Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

1499

.pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
15.11.2022
Размер:
33.7 Mб
Скачать

пучка необходимо около 106 достаточно коротких дискретных измерений и обеспечение скорости сбора данных, вдвое большей, чем максимальная частота используемого спектра. Это означает, что сигнал, собранный от множества измерительных позиций обеих пластин, должен быть зарегистрирован, обработан и сохранен устройством обработки данных. Это занимает неприемлемо длительное время для применения в промышленных условиях.

На практике оказывается рациональнее оценивать угловое распределение электронов (и рассчитывать эмиттанс пучка) мощных электронных пучков, используя многократное измерение профиля пучка в отличающихся поперечных сечениях, как это предложено в работах [21–23]. В работах [21–23] эмиттанс рассчитывают: а) применяя измерение профиля в двух сечениях при заранее определенной позиции фокуса пучка или б) из результатов трех измерений профиля пучка (распределения его плотности тока) в трех сечениях по длине оси пучка.

Эмиттанс (части р тока пучка) εp и стандартное отклонение связаны:

εp = Cσx σx,

где коэффициент C может быть рассчитан следующим образом

(рис. 1.28):

C= −2ln (1p) 1/ 2 .

Соответствие между эмиттансом εp и произведением σ x и σ xдля осесимметричного пучка при различных частях p тока пучка данов табл. 1.2.

Изменение координат x и xв дрейфовом пространстве (в отсутствие внешних для пучка сил) дается матричным выражением

 

x

1

L

x

(1.26)

 

 

=

 

 

 

.

 

2

 

0

1

 

1

 

 

x '

 

 

x '

 

61

Рис. 1.28. Зависимость коэффициента C от части тока пучка p

Таблица 1 . 2

Соотношение между значениями эмиттанса и частью p от тока пучка

p

0,63

0,78

0,86

0,99

εp

xσx

xσx

xσx

xσx

Здесь индекс «1» относится к поперечному сечению z = z1 до области дрейфа с длиной L и индекс «2» – при z = z2 после этой области.

На базе теоремы о дисперсии суммы двух случайных величин и при отсутствии корреляции между x0 и x0в результате кано-

нической позиции диаграммы эмиттанса в плоскости изображения кроссовера (называемой фокусом или талией пучка) с использованием уравнения (1.26) можно записать систему из трехуравнений:

(σ x1 ) =

(σ

x 0 )+

( L0

1 ) σ

(

x0 )

2

;

2

 

2

 

2

 

 

 

(σ x 2 ) =

(σ

x0 )+

( L02 ) σ(

x0 )

2

;

2

 

2

 

2

 

 

 

 

(σ x3 ) =

(σ

x0 )+

( L0

3 ) σ(

x0 )

2

.

2

 

2

 

2

 

 

 

 

62

Здесь индексы «01», «02» и «03» соответствуют разности координат z для трех поперечных сечений (при этом L0–1 +L1–2 = L0–3 ).

При измеренных дисперсиях σx1, σx2 и σx3 и при известных L1–2 и L1–3 могут быть найдены позиция L0–1 фокуса (или кроссовера) и диспер-

сии σx0 и σx′0. В случае известной позиции фокуса пучка (или талии) два уравнения (или измерение профиля пучка) необходимы для решениязадачи.

Данные, полученные при рассмотрении изображенных на рис. 1.19 профилей пучка, показаны в табл. 1.3.

 

 

 

 

 

T a блица

1 . 3

 

Рассчитанные данные изучаемой электронной пушки

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Величина

 

Значение

 

 

 

 

п/п

 

 

 

 

 

 

 

 

1

P = Im/Ib

0,39

0,63

0,78

0,86

 

0,99

2

K

1,0

2,0

3,0

4,0

 

9,0

3

ar

мм

0,222

0,313

0,384

0,444

 

0,666

4

br

мрад

10,92

15,4

18,9

21,84

 

32,76

5

εp

мм·мрад

2,42

4,85

7,27

9,7

 

21,8

6

εnp

м·рад

1,17

2,35

3,52

4,7

 

10,56

7

(B/U)p

105A/м2·рад2·В

8,87

3,56

1,96

1,22

 

0,277

Примечание: p – часть тока пучка Im, нормированного через общий ток пучка I0; ar и br – значения осей эллипса соответствующей части эмиттанса, включающей выбранную часть тока пучка; индекс р обозначает соответствующие эмиттанс и яркость.

Другой метод расчета эмиттанса использует неподвижную щель и отклоняемый пучок с изменяемой позицией фокуса. Он был предложен в работах [18, 22]. Этот метод может быть применен для оценки эмиттанса в x0x' и y0y' плоскостях. Для достижения цели пучок пересекает две взаимно перпендикулярные щели во входной водоохлаждаемой пластине, и измеряются два сигнала из проходящих через щели электронов (рис. 1.29).

При этом методе из предварительных исследований должна быть известна зависимость между током фокусирующей системы и позицией фокуса (расстоянием между магнитной

63

линзой электронной пушки и фокусом пучка). На рис. 1.30 показана электронно-оптическая схема опыта. Принимаем, что самое узкое сечение пучка (кроссовер или фокус) совпадает с плоскостью изображения zbf1, zbf2 zbfi и оно известно. Важно не путать фокусную длину f электронной линзы с расстоянием от плоскости фокусирующей линзы до плоскости изображения.

Рис. 1.29. Измерение при пересечении пучком двух щелей и переменном положении фокуса пучка

Рис. 1.30. Электронно-оптическая схема прохождения лучами

ирасположение изображения и плоскости изображения

Основное уравнение электронной линзы:

1

+

1

=

1

,

 

zco zfl

zbf zfl

 

 

 

 

f

где zco – позиция кроссовера на оси пучка; zbf – позиция плоскости изображения и фокуса пучка; zfl – позиция магнитной фокусирующей системы пушки.

Для расчета стандартных отклонений нормального распределения электронов в лучевой плоскости фокуса (изображения кроссовера) при различных фокусных расстояниях σi0, …, σn0 рассчитывается коэффициент увеличения ki из выражений

zfl

zco

= ki ;

zbfi

 

zfl

64

σ0i = σ0 ki .

Тогда

(σxi )2 = (σx0i )2 + ( z0i z0 )2 (σx0i )2 .

Из условий ковариации между x и xв канонической позиции диаграммы эмиттанса можно найти σx0i при измерен-

ном σxi.

В работе [24] предложен третий метод оценки эмиттанса через добавление второй тонкой фокусирующей линзы, которая преобразует угловое распределение пучка в радиальное. Изучаемое поперечное сечение до линзы пересекается движущейся щелью по длине x. Выходной сигнал представляет трансформацию xв x. Диаграмма эмиттанса наблюдается непосредственно на экране осциллографа.

Во всех коротко описанных методах с применением одной щели для отбора тока пучка такие параметры, как ширина щели W, толщина модуляционной пластины H (в ее наиболее узкой части – см. рис. 1.24), угол между стенками щели ϕ inϕ out на входном и выходном сечениях щели, расстояние между двумя соседними щелями LS, должны быть оптимизированными для измерения определенного значения эмиттанса.

В конечном счете требования сводятся к следующему. Угловой акцептанс щели должен быть значительно больше, чем максимальный угол расходимости пучка.

Расстояние L между двумя ближайшими щелями должно бытьбольше, чем ожидаемое сечение пучка. Таким образом,

ϕ in 10°; ϕ out 10°;

2H ε <<1; σxi < LS ,

W σ xi

2

где σ xi – размер пучка в центре щели.

65

1.2. КОНСТРУИРОВАНИЕ СВАРОЧНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ ПУШЕК С ТЕРМОКАТОДОМ

Электронные пучки используются широко: как в различных областях физического эксперимента, так и в важных областях современных технологий – в электронике, машиностроении, приборостроении и производстве новых материалов. Можно отметить, что требования к электронным пучкам, применяемым как источники тепла для сварки металлов плавлением, являются довольно специфическими. Ниже будут обсуждаться существенные особенности источников сварочных пучков, их характеристики и особенности их оптимизации.

Устройство, в котором формируется электронный пучок,

называется электронной пушкой или электронно-оптической системой (ЭОС). Часто ЭОС дополнительно разделяют на электростатическую часть, в которой электроны эмитируются, ускоряются и формируются в сходящийся электронный пучок, и на электромагнитные фокусирующие и отклоняющие системы, которые переносят и направляют пучок к свариваемому стыку. В случае электронной пушки для сварки в неглубоком вакууме в ее составе находятся дополнительные диафрагмы, промежуточные камеры и вакуумные насосы для уменьшения потока воздуха и паров металла в пространство, где происходит ускорение электронов. При выводе пучка в атмосферу необходимо предусмотреть и подачу защитного газа. Для улучшения симметрии пучка и обеспечения прохождения пучка через малые отверстия используют дополнительные магнитные элементы и электромагнитные линзы.

Качество пучка связано с плотностью термоэмиссии электронов пучка и самосогласованным формированием траекторий электронов в существующих электрических и магнитных полях электронной пушки. Обычно при технологическом применении электронные пучки действуют непрерывно, но иногда применяются импульсные пучки. Электроды электростатической части

66

электронной пушки находятся в вакууме, что позволяет избежать (или сильно уменьшить) удары электронов с молекулами газов в ускоряющем пространстве пушки. Термоэлектронный эмиттер обеспечивает большой ток в вакууме (p ≤ 10–2 Пa) и приемлемое время жизни (десятки, а часто и сотни часов). Обычно специфические требования к электронным пушкам для сварки металлов следующие: малый эмиттанс, высокая яркость, малые аберрации, высокая концентрация энергии пучка в зоне взаимодействия пучка со свариваемым материалом и устойчивая и надежная работа. Дополнительные требования: легкая замена катода, малые потери пучка (т.е. пренебрежимо малое количество электронов пучка, достигающих электродов пушки), простая конфигурация электродов, плавная регулировка тока в широком диапазоне; быстродействующий вакуумный затвор, изолирующий пространство ускоряющего промежутка ЭОС от пространства сварочной камеры (что позволяет, открывая камеру при смене свариваемого изделия, оставить горячие части катодного узла в вакууме).

1.2.1.Термоэмиссия в электронной пушке с термокатодом

Электроны в сварочной электронной пушке эмитируются с термоэмиссионного катода, который обеспечивает поступление необходимого количества свободных электронов. Плотность тока je термоэлектронной эмиссии с катода, нагретого до температуры Tк, дается уравнением Ричардсона – Дэшмана (Richard-

son – Dushman):

je

= ATк2 exp

eφ

 

,

(1.27)

 

 

 

 

kTк

 

 

где e ϕ – работа выхода материала эмиттера (ϕ

– глубина потен-

циальной ямы, в которой находятся электроны металла катода);

67

e – элементарный заряд одного электрона; k – константа Больцмана, равная 1,38·10–23 Дж·К–2 ; A – константа, зависящая от материала катода и конструкции электродов. Теоретическое значение A равно 120 A/(cм2·К2).

В диодной системе (простейшая двухэлектродная конструкция генерации термоэмиссионного тока) заметная величина плотности тока je будет наблюдаться только в случае достаточно большой разности потенциалов (напряжения U), приложенной на промежутке между катодом и анодом. Насыщение эмитированного тока при заданной Tк может быть получено только при больших значениях напряжения (рис. 1.31); при низких значениях напряжения вольт-амперная характеристика управляется законом Чайлда – Ленгмюра (Child – Langmuir, закон 3/2), как это показано на рис. 1.31.

а

б

Рис. 1.31. Вольт-амперная характеристика идеализированного вакуумного диода: а – идеализированный случай, температуры T3 > T2 > T1; б – реально наблюдаемые вольт-амперные характеристики

Для обеспечения высокой плотности тока (или плотности потока энергии) в качестве материалов катода выбирают, например, вольфрам, тантал или LaB6. Выбор этих материалов является

68

компромиссом между плотностью эмитированного тока и скоростью испарения при рабочей температуре в совокупности с низкой скоростью ионного распыления (рис. 1.32–1.34). Эти факторы ограничивают срок службы эмиттера. Свойства материала эмиттера после нагрева (изменение кристаллической структуры, селективное испарение и т.п.) тоже важны при этом выборе. Сравнение упомянутых материалов катода представлено в табл. 1.4. Другие металлы, которые также могут быть использованы в качестве эмиттеров, – это рений и ниобий. Рений обладает похожими на тантал свойствами при высоких температурах.

Рис. 1.32. Плотность тока в зависимости от температуры катода

Рис. 1.33. Относительная скорость ионного травления для W и LaB6

69

Рис. 1.34. Скорость испарения в зависимости от плотности тока

 

 

 

 

Таблица 1 . 4

Эмиссионные свойства катодных материалов

 

 

 

 

 

 

Параметр

Вольфрам

Тантал

Молибден

 

LaB6

ϕ , эВ

4,52

4,07

4,15

 

2,86 (2,36*)

Tк, °C

2300–2700

1950– 2150

1800–2000

 

1000–1600

A, A/cм2·°C 2

60 (70)

60 (55)

55

 

73 (120*)

je, A/cм2

1–10

0,1–0,5

0,000 83

 

1–50

 

 

 

при1600 °C

 

 

Устойчивость

Очень

Плохая

 

Хорошая

кионномутравлению

хорошая

 

 

 

 

Посленагрева

Становится

Остается

 

Активнаяповерх-

 

ломким

мягким

 

 

ность(улучшен-

 

 

 

 

 

наяэмиссия

 

 

 

 

 

при1600 °C)

Обрабатываемость

Плохая

Хорошая

Хорошая

 

Очень плохая

* Данные из работы [39].

70

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]