Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Смирнов В.И. Теория конструкций контактов в электронной аппаратуре

.pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.82 Mб
Скачать

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а 5.1

Переходные

сопротивления некоторых пленочных контактов

 

 

 

Контактная

пленка

 

 

 

 

 

Тип

Связываю­

 

 

Покры­

 

w

г

нмпкс,

щая пленка

нижняя J

верхняя

тие

мОм/мм*

 

 

 

 

 

 

мОм/мм'

1

Сг

 

Ац

Та

А1

27

2.69

 

510

2

Сг

 

Аи

Сг

—.

0,8

3,13

 

14

3

Сг

 

Аи

Сг

Аи

0.027

2.03

0, 127

4

Та

 

А1

Сг

Ац

0,057

3,26

 

1.0

5

Та

 

А1

А1

0.04

4.24

 

1,27

6

 

Сг

Сг

Ац

0,28

6.37

 

19

7

 

Сг

А1

 

0.052

17,88

 

190

В этой же таблице указаны значения размаха W статистического распределения переходного сопротивле­ ния Гц, определяемого как

W=(fn+'Aru)/rn,

где г п — среднее значение; Ага — среднеквадратическое отклонение переходного сопротивления. Приведены так­ же максимальные измеренные значения переходного со­ противления Гпмакс.

Параметры технологии нанесения этих пленок приво­ дятся в табл. 5.2. Следует, однако, заметить, что свой­ ства тонких пленок и переходного слоя весьма чувстви­ тельны ко всевозможным второстепенным факторам тех­ нологического процесса. Поэтому контакты, изготовлен­ ные при этих же параметрах, но на разных установках или в разных лабораториях и цехах, могут иметь пере­ ходные сопротивления, заметно отличающиеся от указан­ ных в табл. 5.1.

Между параметрами технологического процесса л свойствами контакта не существует, по-видимому, пря­ мой физической связи. Такая связь существует между технологией и структурой пленок и переходного слоя, с одной стороны, и между структурой последних и пара­ метрами контакта, с другой стороны.

Рассмотрим теперь конструкции пленочного контакта,, в которых искусственно увеличена ширина контакта или приконтактных зон пленок. Такая конструкция может быть применена в том случае, если не удается умень­ шить сопротивление контакта технологическими приема-

130

 

 

 

 

Т а б л и ц а 5.2

 

Условия осаждения

пленок для пленочных

контактов

 

Пленка

о

Я-J0», мм

о

г, Ом

 

t, А

рт. ст.

w, А/с

Сг

(связывающая)

100—400

10-30

10

 

Сг

(контактная)

1300—2000 Менее 5

6—20

4—8

СгАи (область одновре­

100—500

10—30

25

0,08—0,14

менного осаждения)

3500—4500

10—30

15

Аи

 

А1

 

1500—3000 Менее 300 50—150

0,15—0,40

СгА1 (область одновре­

100—500

Менее 30

10

менного осаждення)

 

 

 

 

Та

 

1500

1

50

ми. Рассмотрим пленочный контакт переменной ширины хю(х) (рис. 5.11). Если представить ширину области пере­ крытия в виде функции

w (х) = w0ax,

где а > 1 соответствует расширяющемуся контакту; а = 1 — к о н т а к т у постоянной ширины (прямоугольному);

Рис. 5.11. Пленочный контакт

Рис. 5.12. Расширение при-

переменной ширины:

контактной области плеиоч-

/) а>1; 2) а=1; 3) а<\.

КОГО контакта.

а < 1 — сужающемуся контакту, то решение уравнений для тока и напряжения в контакте, аналогичное изло­ женному в 'предыдущем параграфе, даст следующее вы­ ражение [10] для сопротивления контакта 'при r i < c v

2 (

1 + /lexp(— ID))

(5.20)

, + D +

A (D — In a) exp (— ID)

 

131

где

r Q a

— сопротивление

квадрата

нижней

пленки (/'•, =

=

r2w);

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

л = 1 + ( I n a ) 2 +

( 1 " а )

i / ( l

n 0 ) 2

+ 4 / ь ^

 

 

 

 

 

Z ) = ) / ( l n a ) a

+ 4rn 2 y;

 

 

 

 

Z — длина области перекрытия.

 

 

 

 

 

 

Из

выражения

(5.20)

видно, что при увеличении дли­

ны

контакта / его

переходное сопротивление

стремится

к

установившемуся минимальному

значению

 

 

 

 

^ к и т —

-

| - /-.-..„ |

.

-~

(5.21)

 

 

 

 

w0 (In а + у

(In а) 2 +

4rQ „(/)

 

Наименьшая длина области перекрытия, обеспечиваю­ щая переходное сопротивление, близкое к минимальному, равна

/ м и п = VVnar + tr^

( 5 ' 2 2 )

Исследуя выражение (5.21), легко увидеть, что мини­ мальное переходное сопротивление расширяющегося кон­ такта (а>\) будет в К раз меньше минимального пере­ ходного сопротивления контакта постоянной ширины ( а = 1 ) , где

К =

In а

l / - ( l n a ) 2

+ 4 r D 2 J / .

(5.23)

l

гПгУ

Z

V

 

 

 

Величина К, как видно из (5.23), незначительна при «разумных» значениях а и га2у. Поэтому применение расширяющегося контакта не дает заметного выигрыша в смысле переходного сопротивления.

Более эффективным способом уменьшения сопротив­ ления контакта RK является расширение пленок в приконтактной области (рис. 5.12). В работе [10] проводи­ лось экспериментальное исследование этого вопроса. Наибольшая плотность тока в пленке I I , вблизи кромки контакта, наблюдается у оси симметрии системы. Если обозначить эту плотность через /, а плотность тока на узком участке, достаточно удаленном от расширенной зо­ ны, через /о, то наименьшая степень снижения плотности тока в контакте будет равна ///0 . Это отношение должно быть по возможности большим.

132

Исследования [10] показали, что самой целесообраз­ ной формой расширения приконтактной зоны является приведенная на рис. 5.12, которая характеризуется ради­

усами закругления b=—(wr—w).

Одну и ту же степень

снижения 'плотности, тока можно получить при разных отношениях w'/w и L/w. На рис. 5.13 приведено семей­ ство зависимостей а'/со от L/w для разных значений пара­ метра снижения плотности тока. На этом же рисунке

Рис.

5.13. Кривые оптималь-

Рис. 5.14. Номограммы сопро-

ных

размеров приконтактной

тивления

стягивания прикон-

 

области.

тактной

области,

соответствую­

 

 

 

щей рис.

5.12.

пунктиром обозначены оптимальные значения этих отно­ шений, обеспечивающие .минимальную площадь зоны расширения.

При оценке переходного сопротивления пленочного контакта с расширенной приконтактной областью следу­ ет дополнительно учесть сопротивление стягивания ли­ ний тока Rc в области между плоскостями х=—(L + r) и х=—L. На рис. 5.14 'приведены кривые сопротивления для данной конфигурации в виде семейства зависимостей

^cA'Q2 = f (w'/w),

параметром которых является отношение L/w. Пункти­ ром показаны оптимальные значения отношений w'/w и L/w, соответствующие наименьшей площади.

Полученное на основе указанных выше соображений конструктивное решение необходимо проверить с точки зрения допустимого рассеивания мощности по формуле (5.17).

133

5.4.Контроль электрических и физических параметров

пленочных контактов

Как отмечалось ранее, важнейшими характеристиками пленочного контакта являются:

1)'переходное сопротивление;

2)шумы;

3)адгезия.

Измерение шумов. Шумы контактов измеряются стан­ дартными методами измерения шумов сопротивлений. Поэтому .мы на них останавливаться специально не бу­

дем.

Укажем

лишь на то,

что спектральная

плотность

э. д.

с. шума

единичного

контакта Етц обычно весьма

мала

(порядка

Ю - 2 мтеВ/В - кГц1 /2 ), и ее не удается изме­

рить

непосредственно. Для

определения £ Ш к

изготовля­

ют специальную схему, содержащую достаточно большое число п одинаковых, последовательно соединенных пле­ ночных контактов, и сравнивают ее шумы с шумами од­ нородной пленки из того же материала, имеющей ту же

Селективный

Предвари­

никро-

тельный

Вольтметр

усилитель

Рис. 5.15. Измерение шумов пленочного контакта.

протяженность, но содержащей только два контакта [77]. Схематическое изображение такого метода измерения шумов .показано на рис. 5.15.

Если £ Ш 2 — спектральная плотность э. д. с. шума

цепочки из п контактов, то Ещи определяется следующим выражением:

Етк = / ( # и 1 - 0 / ( д - 2 ) ,

134

где £ Ш 2 — спектральная плотность э. д. с. шума двухкон­ тактного элемента.

Рассмотрим подробнее вопросы измерения переход­ ного сопротивления.

Измерение переходного сопротивления. Переходное •сопротивление пленочного контакта может быть измере­ но непосредственно только тогда, когда оно велико по сравнению с сопротивлениями контактных пленок. В та­ ком случае переходное сопротивление приблизительно равно сопротивлению контакта и может быть измерено •омметром. Обычно же это условие не выполняется и пе­ реходное сопротивление либо близко к сопротивлению пленок, либо значительно меньше их, и для его измере­ ния необходимо использовать специальные методы.

Одним из таких методов является трехзондовый ме­ тод, схема которого показана на рис. 5.16, Два зонда/ п 2 устанавливаются на контактных пленках по обе стороны от контакта и на них подается некоторое напря­ жение «о. Ток в цепи измеряется амперметром А. Зонд 3 перемещают между зондами 1 я 2 для измерения распре­

Рис. 5.16.

Трехзондовый

Рис. 5.17.

Распределение

метод измерения пере­

потенциала

вдоль кон­

ходного

сопротивления.

такта.

деления потенциала вдоль контакта по отношению к по­ тенциалу одного из двух крайних зондов, например 1.

Для точного определения разности потенциалов меж­ ду зондами / и <3 необходимо отсутствие тока в их цепи. В этом случае не будут играть существенной роли пере­ ходные сопротивления между зондами и пленками шл любые другие сопротивления в этой цепи. Поэтому для измерения разности потенциалов следует использовать компенсационный метод. К зондам 1 п 3 подключают

135

в обратном

направлении

градуированный

источник на­

п р я ж е н и я

и и индикатор

нуля тока

G.

 

 

 

 

 

Распределение потенциала у кромки контакта

имеет

вид, п о к а з а н н ы й

на рис. 5.17.

Здесь х — расстояние от

начала контакта,

и — потенциал

зонда. В случае геомет­

рически идеального .контакта кривая

и(х) д о л ж н а

была

бы испытывать скачок в точке (х=0).

В

реальных же

контактах,

как правило,

существует

зона

«подпыления»,

на протяжении которой кривая

и(х)

имеет

конечный на­

 

 

 

 

 

клон

(отрезок OA).

Пере­

 

 

 

 

 

ходное

 

сопротивление

кон­

 

 

 

 

 

такта определяется

ка к отно­

 

 

 

 

 

шение длины отрезка оси ко­

 

 

 

 

 

ординат ып , отсекаемого про­

 

 

 

 

 

должением

линейного

уча­

 

 

 

 

 

стка кривой АБ, к протекаю ­

 

 

 

 

 

щему

через

контакт току

Рис.

5.18.

Конфигурация кон-

 

 

_

 

,.

 

 

 

 

такта.

 

 

 

 

'п —"п/*-

 

 

 

 

 

 

 

 

Трехзондовый

метод об­

 

 

 

 

 

л а д а е т

тем достоинством, что

не

требует

изготовления

контактов

специальной ф о р м ы .

Вместе с тем он несколько неудобен

дл я больших

серий

измерений, так как связан с необходимостью точной ус­ тановки образцов на 'Манипуляторах и с проведением

графических построений дл я

к а ж д о г о

отдельного о б р а з ­

ца. Кроме

того, трехзондовый метод

не может

быть ис­

пользован

дл я

контактов,

покрытых

диэлектрической

защитной пленкой. В том случае,

когда

необходимо

про ­

вести большие

серии

измерений,

позволяющих

статисти­

ческими

 

методами

оценить

переходное

 

сопротив­

ление

пленочных

контактов

с

 

заданной

точ­

ностью,

а

т а к ж е

определить

статистическое

рас ­

пределение

образцов

по

переходным

сопротивлениям,

может

быть

применен

следующий

 

метод

[83].

Для

измерения

переходного

сопротивления

изготавлива ­

ют пленочные контакты специальной конфигурации, по­

казанной

на рис. 5.18. Через выводы А и В контакта п р о ­

пускают

известный ток / и измеряют

н а п р я ж е н и е

U на

выводах

С и D. Это не простой

метод

амперметра —

вольтметра, та к как

н а п р я ж е н и е

и

ток

и з м е р я ю т с я

в разных

точках.

 

 

 

 

 

 

Выводы С п D для измерения

н а п р я ж е н и я

и

токо ­

вые выводы А и В

образуют своеобразную

мостовую

136

схему с распределенными параметрами, анализ которой (аналогичный описанному в § 5.1) показывает, что

 

 

U._

Z,Z2

г . _

Z,./2a + Z a / Z ,

 

 

 

-

/ "

Z i + Z 2

[

2atho/

 

 

 

 

 

 

a=V(Zl

+

Zt)yt

 

 

 

 

где Zit

Zo — сопротивления участков пленок,

образующих

контакт;

 

у — переходная

проводимость контакта. Вели­

чины Zi и Z2 могут быть из­

 

 

 

X -1

мерены

 

на специально выде­

 

 

 

ленных

 

для этого

участках

Стандартное

 

нижней

 

 

и

верхней

пленок,

Измеритель­

имеющих

площади,

равные

[сопротивление

 

ная

/±0,0002Он

 

площади

контакта.

По

из­

 

схема

P36f

 

 

 

вестным

 

U, I, Zu Z2

искомая

 

 

 

 

переходная проводимость на­

 

 

 

 

ходится

 

при решении транс­

 

 

 

 

цендентного

 

уравнения

 

 

 

 

(5.24) относительно у . Для

 

 

 

 

этой

цели

может

быть ис­

 

 

 

 

пользована

простейшая вы­

 

 

 

 

числительная машина.

 

 

Микро­

 

Источник

Для удобства

проведения

 

 

вольтметр

 

 

тока

измерения

описанным мето­

 

Ф11В/1

 

 

дом

нужное число

образцов

Рис. 5.19. Установка для изме­

(объем

 

выборки)

объединя­

 

рения

переходного

сопротивле­

ют в нескольких схемах, каж­

ния

пленочного

контакта.

дая

из

 

которых

 

содержит

 

 

 

 

ряд последовательно соединенных контактов и участки для измерения сопротивлений пленок. На рис. 5.19 пока­ зан вариант установки для измерения переходного со­ противления этим методом. Ток в цепи, образованной последовательным соединением измерительной схемы и стандартного сопротивления, обеспечивается источни­ ком тока с высокой разрешающей способностью. Измере­ ние величины тока осуществляется подключением вольт­

метра к зажимам стандартного

сопротивления

в 1 Ом,

а напряжения — подключением

вольтметра ж

потенци­

альным выводам измерительной схемы. Установка по­ зволяет переключать полярности источника питания и измерительного прибора для выявления эффектов вы­ прямления в контакте.

137

Погрешность метода приблизительно пропорциональ­ на измеряемой величине. Поэтому результаты измерения имеют, как правило, логарифмически нормальное рас­ пределение.

Описанный выше метод особенно удобен в тех слу­ чаях, когда 'постоянно требуется проведение измерения переходного сопротивления боль­ шого количества образцов, на­ пример при исследовании влия­ ния технологии, различных атмо­ сферных условий и т. п. на пере­ ходное сопротивление или в слу­ чае необходимости постоянного контроля его величины в произ­

водственных условиях.

Рис. 5.20. Измерение

адгезии отрывом.

Измерение адгезии. С точки зрения надежности представляет интерес измерение величины адге­ зии пленочного контакта в целом

к нижележащей подложке, а так-

 

 

же величины

адгезии контактных

 

 

пленок одна

к другой.

Простей­

ший

метод

количественной оценки

адгезии

основыва­

ется

на отрыве слоя при помощи

нормального к его

поверхности

усилия. Так, к пленке/

(рис. 5.20), нанесен­

ной на поверхность подложки 2, с помощью специального клея 3, например, эпоксидной смолы, приклеивают алю­ миниевый штырь 4, к которому прикладывают осевую нагрузку W. Измеряется величина критической нагрузки W, приводящей к отрыву штыря вместе с некоторым уча­ стком пленки площадью А. Последнюю измеряют плани­ метрированием фотографии с известным увеличением, а адгезию F определяют как отношение

F=W'(A.

Этот метод в 'Принципе применим только для оценки ад­ гезии контакта в целом к подложке. Для измерения ад­ гезии пленок друг к другу он не 'пригоден потому, что •сцепление между металлическими пленками всегда силь­ нее, чем сцепление металлических пленок с диэлектриче­ скими подложками. Возможности метода ограничены прочностью используемого клея. Если адгезия 'превышает предел -прочности клея, она, очевидно, не может быть измерена.

138

Измерения, проведенные методом отрыва, обнаружи­ вают сильную дисперсию. По-видимому, результаты весьма чувствительны к составу и режиму затвердева­ ния клея, 'к состоянию поверхностей пленки и штыря, к форме .клееного соединения и т. д. Метод отрыва мож­ но использовать для ориентировочной или сравнительной •оценки низких значений адгезии. -В табл. 5.3 приведены

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а 5.3

 

 

 

Адгезия

тонких

пленок

 

 

 

Пленки

• F

-ю-»

F

.10-»,

F .10-», Н/м*

 

 

мин

 

Н/ма

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Н/м»

 

 

 

•Сг—An (одновременно) к

5,6

 

20.5

11,2

стеклу

 

5,6

 

20,5

11,2

Сг

к

стеклу

 

 

А1

к

стеклу

 

3,1

 

13.0

6,2

Та

к

стеклу

 

8,0

 

21,8

15,6

измеренные методом отрыва значения адгезии некоторых

пленок,

часто применяемых в пленочных

контактах.

В таблице указаны

минимальное

Fima,

максимальное

Рмакс и среднее

F

значения

адгезии для

некоторых

пле­

нок [83].

 

 

 

 

 

 

 

 

Для

более

точного

измерения

адгезии пленок

к подложке или

для измерения

адгезии

пленок

друг

к другу в пленочном контакте может быть использован другой метод [84], основанный на царапании слоя индентором из твердого материала. Установка для измерения адгезии этим методом показана на рис. 5.21.

К жесткому коромыслу 1, установленному на шарни­ ре 2, прикреплена корундовая игла 3 и подвижный груз W0, служащий для компенсации веса индентора и устрой-

W

Рис. 5.21. Схема установки измерения адгезии царапанием.

139

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ