Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Плотников Р.И. Флюоресцентный рентгено-радиометрический анализ

.pdf
Скачиваний:
11
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.81 Mб
Скачать

рн.ант зоидового устройства с экранирующей

шторкой

схематически представлен на рис. 51.

 

 

Н а рис.

52 приведены зависимости величины

плотно­

сти потока

Ni от расстояния /і между

зондом

и образ ­

цом при различных углах а наклона

экранирующей

шторки. При некотором оптимальном угле (для данного зонда а ~ 7 0 ° ) влияние к незначительно в широких пре­ д е л а х его изменения (1—15 мм).

Рис. 53. Зависимость плотности потока флюоресцентного из­ лучения железа от величины воздушного зазора при различ­ ных конструкциях зоидового устройства:

J—среда; 2— окно счетчика; 3— экран; 4— источник. Конструкции зон­ дов; 5 — поверхностные источник и детектор; б — точечные источник и детектор; 7,8 — точечный источник и поверхностный детектор (в форме сектора н прямоугольника соответственно).

Устранения влияния h на плотность потока флюорес­ центного излучения анализируемого элемента можно до­

стичь

т а к ж е и за счет

использования поверхностного

де ­

тектора,

рабочая

поверхность

которого

имеет

форму

сектора,

а вершина его направлена к источнику. Наилуч ­

ший

эффект по устранению влияния h

достигается

за

•счет

использования совместно

поверхностных

источника

и детектора. Р а б о ч а я

площадь

источника

в этом случае

т а к ж е д о л ж н а

иметь форму сектора с вершиной,

направ ­

ленной

в сторону

детектора. П р и другой

форме

поверх­

ностных источника

и детектора

(например, в форме пря ­

моугольника)

размер

области

инверсии

резко

сокра­

щ а е т с я . Конструкция зонда с поверхностными

 

источни­

ками и детекторами наряду со значительным

уменьше ­

нием

влияния

изменения з а з о р а обеспечивает

 

большую

величину полезного сигнала. П о д т в е р ж д а ю щ и е

экспери­

ментальные

данные

представлены

на

рис. 53.

Там ж е

схематически

изображены

конструкции

сравниваемых

зондов.

 

 

 

 

 

 

 

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ РАССЕЯННОГО СРЕДОЙ ПЕРВИЧНОГО

Y-ИЗЛУЧЕНИЯ ИСТОЧНИКА

 

 

 

 

 

В настоящее время

известны различные

варианты

методик рентгенорадиометрического

анализа,

которые

предусматривают в той или иной

мере

 

использование

рассеянного

у-излучения источника

первичных лучей.

Развитие этого направления

позволило

в

ряде

случаев

существенно повысить помехоустойчивость и чувстви­ тельность рентгенорадиометрического анализа . В насто­

ящее

время

наиболее

широко

используются способы

анализа, в которых рассеянное у-излучение

используется

в качестве

внутреннего стандарта . Эти способы извест­

ны в

литературе

под

названием

способов

спектральных

отношений

[198],

или

способов

стандарта - фона

[199,

200].

 

 

 

 

 

 

 

Предварительно рассмотрим возможность учета изме­

нения

вещественного состава сложного наполнителя ана­

лизируемой

среды

по

величине плотности

потока

рассе­

янного у-излучения. Это связано с тем, что в ряде спосо­

бов

(например, в способе двойного

стандарта - фона) ис­

пользуется величина

плотности

потока

рассеянного

у-излучения, которая практически

не

зависит

от

содер­

ж а н и я

анализируемого

элемента, а

определяется

лишь

соотношением

компонент сложного

наполнителя (напри­

мер,

в

случае

пульп — соотношением

компонентов Н9О

и S i 0 2 )

[201, 205, 208].

 

 

 

 

 

 

 

5. Использование скачков

поглощения

 

 

 

При

рентгенорадиометрическом

 

анализе

сложных

трехкомпонентных сред,

когда

стоит з а д а ч а

определения

с о д е р ж а н и я анализируемого элемента не во всей слож ­ ной среде, а только в какой-либо ее двухкомпонентной фазе, д л я введения поправки в результаты анализа не­ обходимо знать содержание этой фазы в сложной среде. Это может быть осуществлено на основе измерения плот­ ности потока рассеянного у-излучения, величина которо­ го при определенных условиях, рассмотренных ниже, мо-

ж е т быть однозначно связана с содержанием данной двухкомпонентной фазы среды, независимо от соотноше­ ния концентраций составляющих ее компонентов. В этом случае трехкомпонентная среда по эффекту рассеяния у-квантов сводится к эквивалентной двухкомпонентной среде.

Примером может служить з а д а ч а по определению содержания твердой фазы пульпы или определение золы в углях. Аналогичная задача возникает и в случае,

когда

необходимо

устранить

влияние промежуточной

зоны

 

(слой воды, окно датчика

и т. п.).

Сущность рассматриваемого способа заключается в

том,

что для уменьшения

влияния изменения соотноше­

ния

в

с о д е р ж а н и я х

двух

каких-либо компонентов, вхо­

д я щ и х в трехкомпонентную среду, на плотность потока рассеянного у-излучения используют первичное излуче­ ние с энергией, находящейся м е ж д у энергиями /( - краев поглощения д л я элементов, составляющих эти компо­ ненты [201]. В этом случае при определенных условиях измерений можно получить равенство эффективных ко­ эффициентов ослабления д л я двух каких-либо компо­ нентов данной среды и, таким образом, свести по эффек ­ ту рассеяния ^-квантов трехкомпонентную среду к экви­

валентной

двухкомпонентной среде.

Н а

рис. 54 даны зависимости относительных величин

коэффициентов ослабления от атомного номера Z эле ­

мента

при

различных энергиях -у-излучения. Д л я к а ж ­

дого значения энергии первичного излучения по обе сто­

роны /(-скачка

можно у к а з а т ь элементы,

имеющие близ­

кие значения массовых коэффициентов.

 

 

Равенство

массовых коэффициентов

ослабления в

первом приближении наблюдается д л я пары

элементов,

Z которых отличаются примерно в два раза

[70] . Оце­

ним для примера массовые коэффициенты

ослабления

д л я компонентов пульпы магнетитових кварцитов, пред­

ставленных водой

 

И 2 0 ,

кварцевым

песком

S i 0 2

и

магне­

титом Р е з 0 4 .

Н а

рис. 55 стрелкой

у к а з а н ы

 

расчетные

значения 41

этих

компонентов,

нормированные

к

значе ­

нию

ц.м

д л я

^ - квантов

с энергиями 5,9 и 9,9 кэв,

т. е. с

энергиями меньше и больше энергии Х-скачка

поглоще ­

ния

железа

(7,1

кэв).

Д л я -у-квантов с энергией

5,9 кэв

коэффициенты д л я

компонентов Н 2

0 , S i 0 2

и F e 3 0 4 отно­

сятся

как

р . н *°: ysi0"-:

u.F C 3 °* =

1 : 3,1 : 3,0,

а

д л я

излуче­

ния

с

энергией

9,9

кэв

как

ц.Н а ° : j . i S

i 0 ; i

: \xFe1 ==

= 1:3,1:29,5. Итак, дл я

излучения с

энергией 5,9 кэв

массовые коэффициенты

поглощения

д л я SiOo и РезСч

(компоненты твердой фазы пульпы магнетитовых квар ­

цитов) близки и в несколько раз превышают

значение

массового коэффициента ослабления д л я Н 2 0 .

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

її

!

№,5.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

SL0Z\I

/

Jі

і

/

 

 

 

 

 

 

 

"

 

/

- V

1/

 

 

 

 

 

 

 

 

 

"

a t

 

 

*

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t /

/• І 1 1 1

 

 

t

Г ' і ' f і I t i

 

 

 

 

T

5

7

10

ZO

30

50

70 Z

 

 

 

 

Рис.

54.

Зависимость

относительных

вели­

 

 

 

 

чин

коэффициентов

ослабления

от

атомно­

 

 

 

 

 

 

 

го

номера

элемента.

 

 

 

 

Аналогичные

закономерности будут

иметь

место

и

при

анализе углей

на зольность. З о л а углей, к а к прави­

ло,

представлена

окислами

 

кремния

и

алюминия,

а

т а к ж е окислами

 

относительно

т я ж е л ы х

элементов —

ж е л е з а и

марганца .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Используя

при измерениях

источник

Fe5 5 , энергия

которого

(5,9

кэв) р а с п о л о ж е н а

м е ж д у

энергиями

/(-краев

поглощения

 

Si и А1, с одной

 

стороны, и

Fe,

М п — с другой,

можно определить зольность углей прак ­

тически независимо от соотношения в

с о д е р ж а н и я х

ос­

новных компонентов

золы.

 

 

 

 

 

 

 

 

6. Использование ф л ю о р е с ц е н т н о г о излучения анализируемого элемента

 

Учет изменения вещественного

состава

наполнителя

по

величине плотности потока рассеянного у-излучения,

к а к

 

указывалось

выше,

возможен лишь

при условии,

если

величина

плотности

потока

вторичного

излучения

не

зависит

от

изменения

содержания

анализируемого

элемента,

а определяется

лишь соотношением

содержа ­

ний

 

компонентов

наполнителя. В рассматриваемом спо­

собе

анализа это достигается на основе

выбора опреде­

ленной энергии первичного излучения и регулирования в регистрируемом вторичном излучении долей рассеянно­ го излучения Ns и флюоресцентного Ni излучения эле ­

мента

[201].

Анализ исходных выражений

(1.61)

и

(1.68)

указывает

на то, что изменение величин

Qi и Со­

о т н о с и т е л ь н ы х

плотностей

потока флюоресцентного

и

рассеянного

излучений) в

зависимости от СА будет

одинаковым в первом приближении, если равны отно­ шения массовых коэффициентов ослабления дл я напол­ нителя и анализируемого элемента. Рассмотрим зависи­ мость относительной плотности потока вторичного излу­

чения

Q=N/NA,

равной сумме

относительных

плотностей

потока

рассеянного (Qs=Ns/N£)

и

флюоресцентного

(Qi — Ni/Nf)

излучений от величин СА

и параметров ti

и ts (см. формулы (1.61) и (1.68)).

 

 

 

Н а

рис. 55

изображены расчетные

зависимости

ве­

личин

Qi, Qs и Q = 0,5 (Qi + Qs)

от содержания

Сл

при

различных значениях параметров U и ti/0,5ts.

Компенса ­

ция плотностей потоков рассеянного и флюоресцентного

излучений

дл я всего диапазона

содержаний СА

наблю ­

дается

в нашем

примере

лишь

 

при выполнении

условия

ti = 0,5ts.

К а к

видно,

при

значениях

ti/0,5ts>l

и

£ i/0,5 £ s <l

наблюдается

неполная компенсация,

причем

в первом случае

Q < 1 , а во втором Q > 1 .

 

 

 

Выбор

энергии

первичного

у-излучения

определяется

условием:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

tt ttts или

 

 

 

 

 

 

П р и

v=^2-!F =

l

это означает

равенство

и," и ц ^ ,

а

т а к ж е

nf

и

Последнее условие выполняется, если

энергия флюоресцентного излучения совпадает с энер ­

гией

рассеянного

излучения,

т. е. Ei~Es.

Д л я этого

зна ­

чение

энергии

Ej

первичного

излучения

д о л ж н о

л и ш ь

незначительно

превышать

энергию

/(-края поглощения

анализируемого

элемента

с

таким

расчетом, чтобы з а

Q-l/l(Q5+Qi)

О

0,1

Ofy

-0,6

 

0,8- Ci

 

Рис. 55. Расчетные

зависимости

относитель­

 

ной плотности потоков рассеянного, флюоре­

 

сцентного

и суммарного

излучений

(Qa,

Qt

 

и Q) от содержания СА

анализируемого

эле­

 

 

 

мента.

 

 

 

 

 

 

счет выбора угла

отбора

вторичного

излучения

получить

изменение энергии

некогерентно рассеянного

излучения

на величину AEs=Ej—Ек.

Если

AES

меньше

Ej—Ек

(т. е. Es остается

больше энергии

Ек),

то

полная ком­

пенсация изменения плотностей потоков рассеянного и флюоресцентного излучений по отношению к с о д е р ж а н и ю анализируемого элемента во всем д и а п а з о н е его измене ­ ния недостижима .

Влияние изменения содержания анализируемого эле­ мента т а к ж е можно устранить, если в первичном излу­ чении имеются две различные по энергиям линии, причем

энергия одной из

линий

меньше

энергии /С-края и

для

нее

а д л я

другой

линии,

используемой

для

воз­

буждения

флюоресценции

анализируемого

элемента,

энергия

больше

энергии

./(-края поглощения

[203].

25 f 115 £}K3ff

баритовых (б) руд, полученных на полупроводниковом спектИсточник — Se7 5 .

9 Р. И. Плотников, Г. А. Пшеничный

129

Т ак

ка к

в равенство

ti*&ts входит

величина

Y =

= sin cp/sin ф, то

изменение

соотношения

плотностей по­

тока

рассеянного

п флюоресцентного

излучений в о з м о ж ­

но т а к ж е

путем изменения

величины

у.

 

 

К рассматриваемому способу близок по своей сущ­

ности

и способ, основанный

на использовании т а к назы ­

ваемой равновесной области

вторичных

спектров

[202].

Если флюоресцентная линия вторичного спектра незна­

чительно отличается по энергии от линии

рассеянного

излучения, то на некотором участке

спектра

наблюдается

их частичное перекрытие. Н а этом

участке

спектра, на­

зываемом равновесной областью, плотность потока вто­

ричного излучения слабо

зависит от содержания

СА

анализируемого

элемента,

т а к ка к с

увеличением

Сл

плотность

потока

рассеянного

излучения

уменьшается .

П о л о ж е н и е в спектрах равновесной области

определяется

условиями

измерений, типом источника

и детектора

и Z

анализируемого элемента.

Н а

рис. 56

приведены рент­

геновские спектры свинцовых и свинцово-баритовых руд,

полученные

с

источником

Se7 5 на

полупроводниковом

спектрометре

при

разрешении

детектора

~ 2

кэв

[203].

рис. 56, а

 

 

 

 

 

 

 

 

И з

видно,

что

положение

равновесной

точки

в зависимости

от содержания

анализируемого

эле­

мента несколько смещается, что связано,

по-видимому,

частично с

изменением относительной доли

когерентно

и некогерентного

рассеянного

излучения.

Зависимость

плотности потока вторичного излучения в равновесной

области

от Z3 [ |, наполнителя

иллюстрирует

рис. 56, б,

где приведены спектры

тех ж е свинцовых руд, но содер­

ж а щ и х

дополнительно

10%

бария . Присутствие бария

приводит к уменьшению ка к плотности потока

флюорес­

ценции

свинца, т а к и

плотности потока вторичного из ­

лучения

в равновесной

области.

 

7. О п р е д е л е н и е 2 Э ф с р е д ы п о

величине отношения

потоков некогерентно и когерентно рассеянного

-излучения

 

Зависимость отношения Nm/NK

потоков некогерентно

и когерентно рассеянного ^-излучения от атомного но ­

мера элемента Z, угла рассеяния

Э и энергии

первич­

ного излучения Е на основании

соотношения

(1.21) в

первом приближении можно определить в ы р а ж е н и е м

т К - Н - Т

7

X

 

 

(

 

£ s i n

l

\

' iv + иГт •

 

( 3 < 9 )

 

 

exp І

 

Ai

 

 

 

 

 

 

Чтобы

установить общий

х а р а к т е р

зависимости

отно­

 

 

 

шения Nm</NK

от атомного

номера

Z

и энергии

£

д л я

•у-излучения

малой

энергии

( £ < т с 2 )

можно принять,

что d e o ^ ~ H — т

~ d e o T

и IX"K «^JLIs k .

Тогда

пренебрегая

э ф ­

фектом аномальной

дисперсии,

в ы р а ж е н и е (3.9)

м о ж н о

представить

в виде

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I

 

£

s i n

i r

 

 

 

 

 

 

1 — exp I —

;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(3-Ю)

 

При

м а л ы х

значениях

показателя

экспоненты

 

£ s i n

6

 

\

 

 

 

 

 

 

 

 

 

\

 

 

 

 

 

 

 

^2

 

— <

1 ) формулу (3.10) можно

упростить, заме -

 

Z2'3

 

 

)

 

 

 

 

 

 

 

няя

1—ехр(—х) «л:. Тогда

 

 

 

 

 

 

 

/V»

 

 

£ s i n —

 

/

£ s i n

— -

 

 

 

 

 

" 2

e x p U

 

- 2 - І . (3.11)

 

 

 

 

 

 

 

 

В ы р а ж е н и е

(3.11) указывает,

что д л я у-квантов

м а ­

лой

энергии

отношение NBK/NK

 

в первом

приближении

прямо пропорционально

энергии

первичных

квантов

Е,

синусу

угла

рассеяния

0

и

обратно

пропорционально

атомному номеру элемента

Z.

 

 

 

 

 

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ