- •Содержание
- •Глава 1 Случайные числа 7
- •Глава 2 Статистическое моделирование структуры материалов 18
- •Глава 3 Статистическое моделирование трансформации возбуждений в материалах фотоники 76
- •Введение
- •Глава 1 Случайные числа
- •1.1 Вероятность. Случайные величины с дискретным и непрерывным распределением
- •1.2 Получение и тестирование случайных чисел.
- •1.3 Преобразование случайных величин [3,5]
- •Глава 2 Статистическое моделирование структуры материалов
- •2.1 Основные представления о структуре стекла
- •2.2 Характеристики структуры. Статистические структурные модели
- •2.3 Релаксация структурных моделей методом Монте-Карло
- •2.4 Применение метода молекулярной динамики для моделирования структуры стекла и его физических параметров.
- •2.5 Неупорядоченная плотнейшая упаковка шаров.
- •2.6 Модель неупорядоченной сетки связей
- •2.7 Проблемы моделирования спектров лазерных материалов, активированных ионами рзэ.
- •2.8 Расчёты штарковской структуры спектров рзэ на основе кластерной стохастической модели.
- •2.9 Статистическое моделирование самоорганизации линейных дислокаций
- •Глава 3 Статистическое моделирование трансформации возбуждений в материалах фотоники
- •3.1 Процессы безызлучательной передачи возбуждений между оптическими центрами и их экспериментальные проявления
- •3.2 Микроскопическая модель передачи возбуждений для пары центров
- •3.2 Макроскопический подход. Метод балансных уравнений
- •3.4 Спектральная миграция. Моделирование на основе балансных уравнений.
- •3.5 Статистическое моделирование спектральной миграции методом Монте-Карло
- •3.6 Моделирование методом Монте-Карло ап-конверсионного тушения люминесценции эрбиевых лазерных стёкол.
- •3.7 Моделирование концентрационной деполяризации люминесценции
- •Заключение
- •Литература
- •Приложение
Приложение
Расчёт поля лигандов и штарковских расщеплений
Воздействие лигандов на состояния РЗ иона рассматривается в рамках теории возмущений для вырожденных уровней. При этом возмущение представляется в виде разложения по сферическим функциям, в котором в случае рассмотрения штарковских расщеплений достаточно ограничиться значениями n=2, 4, 6:
(i,i) |
(П.1) |
Здесь – параметры поля лигандов; i,i – угловые координаты 4f электрона; i – номер 4f электрона, (i,i) – сферические функции, связанные с обычной формой соотношением:
|
(П 2) |
Параметры поля лигандов вычисляются по значениям координат атомов, составляющих ближайшее окружение РЗ иона.
Практические расчёты по вычислению матричных элементов возмущения сильно упрощаются при использовании метода «эквивалентных операторов» Стивенса [П 1, П 2]., в котором сферические функции заменяются их линейными комбинациями и выражение (П.1) переписывается в виде:
(i,i) |
(П.3) |
Здесь – «эквивалентные операторы». Полные таблицы матричных элементов этих операторов, вычисленные для состояний с определёнными значениями и , приведены в книгах [П.2].
вещественные параметры кристаллического поля. Они связаны простыми соотношениями с параметрами .
приведённые матричные элементы (коэффициенты Стивенса), в которых заключена специфика рассматриваемого атомного состояния. Для большинства уровней всех редкоземельных ионов численные значения этих параметров приведены в книге [П.2].
При использовании выражения (П.3) для анализа экспериментальных данных по штарковской структуре кристаллов параметры кристаллического поля , обычно, находятся путём подгонки расчёта с экспериментом. Для симметричных центров это удаётся сделать однозначно, так как число штарковских энергий существенно превышает число параметров .
При моделировании параметры кристаллического поля (или ) приходится рассчитывать на основе микроскопической модели воздействия лигандов на состояния РЗ ионов. В случае если воздействие окружения на состояния РЗ ионов является исключительно кулоновским, явное выражение для параметров имеет следующий вид:
|
(П.4) |
Здесь – сферические координаты -го иона матрицы: заряд -го иона в единицах заряда электрона « »: – среднее значение n-ой степени радиуса 4f-электрона: – константа, введённая для учёта экранировки электростатического поля, действующего на 4f‑электроны; – числовые коэффициенты [П 2].
– тессеральные гармоники, которые связаны со сферическими функциями следующим образом:
|
(П5) |
Параметры поля лигандов преобразуются при вращении системы координат как компоненты неприводимых тензоров второго, четвёртого и шестого рангов. Их усреднение по ансамблю неоднородных центров, где нельзя выбрать одинаковым образом локальные системы координат, не имеет смысла. Поэтому в качестве средних характеристик поля лигандов целесообразно использовать квадратичные инварианты соответствующих тензоров [П 3].
|
(П6) |
Для расчётов параметров , инвариантов , штарковских расщеплений и спектров последовательно рассматривались два варианта модели поля лигандов: (а) кулоновская модель и (б) суперпозиционная модель, предполагающая, что воздействие лигандов на РЗ ион сводится к перекрыванию их оболочек с 4f оболочкой [П 4].
Литература к приложению
П1 Альтшулер С.А., Козырев Б.М. Электронный парамагнитный резонанс. 2-е изд. – М: Наука,1972. – 672 с.
П2 Кустов Е.Ф., Бандуркин Г.А., Муравьёв Э.Н., Орловский В.П. п3. Электронные спектры соединений редкоземельных элементов, М.: Наука, 1984, 304 с.
П3 Пржевуский А.К., Инвариантные параметры и статистическое моделирование оптических центров РЗЭ в стёклах В сб. «Спектроскопия кристаллов» Л.: Наука, 1983, С. 82-95.
П4 Newman D.J. Theory of lanthanide crystal fields Advances in Pysics, 1971, v.20, p.197-256/