1 Мета роботи

Дослідити вплив способу кріплення і базування багатогранних твердосплавних пластинок на розміри різця по довжині і оцінити вплив способу базування на точність обробки.

2 Обладнання

• Прилад для розмірного налагодження різців поза верстатом моделі БВ-2012М.

• Пристрій для кріплення пластинок, забезпечуючий різні схеми базування.

• Багатогранні пластинки.

3 Зміст роботи

• Виконати заміри відхилень налагоджуючих розмірів різця при повороті і заміні твердосплавних пластинок для різних схем базування на приладі мод. БВ-2012М.

• Виконати обробку результатів експерименту.

• Зробити висновки про вплив схеми базування, повороту і заміни пластини на точність обробки.

4 Методика виконання роботи

Використання твердосплавних пластинок багатогранної форми забезпечує такі переваги: підвищення стійкості на 25…30% в порівнянні з напайними різцями; виключена пайка твердого сплаву; можливість використання на одній державці пластинок з твердого сплаву різних марок (в залежності від оброблюваного матеріалу), в тому числі із безвольфрамових твердих сплавів і багатогранних пластин із зносостійкими покриттями, можливість безпідна-лагоджуваної обробки деталей визначеної ступені точності.

Одним шляхом реалізації скорозмінної безпідналагоджуваної заміни інструменту на верстатах-автоматах і автоматичних лініях є безпідналагоджуючий поворот і заміна багатогранних твердосплавних пластинок. Це впроваджується на різцях, торцевих фрезах, розточних інструментах. Перевагою даного шляху є відносно невелика затрата

12

часу на заміну зношеної і установку нової пластинки. Так за існуючими нормативами часу на заміну багатогранної пластинки на інструменті становить 0.5…1 хвилину, тоді як аналогічний час для заміни різця в 2…4 рази більше, причому в останньому випадку затрати часу біля 1…3 хв. Припадає на налагодження інструмента на розмір поза верстатом.

Для впровадження безпідналагоджуючої заміни необхідно застосовувати пластинки точного виконання класів допусків А або F за стандартом (ГОСТ 19042-80) і способи кріплення пластин, що забезпечують їх точну установку з базуванням по бокових і опорній поверхнях. Цим умовам задовольняють дві схеми кріплення пластинок, устатковуючи в точності пази корпусу різця – з упором на базу (рис. 1, а), наприклад, за допомогою коливаючого штифта і кріпленням прихватом (рис. 1, б). В цьому випадку точність базування забезпечується точністю розміру пластинки від опорної поверхні до її вершини. При цьому способі базування достигається співпадання напрямків затискного зусилля і зусилля різання, що підвищує жорсткість, а за деякими даними і стійкість різців /1/.

В ряді випадків застосовують кріплення пластинок за допомогою клина з базуванням на штифт (рис. 1, в ГОСТ 21151-75). При цій схемі базування на точність базування впливає не тільки точність розміру пластинки від опорної поверхні до вершини, а і точність виконання отвору в пластинці і його ексцентриситет. В даній роботі використовуються пристрої, які забезпечують базування в закритий паз і на штифт. Послідовність виконання роботи для обох схем базування однакова.

Рисунок 1 – Схеми кріплення і базування багатогранних пластинок на різцях

13

Для виконання роботи необхідно:

1. Установити пристрій на прилад для розмірного налагодження різця поза верстатом і установити на ньому пластинку.

2. По одній з вершин пластинки установити нулеві показання приладу і, закручуючи пластинку виміряти відхилення _ij кожної з вершин від нуля. Вимірювання провести для 3-х пластинок. Результат вимірювань занести в таблицю.

2.1 Устрій приладу БВ-2012М і порядок роботи на ньому.

Прилад складається з литої основи 1 (див. рис. 2), на якій укріплені направляюча каретка 3, лінійка 4 для установки поздовжньої координати і кронштейн ходового гвинта. Нижня каретка 3 переміщується по прямокутних направляючих за допомогою ходового гвинта. Зверху по направляючих нижньої каретки переміщується верхня каретка 5. На правій верхній планці укріплений з мікроскопом 6 для відрахування поперечної координати і стопор. Справа на нижній каретці закріплений кронштейн з мікроскопом 7 відраховування координат в поздовжньому напрямку. На верхній каретці 5 кріпиться кронштейн з візирним мікроскопом 8 і освітлювачем 9, а також лінійка установки поперечної координати. Відраховування координати виконується за допомогою відлікових мікроскопів типу МО. Для відліку розміру необхідно повернути барабан 1 повертаючи його в одному напрямку до визначеного положення, коли видимий штрих лінійки буде установлений в середині бисектора на екрані мікроскопів. Потім з лінійки відлік цілих міліметрів по індексу грубого відліку і сотих часток міліметра за поділками відрахункового барабану.

3. Розрахувати середнє відхилення для кожної пластинки:

,

де і – номер пластинки;

j – номер вершини пластинки;

n – кількість вершин.

14

Рисунок 2 – Схема приладу БВ-2012М

4. Визначити дисперсію відхилення розміру S_A² між пластинками:

,

де n – кількість вершин;

t – кількість пластинок;

_i - середнє відхилення для кожної пластинки;

 – середнє відхилення для всіх пластинок.

5. Визначити дисперсію відхилення розміру всередині пластинки:

,

де і – номер пластинки;

j – номер вершини і-ої пластинки.

6. Визначити загальну дисперсію S:

.

15

7. Визначити чи є істотна різниця в відхиленнях одержаних при повороті і заміні пластинки:

, якщо ,

, якщо .

7.1 Якщо , то заміна пластинки або її поворот не забезпечують одну і ту ж точність, яка відповідно визначається за формулами:

,

де ₁ - точність при заміні пластинки;

- коефіцієнт Стьюдента.

,

де - точність при повороті пластинки.

7.2 Якщо , то заміна пластинки або її поворот забезпечують одну і ту ж точність, яка визначається за формулою:

8. Аналогічно за пунктами 1-7 виконати розрахунки для другого метода базування (на опорну поверхню чи на штифт).

9. Визначити чи є суттєва різниця в відношенні положення вершини для двох методів базування пластинок:

, якщо ;

, якщо .

16

9.1 Якщо , то обидва методи базування забезпечують одну і ту ж точність, тоді визначаємо загальну дисперсію:

;

.

Відхилення визначаємо за формулою:

9.2 Якщо , то обидва методи базування не забезпечують одну і ту ж точність.

Для визначення F_кр приймається:

;

.

10. Зробити висновки про вплив заміни базування, повороту і заміни пластинок на точність обробки.

17

Таблиця дисперсного аналізу

№ пл.	№ верш.	Покази приладу
Базування на опорну поверхню
1	1
	2
	3
	4
	5
2	1
	2
	3
	4
	5
3	1
	2
	3
	4
	5
Базування на штифт
1	1
	2
	3
	4
	5
2	1
	2
	3
	4
	5
3	1
	2
	3
	4
	5

18

Додаток 1