Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Регулирование качества продукции средствами активного контроля

..pdf
Скачиваний:
9
Добавлен:
27.10.2023
Размер:
22.09 Mб
Скачать

ной настройки). Для Мт

(р,

q)

будет справедливо

 

следующее

рек-

курентное соотношение [19]:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

м т

(Р, Я) = рМт+1

(Р,

q)

+

çMm.

х{р,

q) +

(1 - р

g) М„

(р,

q)

•+ 1

с

граничными условиями M-h

= Mk = 0.

Решение

данного

разно­

стного уравнения

можно

получить, следуя работе

[145]:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(158)

Здесь Mo определяет среднее количество

деталей,

изготовленных

до ложной подналадки при условии, что

р = q = Рь-

 

 

 

 

Из уравнения (158) после раскрытия

неопределенностей

можно

получить

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и вероятность ложной

подналадки

 

 

 

 

 

 

 

 

На основании

априорных данных

о смещении

центра

группиро­

вания и рассеивания размеров деталей, используя полученные вы­

ражения, можно определить параметры

рассмотренной

системы

(величину подналадочного импульса А, число k и расстояние

меж­

ду контрольными границами b+,

Ь-) так, чтобы принятый

критерий

оценки эффективности системы был максимальным.

 

 

 

Способ подналадки по

алгебраически

набранному

счету

(или

фиксированной разнице)

можно

рассматривать

как

способ

груп­

пирования, если обе контрольно-подналадочные

границы

 

свести

в одну. Сущность способа подналадки по алгебраически

набран­

ному счету заключается в следующем.

Начиная

с первой

детали,

достигшей контрольно-подналадочной границы, ведут счет деталей, выходящих за эту границу и не дошедших до нее, и подают импульс тогда, когда число первых превысит число вторых на заданную ве­

личину. Такой способ при

относительной простоте дает

хорошее

приближение для выдачи

сигнала на подналадку по усредненному

размеру контролируемых

деталей и учитывает влияние

мгновенно­

го поля рассеивания размеров, вызванного случайными погрешно­ стями.

К подналадке по знакам отклонений относится и так называе­ мый метод «пульсирующей» подналадки, сущность которого заклю­ чается в следующем. Если при двусторонней подналадке с подачей импульса по первой детали контрольно-подналадочные границы сблизить до совпадения (при этом прибор должен иметь только один порог срабатывания, настроенный, например, на середину поля допуска), то тогда подналадочный импульс будет подаваться на

138

каждом цикле; причем величина его будет постоянной, а знак им­ пульса будет варьировать в зависимости от знака отклонения раз­ мера детали, полученной на предыдущем шаге (цикле). В этом случае система регулируется на каждом шаге и как бы пульсирует вокруг заранее заданного номинального уровня настройки [152].

Подналадка с переменным импульсом. Как установлено прове­ денными исследованиями [5], при немонотонном или слабо моно­ тонном изменении уровня размерной настройки, особенно если тех­

нологический процесс обработки деталей характеризуется

относи­

тельно большой величиной ovc/u. ^

1,35 (здесь

|ы — интенсивность

систематического смещения уровня

настройки, а о>; — среднеквад-

ратическое отклонение случайных

погрешностей

настройки),

мож­

но существенно

повысить точность

и стабильность размерной на­

стройки станков

двусторонним

регулирующим

воздействием

(на

деталь и от детали). Наиболее

эффективным (в смысле

точности

получения размеров) в этом случае оказывается

способ подналадки

переменным по модулю и знаку импульсом, когда все поле возмож­ ных значений регулируемого размерного параметра разделяется на ряд зон. Попадание регулируемого размерного параметра в ту

или иную

зону вызывает соответствующий сигнал

на

подналадку

импульсом, величина (модуль)

и знак

которого

соответствует кон­

кретной зоне.

 

 

 

 

 

Ниже

подробно рассматривается данный способ

подналадки и

приводится его расчет точности при использовании

самокорректи­

рующейся

комбинированной

системы

(СКС)

(см. гл. V I I I , § 36)

применительно к двум наиболее характерным случаям

изменения

регулируемого размерного параметра.

 

 

 

 

В процессе обработки регулируемый размерный параметр дета­ ли находится под воздействием следующих наиболее характерных

возмущений:

 

 

 

 

 

возмущения в виде систематической

 

закономерной линейной

функции времени (трент) — at, вызванные

в основном

износом ин­

струмента;

 

 

 

 

 

возмущения в виде случайной функциональной коррелированной

последовательности — [i(t),

вызванные

колебаниями

температур­

ного режима и медленными изменениями уровня

настройки обору­

дования;

 

 

 

 

 

возмущения в виде собственно случайной

некоррелированной

последовательности — £(0>

вызванные

в

основном

колебанием

припусков и физико-механических свойств заготовок и инструмен­

та. Если каждому дискретному моменту

времени поставить в со­

ответствие порядковый номер детали (t =

1, 2, 3, ... , п),

то

значе­

ние регулируемого параметра

(размера)

определится

из

уравне­

ния

 

 

 

 

 

Х(п) = a *

+ j i ( « ) +

t ( * ) ,

 

(159)

причем математическое

ожидание

 

 

 

M

[у. (п)] =

М[г(п)]

= 0.

 

 

139

Изменение регулируемого размерного параметра в виде собствен­ но случайной некоррелированной последовательности £(п) есть ре­

зультат ограниченной точности

оборудования, причем стабилиза­

ция регулируемого размерного

параметра за счет уменьшения 1{п)

не может быть достигнута с помощью СКС. Следовательно, приме­

нение СКС

имеет смысл

только

при апФО

и (или)

\і(п)ф§

[см. формулу

(159)].

 

 

 

 

Задача аналитического

расчета

точности

подналадки

при ис­

пользовании данного способа с помощью СКС заключается в опре­

делении оптимальных параметров размерной настройки

(величины

импульса регулирования Л и сигнально-подналадочных границ ±Ь),

обеспечивающих на выходе подналаженного процесса

минимально

возможную дисперсию генеральной совокупности относительно пер­

воначального уровня настройки.

Приведенный

ниже

расчет

вы­

полнен

для конкретной системы О К Б 1 с заданными

параметрами,

которая

является

наиболее

общей

среди всех

описанных

ниже

систем

подобного

типа,

и

поэтому все полученные

соотношения

можно

использовать при

расчете этих систем, учитывая

алгоритм

и особенности каждой системы.

 

 

 

 

 

 

Расчет погрешности подналадки при линейно изменяющемся

 

 

 

 

возмущении

(тренте)

 

 

 

 

Изменение регулируемого

параметра

(размера) в виде

систематической (за­

кономерной) линейной функции времени характерно для целого ряда технологи­

ческих процессов обработки деталей массового производства на

металлорежущих

станках, где возмущение связано в основном с интенсивным износом

инструмента.

Д л я этих процессов значение

регулируемого

размерного

параметра

определяется

уравнением (159) при ц (и) =

0. Ниже для

этого случая

приводится

расчет точ­

ности подналадки при использовании самокорректирующейся

комбинированной

системы ОКБ .

 

 

 

 

 

Самокорректирующаяся комбинированная система (СКС) применяется для

регулирования (подналадки)

металлорежущих станков с целью

стабилизации ре­

гулируемого размерного параметра изготовляемых на нем деталей. Эта цель до­ стигается в системе путем предсказания (прогноза) с наибольшей возможной точ­ ностью величины отклонения размерного параметра в подналаживаемсм цикле и корректировки уровня размерной настройки станка в соответствии с предсказан­ ной величиной. Выбор оптимального правила (алгоритма) корректирования, осу­ ществленного в СКС исходя из условия наилучшего (в смысле уменьшения сум­ марной погрешности обработки) предсказания ожидаемого отклонения размера в текущем цикле обработки, позволяет обеспечить предельно возможное повыше­ ние точности обработки для конкретных станка и технологического процесса.

При регулировании размерного параметра с помощью СКС отклонение Х(п} контролируемого размера я-ой детали от заданного номинала, т. е. предельную по­

грешность процесса регулирования

с подналадкой, можно представить

в виде

X (и) =

an +

С (и) -f- Z (п),

(160)

где an — систематическая (закономерная)

линейная составляющая

погрешности

(трент) ;

 

 

 

а— величина систематической линейной составляющей погрешности обработ­ ки, приходящаяся на одну деталь;

п— порядковый номер детали;

с(я)

— случайная

составляющая погрешности;

 

Z(n)—корректирующее

воздействие механизма

регулирования.

1

См. гл. V I I I ,

§

36.

t :

140

Процесс стабилизации контролируемого размера около его номинального зна­

чения осуществляется оценкой ожидаемого

значения

Х(п) на основании

измерен­

ных значений Х(п

1), Х(п — 2),

Х(п

— N) и

введением корректирующего

воздействия Z(n),

которое должно

компенсировать

составляющую an.

 

Предлагаемое решение существенным образом отличается от других систем

регулирования размеров. На измерительное

устройство поднастройщика

(рис. 59)'

поступают

выборки деталей, обработанных на станке. Оптимальное число деталей

в^ выборке

устанавливается

исходя из конкретного

технологического

процесса.

Как показали исследования,

при автоматизированной

обработке деталей

на стан­

ках целесообразно принимать /V = 6.

Выборки берут непрерывно в течение всего процесса обработки партии дета­ лей. По результатам измерения деталей статистический анализатор выдает соот­ ветствующую команду механизму регулирования. Кроме того, периодически проис­ ходит самонастройка измерительного устройства по образцовой детали, которая имеет заданный номинальный размер.

MP

ИУП

- OA і

Рис. 59. Блок-схема самокорректирующейся комби­ нированной системы регулирования размеров ОКБ:

С — станок; MP — механизм

регулирования;

CA—стати­

стический анализатор;

ИУП

— измерительное устройство

поднастройщика;

ОД — образцовая

деталь

Крибая плотности распреде­ ления отклонений размероб

Рис. 60. Зоны подналадок статистическо­ го анализатора

Принцип работы статистического анализатора CA заключается в следующем" Внутри поля допуска (рис. 60) устанавливают пять зон ( + 2-ая; + 1 ; 0; I ;

—2-ая) расположения значений отклонений Х(п). Некоторые выбранные коорди­ наты ±Ьі и ±&2 определяют границы этих зон. При необходимости число зон мо­ жет быть большим или меньшим.

141

На выходе измерительного устройства поднастройщика формируется инфор­

мация о

величине

отклонений

размеров

деталей

выборки

Х(п — 1), Х(п — 2),

Х(п

— jV) от

заданного номинала

и

о принадлежности

отклонений опреде­

ленным

зонам.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

п — 1, п — 2, . . . .

Пусть

/ — номер детали,

принадлежащей

выборке, т. е. / =

n—N;

X(/)

— отклонение

детали и

ф(у) — обозначение

зоны

расположения от­

клонения /-ой детали.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда

(/) определяется следующим

образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

+

2 при

/>з

< * ( / ) ;

 

 

 

 

 

 

 

 

+

1 при

bi

< X

(у) а;

 

 

 

 

 

 

•1(f)

)

0 при

Ь1

<

I ХЦ)

\ <

lh;

 

 

1 при — &2 < X (У) < — Ьі,

2 при X (У) < — Ьг.

Корректирующее воздействие механизма регулирования

Z(n)

= A 2 <Р(А

( 1 6 1 )

 

j=n-N

 

где А — величина импульса регулирования;

 

<р(/) —сигнал, соответствующий ф ( / ) .

 

Вся получаемая информация

обрабатывается в статистическом

анализаторе

по определенному алгоритму для получения наиболее вероятной оценки области значений контролируемого параметра. В зависимости от положения оценки на вы­

ходе

статистического анализатора после окончания измерения детали с номером

(п—1)

появляется сигнал ср(я),

который может иметь

один из пяти

уровней

( + 2 ;

+ 1 ; 0; — 1 ; —2) и является

некоторой функцией

совокупности

значений

*ф(/) для данной выборки. Под его воздействием механизм регулирования осуще­ ствляет смещение настройки процесса на соответствующую величину. Сигнал Ц>(п) — 0 свидетельствует о том, что процесс не нуждается в регулировании. Сиг­ налы + 1: — 1 ; + 2 и —2 вызывают соответственно один или два импульса регу­ лирования.

Таким образом, данная система в отличие от известных позволяет осуществ­ лять двустороннее регулирование (нодналадку) импульсами различной величины по знаку и модулю в зависимости от действительных отклонений измеренных вели­ чин Х(п). В результате существенно увеличивается точность регулирования (под­ наладки) процесса (см. гл. V I I I , § 36).

Сигнал

ф(я)

подается

на

поднастройку

оборудования

согласно

принятому

алгоритму

системы (в данном

случае по так называемой скользящей

выборочной

медиане)

в том случае,

когда

любые

УѴ/2 деталей выборки

выходят за

соответст-

«ующие

границы

зон расположения

отклонений.

Этот

алгоритм сформулирован

следующим

образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

і

 

 

 

+ 2/1, если, в —2-ой зоне более или

равно N/2

 

 

 

 

деталей, а в +2- ой зоне менее N/2

деталей;

 

 

 

 

+ А, если число деталей в —1-ой и —2-ой

 

 

 

 

зонах

более или

равно N/2

и в —2-ой

зоне

 

 

 

 

менее N/2

(при этом число деталей в

+1-ой

 

 

 

 

и +2 - ой

зонах также менее N/2) ;

 

 

 

 

 

=

{ —Л,

если

число

деталей в +1 -ой

и +2 - ой

(162)

 

 

 

зонах

более или

равно УѴ/2 и в +2-ой

зоне

 

 

 

 

менее N/2

(при этом число деталей в —1-ой

 

 

 

 

и —2-ой

зонах

также менее

N/2;

 

 

 

 

 

 

—2А,

если в 4-2-ой зоне

более или равно

 

 

 

 

N/2

деталей, а в —2-ой зоне

менее N/2

деталей;

 

 

 

 

О во всех

остальных случаях.

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

142

При выборочном контроле статистический анализатор выбирает N последних деталей, изготовленных после предыдущей поднастройки, и по алгоритму (162) решает, нужно ли осуществлять поднастройку. Если она необходима, то выдается

соответствующий сигнал

ср(«); в противном случае результат

измерений забывает­

ся и следующая обработка измерений производится через две выборки ц т. д.

Примем следующие

допущения:

 

1) систематическая

(закономерная) составляющая an при отсутствии регули­

рования изменяется линейно, т. е. величина а — постоянная для данной партии;

2) случайное отклонение g(n) является стационарной

некоррелированной

функцией от я, т. е. закон распределения случайных отклонений не зависит

от «

и корреляция между случайными отклонениями S (я), взятыми для двух

разных

отсутствует. При этом математическое ожидание случайных отклонений

с(я)

рав­

но нулю, так как в противном случае его следовало бы учесть как часть законо-> мерной составляющей an;

3)

интегральный закон распределения

случайных отклонений с, (л) задан

ку­

сочно-непрерывной функцией Ф(с) .

Случайная

величина

ç(n)

распределена

по

закону,

близкому к

нормальному

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О, если

Л"< Зз

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

' - Х 1

dx, если -

3.

: X < 3,;

(163)

 

 

= У

2г.

— оо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1,

если X >

Зз,

 

 

 

 

 

 

 

причем,

— Зо < ! (п) < Зз;

 

 

 

 

4)

величины а

и бег, характеризующие

исходный процесс

обработки

изделий

без регулирования,

и величины А, Ь{

и Ьг,

характеризующие параметры

системы,

заданы целыми числами, что всегда может быть достигнуто соответствующим вы­ бором масштаба измерения регулируемого параметра X.

Момент окончанаия обработки n-ой детали условимся называть л-ым момен­ том времени. Можно считать, что результаты измерений «-ой детали вводятся в си­

стему до момента (п + 1).

 

 

 

 

 

Найдем положение Х0(п)

центра группирования отклонений в п-ът

момент

времени,

вычислив

математическое

ожидание

величины

Х(п) с учетом

выраже­

ний (160)

и (161):

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

л - 1

 

 

 

 

Хп(п) = М[Х(п))=ап

+ А Уі

VU)-

 

 

 

 

 

 

j-n-.X

 

 

Для

того чтобы

lim Хо(п)

¥=оо,

величина

импульса

регулирования А

должна

 

 

я*-°о

 

 

 

 

 

удовлетворять условию Na^.A

(при выборочном методе), которое следует из того,

что за время между двумя поднастройками центр группирования перемещается на величину, не большую Na.

Диапазон возможных

значений положения

центров

группирования

Х<>(п)

после поднастройки выражается условием

 

 

 

 

.

Хтіп

< Х0 (п) < Хтіх

(п = 1,

2

оо).

 

Согласно выполненному

анализу, Х т а х и

Х т 1 п

через параметры системы

могуѴ

быть выражены так:

 

 

 

 

 

 

 

 

*т»х =

*і + 3* +

С і - Л + Л Л - 2 д

J

 

 

Хт\п

 

- Ьг — Зз +

С2 А+

Nßa

J '

 

 

где о — среднее квадратнческое отклонение;

 

 

 

 

Ci и С 2 — коэффициенты,

характеризующие

рассогласование

между положением

центра группирования Х0(п)

и границами ±Ьі

и

±Ь2.

 

Число всех возможных положений центров группирования в данной системе

 

 

t' =

Л"п,ах — Хтіп

 

.

,

 

 

A-'- 6 s — С ,

— С 8 + 0 , 5 . Ѵ д

,

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

- f

1 —

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

4-

і,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d

 

 

 

 

 

^

 

 

 

 

 

 

где d — наибольший общий делитель а и А.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Координата

любого из ѵ этих положений

на оси определяется величиной

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X ( n ) - * m l n

+

( ! i + l ) d ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(165)

где fi =

1, 2,

.. . ,

и —порядковый

номер

положения

центра

группирования.

 

Ниже излагается

методика

 

определения

 

закона

распределения

 

А (га)

при

п—»-оо,

разработанная на основании

работы

[119]. Применяя ее, можно

сравнивать

результаты,

получающиеся

при

использовании

 

различных

параметров

А,

±Ьу

я &2 описываемой

системы

регулирования

и параметров

о н а

исходного

техноло­

гического процесса обработки (процесса без

регулирования),

а

также

результаты

использования других подобных систем регулирования

размеров.

 

 

 

 

 

 

Рассмотрим поведение системы в такой

момент

времени п, когда

 

в

момент

tri <

п произошла

последняя

поднастройка.

 

Положение

центра

группирования

Хц(п)

Х(\і),

 

причем Х(ц)

имеет

ряд

значений

согласно

выражению

 

(165).

 

 

Вероятности попадания всех возможных значений

Х{\і)

в

соответствующие

зоны в этом случае определяются системами

 

уравнений:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k,

+ 2 ) =

1 Ф

[b3

Х(ц)

 

- i -

ka];

 

 

 

 

 

 

 

 

Р(и,

 

k,

 

+1)

=

Ф[Ьг

— Х(іі)-г-ка]

 

 

ФІЬ1

— Х(ц)

+

ка];

 

 

 

 

 

 

Р (ix,

k,

 

0) = Ф ]b, —

X

(<х) +

ka]

— Ф [— bx

— X

(;x) +

ka];

 

 

 

 

 

 

Я(;х,

k,

1)--=Ф[—Ь!

 

— X(;j.)

+

ka]

Ф \—

h

— X

([>.)+-ka\;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P(;x,

k,

2) =

Ф [— b%

A'(;x) +

ka].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При этом для

любого значения

|і и k

должно

быть

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/

 

=+2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1=-2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

Р(ц,

k, I)—вероятность

 

того,

что

деталь,

 

изготовленная

в

момент,

когда

 

 

 

 

 

центр группирования

находился

в

точке [ А ( р ) — k a ] ,

попадает

 

 

 

 

 

в 1-ю зону;

k =

0;

1 ; 2,

. . . ,

N

1 ;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

,

 

/ — число зон

распределения

(для

рассматриваемого

случая

/ =

5).

 

Состояние системы в момент п характеризуется двумерным вектором г с ком­

понентами Хо(п)

и

t(n),

где Хо(п)—координата

 

 

центра

группирования в

мо­

мент га; t(n)

— величина,

характеризующая

время,

прошедшее

с момента

послед­

ней поднастройки до момента га. Если

последняя

поднастройка

произошла после

т-он

детали,

то

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t (п) = п — m

при

п — m <

N +

1 :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t(n)

= N-\-\

 

при

 

п —

 

 

m>N-~\.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При

выборочном контроле

величина

(га — т)

кратна

N.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Найденные

вероятности

возможных

состояний

системы в

момент

 

времени

(га + 1), если

в момент времени

 

я система находилась в состоянии

0(п) Х(ц);

і(п)

= Г], позволили

произвести

расчет

вероятностей

для

случаев

T^N

 

и 7"> N.

Если в момент га состояние системы

было [А(ц.);

7"] и Т~> N,

то

система

в

момент

(п + 1)

может перейти из этого состояния в одно из следующих пяти состояний:

 

 

Р[Х0(п+1)

 

=

Х(р.)

 

+

а+2А;

 

t(n+

 

1) -

1] • ••-/?+ 2 ((*,

Т);

 

 

 

 

 

Р[Х„(п+

 

1) =

Х(ѵ.)

 

+

а +

А;

/ ( л + ! ) . - =

1]

R

х

(|х,

Т);

 

 

 

 

 

 

Р]Х0(п+\)

 

=

Х>.)+а;

 

t(n+

 

1) =

J V + 1 ]

=

« e ( ( i ,

7");

 

 

 

 

(166)

 

 

P

[Ao (n

+

1) =

X

fr)

 

+

a -

A;

t (n +

 

1)

1] -

/?_, (fx,

T);

 

 

 

 

 

 

Я

[Л'(1

4- 1) =

*

fo)

 

+

в -

2Л;

* (л +

 

1) =

1 ] •-- R_2

(.*,

7").

 

 

 

144

При

этом

Яо(ц,

7")

+

Ri(ii,

Т)

 

 

 

Т)

+ / ? - 2 ( | х ,

Г)

+ / ? + 2

( ц ,

Г)

-

1

и никаких других состояний, кроме указанных в системе (166), быть не может.

 

Определим правые части системы (166). Согласно заданному алгоритму (162),

вероятность того, что в исходном состоянии [Х(\і],

Т] и Т>

N

потребуется

подна-

стройка

на

величину

+2А,

 

т. е. вероятность

перехода

в

следующий

(я +

1)

мо­

мент в состояние [Х(ц)

+

а + 2А,

1]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(

 

N

 

 

 

 

N

\

 

 

 

/ ? + 2 ( и ,

т) =

2

 

 

S

Q

(и,

иь

. . . , « » ) - < ?

I*.

y

 

-

°

' ° - °

- т

' ( 1 6 7 )

 

 

 

 

B.-JV/2 "2

 

«5

 

 

 

 

 

 

\

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

суммирование

ведется

по

всем

«і,

. . . , Us так,

что

Uf +

• • • +

и5

= N

и

" ^ ' M i ^ A f ;

Q ([л, Ui, . . . ,

иь), — вероятность того, что при положении центра

груп­

пирования,

определяемом

условием

Х0(п)

=

Х()л),

детали

с

номерами

n,

n 1,

п 5 распределятся

по зонам в следующем порядке: «і

деталей

в

зоне

+ 2 ;

яг в зоне

+ 1 ; из в зоне 0;

И4 в зоне —1 и и$ в зоне

—2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вероятность того, что в том же исходном состоянии потребуется

поднастрой-

ка на другую из величин,

предусмотренных

алгоритмом

(162),

выражается

сле­

дующими зависимостями:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л'-2

 

S

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R+ib,

 

т)=

 

2

 

 

q ( ! * . « ; . " «

 

 

 

« • ) +

 

 

 

Л - 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

Ü

 

 

S

Qo^.

 

«г

 

и6)+

 

2

 

2

 

со*,

«

г

- и

»

и

1

6 8

>

 

ѵ

,

«з

«5

 

 

 

 

 

 

 

N

"s

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

«»=

g-

~

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

" * =

Т"

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где суммирование

производится по всем

иг, . . . , и 5

так, что

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

N

 

 

 

 

N

 

 

 

 

« 2 +

. . . + U f t = /V — их

и м 4 + и 6 < ~ , а и і =

— — 1, ы" = — — 2,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

= —

— 3;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на —А

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л'-2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N-1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/ г _ і ( > .

7")=

 

 

2

 

S

(р.. «1

 

 

«д) +

 

2

 

 

3

 

Q x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л

 

S

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X

((I,

« ь

 

г / ' ) +

2

 

Q f e

"1.

 

« р ,

 

 

 

 

(169)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л' и,,

 

и.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где суммирование

производится по всем Ui,

. . . ,

Urk так, что Ыі +

. . . +

Ui =

jV и 5

и и, + и2

 

N

 

 

 

N

 

,

 

N

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

< — , a V = — —

1, ы5 " = — — 2, u 5 ' " = у — 3;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на —

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

я _ 2 ( ; А , г ) =

 

2

 

2

с ^ .

 

 

 

« » ) - < ? ( p . V ' °' °- °' " f " ) ' ( І 7 0 )

 

 

 

 

 

 

 

Л' « 1 , и ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10—2891

145

где

суммирование

производится

по

всем

иі,

. . . ,

иь

так,

что

и,

+

. . . +

Us = N

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и,

< и 5 < Л ' .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вероятность того, что в этом состоянии поднастройка не потребуется, соглас­

но алгоритму (162), будет

иметь

вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

- 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/?о(.".

Г)-Л

2

Ri (ri

(I = +

2;

+

1;

0;

-

1;

-

2).

 

 

(171)

 

 

 

 

 

 

i = + 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На

основании

(167) — (171)

можно заключить,

что

вероятность

перехода из

одного

состояния в другое

Ri

((х)

при

 

всех значениях і может быть

представлена

в виде явной функции от ц, не зависящей от номера детали

п.

 

 

 

 

 

 

Вероятность перехода

системы, находящейся

в данный

момент я

в

состоянии

г — а, в состояние г = ß в следующий

момент (п +

1) обозначим как Paß-

 

Соглас­

но выражению

(166), Р ^ФО

может иметь

место

только

для ß = a + a;

ß = а +

+ а — А; ß = а

+

а + Л;

ß = а + а +

2Д;

ß =

а

+

а —

2А.

 

 

 

 

 

 

 

Подставляя

в

выражение

(166)

значение

Х([і)

из

(165)

и

учитывая

(164),

получим Я 0 р в виде явной функции а

 

и ß параметров

системы.

 

 

 

 

 

Таким образом, процесс изменения состояний системы образует простую од­

нородную цепь Маркова с конечным

числом состояний и дискретным

временем.

Найденный закон этой цепи выражается матрицей перехода

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

W

i

i

•••Pic

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

РцРю

• • • Ргс

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(172)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

..Pc,

в которой все не равные нулю элементы расположены по пяти неглавным диаго­ налям. Переходные вероятности, образующие эту матрицу, управляющую процес­ сом изменения состояний системы, зависят от параметров о и а исходного техно­

логического процесса и от параметров А,

±Ьі

и ± ô 2

системы

регулирования.

Из теории цепей Маркова [64, 126,

132]

можно

показать, что матрица (172)

не имеет несущественных состояний и является циклической.

 

Можно также показать, что все существенные состояния

рассматриваемой це­

пи могут быть выделены в одну неразложимую подматрицу матрицы (172), т. е.

матрица (172) не имеет изолированных подгрупп

состояний.

 

 

 

 

 

 

Как известно из теории цепей Маркова [64, 126, 132], путем одновременной пе­

рестановки строк и столбцов с одинаковыми индексами матрица

(172)

может

быть

приведена к нормальному виду

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

' о

 

о

, о

0

о

о

о

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

0

о

о

о

 

 

 

 

 

 

 

о

 

о

о

*3,

 

о

о

 

 

 

 

 

 

 

= 1 о

 

о

о

о

 

, 0

о

 

 

 

 

(173)

 

 

о

 

о

о

о

о

 

і 0

 

 

 

 

 

 

 

о

 

о

о

о

о

о

\

 

 

 

 

 

 

 

7.

I

о

о

о

о

о

*7.

 

 

 

 

 

где

0 — обозначает нулевые

подматрицы,

a Ri, І+І (і = 1-т-6), #7,7

и

RT,I

нуле­

вые

подматрицы.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

К а ж д а я

из подматриц Ri,

,+і и RT,I СОСТОИТ из элементов строк матрицы

(172),

соответствующих состояниям

с

номерами

с =

і +

mD

= i + d,

где

для

заданно­

го і параметр m пробегает все целочисленные значения, удовлетворяющие

условию

0 < і + d^v.

Подматрица #7,1

состоит из элементов

строк матрицы

(172),

соот­

ветствующих

состояниям с номерами с =

mD

= d, где 0 < d^.v.

Очевидно,

если

в момент времени по процесс оказался в одном

из

состояний,

принадлежащих

 

то в

(«о + 1)-ый момент он

обязательно

перейдет в одно

из

состояний.

146

принадлежащих

/?t-+i. <+2 и т. д. до

последней строчки,

в

которой

 

имеются,

кроме

единичной подматрицы RT,I, также неединичная подматрица

 

Ri,i.

 

 

 

 

 

 

 

 

Рассмотрим более подробно процесс образования подматриц. Если в момент

времени

п система находилась

в состоянии

 

1], то

в следующий

(п

4- 1)-ый

момент времени система перейдет в состояние

[Х(ці)

+

а,

2]

или

[Х(цг),

 

2] и

во­

обще,

если

і ^ Л ?

= 6), то из

 

состояния

p f ( u j ) ,

і]

система

перейдет

в

состояние

[X(]ij)

+ a,

і +

1] или [X(\ij+l),

 

 

і +

1]. Если

же

t >

N

(і >

 

6),

то из

состояния

 

 

і] система может перейти только в одно из двух

состояний:

 

 

 

 

 

 

цы

либо в состояние [X (ці+кЛ),

 

1],

где d — общий

наибольший

делитель

матри­

(172), a

k=

± 1 или ± 2 . Эти вероятности

заполняют

подматрицу

RT.I

и

ха­

рактеризуются осуществлением

 

соответствующей

подналадки;

 

 

 

 

 

 

 

 

либо в

состояние [X ( ц , + ! ) ,

7]. Эти

вероятности заполняют

подматрицу

#7,7

и характеризуются отсутствием подналадки.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

пс

 

При

наблюдении процесса

в течение

времени

обработки

деталей

от

0 до

получим, что отношение числа попаданий процесса в некоторое состояние

г

(при­

чем г — 1, . . . , с) к числу всех

наблюдавшихся

деталей пс

(при пс—>-оо)

 

стремит­

ся к пределу рг,

не зависящему

от начального

состояния

системы.

через

 

 

 

 

 

Обозначим характеристический

определитель

матрицы

(172)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р(к)^-[ХЕ

— Р\,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(174)

где

h — максимальный корень стохастической

матрицы (172), к =

 

1;

 

 

 

 

 

 

Е — единичная матрица

порядка

с;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р — матрица

(172).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Учитывая, что к = 1, выражение

(174) можно

переписать

так

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P ( l ) =

j £ - P | .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(175)

 

Величина р г

, вычисляемая

 

на основании заданной матрицы и характеризую­

щая предельные переходные вероятности системы,

определяется

из

соотноше­

ния

[126]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рг=~

 

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(176)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S

рп

0)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 = 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

РІІ

главный минор

определителя

Я (1),

получающийся

 

вычеркиванием

 

 

 

в матрице строки и столбца с номером

і.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При

достаточно большом

пс величина рг может рассматриваться

как

вероят­

ность пребывания системы в состоянии г. Путем суммирования всех рт,

относящих­

ся к состоянию, имеющему одно и то же значение Х(\и)

(суммирование

осуществ­

ляется по всем Т от 1 до N +

1), найдена величина

р(ц)

 

—вероятность

нахожде­

ния центра группирования в точке с координатой Х(ц),

т. е. предельная

частота

нахождения центра группирования в данном положении.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рассмотрев вопрос о формировании импульса регулирования, можно заклю­

чить,

что центр

группирования

размеров

изделий

занимает

случайное

положение

s активной зоне, определяющей момент регулирования.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На

основании полученных

 

значений

р(ц)

найден предельный

(для

достаточ­

но большого rte) закон распределения регулируемого размера

X:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F (X)

-

2

Р (V-) ф \ х -

х

Ш

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(177>

Величина среднего квадрата этого размера определяется следующим образом:

 

* т а х +

3 0

 

М(Х*)=

^

X*dF(X).

(178)

*min-3*

Величина М(Х2) является наиболее удобной характеристикой для анализа точности, получаемой при различных значениях параметров рассматриваемой си­

стемы и при других различных системах регулирования

размеров.

10*

147