- •Оглавление
- •Введение Световые величины
- •О строении фотопленки и об образовании изображения на ней.
- •Разделы фотографической метрологии.
- •Общие требования к методике испытания
- •Сенситометрия
- •Лаб. Работа №1. Испытания фотопленок методом интегральной сенситометрии
- •1. Сущность метода сенситометрических испытаний
- •2. Сенситометрическая аппаратура. Сенситометр фср-41.
- •2.1. Оптическая схема фср-41
- •2.2. Конструкция фср-41
- •2.3. Вычисление экспозиций в сенситометре
- •2.4. Юстировка сенситометра.
- •2.5. Подготовка сенситометра к работе.
- •2.6. Получение сенситограмм
- •3. Сенситометрическая аппаратура. Денситометр дп-1.
- •3.1. Принцип действия денситометра
- •3.2. Подготовка денситометра к работе
- •3.3. Измерение на денситометре.
- •4. Определение основных сенситометрических параметров фотоматериала.
- •4.1. Сенситометрический бланк
- •4.2. Построение характеристической кривой
- •4.3. Определение плотности вуали d0.
- •4.4. Определение числа светочувствительности (см. Рис.5)
- •4.5. Определение коэффициента контрастности γ и среднего градиента .
- •4.6. Определение фотографической широты Lф и интервала полезных экспозиций l полезн.
- •5. Кинетика процесса проявления
- •Вопросы для защиты работы 1
- •Лаб. Работа №2. Сенситометрические испытания фотобумаг.
- •1. Методика проведения сенситометрических испытаний бумаг
- •2. Определение сенситометрических характеристик фотобумаг
- •2.1. Полезная фотографическая широта.
- •2.2. Средний градиент.
- •Вопросы для защиты работы 2
- •Спектросенситометрия Сущность спектросенситометрического метода
- •Лаб. Работа № 3. Определение эффективной светочувствительности фотоматериала и кратности светофильтра.
- •Вопросы для защиты работы 3
- •Лаб. Работа №4. Спектросенситометрические испытания фотопленок.
- •1. Спектросенситометр исп-73
- •1.1. Оптическая схема и конструкция спектросенситометра исп-73.
- •1.2. Подготовка исп-73 к работе
- •1.3. Получение спектросенситограмм.
- •2. Фотометрическая обработка
- •2.1.Подготовка денситометра дп-1 к работе.
- •2.2.Измерение на денситометре.
- •3. Построение спектральной характеристики фотопленки.
- •Вопросы для защиты работы 4
- •Структурометрия.
- •Лаб. Работа №5. Резольвометрические испытания фотопленок.
- •1. Сущность метода резольвометрического испытания
- •Р регистрограмма ис.20
- •2.Тест-объект
- •3. Резольвометр рп-2м
- •3.1.Функциональная схема резольвометра.
- •3.2. Оптическая схема резольвометра
- •4. Проведение испытаний.
- •4.1. Подготовка резольвометра к работе.
- •4.2. Порядок работы на приборе.
- •4.3. Порядок резольвометрических измерений.
- •Вопросы для защиты работы 5
- •Лаб. Работа №6. Сенситометрические испытания цветных негативных фотопленок.
- •1. Сущность сенситометрического испытания цветных фотоматериалов.
- •2. Строение цветных фотоматериалов.
- •3. Порядок фотохимической обработки цветных негативных фотоматериалов.
- •4. Определение сенситометрических параметров цветной негативной фотопленки.
- •Вопросы для защиты работы 6
- •Приложение 1.
- •Приложение 2
- •Приложение 3
- •Приложение 4.
- •Приложение 5
3. Построение спектральной характеристики фотопленки.
Для построения графика зависимости спектральной чувствительности от длины волны необходимо использовать определение Sλ (см формулу 22)
, где для прибора спектросенситометра ИСП-73: Нλ = Еλ τ lщ t
или после логарифмирования этих выражений
lg Sλ = - lg Hλ D0+1.0 = - (lgEλ + lglщ + lg τ + lg t)D0+1.0 (23)
здесь Еλ – монохроматическая освещенность в фокальной плоскости прибора при длине волны λ в отсутствии ослабителей света (т.е. без диафрагм) и ширине щели спектрографа lщ = 1мм ; t – выдержка, обеспечиваемая затвором при получении спектросенситограммы; lщ – ширина щели спектрографа, установленная микрометренным винтом при получении данной спектросенситограммы; τ – коэффициент пропускания дырчатой диафрагмы, за которой получено изображение спектра. В приложении 4 табл.1 приводятся значения монохроматической освещенности lgЕλ = f (λ) , а также значения коэффициентов пропускания дырчатых диафрагм τi и lg τi для каждого номера i диафрагмы (прил.4, табл.2). Кроме того, значения lg t и lg lщ можно выбрать из приложения 4 табл.3, 4 по величинам выдержки и ширины щели спектрографа, при которых производилось впечатывание спектра.
Результаты спектросенситометрических испытаний представляют в виде графика -кривой спектральной чувствительности lgSλ = f (λ). График строится в полулогарифмических координатах, где по оси абсцисс откладывают значение длины волны λ, а по оси ординат - логарифмы спектральной чувствительности lgSλ фотоматериала .
Рис.17
Обычно используют один из двух способов получения значений Sλ , необходимых для построения кривой спектральной чувствительности.
Первый способ предусматривает построение семейства монохроматических характеристических кривых D = f (lg H λ) (рис. 18 ).
Рис.18.
При этом значения lg Hλ, под действием которых образовались измеренные на денситометре и занесенные в табл 3.1плотности спектросенситограммы, вычисляются по формуле 23 заносятся в ту же таблицу. После этого возможно построение монохроматических характеристических кривых. Затем по каждой монохроматической кривой в соответствии с критерием светочувствительности D кр = D0 +1.0 определяются значения спектральных экспозиций lg Hλ D0+1.0 , под действием которых и сформировалась критериальная плотность почернения Dкр. Последовательность определения Sλ в этом случае аналогична определению общей светочувствительности SD (1.4.4) . По найденным значениям строятся кривая спектральной чувствительности испытуемого фотоматериала (см. рис.17 )
Второй способ определения значения спектральной чувствительности не требует промежуточного расчета спектральных экспозиций и построения монохроматических характеристических кривых. В соответствии с этим способом по данным табл 3.1. необходимо построить на миллиметровке семейство кривых D = f ()τ (см.рис.19). Таких графиков должно быть 13 (по числу диафрагм). На этот же график нанести прямую, соответствующую критерию спектральной чувствительности Dкр = Do + 1,0 (рис.19 ). Дальнейшие вычисления lg Hλ D0+1.0 и, соответственно - lg Sλ ведутся только для тех длин волн λ, при которых достигается плотность Dкр. Эти значения λ, при которых D кр = D0 +1 пересекает каждую из кривых D = f (λ)τ пределяются графически и заносятся в табл. 3.2.
Рис.19
Табл 3.2.
|
lg Eλ |
lg τi |
lg t |
lg lщ |
-lg Sλ=Σ |
1 |
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
… |
|
|
|
|
|
n |
|
|
|
|
|
В эту же таблицу записывают значения lgЕλ, lg τi, lgt и lg lщ из приложения 4 (таблицы 1-4). Причем, lgЕλ выбираются из табл. 4.1. путем интерполирования значений для конкретных длин волн, занесенных в табл.3.2; значения lg τi выбираются из табл. прил.4.2. в соответствии с номером диафрагмы i, при которой получена данная кривая D = f (λ)τ .
После суммирования в соответствии с формулой 23 в последней графе табл.3.2. получают искомые значения - lg Sλ и, наконец, строят искомый график lgSλ = f (λ) (см. рис. 17). В заключении необходимо сделать вывод о типе спектральной чувствительности фотоматериала.