- •ЭЛектрорадиоматериалы
- •Электрорадиоматериалы. Методические указания к лабораторным работам/ – Одесса: Одесская национальная морская академия, 2010. – 56 с.
- •Вступление
- •Лабораторная работа № 1 исследование температурной зависимости диэлектрической проницаемости некоторых диэлектриков
- •Методика проведения эксперимента
- •Емкость плоского конденсатора рулонной конструкции (рис.1.1 б) определяется как: , (1.2)
- •Ход работы
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •1 Диэлектрические материалы
- •2 Поляризация диэлектрика
- •3 Виды поляризации диэлектрика
- •4 Классификация диэлектриков по видам поляризации
- •5 Диэлектрические потери
- •6 Расчет мощности потерь и тангенса угла диэлектрических потерь в диэлектрике
- •7 Виды диэлектрических потерь
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 2 определение параметров собственного и примесного германия
- •Методика проведения эксперимента
- •Ход работы
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •1 Полупроводниковые материалы
- •2 Структура и зонная диаграмма собственных и примесных полупроводников
- •3 Параметры собственных полупроводников
- •4 Параметры примесных полупроводников
- •5. Электропроводность примесных полупроводников.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3 исследование температурной зависимости удельного сопротивления металлических проводников
- •Методика проведения эксперимента
- •Ход работы
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •Проводниковые материалы
- •2. Влияние температуры на удельное сопротивление металлов
- •3 Влияние примеси на удельное сопротивление проводников
- •4 Классификация проводниковых материалов
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4/м Исследование свойств магнитомягких материалов
- •Методика проведения эксперимента
- •Домашнее задание
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •1 Магнитные материалы
- •2 Классификация веществ по магнитным свойствам
- •3 Намагничивание ферромагнетиков
- •4. Потери в магнитных материалах
- •5 Магнитная проницаемость
- •6 Классификация магнитных материалов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
- •ЕлектроРадіоматеріали
- •65029, М. Одеса, вул. Дідріхсона, 8
- •Publish@ma.Odessa.Ua
3 Параметры собственных полупроводников
Собственные полупроводники имеют следующие параметры: ширина запрещенной зоны, эффективная масса, подвижность и концентрация носителей заряда, удельная электропроводимость или удельное сопротивление.
1. Шириной запрещенной зоны называется энергетическая щель, которая разделяет зону проводимости и валентную зону. То есть это энергия, которую должен приобрести собственный электрон, чтобы перейти из валентной зоны в зону проводимости. Согласно определению полупроводника ширина запрещенной зоны более 0 та меньше 3 эВ.
Ширина запрещенной зоны зависит от температуры согласно
, (2.9)
где - ширина запрещенной зоны при температуре Т, К;
- ширина запрещенной зоны при температуре 0 К;
- температурный коэффициент приблизительно равный 10-5-10-4 эВ/К.
За счет малого значения для полупроводников с шириной запрещенной зоны более 1 эВ зависимость (2.9) можно не учитывать. Но если она мала (меньше 0,5 эВ) ее нужно учитывать.
Полупроводники с шириной запрещенной зоны более 2-2,5 эВ называют широкозонными, а с меньше ~0,3 эВ – узкозонными.
2. Эффективная масса носителей заряда. Ею измеряется степень взаимодействия носителей заряда с положительно заряженными узлами кристаллической решётки. Согласно квантовой теории твердого тела поведение электронов, которые находятся в нижней части зоны проводимости, представляется как движение негативно заряженных частиц с позитивной массой, которая отличается от массы свободного электрона. Движение электронов, которые перемещаются в верхней части валентной зоны, ускоряется электрическим полем в направлении обратному ускорению электронов, которые двигаются в нижней части зоны проводимости, то есть можно считать, что масса этих электронов отрицательна. То есть эффективная масса не только отличается от массы электрона, но и может иметь отрицательный знак. Понятие эффективной массы носителей заряда позволяет описывать их движение в твердом теле как свободное перемещение заряженной частицы без учета периодического поля кристаллической решётки.
Эффективная масса носителей заряда обратно пропорциональна ширине той зоны, где он находится. Поскольку ширина разрешенных зон растет с ростом энергии, то обычно эффективная масса дырок больше эффективной массы электронов.
Эффективная масса носителей заряда чаще выражается в долях массы покоя электрона. Например: mp* = 1,01 или mn* = 0,85.
3. Подвижность носителей заряда. Ею называется дрейфовая скорость носителя заряда в поле с единичной напряженностью
, (2.10)
где , - подвижность электронов или дырок [cм2/В·с];
Vдр - дрейфовая скорость;
Е - напряженность электрического поля.
Подвижность носителей заряда зависит от эффективной массы
, (2.11)
где - время релаксации электронов или дырок.
Поскольку эффективная масса электронов меньше эффективной массы дырок, то подвижность электронов выше чем дырок. Подвижность носителей заряда зависит от температуры. В собственных полупроводниках подвижность носителей в первую очередь зависит от тепловых колебаний кристаллической решётки (фононов). Такое явление называется рассеиванием носителей заряда на тепловых колебаниях кристаллической решетки. С ростом температуры амплитуда тепловых колебаний узлов кристаллической решетки растет, поэтому длина свободного пробега электронов уменьшается, то есть уменьшается подвижность носителей заряда. Это уменьшение подчиняется закону
, (2.12)
где А - некоторый коэффициент;
Т - абсолютная температура.
График температурной зависимости подвижной носителей заряда в собственных полупроводниках приведен на рис. 2.6.
4. Концентрация собственных носителей заряда. Концентрацией собственных носителей заряда называют количество носителей заряда (электронов или дырок) в единице объема вещества.
Для не узкозонных полупроводников и не очень большой температуры действительна статистика Максвела-Больцмана. То есть с ростом температуры разрушаются связи между атомами и освобождаются электроны и дырки. Их концентрация равняется
, (2.13)
где NC,NV - количество эффективных уровней в зоне проводимости и валентной зоне, соответственно;
К= 8.62·10-5 эВ/К - постоянная Больцмана;
Т - абсолютная температура.
Зависимость (2.13) чаще задают в координатах , где она линейна, причем угловой коэффициент равняется.
5. Удельная электропроводимость. В общем случае удельная электропроводимость собственного полупроводника определяется для двух типов носителей заряда - электронов и дырок
, (2.14)
где σi - удельная электропроводимость;
e - заряд электрона.
Учитывая (2.8) имеем
. (2.15)
Подстановка в (2.15) выражений (2.12) и (2.13) дает
. (2.16)
Известно, что NC и NV зависят от температуры в степени , тогда
, (2.17)
где σ0 - удельная электропроводимость собственного полупроводника при бесконечно большой температуре.
Удобнее эту зависимость представлять в координатах, где она линейная с наклоном (рис. 2.7). Таким образом, электропроводимость собственных полупроводников растет с ростом температуры за счет увеличения концентрации свободных носителей.