- •1. Общие свойства волновых процессов.
- •2. Уравнение плоской бегущей монохроматической волны. Волновое уравнение.
- •3. Уравнение электромагнитной волны.
- •4. Энергия и импульс электромагнитной волны.
- •5. Шкала электромагнитных волн.
- •6. Закон отражения и преломления света.
- •7. Полное внутреннее отражение.
- •8. Принцип Гюйгенса и принцип Ферма в геометрической оптике.
- •9. Поляризация света. Естественный и поляризованный свет.
- •10.Поляризация при отражении и преломлении света. Закон Брюстера.
- •11. Поляризаторы. Закон Малюса.
- •12. Вращение плоскости поляризации. Применение поляризованного света.
- •13. Интерференция света. Когерентность источников света.
- •14. Интерференционная картина от двух когерентных источников световых волн.
- •15. Интерференция в тонких пленках. Применение интерференции.
- •16. Дифракция света. Принцип Гюйгенса-Френеля.
- •17. Метод зон Френеля.
- •18. Дифракция на круглом отверстии и экране.
- •19. Дифракция Фраунгофера на одной щели.
- •20. Дифракционная решетка. Формула дифракционной решетки. Применение дифракционной решетки.
- •21.Тепловое излучение. Спектральные характеристики теплового излучения.
- •22. Законы теплового излучения.
- •23. Распределение Планка. Гипотеза Планка о квантовании энергии.
- •24. Фотоэффект. Формула Эйнштейна для фотоэффекта.
- •25. Фотоны. Энергия и импульс фотона.
- •26. Эффект Комптона.
- •27. Волны Де-Бройля. Опыт Девиссона и Джермера по рассеянию электронов на монокристаллах
- •28. Волновая функция и ее физический смысл.
- •29. Принцип неопределенностей Гейзенберга.
- •30. Состав ядра атома. Ядерные силы и их свойства.
- •31. Радиоактивность, виды радиоактивного распада.
- •32. Закон радиоактивного распада.
15. Интерференция в тонких пленках. Применение интерференции.
Интерференцию в тонких пленках можно наблюдать в природе в виде радужного окрашивания этих пленок (масляные пленки на воде, мыльные пузыри, оксидные пленки на металлах), возникающего в результате интерференции света, отраженного двумя их поверхностями.
Пусть плоская монохроматическая волна падает под углом iп на плоскую прозрачную пленку с показателем преломления n и толщиной d
На поверхности пленки в точке А луч разделяется на два: отраженный от верхней поверхности пленки и преломленный. Преломленный луч, дойдя до точки О, частично преломляется в воздух (n0 = 1), а частично отражается в направлении точки С. В ней он снова частично отражается и частично преломляется, выходя в воздух под углом iп. В точке С на поверхность пленки падает луч 2. Вышедший из пленки луч 1' и отраженный от ее поверхности луч 2' накладываются друг на друга. В результате возникает интерференционная картина, которая определяется оптической разностью хода Δ = L1 – L2 между интерферирующими лучами.
Δ = L1 – L2 = n(OA+OC) + (BC + λ0/2)
Добавка к оптическому пути L2, равная λ0/2, обусловлена потерей полуволны при отражении света в точке С от оптически более плотной среды (среды с большим n > 1) в среду, менее плотную (показатель преломления окружающей среды n0 = 1). При таком отражении световая волна меняет фазу колебания на противоположную. Такое изменение фазы соответствует «пробегу» волной дополнительного расстояния λ0/2. Таким образом, добавляя (или вычитая) половину длины волны к разности хода лучей 1 и 2, учитываем изменение фазы колебания луча 2ʹ при отражении в точке С.
Учитывая закон преломления sin iп / sin iпр = n, выразим Δ через угол падения:
Δ = 2d (√ n2 – sin2 iп) + λ0/2.
Два луча дадут интерференционный максимум, если Δ = mλ0 (m – любое целое число), и минимум, если Δ = (m + 1/2) λ0.
Явление интерференции обусловлено волновой природой света; его количественные закономерности зависят от длины волны λ0. Поэтому это явление применяется для подтверждения волновой природы света и для измерения длин волн (интерференционная спектроскопия).
Также явление интерференции применяется для улучшения качества оптических приборов (просветление оптики) и получения высокоотражающих покрытий. Прохождение света через каждую преломляющую поверхность линзы, например, через границу стекло — воздух, сопровождается отражением 4 % падающего потока. Так как современные объективы содержат большое количество линз, то число отражений в них велико, а поэтому велики и потери светового потока. Следовательно, интенсивность прошедшего света ослабляется, и светосила оптического прибора уменьшается. Кроме того, отражения от поверхностей линз приводят к возникновению бликов.
Для устранения указанных недостатков осуществляют просветление оптики — это сведение к минимуму коэффициентов отражения поверхностей оптических систем путем нанесения на них прозрачных пленок, толщина которых соизмерима с длиной волны оптического излучения. Для этого на свободные поверхности линз наносят топкие пленки с показателем преломления, меньшим, чем у материала линзы.