Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Регулирование качества продукции средствами активного контроля

..pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
27.10.2023
Размер:
22.09 Mб
Скачать

Таким образом,

при п-^оо D n *

стремится

к установившемуся

значению

 

 

 

 

 

 

 

D*

=а2

1 +

г = - 1 —

 

(249)

 

 

ус

 

 

 

 

В частном

случае, когда

сг£->0

 

 

 

 

 

 

D*

 

 

(250)

Как и в § 18, формулу

для оптимального

уровня

настройки

(244) можно записать (при компенсированном тренте),

в рекур­

рентном виде:

 

 

 

 

 

 

где

 

1

 

1

 

 

 

а

•2з;

 

 

 

2 / Ѵ

%Рус + -

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ъ =

2а*-

 

 

 

 

 

43Ï

-'ус

 

 

a величина р у

с определяется по формуле (248).

 

технологи­

Таким образом, для стационарных и нестационарных

ческих процессов удалось построить оптимальный по точности ал­ горитм определения уровня настройки. Этот уровень определяется формулами (220), (238) и (244), имеющими один и тот же вид и от­ личающимися лишь коэффициентами.

Из формул (222), (239) и (246) следует, что оптимальный уро­ вень настройки во всех рассмотренных случаях является линейной функцией результатов измерений размеров изделий. Это не случай­

но

и является

следствием того

факта, что при квадратичном кри­

терии качества

и гауссовских

случайных

сигналах

оптимальной

в

среднеквадрэтическом смысле оценкой

случайного

дискретного

процесса является линейная оценка [123]. Такой оценкой на каж­ дом такте служит условное математическое ожидание случайной

величины, найденное по результатам измерения

на предыдущих

тактах. Эту оценку и определяет дробь вида qnl2pn

в соответствую­

щих формулах.

 

§ 20. С У Б О П Т И М А Л Ь Н Ы Е А Л Г О Р И Т М Ы П О Д Н А Л А Д К И

Оптимальные (в смысле минимума дисперсии) алгоритмы под­ наладки с фиксацией текущих размеров изделий, рассмотренные в предыдущих параграфах, были построены в предположении, что на способ измерения изделий сам подналадчик не накладывает ни­ каких ограничений. Если на структуру исполнительных или измери­ тельных устройств накладываются какие-либо ограничения, возни­ кает задача синтеза субоптимальных алгоритмов.

168

Ряд субоптимальных алгоритмов управления технологическим процессом исследован в работе [83].

Пусть технологический процесс удовлетворяет соотношению

хп = тп + \>.я

(п = \, 2, . . . ) ,

(251)

где m > 0, а {и,„} — последовательность случайных величин с не­ зависимыми приращениями, распределенных по нормальному зако­ ну со статистиками (0; а 2 п).

По условиям технологического процесса требуется, чтобы в ре­ зультате большого числа подналадок, осуществляемых с заданной средней частотой 1/Г, размеры возможно большего числа изделий попали в поле допуска [—А; А]. Подналадкой считается полное вос­ становление первоначальных (оптимальных) условий. При этом фиксируется только средняя частота подналадок, так как автомати­ ческие линии в настоящее время имеют бункерные устройства, и по­ тому можно целенаправленно варьировать сам момент подналадки.

Пусть

Ѵ

(

г ) \ 1

при M

< А ;

( 2 5 2 )

 

 

[0 при I z I > А .

 

Введем случайную

величину

 

 

 

 

•'i(n)=j]V(xs)

 

(253)

 

 

 

5-1

 

 

и последовательность хп

= (хи х2, ...,

хп).

изделий, размеры

Случайная величина

г\ (п)

определяет число

которых попали в поле допуска [—А; А].

 

Пусть ô — правило, определяющее

решение о подналадке по ре­

зультатам наблюдения

 

последовательности xn-i,

a ѵ (б)—-случай­

ная величина, равная числу изделий, изготовленных между двумя соседними подналадками.

Требуется найти оптимальное правило о*, для которого

 

sup lim " ! 1 1 ( я

) | 8 } . = l i m

^ ( * > l 5 * i = P < 1,

(254)

[6:ЛЬ = 7"} л->-°°

H

n->oo

n

 

 

где M — символ математического ожидания.

 

Физический смысл критерия (254) — минимизация брака

между

подналадками.

 

 

 

 

 

Из теории восстановления [136] следует, что

 

lim м

' ^ 1

* 5 *' М ѵ = ^

= М п ^

==М 7 І (ѵ)

 

t->oo

 

t

Мч

T

 

так что достаточно

найти

 

 

 

sup

М{т)(ѵ) I S, Mv = T) =

M { i j ( v ) I 3*}.

(255)

/8:ЛІѵ = Г!

169

С помощью множителя Лагранжа с последняя задача сводится к задаче о безусловном экстремуме функционала

 

 

 

sup M {rt (v) — cv

I 5, x0

0] =

 

 

(256)

при 0 <

с <

1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Используя

методы

динамического

программирования

 

[146],

молено показать, что величина

 

 

 

 

 

 

 

 

 

!*(х) = sup M {-rj (v) — cv I S, xb=

x],

pe = p*

 

(257)

удовлетворяет

интегральному

соотношению

 

 

 

 

p(x)

max

0; V(x)

c +

 

1

\ exp

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

К

\

'

 

 

 

 

X

p (y)

dy

 

 

 

 

(25S)

из которого

следует,

что Q (x) >

0 для

a <

x <

ß, и Q (x)

= 0

при

x ^ ß , x ^ a ,

a > 0, ß <

0, где a и ß подналадочные

границы.

 

 

При этом в работе

[83] утверждается,

что оптимальное

правило

состоит в следующем: в каждый момент времени п решение о под­

наладке принимается по отклонению хп

предыдущего

изделия;

если х-п-і < a

или

x n - i > ß,

то

подналадка

производится;

если

a ^ X n - i ^ ß ,

то подналадка

не производится.

 

 

 

После подналадки управление процессом возобновляется по то­

му же правилу.

границы а

 

 

 

 

 

Подналадочные

и ß найдены

в работе [83]

прибли­

женно, в предположении малости отношения т/о ѵ и равны

 

 

a = <ѴѴ T

Л*

ß = о,,

y'T

m.

 

(259)

-—

-m;

 

 

 

 

 

 

 

2a?

 

 

При этом

доля

изделий

с отклонениями

размера внутри

поля

допуска [—А; А] равна

 

 

 

 

 

 

 

Р

=

-2Т

при

3 - ; Г > А ^ ;

 

(260)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

ПрИ

з 2 Г < Д 2 .

 

 

Заметим еще раз, что в рассмотренном выше алгоритме подна­ ладка сводилась к восстановлению исходных условий.

Второй алгоритм подналадки, рассмотренный в работе [83], со­ стоит в следующем. В каждый момент времени п производится под­

наладка процесса по результатам наблюдения последовательности

—>

А'п-і. Основное отличие этого алгоритма от способов, рассмотрен­

ий

ных в работах [34, 53], состоит в ограничении на исполнительное устройство: предполагается, что управляющий импульс и принад­ лежит фиксированному множеству Q (и) импульсов. Кроме того, предполагается, что подналадка импульсом и связана с затратами

с(и), 0

< с ( и ) < 1; которые тем больше,

чем больше величина

им­

пульса,

т. е. f ( « i ) < c ( a j ) при | И І | < | И 2

| ; с {и) =с(—и),

с(0)

= 0.

Предлагаемый алгоритм отвечает идее управления технологи­ ческим процессом с помощью малых импульсов. Требуется возмож­ но дольше удерживать последовательность п} (п = 1, 2, . . . ) внутри интервала [А; Д] при возможно меньших затратах на уп­ равление, т. е. найти оптимальное правило Ô*, для которого

sup УМ {ѵ— 2 с [ « ( п ) ] I о] = У И і ѵ 2 с [и(п)\

I 3*] = р ,

(261)

где Vмомент первого выхода последовательности

{х„} за

грани­

цы [—Д; А];

 

 

и (п) — величина импульса подналадки в момент п.

 

 

Если считать, что на каждое изделие, размеры которого принад­ лежат полю допуска [А; А], приходится единица стоимости, то ве­ личину р. можно интерпретировать как максимальный чистый сред­

ний доход, т. е. доход от готовой

продукции

за

вычетом

стоимости

управления.

 

 

 

 

 

 

 

 

Анализ такого

алгоритма управления

процессом

(251)

пока­

зал, что структура

оптимального

правила

ô * целиком определяется

поведением функции с (и), и^О.

Если

с (и)

возрастает «сравни­

тельно быстро», как функция и,

то используется

все

множество

Q (и) управляющих импульсов, в противном

случае — только

край­

ние значения: и =

0 и и = итях.

Конкретный

смысл

«сравнительно

быстро» разъясняется в работе [83].

 

 

 

 

 

 

Отметим, что оба алгоритма предполагают измерение всех изде­ лий подряд, а решение о подаче импульса принимается по резуль­ татам измерения лишь последней детали. Это объясняется свойст­ вом марковости управляемого процесса (251) и справедливо лишь при малых интенсивностях собственно случайной составляющей.

При наличии существенной собственно случайной составляющей технологического процесса приходится прибегать к управлению по

усредненным

показателям.

 

 

 

 

 

В работе [137] построен алгоритм управления

технологическим

процессом в предположении, что смещение

размерной

настройки

станка можно

рассматривать

как

последовательность

скачков,

скрытых в помехах (т. е. в собственно случайной

составляющей).

В основе анализа этих алгоритмов

лежит так называемая «теория

разладки» — один из современных разделов

математической ста­

тистики [154].

 

 

 

 

 

 

В качестве модели технологического процесса автором прини­

мается соотношение

 

 

 

 

 

 

dy(t) = [T\{t)

+ u(t)]dt-+dr,(t).

 

 

(262)

171

где

г) (/) — марковский

процесс, характеризующийся

потоком скач­

 

ков (разладок) с интенсивностью X

(t);

 

 

и ({) —поток управляющих воздействий со значениями из со­

 

вокупности

Q (и) =

{0; ±d;

±2d,

...};

 

 

Ç (/)случайный

процесс

с

независимыми

приращениями

 

и статистиками M (At,)

=

0;

M (At,)2 = a2

At.

Сумма двух процессов л (і) + и

(t)

представляет

собой марков­

ский

процесс, являющийся скрытой

 

историей

производственного

процесса.

 

 

 

 

 

 

 

Предполагается, что размеры изделий

определяются точно, а ре­

шение о подналадке принимается на основе всей имеющейся ин­ формации (уп, ип). Задача синтеза оптимального алгоритма уп­ равления сводится к нахождению правила б, обеспечивающего ми­

нимум средних потерь на

протяжении

отрезка времени Г < оо:

 

 

 

т

 

 

 

 

R};

=

inf±r\MXA(yt)dt,

 

 

(263)

 

 

 

 

 

 

где M — символ математического ожидания.

 

В качестве

функции потерь принимается стоимость брака в

вырабатываемой продукции:

 

 

 

 

х _

/ ° '

-Аа<у,<Ас,

 

 

XAU/t)-[Ct

 

A * < \ y t \ .

 

 

Помимо

оптимальной

стратегии,

автором

предлагается

и е-оптимальная, совпадающая с оптимальной стратегией о* при малых и средних управляющих импульсах и использующая измере­ ние лишь последнего изделия — при больших подналадочных им­ пульсах.

Своеобразный способ подналадки, названной автором «пульси­ рующей», был предложен в работе [152]. Сущность предлагаемого метода состоит в том, что подналадочная граница проводится по середине поля допуска, а импульс, постоянный по величине, подает­ ся на каждом шаге, причем его знак противоположен знаку откло­ нения размера очередной детали от подналадочной границы.

К недостаткам метода следует отнести возможность появления «ложных» подналадок.

К сожалению, автор не исследовал потенциальных возможностей этого метода в достаточно широком объеме.

Все рассмотренные выше алгоритмы были построены в предпо­ ложении о том, что размеры изделий контролируются в моменты выхода их из зоны обработки, а запаздывание равно нулю. Однако в ряде случаев измерительное устройство из конструктивных сооб­ ражений располагают вне зоны обработки изделия. В этом случае оптимальный уровень настройки перед обработкой произвольного п-го изделия определяется лишь по результатам измерения разме­ ров предыдущих (п — t—1) изделий, где т — период запаздыва-

172

иия, равный сумме интервалов времени, затраченных на обработку изделий от момента (п — т 1 ) до момента ( п 1 ) . Естественно, возникает задача синтеза оптимального по точности алгоритма уп­ равления, построенного с учетом запаздывания на контроль т. Тео­ рия дуального управления [146] позволяет полностью решить эту задачу.

Предположим, что поведение технологического процесса описы­ вается формулой (195), а все предположения о поведении отдель­ ных составляющих модели (195) сохраняются.

При запаздывании операции контроля на т циклов уровень на­ стройки перед обработкой п-го изделия определяется как функция

последовательности измерений размеров изделий хп—-.—і и уров­ ней настройки «„_j:

Un = Un ("л-!, ХП--.-1 ). (264)

Дисперсия отклонений

размеров изделий

при наличии запазды­

вания и оптимальном алгоритме подналадки

(см. §

17) вычисляет­

ся по формулам, аналогичным (199) — (213),

и имеет в данном

слу­

чае вид

 

 

 

 

D„ = j х*Р(хп I U„,

/„) • "~П*Р(Хі

I Ii,-, Ult

Ii) -РЫ

X

Q(x„, Хя _т-!. V„, Pn—.-l, Ü„)

X P (fi„ I Vn-.-i ) • ПУГ'Р^І

I iït-ù П Г,, 2.

(265)

Оптимальный уровень настройки определяется из условия ми­ нимума по ип функции

ап

= j

х*Р п ! Un,

?л, /„) • "TT1 P (xt I

I/,, /,)

Р Ы

X

2 т

!*„, ^л-т-і

)

 

 

 

 

 

 

 

 

Х Я ( ц „ |

) • І Г Р

(І», I

__.

 

 

(266)

Рассмотрим синтез оптимального алгоритма подналадки при на­

личии запаздывания на примере стационарного

технологического

процесса с корреляционной функцией /Сц(т ) =

1 .

Для

это­

го процесса

переходная плотность Р

(|хт е | п—.-\

) имеет

вид

 

 

 

 

1

f

Obi r ' + V n - x - i ) 2

| 2

 

.

 

 

_ _ _ _ _ _ _ _

E X P

 

 

} .

 

(267)

 

Ѵ У

2 r . ( l - r 2 ^ + " )

I

2 c 2 [ l _ r 4 " '

 

 

 

 

173

Остальные плотности в формуле (266) совпадают с соответст­ вующими выражениями (216) — (218), где г = е ~9.

Оптимальный уровень настройки, найденный в результате мини­ мизации ап по Un, равен

U;, = — mn —

 

(268)

2Рп

 

 

где характеристики

 

 

 

9'2

(269)

2 , 2 | l - r ^ + 1 ) j

Рп-т-Х

 

Яп

Рп-х-І

r x +J

2 о 2 [ ! _ , * + ! , ]

выражаются через величины:

 

fr«

 

3c

P l - l

i ) ;

 

 

2 < £ ( 1 - / * )

 

i

1

;

2s?

2 < £ ( 1 - / * )

2a; .1

Как и ранее, формулу (268) можно представить в рекуррентном виде.

Минимальная дисперсия находится из формулы (265) после под­ становки в нее ип* и интегрирования по соответствующим величи­ нам:

 

 

1

 

 

 

2р„

 

При п-*-оо

величина Dn*

стремится

к установившемуся значе­

нию Ь * у с - , равному

 

 

D ус т

1

(270)

 

 

62

Сравнение

формул (235)

и (270) показывает, что при всех т > 0

 

 

Лу,-->/)уе,

(271)

что объясняется наличием запаздывания.

174

В частности, при о /

> о ?

 

из формулы (270)

находим

 

 

 

DyCz

=

о2 [1 _ г 2 ( , + і)].

(272)

Так как /- <

] , то

 

 

 

 

 

 

£ > у с , — Щс

=

о* (гг r 2 « ^ " )

> 0 при

всех т > 0.

Формула

(270)

позволяет

оценить

эффективность подналадоч-

ной системы

в зависимости

от статистических

характеристик про­

цесса и величины запаздывания. Одновременно это выражение оп­ ределяет верхнюю границу точности ведения технологического про­ цесса при наличии запаздывания операции контроля.

§ 21. С Р А В Н И Т Е Л Ь Н Ы Й А Н А Л И З МЕТОДОВ Р Е Г У Л И Р О В А Н И Я С ФИКСАЦИЕЙ ТЕКУЩЕГО И П Р Е Д Е Л Ь Н О Г О РАЗМЕРОВ И З Д Е Л И И

Точность управления технологическим процессом при фиксиро­ ванных предельных размерах изделий определяется рядом факто­ ров, и прежде всего выбором сигнальных границ. Как показано в работе [174], выбор сигнальных границ влияет не только на частоту подналадки, но и на точность определения текущего уровня на­ стройки процесса. В данном параграфе излагается метод определе­ ния оптимального положения контрольных границ и сравниваются между собой алгоритмы управления с фиксацией текущих и пре­ дельных размеров изделий.

Пусть некоторая случайная величина ц наблюдается одновре­

менно с последовательностью

независимых случайных величин

Определим

две границы

L 4 и L 2 , Li >

L 2 , принадлежащие

об­

ласти изменения суммы ц + £п , « =

1, 2, . . .

Пусть N—объем

 

вы­

борки. Примем следующие обозначения: z + ( L i ) к о л и ч е с т в о

на­

блюдений, превышающих L i ; Z _ (L2 ) количество наблюдений,

ле­

жащих ниже L 2 . Тогда

разность N — z+ (Li)

—z_ (L2 ) есть

число

наблюдений, лежащих

в интервале [Li, L%\. Величины Li и L 2

будем

называть контрольными пределами

(сигнальными границами).

 

В работе [174] с помощью линейного теста

 

 

I (ах,

аг ;

L x , L 2 )

= ахг+

(L x ) - j -

a,z_ (L2 )

 

(273)

проверялась справедливость нулевой гипотезы Н0 : \і = 0, конкури­ рующей с альтернативной гипотезой Hi : цфО. В этой статье были найдены оптимальные значения а ь а2 , доставляющие максимальную эффективность тесту (273). При оптимальных значениях парамет­ ров а4 и а% эффективность теста (273) при выборке N — 10 оказа­ лась такой же, как эффективность теста, построенного по результа­

там вычисления

апостериорного среднего m величины р, при выбор­

ке объемом N =

8.

175

 

В работе [174] определяются одновременно контрольные границы

Lu

L i и параметры а ь

а2 , доставляющие

тесту

(273) максимум эф­

фективности.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Пусть

случайная переменная X имеет

функцию распределения

F

(х; ц,), заданы четыре

числа

аи а2,

L u

L 2

, причем

|

ö

i |

+ | а 2 | > 0;

Li

> L 2 ,

a объем выборки равен N.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Определим две вероятности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P + = P[X>Ll)

 

= \-F(Li;

 

s*) )

 

 

 

 

 

 

 

p„ = P{X<L2)

 

= F(LZ-0;

 

ji)

f

 

 

 

 

 

Среднее значение случайной переменной (273) равно

 

 

 

 

 

M(l)~N(alP++aiP_),

 

 

 

 

 

 

(275)

где M — символ математического ожидания.

 

 

 

 

 

 

Дисперсия величины / равна

 

 

 

 

 

 

 

 

 

a^t)

= N[a\p+(l—p+)—-2alatp-p+

 

+ alP-{l

-Р-)).

 

(276)

 

Пусть

последовательность

{^„}

(п — 1, 2, ... )

распределена по

нормальному закону. Введем

обозначения

 

- £!

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

х

 

 

 

 

 

 

 

ф (X) =

ф (х;

0; 1) -

 

 

Г в

2 dz,

 

 

(277)

Предположим, что последовательность

 

имеет статистики

(0; ! ) .

Тогда

 

 

р + =

1 - Ф ( £ 1 , ^ ,

1)1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(

2 7 8 )

 

 

 

 

р _ = Ф ( / . „ ц, 1)

 

I

 

 

 

 

 

 

Простым смещением

распределение

Ф (д;; у;

1)

переводится

в распределение Ф (х; у + К; 1). Поэтому в дальнейшем

в качест­

ве нулевой гипотезы можно принять Яо : р. = 0 и изучать

эффектив­

ность теста

(273) относительно этой гипотезы,

 

 

 

 

 

 

 

 

д

 

 

 

д

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Обозначим: Ф* = Ф (Li);

ср* = <р (Li),

і = 1, 2.

 

 

 

 

Тогда

 

р+ Iг

о =

1 — Ф,; Р- I ц-о = Ф«;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

р

 

I р.,,о = 'fі; Р _ I ц-о = тѴ

 

 

 

 

Тест (273) в данном случае принимает вид [174]:

 

 

 

 

 

 

 

I _

 

 

« (уі — ду2 )2

 

 

 

 

 

/2 79)

 

 

 

ф1 (1 _

ф,) _

2 (1 — Ф,) а +

Ф2 (1 — Ф2 ) й 2 '

 

 

 

где в силу

произвольности

 

одного

из коэффициентов

сіі и а2 со­

вершен переход к величине а = аі/а 2 , а2ф0

или а = а 2 /аі, а і ^ О .

 

Анализ

выражения

(279) показывает,

что в рассматриваемом

примере оптимальными сигнальными границами служат: L — Li — = — L 2 = 0,612. Максимальная эффективность теста при этом рав­ на 0,8088. Раздвижение сигнальных границ до L = ± 1 приводит к понижению эффективности до 0,7381.

176

При использовании

одного

предела L t (L 2 = —оо), т. е. при од­

ной сигнальной границе эффективность

составляет 2 /я = 0,6366 при

Li = 0 и 0,4386 — при Li = 1 (напомним,

что изучается

эффектив­

ность гипотезы (л = 0).

Это означает, что решение о положении ц

при N = 10 и наблюдении знаков отклонений размеров изделий от­

носительно границы Mt

эквивалентно решению о величине ;.t по ре­

зультатам

измерения примерно шести (при L 4 = 0) и четырех изде­

лий (при Li = 1).

 

 

 

 

 

Аналогичный тест строится и для оценки дисперсии.

 

Таким

образом, алгоритмы

управления

с фиксацией

текущих

размеров

изделий требуют для достижения

одной и той же точно­

сти примерно в полтора раза меньшего количества измерений за счет усложнения измерительной части подналадочной системы.

Полученные оценки

соответствуют

модели технологического

процесса вида

 

 

 

хя= ? +

+ U п , (п =

1, 2, . . . ) .

(280)

Для простоты трент тп опущен, а функциональная

случайная

составляющая может считаться медленно изменяющейся функцией времени.

В том случае, когда модель технологического процесса

имеет

вид

 

 

*„ = t*n + ^ + t f „ ,

2, . . . ) ,

(281)

положение сигнальных границ может быть определено следующим образом.

Предположим, что {\іп}—последовательность

марковских нор­

мальных величин с корреляционной функцией Л",«(т) =

 

ofe—вИ1.

Положим, для простоты

Un = 0.

 

 

 

 

 

Пусть в момент t =

п — 1 величина хп

достигла

некоторого

фиксированного уровня L , т. е. L = ц.„_і + £n _i.

 

времени

Для марковской составляющей

модели (281) в момент

t = п можно записать [28]:

 

 

 

 

 

 

Ѵ-п =

(L — -л-і) г + а,х (1 — г2) ѵ„,

 

 

где г = е~ѳ, п}—последовательность

независимых

нормальных

величин с нулевым математическим

ожидани­

ем и единичной

дисперсией.

 

 

Тогда отклонение хп

будет равно

 

 

 

 

x n ~ ^ n J r { L

— C„_i) г + а; і ( 1 -

г»)ѵя .

 

(282)

Дисперсия величины

хп

 

 

 

 

 

 

Dn =

а? ( 1 -Ь г2 ) +

а* (1 - л2 ).

 

(283)

Дисперсия величины xn+q,

q >

1 равна

 

 

 

D n + q = а* [1 4- г2{"+1)]

+

о£ [1 -

г 2 ( * + 1 ) | .

 

(284)

Формулы (283), (284) служат исходным пунктом для выбора положения сигнальных границ. Пусть поле допуска равно [—А; А].

\

12—2891

177