книги из ГПНТБ / Смирнов В.И. Теория конструкций контактов в электронной аппаратуре
.pdf
|
|
|
|
|
|
|
Т а б л и ц а 5.1 |
||
Переходные |
сопротивления некоторых пленочных контактов |
||||||||
|
|
|
Контактная |
пленка |
|
|
|
|
|
Тип |
Связываю |
|
|
Покры |
|
w |
г |
нмпкс, |
|
щая пленка |
нижняя J |
верхняя |
тие |
мОм/мм* |
|
||||
|
|
|
|
|
мОм/мм' |
||||
1 |
Сг |
|
Ац |
Та |
А1 |
27 |
2.69 |
|
510 |
2 |
Сг |
|
Аи |
Сг |
—. |
0,8 |
3,13 |
|
14 |
3 |
Сг |
|
Аи |
Сг |
Аи |
0.027 |
2.03 |
0, 127 |
|
4 |
Та |
|
А1 |
Сг |
Ац |
0,057 |
3,26 |
|
1.0 |
5 |
Та |
|
А1 |
А1 |
— |
0.04 |
4.24 |
|
1,27 |
6 |
— |
|
Сг |
Сг |
Ац |
0,28 |
6.37 |
|
19 |
7 |
— |
|
Сг |
А1 |
|
0.052 |
17,88 |
|
190 |
В этой же таблице указаны значения размаха W статистического распределения переходного сопротивле ния Гц, определяемого как
W=(fn+'Aru)/rn,
где г п — среднее значение; Ага — среднеквадратическое отклонение переходного сопротивления. Приведены так же максимальные измеренные значения переходного со противления Гпмакс.
Параметры технологии нанесения этих пленок приво дятся в табл. 5.2. Следует, однако, заметить, что свой ства тонких пленок и переходного слоя весьма чувстви тельны ко всевозможным второстепенным факторам тех нологического процесса. Поэтому контакты, изготовлен ные при этих же параметрах, но на разных установках или в разных лабораториях и цехах, могут иметь пере ходные сопротивления, заметно отличающиеся от указан ных в табл. 5.1.
Между параметрами технологического процесса л свойствами контакта не существует, по-видимому, пря мой физической связи. Такая связь существует между технологией и структурой пленок и переходного слоя, с одной стороны, и между структурой последних и пара метрами контакта, с другой стороны.
Рассмотрим теперь конструкции пленочного контакта,, в которых искусственно увеличена ширина контакта или приконтактных зон пленок. Такая конструкция может быть применена в том случае, если не удается умень шить сопротивление контакта технологическими приема-
130
|
|
|
|
Т а б л и ц а 5.2 |
|
|
Условия осаждения |
пленок для пленочных |
контактов |
||
|
Пленка |
о |
Я-J0», мм |
о |
г, Ом/а |
|
t, А |
рт. ст. |
w, А/с |
||
Сг |
(связывающая) |
100—400 |
10-30 |
10 |
|
Сг |
(контактная) |
1300—2000 Менее 5 |
6—20 |
4—8 |
|
Сг—Аи (область одновре |
100—500 |
10—30 |
25 |
0,08—0,14 |
|
менного осаждения) |
3500—4500 |
10—30 |
15 |
— |
|
Аи |
|
||||
А1 |
|
1500—3000 Менее 300 50—150 |
0,15—0,40 |
||
Сг—А1 (область одновре |
100—500 |
Менее 30 |
10 |
— |
|
менного осаждення) |
|
|
|
|
|
Та |
|
1500 |
— |
1 |
50 |
ми. Рассмотрим пленочный контакт переменной ширины хю(х) (рис. 5.11). Если представить ширину области пере крытия в виде функции
w (х) = w0ax,
где а > 1 соответствует расширяющемуся контакту; а = 1 — к о н т а к т у постоянной ширины (прямоугольному);
Рис. 5.11. Пленочный контакт |
Рис. 5.12. Расширение при- |
переменной ширины: |
контактной области плеиоч- |
/) а>1; 2) а=1; 3) а<\. |
КОГО контакта. |
а < 1 — сужающемуся контакту, то решение уравнений для тока и напряжения в контакте, аналогичное изло женному в 'предыдущем параграфе, даст следующее вы ражение [10] для сопротивления контакта 'при r i < c v
2 ( |
1 + /lexp(— ID)) |
(5.20) |
|
, + D + |
A (D — In a) exp (— ID) |
||
|
131
где |
r Q a |
— сопротивление |
квадрата |
нижней |
пленки (/'•, = |
|||||
= |
r2w); |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
л = 1 + ( I n a ) 2 + |
( 1 " а ) |
i / ( l |
n 0 ) 2 |
+ 4 / ь ^ |
|
||
|
|
|
|
Z ) = ) / ( l n a ) a |
+ 4rn 2 y; |
|
|
|||
|
|
Z — длина области перекрытия. |
|
|
|
|
||||
|
|
Из |
выражения |
(5.20) |
видно, что при увеличении дли |
|||||
ны |
контакта / его |
переходное сопротивление |
стремится |
|||||||
к |
установившемуся минимальному |
значению |
|
|||||||
|
|
|
^ к и т — |
- |
| - /-.-.—.„ | |
. |
-~ |
(5.21) |
||
|
|
|
|
w0 (In а + у |
(In а) 2 + |
4rQ „(/) |
|
Наименьшая длина области перекрытия, обеспечиваю щая переходное сопротивление, близкое к минимальному, равна
/ м и п = VVnar + tr^ |
• |
( 5 ' 2 2 ) |
Исследуя выражение (5.21), легко увидеть, что мини мальное переходное сопротивление расширяющегося кон такта (а>\) будет в К раз меньше минимального пере ходного сопротивления контакта постоянной ширины ( а = 1 ) , где
К = |
In а |
l / - ( l n a ) 2 |
+ 4 r D 2 J / . |
(5.23) |
|
l™ |
гПгУ |
||||
Z |
V |
|
|
|
Величина К, как видно из (5.23), незначительна при «разумных» значениях а и га2у. Поэтому применение расширяющегося контакта не дает заметного выигрыша в смысле переходного сопротивления.
Более эффективным способом уменьшения сопротив ления контакта RK является расширение пленок в приконтактной области (рис. 5.12). В работе [10] проводи лось экспериментальное исследование этого вопроса. Наибольшая плотность тока в пленке I I , вблизи кромки контакта, наблюдается у оси симметрии системы. Если обозначить эту плотность через /, а плотность тока на узком участке, достаточно удаленном от расширенной зо ны, через /о, то наименьшая степень снижения плотности тока в контакте будет равна ///0 . Это отношение должно быть по возможности большим.
132
Исследования [10] показали, что самой целесообраз ной формой расширения приконтактной зоны является приведенная на рис. 5.12, которая характеризуется ради
усами закругления b=—(wr—w). |
Одну и ту же степень |
снижения 'плотности, тока можно получить при разных отношениях w'/w и L/w. На рис. 5.13 приведено семей ство зависимостей а'/со от L/w для разных значений пара метра снижения плотности тока. На этом же рисунке
Рис. |
5.13. Кривые оптималь- |
Рис. 5.14. Номограммы сопро- |
||
ных |
размеров приконтактной |
тивления |
стягивания прикон- |
|
|
области. |
тактной |
области, |
соответствую |
|
|
|
щей рис. |
5.12. |
пунктиром обозначены оптимальные значения этих отно шений, обеспечивающие .минимальную площадь зоны расширения.
При оценке переходного сопротивления пленочного контакта с расширенной приконтактной областью следу ет дополнительно учесть сопротивление стягивания ли ний тока Rc в области между плоскостями х=—(L + r) и х=—L. На рис. 5.14 'приведены кривые сопротивления для данной конфигурации в виде семейства зависимостей
^cA'Q2 = f (w'/w),
параметром которых является отношение L/w. Пункти ром показаны оптимальные значения отношений w'/w и L/w, соответствующие наименьшей площади.
Полученное на основе указанных выше соображений конструктивное решение необходимо проверить с точки зрения допустимого рассеивания мощности по формуле (5.17).
133
5.4.Контроль электрических и физических параметров
пленочных контактов
Как отмечалось ранее, важнейшими характеристиками пленочного контакта являются:
1)'переходное сопротивление;
2)шумы;
3)адгезия.
Измерение шумов. Шумы контактов измеряются стан дартными методами измерения шумов сопротивлений. Поэтому .мы на них останавливаться специально не бу
дем. |
Укажем |
лишь на то, |
что спектральная |
плотность |
э. д. |
с. шума |
единичного |
контакта Етц обычно весьма |
|
мала |
(порядка |
Ю - 2 мтеВ/В - кГц1 /2 ), и ее не удается изме |
||
рить |
непосредственно. Для |
определения £ Ш к |
изготовля |
ют специальную схему, содержащую достаточно большое число п одинаковых, последовательно соединенных пле ночных контактов, и сравнивают ее шумы с шумами од нородной пленки из того же материала, имеющей ту же
Селективный |
Предвари |
никро- |
тельный |
Вольтметр |
усилитель |
Рис. 5.15. Измерение шумов пленочного контакта.
протяженность, но содержащей только два контакта [77]. Схематическое изображение такого метода измерения шумов .показано на рис. 5.15.
Если £ Ш 2 — спектральная плотность э. д. с. шума
цепочки из п контактов, то Ещи определяется следующим выражением:
Етк = / ( # и 1 - 0 / ( д - 2 ) ,
134
где £ Ш 2 — спектральная плотность э. д. с. шума двухкон тактного элемента.
Рассмотрим подробнее вопросы измерения переход ного сопротивления.
Измерение переходного сопротивления. Переходное •сопротивление пленочного контакта может быть измере но непосредственно только тогда, когда оно велико по сравнению с сопротивлениями контактных пленок. В та ком случае переходное сопротивление приблизительно равно сопротивлению контакта и может быть измерено •омметром. Обычно же это условие не выполняется и пе реходное сопротивление либо близко к сопротивлению пленок, либо значительно меньше их, и для его измере ния необходимо использовать специальные методы.
Одним из таких методов является трехзондовый ме тод, схема которого показана на рис. 5.16, Два зонда/ п 2 устанавливаются на контактных пленках по обе стороны от контакта и на них подается некоторое напря жение «о. Ток в цепи измеряется амперметром А. Зонд 3 перемещают между зондами 1 я 2 для измерения распре
Рис. 5.16. |
Трехзондовый |
Рис. 5.17. |
Распределение |
метод измерения пере |
потенциала |
вдоль кон |
|
ходного |
сопротивления. |
такта. |
деления потенциала вдоль контакта по отношению к по тенциалу одного из двух крайних зондов, например 1.
Для точного определения разности потенциалов меж ду зондами / и <3 необходимо отсутствие тока в их цепи. В этом случае не будут играть существенной роли пере ходные сопротивления между зондами и пленками шл любые другие сопротивления в этой цепи. Поэтому для измерения разности потенциалов следует использовать компенсационный метод. К зондам 1 п 3 подключают
135
в обратном |
направлении |
градуированный |
источник на |
|||||||||
п р я ж е н и я |
и и индикатор |
нуля тока |
G. |
|
|
|
|
|||||
|
Распределение потенциала у кромки контакта |
имеет |
||||||||||
вид, п о к а з а н н ы й |
на рис. 5.17. |
Здесь х — расстояние от |
||||||||||
начала контакта, |
и — потенциал |
зонда. В случае геомет |
||||||||||
рически идеального .контакта кривая |
и(х) д о л ж н а |
была |
||||||||||
бы испытывать скачок в точке (х=0). |
В |
реальных же |
||||||||||
контактах, |
как правило, |
существует |
зона |
«подпыления», |
||||||||
на протяжении которой кривая |
и(х) |
имеет |
конечный на |
|||||||||
|
|
|
|
|
клон |
(отрезок OA). |
Пере |
|||||
|
|
|
|
|
ходное |
|
сопротивление |
кон |
||||
|
|
|
|
|
такта определяется |
ка к отно |
||||||
|
|
|
|
|
шение длины отрезка оси ко |
|||||||
|
|
|
|
|
ординат ып , отсекаемого про |
|||||||
|
|
|
|
|
должением |
линейного |
уча |
|||||
|
|
|
|
|
стка кривой АБ, к протекаю |
|||||||
|
|
|
|
|
щему |
через |
контакт току |
|||||
Рис. |
5.18. |
Конфигурация кон- |
|
|
_ |
|
,. |
|
|
|||
|
|
такта. |
|
|
|
|
'п —"п/*- |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
Трехзондовый |
метод об |
|||||
|
|
|
|
|
л а д а е т |
тем достоинством, что |
||||||
не |
требует |
изготовления |
контактов |
специальной ф о р м ы . |
||||||||
Вместе с тем он несколько неудобен |
дл я больших |
серий |
измерений, так как связан с необходимостью точной ус тановки образцов на 'Манипуляторах и с проведением
графических построений дл я |
к а ж д о г о |
отдельного о б р а з |
||||||||||
ца. Кроме |
того, трехзондовый метод |
не может |
быть ис |
|||||||||
пользован |
дл я |
контактов, |
покрытых |
диэлектрической |
||||||||
защитной пленкой. В том случае, |
когда |
необходимо |
про |
|||||||||
вести большие |
серии |
измерений, |
позволяющих |
статисти |
||||||||
ческими |
|
методами |
оценить |
переходное |
|
сопротив |
||||||
ление |
пленочных |
контактов |
с |
|
заданной |
точ |
||||||
ностью, |
а |
т а к ж е |
определить |
статистическое |
рас |
|||||||
пределение |
образцов |
по |
переходным |
сопротивлениям, |
||||||||
может |
быть |
применен |
следующий |
|
метод |
[83]. |
Для |
|||||
измерения |
переходного |
сопротивления |
изготавлива |
ют пленочные контакты специальной конфигурации, по
казанной |
на рис. 5.18. Через выводы А и В контакта п р о |
||||||
пускают |
известный ток / и измеряют |
н а п р я ж е н и е |
U на |
||||
выводах |
С и D. Это не простой |
метод |
амперметра — |
||||
вольтметра, та к как |
н а п р я ж е н и е |
и |
ток |
и з м е р я ю т с я |
|||
в разных |
точках. |
|
|
|
|
|
|
Выводы С п D для измерения |
н а п р я ж е н и я |
и |
токо |
||||
вые выводы А и В |
образуют своеобразную |
мостовую |
136
схему с распределенными параметрами, анализ которой (аналогичный описанному в § 5.1) показывает, что
|
|
U._ |
Z,Z2 |
г . _ |
Z,./2a + Z a / Z , |
|
|
||||||
|
- |
/ — " |
Z i + Z 2 |
[ |
2atho/ |
|
|
|
|||||
|
|
|
a=V(Zl |
+ |
Zt)yt |
|
|
|
|
||||
где Zit |
Zo — сопротивления участков пленок, |
образующих |
|||||||||||
контакт; |
|
у — переходная |
проводимость контакта. Вели |
||||||||||
чины Zi и Z2 могут быть из |
|
|
|
X -1 |
|||||||||
мерены |
|
на специально выде |
|
|
|
||||||||
ленных |
|
для этого |
участках |
Стандартное |
|
||||||||
нижней |
|
|
и |
верхней |
пленок, |
Измеритель |
|||||||
имеющих |
площади, |
равные |
[сопротивление |
|
ная |
||||||||
/±0,0002Он |
|
||||||||||||
площади |
контакта. |
По |
из |
|
схема |
||||||||
P36f |
|
|
|
||||||||||
вестным |
|
U, I, Zu Z2 |
искомая |
|
|
|
|
||||||
переходная проводимость на |
|
|
|
|
|||||||||
ходится |
|
при решении транс |
|
|
|
|
|||||||
цендентного |
|
уравнения |
|
|
|
|
|||||||
(5.24) относительно у . Для |
|
|
|
|
|||||||||
этой |
цели |
может |
быть ис |
|
|
|
|
||||||
пользована |
простейшая вы |
|
|
|
|
||||||||
числительная машина. |
|
|
Микро |
|
Источник |
||||||||
Для удобства |
проведения |
|
|
||||||||||
вольтметр |
|
||||||||||||
|
тока |
||||||||||||
измерения |
описанным мето |
|
Ф11В/1 |
|
|
||||||||
дом |
нужное число |
образцов |
Рис. 5.19. Установка для изме |
||||||||||
(объем |
|
выборки) |
объединя |
||||||||||
|
рения |
переходного |
сопротивле |
||||||||||
ют в нескольких схемах, каж |
|||||||||||||
ния |
пленочного |
контакта. |
|||||||||||
дая |
из |
|
которых |
|
содержит |
|
|
|
|
ряд последовательно соединенных контактов и участки для измерения сопротивлений пленок. На рис. 5.19 пока зан вариант установки для измерения переходного со противления этим методом. Ток в цепи, образованной последовательным соединением измерительной схемы и стандартного сопротивления, обеспечивается источни ком тока с высокой разрешающей способностью. Измере ние величины тока осуществляется подключением вольт
метра к зажимам стандартного |
сопротивления |
в 1 Ом, |
а напряжения — подключением |
вольтметра ж |
потенци |
альным выводам измерительной схемы. Установка по зволяет переключать полярности источника питания и измерительного прибора для выявления эффектов вы прямления в контакте.
137
Погрешность метода приблизительно пропорциональ на измеряемой величине. Поэтому результаты измерения имеют, как правило, логарифмически нормальное рас пределение.
Описанный выше метод особенно удобен в тех слу чаях, когда 'постоянно требуется проведение измерения переходного сопротивления боль шого количества образцов, на пример при исследовании влия ния технологии, различных атмо сферных условий и т. п. на пере ходное сопротивление или в слу чае необходимости постоянного контроля его величины в произ
водственных условиях.
Рис. 5.20. Измерение
адгезии отрывом.
Измерение адгезии. С точки зрения надежности представляет интерес измерение величины адге зии пленочного контакта в целом
к нижележащей подложке, а так-
|
|
же величины |
адгезии контактных |
|
|
|
пленок одна |
к другой. |
Простей |
ший |
метод |
количественной оценки |
адгезии |
основыва |
ется |
на отрыве слоя при помощи |
нормального к его |
||
поверхности |
усилия. Так, к пленке/ |
(рис. 5.20), нанесен |
ной на поверхность подложки 2, с помощью специального клея 3, например, эпоксидной смолы, приклеивают алю миниевый штырь 4, к которому прикладывают осевую нагрузку W. Измеряется величина критической нагрузки W, приводящей к отрыву штыря вместе с некоторым уча стком пленки площадью А. Последнюю измеряют плани метрированием фотографии с известным увеличением, а адгезию F определяют как отношение
F=W'(A.
Этот метод в 'Принципе применим только для оценки ад гезии контакта в целом к подложке. Для измерения ад гезии пленок друг к другу он не 'пригоден потому, что •сцепление между металлическими пленками всегда силь нее, чем сцепление металлических пленок с диэлектриче скими подложками. Возможности метода ограничены прочностью используемого клея. Если адгезия 'превышает предел -прочности клея, она, очевидно, не может быть измерена.
138
Измерения, проведенные методом отрыва, обнаружи вают сильную дисперсию. По-видимому, результаты весьма чувствительны к составу и режиму затвердева ния клея, 'к состоянию поверхностей пленки и штыря, к форме .клееного соединения и т. д. Метод отрыва мож но использовать для ориентировочной или сравнительной •оценки низких значений адгезии. -В табл. 5.3 приведены
|
|
|
|
|
|
|
Т а б л и ц а 5.3 |
|
|
|
Адгезия |
тонких |
пленок |
|
|
|
|
Пленки |
• F |
-ю-» |
F |
.10-», |
F .10-», Н/м* |
|
|
мин |
|
Н/ма |
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
Н/м» |
|
|
|
•Сг—An (одновременно) к |
5,6 |
|
20.5 |
11,2 |
|||
стеклу |
|
5,6 |
|
20,5 |
11,2 |
||
Сг |
к |
стеклу |
|
|
|||
А1 |
к |
стеклу |
|
3,1 |
|
13.0 |
6,2 |
Та |
к |
стеклу |
|
8,0 |
|
21,8 |
15,6 |
измеренные методом отрыва значения адгезии некоторых
пленок, |
часто применяемых в пленочных |
контактах. |
||||||
В таблице указаны |
минимальное |
Fima, |
максимальное |
|||||
Рмакс и среднее |
F |
значения |
адгезии для |
некоторых |
пле |
|||
нок [83]. |
|
|
|
|
|
|
|
|
Для |
более |
точного |
измерения |
адгезии пленок |
||||
к подложке или |
для измерения |
адгезии |
пленок |
друг |
к другу в пленочном контакте может быть использован другой метод [84], основанный на царапании слоя индентором из твердого материала. Установка для измерения адгезии этим методом показана на рис. 5.21.
К жесткому коромыслу 1, установленному на шарни ре 2, прикреплена корундовая игла 3 и подвижный груз W0, служащий для компенсации веса индентора и устрой-
W
Рис. 5.21. Схема установки измерения адгезии царапанием.
139