|
«=0,61 |
0,38 |
_ |
0,092 |
_ |
0,0068 |
|
|
я = 1,88 |
1,39« |
— |
_ |
— |
|
|
|
/1=2,13 |
1,84 |
— |
— |
— |
|
10іа |
|
|
«=0,61 |
_ |
0,092 |
_ |
0,007 |
|
|
— |
|
||||
|
|
|
Я=2,11В |
— |
— |
|
|
|
|
|
« = 2,44 |
|
— |
— |
|
5 • 10IS |
fi>0,99 |
>0,95 |
0,91 |
0,74 |
_ |
0,32 |
0,13 |
|
Я=14,ІЖ |
6,89 |
5,0Iß |
2,51 |
— |
1 22 |
и,743 |
|
/1 = 14,2 |
7,01 |
5,15 |
2,84 |
— |
1,73 |
1,40 |
IO13 |
|
|
fl=0,95 |
_ |
_ |
_ |
0,33 |
|
|
— |
|
|
|||
|
|
|
я=7,14 |
— |
— |
1,23 |
|
|
|
|
/1=7,24 |
|
--- |
— |
1,73 |
5 • 1019 |
|
«>0,99 |
>0,99 |
|
|
|
|
|
|
я =44,7 |
14,1/1 |
|
|
|
|
|
|
/1=44,7 |
14,1 |
|
|
|
|
R |
макс |
х макс’ |
"макс могут относ,1ться к |
различным |
значениям |
со. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
На |
_рис. |
91 приведен результат расчета |
[020] |
для |
||||
,го ==1/Г14и |
близких к нашим |
|
прочих |
параметрах; |
ср. |
||||
также рис. 48, 49, 78. |
|
|
|
|
|
|
|||
|
На рис. |
92 показаны кривые R {со) для «остаточных» |
|||||||
лучей («решеточного отражения») от |
некоторых |
полу |
|||||||
проводников. |
|
|
|
|
|
|
|||
|
Сдвиг Яыаі(0 и Иманс Для остаточных лучей |
может |
|||||||
быть весьма значительным. |
|
получено [02]: |
|
|
|||||
|
Так, для «остаточных лучей» |
|
|
||||||
|
|
|
П олож ение максимума, м к м |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
Поглощ е |
Отра |
|
|
|
|
|
|
|
|
ние |
жение |
|
|
|
|
|
Фтористый литий |
|
3 2 , 6 |
1 7 .0 |
|
|
|
|
|
|
Хлористый рубидий |
|
84,8 |
7 3 . 0 |
|
|
|
|
