 
        
        - •2. Эл. Детектировать, выпрямлять detection л 1. Раскрытие, обнаружение; 2. Радио детектирование
- •Vacant а 1. Пустой; незаполненный;
- •2 Резонанс victory п победа
- •X rays п икс-лучи, рентгеновы лучи
- •Volve, point. Перевод слов с префиксами dis-, in-, ir-, un-, non-, mal-.
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Первое занятие
- •In reference to - относительно of reference — исходный, отсчет- ный; эталонный reference language — эталонный язык
- •Individual circuit chip — кристалл t малой степенью интеграции master chip — базовый кристалл microchip - микропроцессора бис
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Второе занятие
- •5. Учитесь говорить.
- •Третье занятие Контроль изученного материала
- •Раздел 1 Третье занятие
- •Раздел 1 Третье занятие
- •1.24. 1. Дайте определение типов интегральных схем.
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Перпое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 3• Первое заня ие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3• Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Второе rm
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 4 Третье занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Второе занятие
- •Раздел 5. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 5. Третье занятие
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6. Перв. Е занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 6 Третье занятие
- •Раздел 6. Третье занятие
- •127994, Москва, гсп-4, Неглинная ул , 29/14.
	 
	143 
	ег
	manufacturing
	process, compared with conventional wet chemical etching
	processes. 
	Recently,
	MOS LSI has shifted from LSI phase to VLSI phase, which requires a
	precise pattern less than 3 jam. This transition can be achieved by
	progress in wafer process technology, including microfabrication
	as well as device and circuits design technologies. Conventional
	plasma etching is not adequate in VLSI regions for the delineation
	of precise patterns because of its inherent undercutting
	(подтравливающий)
	effect
	which results in anisotropic profile of an etched pattern. 
	Dry
	etch technologies available for LSI processing are classified
	into plasma etch, sputter etch and ion beam etch, with items such as
	etch mode, apparatus and reaction mechanism. 
		Учитесь
		говорить. 
		Задайте
		10
		вопросов
		(устно) по содержанию основного текста. 
	Тйпы
	вопросов: 
		What
		is the (nature, difference, process, role, importance, etc.) of...
		? 
		What
		is referred to as ... ? 
		What
		is used as ... ? 
		Where
		do we use ... ? 
		What
		function do the holes play? 
		Проверьте,
		знаете ли вы слова. 
		Назовите
		синонимы следующих слов (вы можете
		найти их в основном тексте): 
		matter,
		material п	6.	location,
		spot п 
		compact,
		fixed, set a	7.	place,
		position n 
		peak,
		cap n	8.	empty,
		unoccupied a 
		bad,
		cheap a	9.	exchange,
		replace v 
		convey,
		transport v	10.	shield, defend vРаздел 3 Второе занятие
	
		
		
		
Внеаудиторная работа
		
		
		
	 
	144 
	Микроэлектроника
	настоящее и будущее 
		Переведите
		следующие речевые отрезки из основного
		текста: 
		to
		raise from the top to the bottom 
		the
		electron may be tightly bound to atoms 
		conductivity
		poses a problem 
		to
		improve the resistance 
		modest
		expenditure of епещу 
		the
		dopants are diffused into semiconductor crystals 
		to
		expose the wafer to an oxidizing atmosphere 
		to
		remove the coating 
		to
		protect from harmful effects 
		advances
		in technology 
		the
		deposition of thin films 
		to
		provide precise dimensions 
		to
		select the areas on a wafer 
		to
		involve the use of a glow discharge 
		to
		specify the pattern of each layer 
		Назовите
		термин, исходя из следующих определений: 
		The
		process of introducing impurity into the crystalline structure of
		pure silicon. 
		Any
		substance added in the doping process, such as arsenic. 
		A
		patterned plate used to shield sections of the silicon chip
		surface during the manufacture of integrated circuits. 
		Проверьте,
		как вы умеете оперировать грамматическими
		и лексическими явлениями при переводе. 
	Текст
	3.4 В 
	Переведите
	текст со словарем письменно. Значения
	выделенных слов вы сможете понять из
	контекст а. Озаглавьте текст. 
	An
	integrated circuit is
	comprised
	of a single silicon chip containing transistors, diodes, resistors
	and capacitors, suitably
	connected to form a complete circuit. The first successful attempt
	to produce an integrated circuit, in 1959, made use of mesa
	construction, but this method is known to be quickly replaced by the
	use of planar techniques. 
	The
	important feature of the planar process is the deposition of a
	silicon dioxide layer on the top surface of the epitaxial wafer,
	which acts as a mask against diffusion. The process involves
	exposing the wafer to an oxygen atmosphere at high temperature.
		
		
		
		
		
