- •Вопрос 4
- •Вопрос 6
- •Вопрос 7
- •8) Интерференция на клине. Полосы равной толщины и равного наклона.
- •Вопрос 9
- •Вопрос 10
- •Вопрос 11
- •12) Дифракция в случае круглого отверстия и круглого диска. Разрешающая способность оптических приборов.
- •13) Дифракция от параллельных лучей на одной щели. Дифракционная решетка и дифракционный спектр.
- •20) Интерференция плоскополяризованных волн. Метод фотоупругости/ анализ упругих напряжений. Искусственная анизотропия, эффект Керра.
- •22) Тепловое излучение и люминесценция. Энергетическая светимость, испускательная способность, поглощательная способность. Абсолютно черное тело.
- •23) Закон Киргофа, Стефана-Больцмана и Вина. Оптическая пирометрия. Распределение энергии спектре абсолютно черного тела.
- •Вопрос 29
- •Вопрос 30
- •Вопрос 31
- •Вопрос 32
- •Вопрос 33
- •34) Границы применимости классической механики. Соотношение неопределенностей.
- •Вопрос 35
- •Вопрос 36
- •Вопрос 37
- •Вопрос 38
- •39) Спин электрона
- •40) Распределение электронов многоэлектронных атомов. Принцип Паули. Таблица Менделеева.
- •41) Рентгеновские лучи и их спектры. Закон Мозли.
- •42)Оптические квантовые генераторы излучения/лазер. Открытый резонатор. Лазерная спектроскопия.
- •43) Радиоактивность естественная и исскуственная.
- •44) Методы наблюдения и регистрации элементарных частиц. Камера Вильсона- Скобельцын , пузырьковая камера, счетчик Гейгера-Мюллера, счетчик Черенкова.
- •45)Правила смещения. Закономерности альфа- и бета- распада.
- •46) Единицы измерения радиоактивных излучений.
- •47)Состав и характеристики атомного ядра.
- •48) Объяснение бета распада. Нейтрино.
- •49) Дефект масс, энергия связи и устойчивость атомных ядер. Правило смещения. Гамма-лучи, их происхождение и спектры. Механизм поглощения гамма-лучей веществом.
- •50) Нейтроны, взаимодействие с веществом, методы регистрации. Тепловые нейтроны.
- •51) Исскуственная радиоактивность. Деление тяжелых ядер.
- •52) Цепная ядерная реакция.
- •53) Ядерные реакторы. Основные сведения о ядерной энергетике и проблемах источников энергии.
- •54) Термоядерная реакция. Управляемая термоядерная реакция.
- •55) Элементы физики элементарных частиц.
- •Вопрос 56
- •Вопрос 57
Вопрос 7
Тонкой называют пленку, толщина которой сравнимо с длиной падающей волны. Интерференцию света по методу деления амплитуды во многих отношениях наблюдать проще, чем в опытах с делением волнового фронта. Один из способов, использующих такой метод, – опыт Поля.
В опыте Поля свет от источника S отражается двумя поверхностями тонкой прозрачной плоскопараллельной пластинки (рис. 8.7).
В любую точку P, находящуюся с той же стороны от пластинки, что и источник, приходят два луча. Эти лучи образуют интерференционную картину.
Рис. 8.7
Для определения вида полос можно представить себе, что лучи выходят из мнимых изображений S1 и S2 источника S, создаваемых поверхностями пластинки. На удаленном экране, расположенном параллельно пластинке, интерференционные полосы имеют вид концентрических колец с центрами на перпендикуляре к пластинке, проходящем через источник S. Этот опыт предъявляет менее жесткие требования к размерам источника S, чем рассмотренные выше опыты. Поэтому можно в качестве S применить ртутную лампу без вспомогательного экрана с малым отверстием, что обеспечивает значительный световой поток. С помощью листочка слюды (толщиной 0,03 – 0,05 мм) можно получить яркую интерференционную картину прямо на потолке и на стенах аудитории. Чем тоньше пластинка, тем крупнее масштаб интерференционной картины, т.е. больше расстояние между полосами.
Просветле́ние о́птики — это нанесение на поверхность линз, граничащих с воздухом, тончайшей плёнки или нескольких плёнок одна поверх другой. Это необходимо для увеличения светопропускания оптической системы.
Толщина просветляющего слоя (например, кремниевой кислоты) равняется 1/4 длины световой волны. В этом случае лучи,отражённые от её наружной и внутренней сторон, погасятся вследствие интерференции и их интенсивность станет равной нулю.
Наиболее подходящим материалом для просветляющей пленки является фторид бария.
В первых просветлённых объективах добивались понижения коэффициента отражения для лучей зелёного участка спектра (555 нм — область наибольшей чувствительности человеческого глаза), поэтому на отражение, стекла таких объективов имели сине-фиолетовую или голубовато-зелёную окраску («голубая оптика»). Напротив, пропускание света таким объективом максимально на этой длине волны, что приводило к заметному окрашиванию изображения. Условие минимума интерференции для падающего и отражённого лучей: где d - толщина плёнки, n - показатель преломления вещества плёнки. Из этого выражения получается: Кстати, для максимального эффекта, показатель преломления плёнки должен быть равен:
8) Интерференция на клине. Полосы равной толщины и равного наклона.
Интерференция на клине (полосы равной толщины).
Две поверхности, расположение под малым углом α, образуют систему получившую название клин. Клин имеет разную толщину, а поэтому при освещении поверхности клина монохроматическим светом на поверхности клина будут наблюдаться интерференционные максимумы и минимумы (смотри интерференцию на плёнке), т.к. в одних точках поверхности толщина клина соответствует условию наблюдению максимума, а в других – условию минимума.
Оп ределим ширину интерференционной полосы.
Пусть в точке А поверхности клина возникает максимум m-ого порядка. Толщина клина - dm+1. В точке В возникает максимум (m+1)-го порядка. Толщина плёнки в этом месте - dm+1. Условие наблюдения максимума при толщине dm и dm+1:
2dmn=(2m+1)λ/2; 2dm+1n=(2m+3) λ/2.
Вычтем из второго уравнения первое:
dm+1-dm – разность толщины клина в местах наблюдения m-ого и (m+1)-го максимумов. На рисунке 3. Из прямоугольника:
AB=Δy=BD/sinα,
Δy – ширина интерференционной полосы
Если угол при вершине мал, то
α[рад].
Ширина интерференционного минимума или расстояния между соседними минимумами равна ширине интерференционного максимума.