
- •Вопрос 1. Измерение. Измерительная техника. Метрология (основные понятия). Роль измерений в современном мире.
- •Вопрос 2 Физическая величина и ее характеристики
- •Вопрос 3 . Принцип построения шкалы физической величины.
- •Вопрос 7 Классификация измерений по способу получения результата.
- •Вопрос 4 Основные характеристики измерений.
- •Вопрос 5 Ед-цы и системы ед. Физ. Вел-н. Принцип построения системы ед. Физ. Вел-н. Международная система ед. Физ. Вел-н.
- •Вопрос 6 Классификация измерений. Виды измерений.
- •Вопрос 8. Выбор однократных и многократных измер.
- •Вопрос 13. Случайная погрешность измерений. Математическое описание случайных погр. Измерений.
- •Вопрос 15. Классификация средств измерений.
- •2) По метрологическому назначению:
- •3) По виду
- •Вопрос 16. Классификация средств измерений по виду
- •2) Измер. Устр-ва:
- •3) Измер. Установки
- •4) Изм. Системы
- •Вопрос 19. Статическая характеристика и параметры измерительных устройств.
- •Вопрос 20. Динамическая характеристика и параметры измерительных устройств.
- •Вопрос 21. Погрешности измерительных устройств (классификация).
- •Вопрос 24. Понятия: размах и вариация.
- •Вопрос 26. Номинальная и реальная функции преобразования измерительных устройств.
- •Вопрос 28. Егсп, принципы построения. Классификация измерительных устройств в егсп.
- •Вопрос 29 Измерительный эксперимент. Априорная информация об объекте измерений. Принцип постановки измерительного эксперимента.
- •Вопрос 30 Методики выполнения измерений
- •Вопрос 31. Методы обнаружения и исключения систематической погрешности измерений.
- •Методы исключения систематич. Погр.
- •Вопрос 32. Обработка экспериментальных данных прямых многократных измерений.
- •Вопрос 33. Обработка экспериментальных данных косвенных многократных измерений
- •Вопрос 34. Обраб. Эксперим. Данных совместных измер.
- •Вопрос 35. Обработка экспериментальных данных прямых и косвенных однократных измерений
- •Вопрос 36. Поверка средств измерений. Методы поверки (метод непосредственного сличения и метод прямого измерения величины, воспроизводимой мерой).
- •Вопрос 9. Методы измерений и их классификация.
- •1) Метод непоср. Отсчёта
- •2) Метод сравнения с мерой
- •2) Метод сравнения с мерой.
- •Вопрос 12. Классиф. Погр-тей измерений и их природа. Погрешность измерения - отклонение результата измерения X от истинного значения Xи измеряемой величины:
- •Погрешности:
- •1) Систематическая
- •Случайная.
- •Вопрос 18. Элементы измерит. Устройств.
- •Вопрос 22. Нормирование метрологических характеристик измерительных устройств.
- •Вопрос 21. Погрешности измерительных устройств (классификация).
- •Вопрос 27. Структурные схемы и метрологические хар-ки измерительных систем.
- •Метрологические хар-ки.
Вопрос 13. Случайная погрешность измерений. Математическое описание случайных погр. Измерений.
Погрешности измерений принято выражать суммой двух составляющих, называемых случайной и систематической погрешностями измерений:
= + . |
(1.3) |
Случайная погрешность измерения - составляющая погрешности измерения, изменяющаяся случайным образом при повторных измерениях одной и той же величины.
Для выявл. необх. провод. многократные измер. В рез-те таких измер. получ. совокупность знач. измер. вел-ны Х и сотв-их им . Для обраб. получ. совокупности знач. Х и прим. методы матем. статистики и теор. вероятности. В соотв. с данными методами предполаг., что вел-ны Х и явл. непрерывными случ. вел-ми, т.е. имеют безчисленное множество знач. при бесконечном числе измер.
Матеем. описание непрер. случ. вел-н осущ. с пом-ю диффер. з-нов распред. случ. вел-ны. Эти з-ны опред. связь между случ. вел-ной и плотностью её распред. в данной точке (плотностью вер-ти). Р(х) = f(х).
Наиб. часто примен. равномерный и нормальный з-н распред.:
Р(х)
Р(х) = 1 / (σ√2π) * е-(х – М(х))^2 / 2σ^2
М(х)
Х
σ
Для получения кривой распред. для , начало корд. переносят в точку М(х) – матем. ожидание.
Р() = 1 / (σ√2π) * е-0,5(/σ)^2
Хар-ками норм. з-на распред. явл.:
1) М(х) 2) σ – среднеквадрат. отклонение
М(х) – знач. случ. вел-ны вокруг котор. группируются рез-ты отдельн. измер.
σ – хар-ет рассеивание рез-тов отдельн. измер. относит. М(х).
σ геометрически опред. как расстояние от оси симметрии кривой до точки её перегиба.
σ – хар-ет точность проведённых измер. Чем < σ, тем выше точность измерений.
Для количеств. оценки объективной воз-ти появления того или иного знач. случ. вел-ны служит понятие вероятности (Р). Выраж. в долях единицы.
Чтобы опред. Р попадания рез-та отдельн. измер. в заранее заданный интервал значений [-д; +д] необх. найти площадь под кривой распред. случ. вел-ныогранич. этим интервалом, т.е.:
Р = 1 / (σ √2π) * ∫е- 0,5(/σ)^2 d
Вычислить аналитически данный ∫ невозможно. Он приводится в виде таблиц, где даются его ≈ значения в долях единицы. На практике реш. обратная задача:
- задаются доверительные вероятности
- по таблице опред. знач. интервала.
∆д – доверит. интервал – интервал знач. случ. вел-ны, кот. с заданной вер-ю Р накрывает истинное знач. случ. вел-ны.
Наиболее часто исп. интервалы:
∆д Рд
± 2/3σ 0,500 50% не входят в интервал
± 2 σ 0,950 5%
± 3 σ 0,997 0,3%
Равномерный з-н распределения
0,
при - ∞ <<
- a
Р () = 1/2a, при –а ≤ ≤+а
0, при +а << +∞