- •Раздел 1 основные сведения о метрологии.
- •Тема 1.1 Основы теории и практики измерений
- •1 Общие сведения.
- •2 Основные понятия, термины, определения.
- •3 Классификация измерительных приборов и их шкал.
- •Тема 1.2 Основы теории погрешностей
- •1 Основные понятия.
- •2 Погрешности прямых измерений.
- •3 Погрешности косвенных измерений.
- •Раздел 2. Средства электротехнических измерений
- •Тема 2.1. Особенности цифровых измерительных приборов
- •Общие сведения.
- •Общие сведения.
- •Принципы построения.
- •Режимы работы и параметры.
- •Тема 2.2. Измерительные генераторы
- •Общие сведения.
- •1 Общие сведения.
- •2 Низкочастотные генераторы.
- •3 Высокочастотные и сверхвысокочастотные генераторы.
- •4 Импульсные генераторы.
- •Тема 2.3. Электронные осциллографы
- •Общие сведения.
- •Общие сведения.
- •Структурная электрическая схема универсального аналогового осциллографа.
- •Осциллографические развертки.
- •4. Разновидности осциллографов.
- •Раздел 3. Измерение основных электротехнических параметров.
- •Тема 3.1. Измерение силы тока
- •Общие сведения.
- •Общие сведения.
- •2 Измерение силы постоянного тока и тока низких частот.
- •3 Измерение силы тока высоких частот.
- •3.2. Измерение напряжения
- •Значения и для напряжений разной формы
- •3.3. Измерение мощности
- •4.2. Метод амперметра—вольтметра
- •4.3. Мостовой метод
- •4.5. Резонансный метод
- •Глава 5. Измерение параметров сигнала
- •5.1. Общие сведения
- •5.2. Измерение частоты и периода повторения сигнала
- •5.3. Измерение фазового сдвига
- •5.5. Измерение амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников
- •Глава 6. Измерение параметров
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Измерение параметров полупроводниковых диодов
- •6.3. Измерение параметров биполярных и униполярных транзисторов
- •6.4. Измерение параметров интегральных микросхем
- •6.5. Логические анализаторы
- •7.2. Информационно-измерительные системы
- •7.4. Виртуальные приборы
4.5. Резонансный метод
Резонансный метод является высокочастотным и основан на использовании электрического резонанса в колебательной системе. На низких частотах колебательные системы с достаточно высокой добротностью создать трудно, поэтому невозможна точная фиксация момента настройки контура в резонанс. Кроме того, габариты колебательной системы на низких частотах непомерно увеличиваются.
Резонансный метод положен в основу работы куметров (Q — характеристика добротности катушек индуктивности, контуров, конденсаторов). Функциональная схема куметра представлена на рис. 4.14.
Рис. 4.14. Функциональная схема куметра
Прибор состоит из ГВЧ, измерительного контура , индикатора резонанса и вольтметра , контролирующего величину входного напряжения. Генератор и индикатор слабо связаны с измерительным контуром, чтобы вносимые ими сопротивления не влияли на параметры контура. Для этого генератор и индикатор соединяются с контуром через емкостные делители напряжения C1, С2. В качестве индикатора резонанса используется электронный вольтметр типа Д — У или электромеханический индикатор выпрямительной системы.
Методика измерения заключается в определении резонансной частоты измерительного контура, состоящего из измеряемого элемента (катушки индуктивности ) и образцового элемента (конденсатора ). Значение (или ) вычисляется по формуле Томпсона:
При измерении индуктивности катушки ее подключают к зажимам 1—2. При этом измерительный контур образован катушкой , с активными потерями , межвитковой емкостью се проводов CL и перестраиваемой образцовой емкостью . Резонанс в контуре на заданной частоте достигается изменением емкости образцового конденсатора. Момент резонанса контура определяется по индикатору . Значение определяется косвенно но расчетной формуле
С помощью приведенной схемы куметра можно определять параметры С, Q, tg и R, подключая измеряемый конденсатор или резистор к зажимам 3—4:
(4.24)
При измерении контур составляется из образцовой катушки и измерительного конденсатора .
Измерение добротности Q можно выполнять методом вольтметров или методом расстройки частоты.
Метод вольтметров состоит в следующем. В контур вводится напряжение известного значения. В момент резонанса измеряется напряжение на контуре. Поскольку больше в Q раз, то
при (4.26)
При постоянстве входного напряжения вольтметр можно градуировать в единицах добротности. Следовательно, этот метод является прямым. Диапазон измерения регулируется изменением подводимого к контуру напряжения .
Метод расстройки частоты (косвенный) состоит в следующем. Контур настраивают в резонанс на частоту (рис. 4.15), при этом фиксируется максимальное показание индикатора резонанса по . Затем контур расстраивают до частот и от резонансной до значения 0,7 , тогда
Рис. 4.15. Резонансная кривая мри измерении добротности метолом расстройки частоты
К достоинствам куметров относится необходимость проведения измерений на рабочих частотах и измерения большого количества параметров; к недостаткам — трудоемкость измерений, большая погрешность измерения (1...5%), причинами которой являются нестабильность напряжения и частоты ГВЧ, неточность градуировки шкалы образцового конденсатора , погрешность приборов и , погрешность считывания показаний.
Контрольные вопросы
1. Перечислите достоинства аналоговых мостов.
2. Перечислите недостатки аналоговых мостов.
3. Какие методы измерения параметров цепей относятся к низкочастотным?
4. Какие методы измерения параметров цепей относятся к высокочастотным?
5. Сколько условий равновесия необходимо выполнить при измерении сопротивления резисторов мостовым методом?
6. Сколько условий равновесия необходимо выполнить при измерении емкости конденсаторов мостовым методом?
7. Почему нельзя использовать мостовой метод на высоких частотах?
8. Какой принцип положен в основу мостового метода?
9. Где применяют метод V—А при измерении параметров R, L, С.
10. На каких частотах используется резонансный метод?
11. Какая формула положена в основу измерения L, С резонансным методом?
12. Индикатор какого типа используется в аналоговых мостах постоянного и переменного тока?
13. Индикатор какого типа используется в аналоговых измерителях добротности?
14. От чего зависит погрешность измерения параметров мостовым методом?
15. Какую погрешность измерения параметров дает резонансный метод?