- •Вопрос 1. Измерение. Измерительная техника. Метрология (основные понятия). Роль измерений в современном мире.
- •Вопрос 2 Физическая величина и ее характеристики
- •Вопрос 3 . Принцип построения шкалы физической величины.
- •Вопрос 7 Классификация измерений по способу получения результата.
- •Вопрос 4 Основные характеристики измерений.
- •Вопрос 5 Ед-цы и системы ед. Физ. Вел-н. Принцип построения системы ед. Физ. Вел-н. Международная система ед. Физ. Вел-н.
- •Вопрос 6 Классификация измерений. Виды измерений.
- •Вопрос 8. Выбор однократных и многократных измер.
- •Вопрос 13. Случайная погрешность измерений. Математическое описание случайных погр. Измерений.
- •Вопрос 15. Классификация средств измерений.
- •2) По метрологическому назначению:
- •3) По виду
- •Вопрос 16. Классификация средств измерений по виду
- •2) Измер. Устр-ва:
- •3) Измер. Установки
- •4) Изм. Системы
- •Вопрос 19. Статическая характеристика и параметры измерительных устройств.
- •Вопрос 20. Динамическая характеристика и параметры измерительных устройств.
- •Вопрос 21. Погрешности измерительных устройств (классификация).
- •Вопрос 24. Понятия: размах и вариация.
- •Вопрос 26. Номинальная и реальная функции преобразования измерительных устройств.
- •Вопрос 28. Егсп, принципы построения. Классификация измерительных устройств в егсп.
- •Вопрос 29 Измерительный эксперимент. Априорная информация об объекте измерений. Принцип постановки измерительного эксперимента.
- •Вопрос 30 Методики выполнения измерений
- •Вопрос 31. Методы обнаружения и исключения систематической погрешности измерений.
- •Методы исключения систематич. Погр.
- •Вопрос 32. Обработка экспериментальных данных прямых многократных измерений.
- •Вопрос 33. Обработка экспериментальных данных косвенных многократных измерений
- •Вопрос 34. Обраб. Эксперим. Данных совместных измер.
- •Вопрос 35. Обработка экспериментальных данных прямых и косвенных однократных измерений
- •Вопрос 36. Поверка средств измерений. Методы поверки (метод непосредственного сличения и метод прямого измерения величины, воспроизводимой мерой).
- •Вопрос 9. Методы измерений и их классификация.
- •1) Метод непоср. Отсчёта
- •2) Метод сравнения с мерой
- •2) Метод сравнения с мерой.
- •Вопрос 12. Классиф. Погр-тей измерений и их природа. Погрешность измерения - отклонение результата измерения X от истинного значения Xи измеряемой величины:
- •Погрешности:
- •1) Систематическая
- •Случайная.
- •Вопрос 18. Элементы измерит. Устройств.
- •Вопрос 22. Нормирование метрологических характеристик измерительных устройств.
- •Вопрос 21. Погрешности измерительных устройств (классификация).
- •Вопрос 27. Структурные схемы и метрологические хар-ки измерительных систем.
- •Метрологические хар-ки.
Вопрос 27. Структурные схемы и метрологические хар-ки измерительных систем.
Системы строятся по 2-м осн. схемам:
В сист. 1-ого типа осущ. одноврем. измер. всех параметров объекта измер. Измер. инф. формир. с пом-ю первичных изм. преобразователей (1) и поступ. в виде сигналов по каналам связи (4). В зависим. от типа измер. вел-ны, принципа действия преобраз. (1) и расстояния на котор. нужно передать сигнал в состав системы могут входить различные промежуточные (2) и передающие (3) преобразователи. С пом-ю вторичного прибора (5) сигнал измеряется и представляется в форме удобной для наблюдения.
Система 2 осущ. поочерёдное измер. параметров объекта.
Подключ. разл. ветвей сист. осущ. с пом-ю коммутатора (6).
Метрологические хар-ки.
- для их определения представляют, что система сост. из последовательно соединённых преобразователей, каждый из кот. имеет свою ф-ю преобразования. Тогда общ. ф-я преобразования (статич. хар-ка) описыв. выр-ем:
у = fn < … f3 {f2 [f1(x)]} > 1 (1)
Частный случ.: если все ф-ии преобр. эл-тов сист. линейны:
(2)
Динамич. св-ва описыв. с учётом всех передат. ф-ий эл-тов системы: (при последовательном соедин. эл-тов системы)
(3)
При нормировании погр. системы принято приблизительно оценивать приведённую погр-ть:
γ = Σ ji – max значение
С учётом, что погр. эл-тов системы не зависят др. от др. и ф-ии преобразов. их линейны:
γ = √(Σ ji2)