- •Основные требования к объектам исследований.
- •Основные принципы планирования эксперимента.
- •Основные этапы пэ.
- •Требования к параметру оптимизации.
- •Задачи с несколькими выходными параметрами.
- •Факторы.
- •Выбор модели.
- •Геометрическая интерполяция модели.
- •Поверхность отклика будет иметь следующий вид.
- •Допущения относительно свойств модели.
- •Предпосылки выбора модели.
- •Факторный эксперимент.
- •Преимущества факторных экспериментов.
- •Метод варьирования факторов по одному:
- •Полный факторный эксперимент.
- •Алгоритм принятия решения при выборе основного уровня.
- •При выборе интервала варьирования необходимо учитывать:
- •Полный факторный эксперимент 2 типа.
- •Геометрическая интерпретация пфэ 22.
- •Приемы построения матриц.
- •Свойства пфэ типа 2k.
- •Построение математической модели на основе пфэ.
- •Дробный факторный эксперимент.
- •Минимизация числа опытов.
- •Правила минимизации числа опытов.
- •Дробная реплика.
- •Порядок проведения эксперимента.
- •Оценка значимости результатов опытов
- •Проверка однородности дисперсии.
- •Критерий Фишера.
- •Критерий Кохрена.
- •Обработка результатов эксперимента.
- •Система нормальных уравнений мнк.
- •Геометрическая интерпретация уравнений(коэффициентов) регрессии.
- •Условие корректного применения регрессионного анализа.
- •Проверка значимости коэффициентов регрессии.
- •Проверка адекватности модели.
- •Методы поиска оптимума функции.
- •Шаговый метод.
- •Анализ результатов моделирования процессов.
- •Принятие решения после принятия решения.
- •Выделение существенных факторов.
- •Насыщенность плана:
- •Насыщенные дробные факторные планы.
- •Насыщенный эксперимент, планы Плакетте – Бермана.
- •Построение матриц.
- •Метод случайного баланса.
- •Планы для изучения поверхности отклика.
- •План подбора модели 2го порядка.
- •Центральные композиционные планы.
- •Ортогональные планы второго порядка.
- •Рототабельное планирование 2го порядка.
Планы для изучения поверхности отклика.
В большинстве задач по изучению поверхности отклика вид зависимости между откликом и независимыми переменными неизвестен.
Анализ поверхности отклика – последовательная процедура. В начале исследования находимся в точке на поверхности отклика, далекая от оптимума.
Кривизна в системе невелика и приемлемая, оказывается модель 1го порядка, которая позволяет выйти в окрестность оптимума.
Когда область оптимума определена, целесообразно применить более сложную модель (поленом 2го порядка) и провести анализ для локализации оптимума.
Для выбора модели 1го порядка
y=b0+b1x1+b2x2+
существует единственный класс планов минимизирующий дисперсию коэффициентов регрессии bi.
Это ортогональные планы 1го порядка.
План типа 2k не позволяет оценить ошибку эксперимента. Необходимо проверить некоторые опыты.
Наиболее распространенным методом является дополнение плана несколькими наблюдателями в центре, т е введение в план типа 2k несколько центральных точек.
Другим ортогональным планом 1го порядка является СИМПЛЕКС, который представляет собой правильную фигуру с «k+1» вершиной в «k» измерениях.
При k=2 симплекс план – равносторонний
Симплексный план при k=2.
При k=3 – правильный тетраэдр.
План подбора модели 2го порядка.
Для подбора всех коэффициентов полиномов 2й степени план эксперимента должен содержать, по меньшей мере, 3 уровня каждого фактора.
y=b0+b1x1+b2x2+b12x1x2+b11x12+b22x22
Применение плана 3k связано с большим числом опытов. В результате исследований более рациональным является центральное экспозиционное планирование.
Центральные композиционные планы.
Этот план получают достройкой некоторого количества точек к «ядру» плана за который при числе факторов k<5 принимается ПФЭ 2k ; k>5, то за ядро центра композиционного плана принимают полуреплику ПФЭ 2k.
Такой выбор ядра обусловлен тем, что от ядра плана требуется раздельная оценка всех линейных эффектов и эффекты взаимодействия.
Схема и матрица центрального композиционного плана для k=2.
|
№ |
x0 |
x1 |
x2 |
x1x2 |
x12 |
x22 |
y |
План типа 2k |
1 |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
y1 |
2 |
+ |
- |
+ |
- |
+ |
+ |
y2 |
|
3 |
+ |
+ |
- |
- |
+ |
+ |
y3 |
|
4 |
+ |
- |
- |
+ |
+ |
+ |
y4 |
|
«Звезд ные точки» |
5 |
+ |
+2 |
0 |
0 |
α2 |
0 |
y5 |
6 |
+ |
-2 |
0 |
0 |
α2 |
0 |
y6 |
|
7 |
+ |
0 |
0 |
0 |
0 |
α2 |
y7 |
|
8 |
+ |
0 |
0 |
0 |
0 |
α2 |
y8 |
|
Нулевая точка |
9 |
+ |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
y9 |
Из схемы плана ПФЭ 22 (точки 1,2,3,4) добавляется некоторое число n0 опытов в центре плана (точка 9) и 4 «звездных» точек (точки 3-8) с координатами 5(+2;0); 6(-2;0).
Чтобы получить центральный план композиционный план 2го порядка для k=3 к ПФЭ 23 добавляют в звездных точках и число. По точке в центре плана.