- •Вопрос №1
- •Вопрос №2.
- •Вопрос № 3.
- •15. Связь к и Vλ и их определние
- •16. Световые величины
- •17. Различие светового и энергетического потоков в диапазоне 400-700 нм.
- •Вопрос №4.
- •18.Фотоактиничный поток. 19. Общие сведения об эффективном потоке. 20. Монохроматический и интегральный потоки. 21. Актиничность
- •18. Фотоактиничный поток.
- •19. Общие сведения об эффективном потоке.
- •20. Монохроматический и интегральный потоки.
- •21. Актиничность
- •Вопрос №5.
- •Вопрос № 6.
- •27. Источники света. 28. Их спектральная характеристика. 29. Классификация источников света по типу излучения. 30. Формулы Планка и Вина.
- •31. Их применимость. 32. Методы определения спектральных характеристик не тепловых источников света.
- •29. Классификация источников света по типу излучения.
- •30. Формулы Планка и Вина.
- •Вопрос №7.
- •35. Классификация по геометрическим величинам: точечный и протяженный источники света, фотометрическое тело.
- •Вопрос №8.
- •36.Преобразование излучений оптическими средами.
- •37. Понятие оптической среды. 38. Характеристики преобразования излучения: световые коэффициенты, кратности, оптические плотности, связь между ними.39.
- •37. Понятие оптической среды.
- •38. Характеристики преобразования излучения: световые коэффициенты, кратности, оптические плотности, связь между ними.
- •40 Классификация:
- •43. Эффективная плотность.
- •Вопрос №9
- •44. Закон Бугера - Ламберта- Бера.
- •45. Величины, связываемые законом.
- •46. Смысл показателей χ ,к.
- •47. Аддитивность оптических плотностей.
- •49. Закон Ламберта.
- •50. Индикатрисы светорассеяния, мутность сред.
- •2. Мутность сред.
- •Вопрос № 10.
- •54 Порог различения
- •55. Метод измерения светлоты в порогах
- •Вопрос № 11
- •Вопрос №12.
- •69.Элементарные слои фотоматериала.
- •Вопрос №13.
- •Вопрос № 14
- •76. «Привязка» характеристической кривой.
- •77. Связь расположения осей с константой клина.
- •78. Нахождение сенситометрических величин с использованием бланка.
- •Вопрос № 15
- •Вопрос № 16.
- •Вопрос №17.
- •83. Образование скрытого изображения
- •84. Две стадии процесса
- •Вопрос 18 Вопрос № 19.
- •Вопрос № 20.
- •91. Составные части проявителя. 92. Проявляющие вещества. 93. Активные группы. 94. Ускоряющие вещества. 95. Диссоциация и активная форма проявляющих веществ. 96. Консервирующие вещества.
- •97. Противовуалирующие вещества.
- •Вопрос № 21.
- •98. Кинетика проявления. 99. Определения термина. 100. Кривые кинетики и их построение. 101. Влияние состава проявителя.
- •Вопрос № 23.
- •22.2. Назначение сенситометрического экспонирования.
- •22.3. Принцип устройства сенситометра.
- •Вопрос № 24.
- •23.5. Классификация материалов по их спектральной чувствительности.
- •Вопрос № 25.
- •24.1 Общие сведения о спектральной сенситометрии.
- •24.1 Общие сведения о спектральной сенситометрии.
- •Вопрос № 26
- •25.1 Градационные характеристики объекта и изображения.
- •25.2 Определение термина «градация».
- •25.3 Логарифмические характеристики общего контраста.
- •25.4 Градационные кривые.
- •Вопрос № 27 ( вроде как не нужен)
- •26.1 Градационные графики негативного и позитивного процессов.
- •Вопрос № 30
- •27. 5. Методы получения резольвометрической кривой.
Вопрос № 15
Проявление фотографического изображения происходит в течении определенного времени. Изменение оптических плотностей в процессе проявления называют кинетикой проявления. С возрастанием времени проявления положение характеристической кривой непрерывно меняется. Коэффициент контрастности, светочувствительность возрастают, достигают максимального значения, а затем вследствие роста вуали, уменьшаются. Минимальная оптическая плотность растет постоянно. Графики зависимости S, Y, Dmin от времени проявления называют кривыми кинетики проявления. Эти кривые широко используют для оценки свойств фотографических материалов.
Кривые кинетики S=f(tпр), Y=f(tпр) Dmin=f(tпр) строят так, чтобы ось времени проявления (tпр) у них была общей. На оси абсцисс в арифметическом масштабе откладывают время проявления, а на ось ординат в логарифмическом масштабе наносят значения светочувствительности, коэффициента контрастности и минимальной оптической плотности. Построив все кривые кинетики на полулогарифмическом бланке, выбирают время проявления, при котором параметры кривой будут оптимальными.
Краткая характеристика зависимостей характеристической кривой
S- светочувствительность-параметр определяющий положение кривой относительно начала координат.
Светочувствительность- точка с плотностью = Dmin+0.2
Y- коэффициент контрастности, определяет наклон прямолинейного участка характеристической кривой к оси абсцисс
Коэффициент контрастности –это тангенс угла наклона прямолинейного участка характеристической кривой к оси логарифмов экспозиции.
L-фотографическая широта, параметр определяющий протяженность прямолинейного участка характеристической кривой и ее полезной части
Фотографическая широта-проекция прямолинейного участка характеристической кривой на ось логарифмов экспозиции
Lпол.- полезная фотографическая широта
Эти показатели дают представление о характере передачи яркостей оригинала фотографическим материалом.
Минимальная оптическая плотность –это оптическая плотность участков проявленного материала , не получивших экспозиции(Dmin)
Фотографическая широта-проекция прямолинейного участка характеристической кривой на ось логарифмов экспозиции
Вопрос № 16.
Центры чувствительности и центры вуалирования (на микрокристалле)
Центры чувствительности состоят из Ag2S. Чем эмульсия дольше зреет, тем больше центры чувствительности. Но очень большие центры чувствительности превращаются в центры вуалирования. Все фотоматериалы стареют , т.е. растет Dmin. Фотоматериал нужно хранить при t=4 С для большего сохранения.
A LHaL+HV ê Аg+Hal
Если экспозиция средняя ,то образуются устойчивый центр светочувствительности
Чем больше образовывается атомов Ag , то тем быстрее будет происходить проявление.
Если освещенность будет больше или меньше сред. то чувствительность будет уменьшаться. 4 микрокристалла нужно для образования центра чувствительности
Оптимальное время экспонирования H=Et, t-экспонента
Вопрос №17.
83. Образование скрытого изображения. 84. Две стадии процесса. 85. Элементарный акт. 86. Особенности образования скрытого изображения при высоких и низких освещенностях. 87. Регрессия скрытого изображения.