_Разное / TKЭT(ШПОРЫ) / 1 / 10(3)
.doc10(3). Влияние дифракционных явлений на результаты фотолитографии
Одним из факторов, ограничивающих разрешающую способность литографии, является дифракция актиничного излучения
В условиях освещения подложки параллельным пучком света при зазоре между подложкой и шаблоном z минимальный размер определяется как
bmin=
где λ - длина волны актиничного излучения; z - зазор; h - толщина пленки фоторезиста
Дифракционные эффекты. Основным критерием, определяющим характер дифракционного перераспределения, является волновой параметр
P=(λz)1/2/D
где D - размер элемента на фотошаблоне. Возможны три принципиально отличающихся случая дифракционного перераспределения интенсивности излучения в зависимости от величины P.
Случай Френкеля (P<< 1) реализуется, когда размеры топологических элементов D достаточно велики, зазор z мал (например в условиях контактной литографии) и мала длина волны актиничного излучения (т.е. коротковолновое излучение - УФ, рентгеновское и т.п.). При этом искажения формы топологического элемента за счет неравномерности распределения излучения оказываются минимальными (рис.6.4,а).
Переходный случай (P ≈ 1) характеризуется тем, что дифракционная картина занимает всю область засветки, и искажения формы топологического элемента достигают максимальных значений (рис.6.4,б).
Случай Фраунгофера (P >> 1) реализуется при малых размерах топологических элементов и большой величине зазора между фотошаблоном и подложкой. Максимальное искажение интенсивности засветки сопряжено с тем, что ее максимум располагается в центре окна (рис.6.4,в). В этом случае при фиксированных величине z и расходимости пучка света можно подобрать условия переноса изображения с незначительными искажениями.
2
3
a) б) в)
Рис.6.4. Дифракционное перераспределение интенсивности актиничного излучения в зависимости от значения волнового параметра:
а - случай Френкеля; б - переходный случай; в - случай Фраунгофера.
1 - шаблон; 2 - область засветки; 3 - пограничная область