Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
РАТНЕР.doc
Скачиваний:
40
Добавлен:
01.04.2015
Размер:
10.18 Mб
Скачать
  1. Интерлюдия вторая – инструменты нанонауки.

"В году 2000, когда они оглянутся на этот век, они удивятся, почему до года 1960 никто серьезно не продвигался в этом направлении" (рис. 4.1). Так сказал нобелевский лауреат, физик Ричард Фейнман в 1960 году о широко обсуждаемой зарождающейся нанотехнологии, но даже его прогноз был немного преждевременен. В то время, когда миниатюризация продолжа­ла развиваться с головокружительной быстротой, машины со­кращались, по одному шагу проходя тот путь, который сейчас мы называем очень долгим нисходящим нанопроизводством. Никто не может мгновенно принять вызов и начать думать сни­зу вверх, и так было до 2000 года (как со сверхъестественной точностью предсказал Фейнман), когда устройства стали разби­ваться на наноскопические структуры, и люди начали спраши­вать: "Почему об этом никто не подумал раньше?".

Причина проста. Не было необходимых инструментов. Ни одна из технологий производства, позволяющих создавать миниатюрные устройства - микроскопические токарные станки, установки для травления, оборудование для литографии в видимом свете, - не работает в наномире. Мы не только не можем манипулировать отдельными атомами и молекулами, мы не мо­жем даже видеть их без электронных и атомных микроскопов.

Причина, по которой нанотехнологии поднялись на поверх­ность в наше время, заключается в том, что возникли инстру­менты, позволяющие видеть, измерять и манипулировать веществом на наноскопическом уровне. Они все еще грубые и тех­нологии их получения неоптимальные, но ситуация быстро меняется. Ученый из Вашингтона может теперь используя только Internet-соединение с лабораторией в Сан-Хосе (Калифорния), переместить отдельный атом на платформе в удаленной лаборатории. Технология продолжает совершенствоваться, и мы сделали "квантовый прыжок в наномир".

Рис. 4.1. Основоположная речь по нанотехнологии, записанная в наномасштабе. Перепечатано с любезного разрешения группы Миркина, Нортвестернский университет

ИНСТРУМЕНТЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАНОСТРУКТУР

Сканирующие зонды

Одними из первых инструментов, которые помогли иниции­ровать нанотехнологическую революцию, были так называемые сканирующие зонды. Все типы сканирующих зондов основаны на идее, впервые разработанной ЛабораториейIBMв Цюрихе в 1980-х. По сути, данная идея проста: если провести пальцем по поверхности, легко отличить бархат от стали или дерево от смолы. Различные материалы с различной силой воздействуют на палец, когда ими проводят по различным поверхностям. В данных экспериментах палец действует как структура измерения силы.

Им легче провести по атласной простыне, чем по нагретой смоле, поскольку нагретая смола оказывает более сильное сопротивление пальцу. Данная идея положена в основу сканирующего микроскопа, одного из распространенных сканирующих зондов. При измерении с помощью сканирующего зонда зонд скользит по поверхности так же, как это делают пальцы.

Зонд имеет наноскопический размер (часто - всего один атом). При движении зонд может измерять несколько различных свойств, каждое из которых соответствует иному измерению. Например, в атомном микроскопе (AtomicForceMicroscope-АРМ) электроника используется для измерения силы, вводи­мой кончиком зонда при его движении вдоль поверхности. Это точно те же измерения, что проводятся скользящими пальца­ми, только сведенные до наноскопических масштабов.

В туннельном микроскопе (ScanningTunnelingMicroscope—STM) измеряется величина электрического тока, проходящего между сканирующим зондом и поверхностью. В зависимости от того, как проводятся измерения, микроскоп можно использовать либо для проверки локальной геометрии (насколько поверхность локально выступает вперед), либо для измерения локальных ха­рактеристик электропроводности. Туннельная микроскопия — это, по сути, первый разработанный метод зондового сканирова­ния, и за его открытие Герд Бинниг (GerdBinnig) и Генрих Рорер (HeinrichRohrer) в 1986 году получили Нобелевскую премию.

В магнитно-силовом микроскопе (MagneticForceMicros­copy-MFM) зонд, сканирующий поверхность, является маг­нитным. Он позволяет почувствовать на поверхности локаль­ную магнитную структуру. ЗондMFMработает подобно счи­тывающей головке винчестера или магнитофона.

Чтобы изображение любого сканирующего инструмента подать человеку, часто используется компьютерное представление, подобное изображению наноскопических счетов, приведенных в главе 1. Это позволяет значительно улучшить необработанные данные, которые будут выглядеть так же хорошо, как призрачное рентгеновское изображение багажа в аэропорту, Впрочем, сканирующие инструменты не могут представить ни чего такого же большого, как багаж; они более полезны для измерения структур на масштабе от одного атома до микромасштаба. Нанотехнология предлагает другие способы ловли лю­дей, провозящих запрещенные предметы.

Существуют и другие сканирующие микроскопы Они называются сканирующими зондами, поскольку основаны на идееSTM. Сканирующий наноскопический зонд, скользящий по по­верхности, используется для изучения наноскопических струк­тур через измерение сил токов, магнитного сопротивления, хи­мической чистоты или других специфических свойств. Пример одного такого зонда приведен на рис. 4.2.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]