где LinUeoJ - интеграл неупругих соударений, учитывающий
процессы возбуждени,я электронных и колебательных (для мо лекулярного газа) состояний и ионизации, N - концентрация нейтральных атомов и молекул массы М, сrт(и)- транспортное
сечение рассеяния, определяемое энергией (скоростью) частиц.
При записи (П2.5) считается, что электрическое поле {5 и его
градиент направлены вдоль оси х, и, следовательно, состояние
электронного газа в направлениях, перпендикулярных оси х,
является пространственно-однородным, т. е. fe = fe (х, и, е, t).
(Здесь 0 - угол между нап~авлением электрического поля и вектором скорости.) Возможны также дальнейшие упрощения
уравнения Больцмана, такие, как, например, предположение об однородности и стационарности электрического и магнитно го полей.
При низких давлениях, когда длина свободного пробега элект
ронов и ионов сравнима с размерами приэлектродных слоев и,
тем более, межэлектродного промежутка, двучленное прибли жение для решения уравнения Больцмана становится неприме нимым. Наиболее адекватной процедурой получения картины разряда является при этом метод Монте-Карло решения кине тического уравнения. В расчетах методом Монте-Карло разыг
рывается вероятный сценарий движения индивидуальных за
ряженных частиц в поле с учетом упругих и неупругих столкно
вений, включая ионизирующие.
Обычно при вычислениях следят за траекториями каждой из
частиц, что даже при оптимальном алгоритме приводит к ог
ромным вычислительным затратам. Самосогласованные расче
ты, включающие решение уравнения для поля, требуют огром
ных затрат даже в случае тлеющего разряда постоянного тока и
применяются лишь для расчета катодного слоя. Поэтому в по
следнее время значительное развитие получили так называе
мые PIC-МСС алгоритмы, позволяющие значительно, по срав
нению с обычным методом Монте-Карло, сократить объем вы числений и ресурсов оперативной памяти. PIC (particle-in-cell)
методы основываются на различных вариантах метода крупных
частиц, успешно используемого для решения широкого круга
задач. Основная идея метода крупных частиц - замена реаль ной «лабораторной» плазмы некоторой модельной плазмой псев дочастиц с большими массой и зарядом, каждая из которых со
стоит из очень многих реальных частиц.
Квазичастицы движутся в соответствии с законами класси ческой механики в самосогласованном электрическом поле и участвуют в столкновениях с нейтральными молекулами, как и
обычные электроны и ионы. Поскольку плотность квазичастиц
в модельной плазме(~ 103 ••• 105 см-3) значительно меньше плот ности зарядов в «лабораторной» плазме (~ 108 ••• 1011 см-3), су
щественно легче реализовать на практике полностью самосо
гласованный алгоритм, в котором траектории квазичастиц и
столкновительные процессы с их участием рассчитываются с
использованием метода Монте-Карло. Поэтому РIС-метод, ком бинированный с методом Монте-Карло (PIC-MCC метод), актив
но применяется для самосогласованного моделирования разря
дов низкого давления.
На основе микроскопического уравнения Больцмана можно
вывести более простые макроскопические гидродинамические
уравнения. Использование гидродинамической модели означа ет, что мы заменяем электронный газ некоторой сплошной заря женной жидкостью, характеризуемой такими параметрами, как
средняя плотность, средняя скорость, давление и коэффициент
вязкости, который определяется частотой столкновений. Макро скопические уравнения гидродинамической модели получают из уравнения Больцмана путем вычисления моментов функции рас
пределения. Вычисление моментов функции f означает умножение f на Q = 1, v, vv и т. д. и интегрирование по пространству ско-
ростей. Еслизависимостьc(f) = ( ~~ Jт описываетполноевлияние
на функцию распределения упругих столкновений, возбужде ния, ионизации, прилипания и рекомбинации, то получаем урав
нение
f Q(~~ )dv + f Qv Vгfdv + f Q(F/т) Vиfdv = f Qc(f) dv. |
(П2.6) |
Нулевой момент функции распределения (при Q = |
1) опреде |
ляет среднюю плотность (концентрацию) электронов |
|
|
n(r, t) = f f(r, v, t) dv. |
|
(П2.7) |
Используя нулевые моменты уравнения Больцмана (при Q = 1
третий интеграл в левой части (П2.6) равен нулю [40]) и функции распределения, получаем из (П2.6) уравнение непрерывности
дп + ~ ( ->) |
(- - - ) - - |
(П2.8) |
дt vгnv |
=nvi-va-vr =nv, |
где величины vi' vа' vr определяют усредненное по скорости из
менение числа электронов в единице объема за единицу времени вследств!lе ионизации, прилипания и рекомбинации. Поскольку ионизация (v;) увеличивает число электронов в объеме, а прили пание (vа> и рекомбинация (v r> его уменьшают, то в правую часть (П2.8) эти величины входят с разными знаками.
Если умножить левую и правую части (П2.8) на заряд части
цы, то уравнение непрерывности можно записать в виде |
|
О.е |
-->-t_- |
|
дt |
+V.,_1-pv, |
(П2.9) |
где р = еп иJ= env - объемна.я плотность заряда и плотность то
ка соответственно.
Первый момент функции распределения относительно ско
рости определяет среднюю скорость частиц
-> -> |
[ |
1 |
] J->f -> -> |
d-> |
v |
0 |
(r, t) = |
|
-_,- |
v (r, v, t) |
v. |
|
|
|
n(r, t) |
|
|
Используя первый момент (Q
(П2.10)
= v) функции распределения
(П2.10) и записывая первый момент уравнения Больцмана (П2.6),
получаем уравнение движения (изменения импульса)
где vт - эффективная частота столкновений с изменением им
пульса.
Для точного нахождения последнего члена в правой части
уравнения (П2.11), который определяет внутреннее давление электронов в рассматриваемой системе, необходимо знать более
высокий (второй) момент функции распределения, задающий вектор теплового потока, выходящего из рассматриваемой сис темы. В случае локального равновесия, когда ведущую роль
играют столкновения частиц (см. пояснение к формуле (П2.1)),
можно связать внутреннее давление ионизованной среды с тем пературой, и тогда последний член в уравнении (П2.11) примет
вид (k~e)(~)V.,_p, гдеk= 1,38 • 10-2зДж/К-:- постоянна.яБольц
Комбинируя уравнения движения заряженной жидкости с уравнениями Максвелла и граничными условиями, можно рас смотреть поведение следующих взаимодействующих подсис тем: электрического поля, подсистемы носителей тока, подсис темы тепловых колебаний атомов кристаллической решетки. Такая система уравнений позволяет анализировать процессы в
электронных приборах, в которых реализуются явления пере
носа (электровакуумные приборы, включая СВЧ-приборы с ди
намическим управлением, полупроводниковые, газоразрядные,
плазменные, оптоэлектрические приборы).
В конечном итоге основные уравнения, используемые при
анализе процессов и построении БАХ приборов, имеют вид
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
(П2.12) |
V·В= О; V· D= р; |
|
|
|
|
|
|
|
|
(П2.13) |
dv0 |
е '_, |
_, |
|
_, |
|
_, |
|
- |
(kTe) (1) --> |
(П2.14) |
- |
=--(S |
+v |
О |
xB)-v |
т |
v |
О |
- |
т |
- |
'V~p· |
dt |
т |
|
|
|
|
|
р |
r ' |
|
р = еп, J= pv, в= µµ0Н, D= ee0 S. |
(П2.15) |
Плотность тока ] и объемная плотность заряда р связаны
уравнением непрерывности (П2.9).
В отсутствие столкновений уравнение непрерывности может
быть получено из уравнений Максвелла (П2.12) и (П2.13). Сис тема уравнений (П2.12-П2.15) является наиболее общей для
корректного описания физических процессов в большинстве электронных приборов, включая электровакуумные приборы
СВЧ с динамическим управлением.
Уравнения магнитной гидродинамики (МГД) весьма сложны
для решения даже в своем самом простом одномерном нестаци
онарном случае. Поэтому аналитические методы их исследова ния могут быть применены только для ряда частных случаев с
дополнительными упрощающими предположениями. Однако в последнее время благодаря бурному развитию вычислительной
техники и последовавшему за этим широкому внедрению чис
ленных методов, ориентированных на высокопроизводительные
компьютеры, удалось достичь значительных успехов при реше
нии задач МГД. Развитые численные методы обладают большей
универсальностью по сравнению с аналитическими методам;и и
позвол:Яют находить решение с любой наперед заданной точно
стью. Тем не менее, следует отметить, что если способы расчета одномерных и двумерных задач МГД достаточно хорошо прора ботаны, то трехмерные расчеты практически важных задач чрез вычайно редки.
Одними из возможных численных методов решения уравне
ний МГД являются вариационные методы и методы конечных
разностей. Суть первых состоит в замене в рассматриваемой об
ласти непрерывной среды, поведение которой описывается функ
циями непрерывного аргумента, ее разностным аналогом. Эта
модель среды представляется при помощи дискретных функций, определенных в конечном числе точек. Такое множество точек
называется разностной сеткой. Дифференциальные уравнения
исходной модели при этом переходят в конечно-разностные соот ношения. В результате непрерывная модель поведения системы
заменяется или, как принято говорить, аппроксимируется набо ром разностных уравнений - разностной схемой.
Разностная схема должна отражать основные свойства непре рывной среды. Поэтому необходимо требовать, чтобы в первую
очередь для схемы были справедливы разностные аналоги ис
ходных основных законов сохранения. Разностные схемы, обла дающие этим важным свойством, называются консервативны
ми. Однако на реальных сетках в задачах, решением которых
являются быстро меняющиеся во времени и пространстве функ
ции, такие разностные схемы могут приводить к результатам,
значительно отличающимся от истинных, вследствие наличия в
этих схемах фиктивных источников энергии. Поэтому помимо
требования о выполнении основных законов сохранения обычно
дополнительно из физических соображений вводят ряд сеточ ных соотношений, позволяющих избежать различных дисба лансов. Такие схемы называются полностью консервативными.
Особенность полностью консервативных разностных схем со
стоит в том, что такие схемы одновременно аппроксимируют раз
личные виды записи системы дифференциальных уравнений,
каждый из которых отражает определенный физический аспект явления. Благодаря этому такие схемы правильно передают, на пример, соотношения между кинетической и внутренней энерги ей, в то время как схемы других типов порождают фиктивные ис точники энергии, которые на грубых сетках могут заметно иска
Вариационные методы в своей наиболее общей формулиров
ке заменяют задачу минимизации некоего функционала, задан
ного на бесконечномерном линейном пространстве, задачами
его минимизации на последовательности конечномерных под
пространств. При этом система МГД уравнений трактуется как
операторное уравнение в гильбертовом пространстве с линейным,
самосопряженным и положительно определенным оператором.
Современные реализации вариационных методов чаще всего .яв
ляются сеточными, для которых функции отличны от нуля лишь
на конечном числе ячеек выбранной сетки. В результате матрица системы уравнений является разреженной, что значительно об легчает отыскание решений исходной системы уравнений. Ука
занные модификации вариационных методов также носят назва
ние методов конечных элементов [41, 42].
Литература ......_________
1. АваевН.А., ШишкинГ.Г. Электронные приборы / под ред. Г. Г. Шишкина. - М.: МАИ, 1996.
2.Электронные приборы/ Дулин В. Н., Аваев Н. А., Демин В. П. и др. / под ред. Г. Г. Шишкина. - М.: Энергоатомиздат, 1989.
3.Зи С. Физика полупроводщrковых приборов/ пер. с англ. под ред.
Р. А. Суриса. - М.: Мир, 1984.
4. |
Пасынков В. В., Чиркин Л. К. Полупроводниковые приборы. - М.: |
|
Высшая школа, 1987. |
5. |
Шалимова К. В. Физика полупроводников. - М.: Энергоатомиз |
|
дат, 1985. |
6.Аваев Н.А., Наумов Ю. Е., Фролкин В. Т. Основы микроэлектрони ки. - М.: Радио и связь, 1991.
7.Влихер А. Физика силовых биполярных и полевых транзисторов / пер. с англ. под ред. И. В. Грехова - Л.: Энергоатомиздат, 1986.
8.Полупроводниковые приборы. Диоды, тиристоры, оптоэлектрон
ные приборы. Справочник/ под ред: Н. Н. Горюнова - М.: Энерго
атомиздат, 1984.
9.Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Справочник/ под ред. Н. Н. Горюнова. -М.: Энергоатомиздат, 1985.
10.МозговойГ.П., СилинВ.Д., ЧахмахсазянЕ.А. Математическое мо делирование и макромоделирование биполярных элементов элек тронных схем. - М.: Радио и связь, 1985.
11.ВубенниковА.Н. Моделирование интегральных микротехнологий, приборов, схем. - М.: Высшая школа, 1989.
12.Жеребцов И. П. Основы электроники. - Л.: Энергия, 1985.
13. |
Тугов Н. М., Шарунич, Л. С. Оптоэлектроника; - М.: Энергоатом |
|
издат, 1984. |
14. |
Влихер А. Физика тиристоров. - Л.: Энергоиздат, 1981. |
15. |
Быстров Ю. А., Литвак И. И., Персианов Г. М. Электронные при |
|
боры для отображения информации. - М.: Радио и связь, 1985 . |
.16. |
Вукингем М. Шумы в электронных приборах и системах. - М.: |
|
Мир, 1986. |
17.Окснер Э. С. Мощные полевые транзисторы и их применение. - М.: Радио и связь, 1985.
18. Гоноровский И. С. Радиотехнические цепи и сигналы. - М.: Дро
фа, 2006.
19.Milnes А. G. Semiconductor devices and integrated electronics. Van Nostr and Reinhold company, 1980.
20. Носов Ю. Р. Оптоэлектроника. - М.: Радио и связь, 1990.
21.Жигарев А. А., Ша.маева Г. Г. Электронно-лучевые и фотоэлект ронные приборы. - М.: Высшая школа, 1982.
22. Proceedings of the 2-nd Int. Conf. оп Vac. Microelectronics - Bath: Inst. phys., Conf., Ser. No 99, Section 1, 1989.
23.Андрушко Л. М., Федоров Н. Д. Электронные и квантовые приборы СВЧ. - М.: Радио и связь, 1981.
24.Березин В. М., Буряк В. С., Гутцайт Э. М., Марин В. П. Электрон- . ные приборы СВЧ. - М.: Высшая школа, 1985.
25. Шишкин Г. Г. Электровакуумные приборы. - М.: Изд-во МАИ,
1992.
26.Агазанян Т. М., Аствацатурьян Е. Р., Скоробогатов П. К. Радиа ционные эффекты в интегральных микросхемах. - М.: Энерго атомиздат, 1989.
27.Кулакова В. М" Ладыгина Е. А" Шеховцова В. Н. Действие прони
кающей радиации на изделия электронной техники / под ред. Е. А. Ладыгина. - М.: Радио и связь, 1980.
28.Бобровский Ю. Л., Корнилов С. А" Кратилов И. А. и _др. Электрон ные, квантовые приборы и микроэлектроника. - М.: Радио и связь, 1998.
29.ШишкинГ.Г. Приборы квантовой электроники. - М.: Сайнс
Пресс, 2004.
30.Щука А.А. /под ред. А. С. Сигова. Электроника, 2005.
31.Курбатов Л. Н. Оптоэлектроника видимого и инфракрасного диа
пазона спектра. - М.: МФТИ, 1999.
32. Пихтин А. Н. Оптическая и квантовая электроника. - М.: Выс шая школ.а, 2001.
33.Федоров Н. Д., Федоров Д. Н. Толковый словарь по электронике. - М.: Радио и связь, 2001.
34. |
Степаненко И. П. Основы микроэлектроники. - |
М.; СПб.: Лаб. |
|
баз. знаний «Невский Диалект», физматлит, 2001. |
|
35. |
Прянишников В.А. Электроника: Курс лекций. - |
СПб.: Корона |
|
принт, 2000. |
|
36. |
Усанов Д. А., Скрипаль А. В. Физика полупроводников. Явления пе |
реноса в структурах с туннельно-тонкими полупроводниковыми
слоями. - Изд-во Саратовского университета, 1996.
37.Сиг.мен А. Мазеры. - М.: Мир, 1966.
38.Соклоф С. Аналоговые интегральные схемы. - М.: Мир, 1988.
39.Стил М" Вюраль В. Взаимодействие волн в плазме твердого тела. - М.: Атомиздат, 1973.
40.Шкаровский И" Джонстон Т., Бачинский М. Кинетика частиц плазмы. - М.: Атомиздат, 1969.
41. |
Самарский А. А. Теория разностных схем. - М.: Наука, 1983. |
42. |
Галлагер Р. Метод конечных элементов. Основы. - М.: Мир, 1984. |
43.Драгунов В. П, Неизвестный И. Т, Гридчин В. А. Основы нано электроники. - м" 2006.
--1 Список основных использованных обозначений~
Ед,Еа
ЛЕд,
ЛЕ"
Еп,Ев
v
vдр•
Vдр. нас
µ
µn, µР
{;;
{;;кр• {;;пор-
т
j
iп• ip
iдр• jwiФ-
удельная электрическая проводимость
удельное сопротивление
ширина запрещенной зоны полупроводника концентрация электронов и дырок в собственном полупро
воднике
равновесная концентрация основных носителей (дырок и
электронов) в акцепторном и донорном примесных полу
проводниках
равновесные концентрации неосновных носителей заряда
области полупроводников с повышенной концентрацией
электронов и дырок энергетические уровни доноров и акцепторов
энергия ионизации доноров и акцепторов энергетические уровни дна зоны проводимости и потолка
валентной зоны
концентрация атомов доноров и акцепторов
эффективная плотность энергетических состояний в зоне
проводимости и валентной зоне
энергии уровня Ферми для собственного, донорного и ак
цепторного полупроводников
дебаевская длина экранирования
время жизни электронов и дырок
скорость генерации
скорость носителей
скорость дрейфа и дрейфовая скорость насыщения подвижность носителей
подвижность электронов и дырок
напряженность электрического поля
критическая и пороговая напряженности электрического
поля
абсолютная температура
плотность тока
плотность электронного и дырочного токов
плотность дрейфового и диффузионного токов
|
Список основных использованных обозначений |
693 |
|
коэффициент диффузии |
|
|
тепловой потенциал |
|
|
диффузионная длина электронов и дырок |
|
|
контактная резкость потенциалов |
|
|
полная ширина (толщина) обедненной области (р-п-пере |
|
хода) |
|
rдиф |
дифференциальное сопротивление |
|
rб |
объемное сопротивление базы |
|
Iобр |
обратный ток |
|
Io |
тепловой ток |
|
ипроб |
напряжение пробоя |
|
сбар• |
|
|
сдиф |
барьерная и диффузионная емкостьр-п-перехода |
|
Rобр |
сопротивление обратносмещенного р-п-перехода, обуслов |
|
ленное током термогенерации |
|
ип |
падение напряжения на переходе |
|
[обр.макс |
максимальный обратный ток |
|
q~т |
работа выхода электронов из металла |
|
ЛЕП,
ЛЕВ величины энергетических скачков при разрыве зон прово
димости и валентной зоны при гетеропереходах
Фполная контактная разность потенциалов гетероперехода
Ин напряжение на нагрузке
]пр.макс'
Jобр.максмаксимально допустимый постоянный прямой и обратный
|
токи |
|
падение напряжения на диоде (электрическом переходе) |
|
при обратном смещении |
|
среднее значение прямого и обратного напряжения |
|
емкость корпуса прибора |
|
емкость выводов |
|
рабочая длина волны |
|
чувствительность по току |
|
шумовая температура |
|
)'/IОЩНОСТЬ ШУМОВ |
|
полоса пропускаемых частот |
tвос |
время восстановления обратного сопротивления |
Jвос.макс |
максимальный ток восстановления |
Uст |
напряжение стабилизации |
]ст.мин• |
|
]ст.макс - |
минимальный и максимальный токи стабилизации |
f o |
резонансная частота |
|