- •Электронные твердотельные приборы
- •Часть 1
- •Введение
- •1.1 Общие сведения о полупроводниках
- •1.2. Собственные полупроводники
- •1.3. Электронные полупроводники
- •1.4. Дырочные полупроводники
- •1.5. Токи в полупроводниках
- •Контрольные вопросы
- •2.1. Электронно-дырочный переход в состоянии равновесия
- •2.2. Прямое и обратное включение p-n перехода
- •2.3. Теоретическая вольтамперная характеристика p-n-перехода
- •2.4. Реальная вольтамперная характеристика p-n-перехода
- •2.5. Емкости p-n-перехода
- •Контрольные вопросы
- •3.1. Классификация, разновидности
- •3.2. Стабилитроны
- •3.3. Параметрический стабилизатор напряжения
- •Контрольные вопросы
- •4. Биполярные транзисторы
- •4.1. Физические процессы и токи в транзисторе
- •4.2. Moдyляция ширины бaзы
- •4.3. Статические характеристики
- •4.4. Влияние температуры на статистические характеристики
- •4.5. Малосигнальные параметры и эквивалентная схема
- •4.6. Усилительный каскад на биполярном транзисторе
- •4.7. Частотные свойства биполярных транзисторов
- •Контрольные вопросы
- •5. Полевые транзисторы
- •5.1. Физические процессы в полевом транзисторе с p-n-переходом
- •5.2. Малосигнальные параметры полевого транзистора
- •5.3. Эквивалентная схема полевого транзистора для малого сигнала
- •5.4. Полевые транзисторы с изолированным затвором
- •5.5. Полевой транзистор с плавающим затвором
- •5.6. Полевой транзистор с затвором Шоттки
- •5.7. Усилительный каскад на полевом транзисторе
- •Контрольные вопросы
- •6. Тиристоры
- •Контрольные вопросы
- •Заключение
- •Библиографический Список
- •ОглавлеНие
- •Электронные твердотельные приборы
- •680021, Г. Хабаровск, ул. Серышева, 47.
4.4. Влияние температуры на статистические характеристики
Влияние температуры на положение входной характеристики схемы с ОБ при поддержании неизменным её параметра аналогично её влиянию на ВАХ полупроводникового диода. В нормальном активном режиме ток эмиттерного перехода можно представить формулой Iэ .
С ростом температуры тепловой ток Iэо растёт быстрее, чем убывает экспонента из-за увеличения . В результате противоположного влияния двух факторов входные характеристики схемы с ОБ смещаются влево при выбранном токеIэ на величину (рис. 4.11, а).
Начало входной характеристики в схеме с ОЭ определяется тепловым током коллекторного перехода IКБО который сильно зависит от температуры, так что начало характеристики при увеличении температуры опускается (рис. 4.11, б).
Влияние температуры на выходные характеристики схем с ОБ и ОЭ удобно анализировать по формулам (4.5) и (4.7):
Ik =
и
Ik = .
Снятие выходных характеристик при различных температурах должно проводиться при поддержании постоянства параметров (Iэ = const в схеме с ОБ и Iб = const в схеме с ОЭ). Поэтому в схеме с ОБ при Iэ = const рост Ik будет определяться только увеличением Iкбо (рис. 4.12, а).
а б
Рис. 4.12
Однако обычно Iкбо значительно меньше Iэ, изменение Ik составляет доли процента и его можно не учитывать.
В схеме с ОЭ положение иное. Здесь параметром является Iб и его надо поддерживать неизменным при изменении температуры. Будем считать в первом приближении, что коэффициент передачи не зависит от температуры. ПостоянствоIб означает, что температурная зависимость Ik будет определяться слагаемым Iкбо. Ток Iкбо(как тепловой ток перехода) примерно удваивается при увеличении температуры на 10 0С, и при >> 1 прирост токаIкбо может оказаться сравнимым с исходным значением коллекторного тока и даже превысить его.
На рис. 4.12, б показано большое смещение выходных характеристик вверх. Сильное влияние температуры на выходные характеристики в схеме с ОЭ может привести к потере работоспособности конкретных устройств, если не принять схемотехнические меры для стабилизации тока или термостатирование.
4.5. Малосигнальные параметры и эквивалентная схема
Характеристики транзистора нелинейны. Однако если он находится в некотором режиме (режим определяется током через транзистор и напряжений на его электродах), то при малом изменении токов и напряжений участки характеристик можно считать отрезками прямых. В таком случае для малых сигналов транзистор можно представить линейным четырёхполюсником. Он описывается системой двух линейных алгебраических уравнений:
. (4.8)
Применение h-параметров (а не y-параметров, z-параметров и др.) обусловлено тем, что для их экспериментального определения необходимо производить короткое замыкание на выходе и холостой ход на входе. Так как транзистор имеет низкоомный вход и высоокоомный выход, то эти режимы легко осуществимы.
Зададим приращения токов и напряжений в виде малых гармонических колебаний. Тогда уравнения (4.8) можно записать
U1m = h11I1m + h12U2m
I2m = h21I1m + h22U2m. (4.9)
Уравнениям (4.9) соответствует эквивалентная схема (рис. 4.13).
Из (4.9) вытекают смысл и наименованиеh-параметров:
h11= – входное сопротивле- ние транзистора при коротком замыкании на выходе для переменной составляющей тока;
h12= – коэффициент обратной связи по напряжению при разомкнутом входе для переменной составляющей тока;
h21= – дифференциальный коэффициент передачи тока при коротком замыкании на выходе для переменной составляющей;
h22= – выходная проводимость транзистора при разомкнутом входе для переменной составляющей тока.
На высоких частотах между переменными составляющими токов и напряжений появляются фазовые сдвиги и параметры становятся комплексными.
При этом (4.9) записываются в виде
(4.10)
.
H-параметры легко найти по входным и выходным характеристикам. Например, для схемы с ОЭ определение h-параметров поясняют рис. 4.14 и 4.15.
; ;
; .
Рис. 4.14 Рис. 4.15
Для правильного нахождения параметров необходимо следить за тем, чтобы положение точки А (рабочей точки), в окрестности которой определяются параметры и координаты которой задают режим транзистора, на входных и выходных характеристиках соответствовало одному и тому же режиму.