- •Вопрос 4
- •Вопрос 6
- •Вопрос 7
- •8) Интерференция на клине. Полосы равной толщины и равного наклона.
- •Вопрос 9
- •Вопрос 10
- •Вопрос 11
- •12) Дифракция в случае круглого отверстия и круглого диска. Разрешающая способность оптических приборов.
- •13) Дифракция от параллельных лучей на одной щели. Дифракционная решетка и дифракционный спектр.
- •20) Интерференция плоскополяризованных волн. Метод фотоупругости/ анализ упругих напряжений. Искусственная анизотропия, эффект Керра.
- •22) Тепловое излучение и люминесценция. Энергетическая светимость, испускательная способность, поглощательная способность. Абсолютно черное тело.
- •23) Закон Киргофа, Стефана-Больцмана и Вина. Оптическая пирометрия. Распределение энергии спектре абсолютно черного тела.
- •Вопрос 29
- •Вопрос 30
- •Вопрос 31
- •Вопрос 32
- •Вопрос 33
- •34) Границы применимости классической механики. Соотношение неопределенностей.
- •Вопрос 35
- •Вопрос 36
- •Вопрос 37
- •Вопрос 38
- •39) Спин электрона
- •40) Распределение электронов многоэлектронных атомов. Принцип Паули. Таблица Менделеева.
- •41) Рентгеновские лучи и их спектры. Закон Мозли.
- •42)Оптические квантовые генераторы излучения/лазер. Открытый резонатор. Лазерная спектроскопия.
- •43) Радиоактивность естественная и исскуственная.
- •44) Методы наблюдения и регистрации элементарных частиц. Камера Вильсона- Скобельцын , пузырьковая камера, счетчик Гейгера-Мюллера, счетчик Черенкова.
- •45)Правила смещения. Закономерности альфа- и бета- распада.
- •46) Единицы измерения радиоактивных излучений.
- •47)Состав и характеристики атомного ядра.
- •48) Объяснение бета распада. Нейтрино.
- •49) Дефект масс, энергия связи и устойчивость атомных ядер. Правило смещения. Гамма-лучи, их происхождение и спектры. Механизм поглощения гамма-лучей веществом.
- •50) Нейтроны, взаимодействие с веществом, методы регистрации. Тепловые нейтроны.
- •51) Исскуственная радиоактивность. Деление тяжелых ядер.
- •52) Цепная ядерная реакция.
- •53) Ядерные реакторы. Основные сведения о ядерной энергетике и проблемах источников энергии.
- •54) Термоядерная реакция. Управляемая термоядерная реакция.
- •55) Элементы физики элементарных частиц.
- •Вопрос 56
- •Вопрос 57
12) Дифракция в случае круглого отверстия и круглого диска. Разрешающая способность оптических приборов.
1. Дифракция на круглом отверстии. Сферическая волна, распространяющаяся из точечного источника S, встречает на своем пути экран с круглым отверстием. Дифракционную картину наблюдаем на экране Э в точке В, лежащей на линии, соединяющей S с центром отверстия (рис. 259). Экран параллелен плоскости отверстия и находится от него на расстоянии b. Разобьем открытую часть волновой поверхности Ф на зоны Френеля. Вид дифракционной картины зависит от числа зон Френеля, открываемых отверстием. Амплитуда результирующего колебания, возбуждаемого в точке В всеми зонами (см. (177.1) и (177.6)),
где знак плюс соответствует нечетным m и минус — четным т.
Когда отверстие открывает нечетное число зон Френеля, то амплитуда (интенсивность) в точке В будет больше, чем при свободном распространении волны; если четное, то амплитуда (интенсивность) будет равна нулю. Если отверстие открывает одну зону Френеля, то в точке В амплитуда А=А1, т. е. вдвое больше, чем в отсутствие непрозрачного экрана с отверстием. Интенсивность света больше соответственно в четыре раза. Если отверстие открывает две зоны Френеля, то их действия в точке В практически уничтожат друг друга из-за интерференции. Таким образом, дифракционная картина от круглого отверстия вблизи точки В будет иметь вид чередующихся темных и светлых колец с центрами в точке В (если т четное, то в центре будет темное кольцо, если m нечетное — то светлое кольцо), причем интенсивность в максимумах убывает с расстоянием от центра картины.
Расчет амплитуды результирующего колебания на внеосевых участках экрана более сложен, так как соответствующие им зоны Френеля частично перекрываются непрозрачным экраном. Если отверстие освещается не монохроматическим, а белым светом, то кольца окрашены.
Число зон Френеля, открываемых отверстием, зависит от его диаметра. Если он большой, то Аm<<A1 и результирующая амплитуда A=A1/2, т. е. такая же, как и при полностью открытом волновом фронте. Никакой дифракционной картины не наблюдается, свет распространяется, как и в отсутствие круглого отверстия, прямолинейно.
2. Дифракция на диске. Сферическая волна, распространяющаяся от точечного источника S, встречает на своем пути диск. Дифракционную картину наблюдаем на экране Э в точке В, лежащей на линии, соединяющей S с центром диска (рис. 260). В данном случае закрытый диском участок волнового фронта надо исключить из рассмотрения и зоны Френеля строить начиная с краев диска. Пусть диск закрывает m первых зон Френеля. Тогда амплитуда результирующего колебания в точке В равна
или
так как выражения, стоящие в скобках, равны нулю. Следовательно, в точке В всегда наблюдается интерференционный максимум (светлое пятно), соответствующий половине действия первой открытой зоны Френеля. Центральный максимум окружен концентрическими с ним темными и светлыми кольцами, а интенсивность в максимумах убывает с расстоянием от центра картины.
С увеличением радиуса диска первая открытая зона Френеля удаляется от точки В и увеличивается угол jт (см. рис. 258) между нормалью к поверхности этой зоны и направлением на точку В. В результате интенсивность центрального максимума с увеличением размеров диска уменьшается. При больших размерах диска за ним наблюдается тень, вблизи границ которой имеет место весьма слабая дифракционная картина. В данном случае дифракцией света можно пренебречь и считать свет распространяющимся прямолинейно.
Отметим, что дифракция на круглом отверстии и дифракция на диске впервые рассмотрены Френелем.
РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ оптических приборов - характеризует их способность давать раздельные изображения двух близких друг к другу точек объекта. Из-за дифракции света изображение точки - кружок (светлое пятно, окруженное кольцами). Наименьшее линейное или угловое расстояние между двумя точками, начиная с которого их изображения сливаются, называется линейным или угловым пределом разрешения. Количественной мерой разрешающей способности обычно служит обратная величина. Разрешающая способность прибора может быть оценена по его аппаратной функции.